JPH0320100U - - Google Patents

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JPH0320100U
JPH0320100U JP7695889U JP7695889U JPH0320100U JP H0320100 U JPH0320100 U JP H0320100U JP 7695889 U JP7695889 U JP 7695889U JP 7695889 U JP7695889 U JP 7695889U JP H0320100 U JPH0320100 U JP H0320100U
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memory
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redundant circuit
test device
output pins
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JP7695889U
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Description

【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例による冗長回路付
メモリICのテスト装置の不良セル検出部分の構
成を示す説明図、第2図は従来の冗長回路付メモ
リICのテスト装置の不良セル検出部分の構成を
示す説明図である。 図において、1a〜1dは冗長回路付メモリI
Cの不良情報、2はキヤツチラム、3はXフエイ
ルビツトカウンタ、4はYフエイルビツトカウン
タ、5はアドレス、6は論理和回路、7a,7b
は論理和された信号を示す。なお、図中、同一符
号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 冗長回路付メモリICの機能試験を実施し、そ
    の不良情報を記憶するメモリと、上記不良情報メ
    モリの任意の領域の行および列方向の不良ビツト
    数を計数できるカウンタを持つテスト装置におい
    て、試験される冗長回路付メモリICが複数の出
    力ピンを持つ場合、指定した出力ピン間の不良情
    報についての論理和を、上記不良情報メモリに記
    憶することを可能とした冗長回路付メモリICの
    テスト装置。
JP7695889U 1989-06-28 1989-06-28 Pending JPH0320100U (ja)

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JP7695889U JPH0320100U (ja) 1989-06-28 1989-06-28

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JP7695889U JPH0320100U (ja) 1989-06-28 1989-06-28

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JPH0320100U true JPH0320100U (ja) 1991-02-27

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JP7695889U Pending JPH0320100U (ja) 1989-06-28 1989-06-28

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JP (1) JPH0320100U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007152719A (ja) * 2005-12-05 2007-06-21 Nippon Shikan Kogyo Kk 紙管の製造装置及び製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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