JPH03211404A - コネクターピンの曲がり検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 端面に垂設且つ該端面の長手方向に直線状に列設された
ピンを有するコネクターの該ピンの列設方向と直交方向
の曲がりを検査するコネクターピンの曲がり検査装置に
関し、 コネクターピン曲がりを迅速に且つ正確に検出できるコ
ネクターピンの曲がり検査装置の提供を目的とし、 光を集光してピン上に結像する光照射手段と、ピン上に
結像した光の反射光の受光時は電気信号を出力し、非受
光時は電気信号を出力しない反射光検出手段と、該反射
光検出手段から電気信号が出力された回数を計測して該
回数を出力する計測手段とを含んで構成し、コネクター
をピンの列設方向に移動させて該ピンの列設方向と直交
方向の曲がりを検出するように構成する。

〔産業上の利用分野］ 本発明は、端面に垂設且つ該端面の長手方向に直線状に
列設されたピンを有するコネクターの該ピンの列設方向
と直交方向の曲がりを検査するコネクターピンの曲がり
検査装置、特にコネクターピン曲がりを迅速に且つ正確
に検出できるコネクターピンの曲がり検査装置に関する
。

近時、情報処理装置等の高機能化、小型化を狙いとして
、また銀行等の金融業における顧客へのサービス向上と
安全性向上等を狙いとして、名刺サイズ程度のプリント
基板にＩＣを搭載したメモリカードが急速に背反しつつ
ある。

次に、かかるメモリカードを第３図のメモリカードの組
立工程順斜視図を参照して説明する。

すなわち、メモリカードの組立は、同図（ａ）に示すよ
うにコネクターのピンをはんだ付けするためのはんだバ
ンド２１ａ、ＩＣをグイポンディングするためのダイパ
ッド２１ｂ及び金属細線をワイヤボンディングするため
の配線パターン２１ｃの一部を除いて防湿レジスＩ−２
１ｄで表面を塗布したプリント基板２１が出発材料とな
る。

そして、ダイパッド２１ｂに導電性樹脂によりＩＣ２２
を搭載してから、ＩＣの電極と配線パターン間を金（Ａ
ｕ）などの金属細線２３をワイヤボンディングして接続
（同図（ｂ）参照）した後、ｒｃの防湿を目的として、
半導体用の封止樹脂２４をＩＣ上とその周囲に塗布する
（同図（ｃ）参照）。

次いで、コネクター２５のピン２５ａの湾曲部をプリン
ト基板のはんだパッドに摺接させながら、コネクターを
プリント基板に押し込んでコネクターをプリント基板に
仮留めする（同図（ｄ）参照）。

しかる後、コネクターのピンとプリントｉｔのはんだバ
ンドとをはんだ付けして、コネクターをプリント基板に
本留めする（同図（ｅ）参照）。

そして、このプリント基板を枠体２７に装着した後、枠
体の両面にカバー板２８を貼着してメモリカードが完成
する（同図（ｆ）参照）。

ところが、コネクターをプリント基板に仮留めして、い
きなり本留めするとピン曲がりやピンのプリント基板か
らの浮きが原因のはんだ付は不良が間々発生する。

このため、コネクターをプリント基板に仮留めした段階
で、ピンの曲がりやプリント基板からのピンの浮きを入
念に検査するのが普通である。

〔従来の技術〕

斯かるコネクターをプリント基板に仮留めした段階での
ピンの曲がりやプリント基板からのピンの浮きの従来の
検査方法は、顕微鏡を使った目視検査により行っていた
。

〔発明が解決しようとする課題〕

前記した従来の検査方法は、検査工数が多く掛かる欠点
はあるもののピンの曲がりそのものを検出することにつ
いては特に問題がなかった。

しかし、プリント基板からのピン浮きの検出は、熾点距
離を可変できる顕微鏡、即ちズーム式顕微鏡を使用して
ピン表面の影像的なぼけを比較しながら検出するために
、検査時間もピンの曲がりの検査と比較して多くかかる
とともに、検出の確実性にも問題があった。

本発明は、かかる問題を解決するためになされたもので
あって、その目的はコ矛りターのピンのプリント基板か
らの浮き状態を迅速に且つ正確に検出できるコネクター
ピンの曲がり検査装置の提供にある。

〔課題を解決するための手段〕

前記目的は、第１図の本発明の原理説明図に示すように
端面１０ｂに垂設且つ該端面１０ｂの長手方向に直線状
に列設されたピン１０ａを有するコネクター１０の該ピ
ン１０ａの列設方向と直交方向の曲がりを検査するコネ
クターピンの曲がり検査装置において、光Ａを集光して
ピン１０ａ上に結像する光照射手段１１と、ピン１０ａ
上に結像した光Ａの反射光Ｂの受光時は電気信号を出力
し、非受光時は電気信号を出力しない反射光検出手段１
２と、反射光検出手段１２から電気信号が出力された回
数を計測して該回数を出力する計測手段１３とを含んで
構成し、コネクター１０をピン１ｏａＯ列設方向に移動
させて該ピンｌＯａの列設方向と直交方向の曲がりを検
出することを特徴とするコネクターピンの曲がり検査装
置により達成される。

〔作　用〕

本発明のコネクターピンの曲がり検査装置は、光照射手
段１１が１０ａ上に結像した光Ａの反射光Ｂを反射光検
出手段１２が受光するとその都度電気信号を計測手段１
３に出力するように構成している。

この計測手段１３は、反射光検出手段１２から電気信号
が出力された回数を計測して該回数を出力するから、前
記状態でコネクター１０をピン１０ａの列設方向に端か
ら端までの全ピンを移動させることにより、ピン１０ａ
の列設方向と直交方向の曲がりを検査することが可能と
なる。

すなわち、計測手段１３は、全ピン良品であれば全ピン
数に相当する数字を出力し、不良ピンがあれば全ピン数
から不良ピン数の差数を出力することとなる。

〔実　施　例〕

以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら説明する
。

第２図は本発明のコネクターピンの曲がり検査装置の一
実施例の説明図、同図（ａ）は検査装置の要部概略斜視
図、同図（ｂ）はプリント基板にコネクターを仮留めし
た状態の要部側面図である。

すなわち、本発明の一実施例は、同図（ａ）に示すよう
に光電スイッチ２２、高速カウンタ２３、シリンダ２４
、リセットセンサ２５、エンドセンサ２６、及び遮蔽板
２７などを含んで構成したものである。

斯かる構成をした本発明のコネクターピンの曲がり検査
装置の一実施例の更に詳細な構成とその機能について以
下説明する。

まず、同図（ｂ）に示すようにコネクター２０を仮留め
したプリント基板２工、すなわちプリント基板２１の両
面を、コネクター２０の端面２０ｂの長手方向と直交す
る両はし近傍に端子２０ａを列設した端子列２０Ａ及び
端子列２０＾゛が挟持した状態のものを、試料載置台上
に前記端子列、例えば端子列２ＯＡを上方且つ水平にな
るようにして載置する。なお、試料載置台は図面の簡明
化のために図示省略しである。

次いで、シリンダの制御部（図示せず）を操作してシリ
ンダの作動を開始させると、光電スイッチを取りつけた
第１プランジヤ２４ａが本体部２４ｃから矢印Ａ方向に
静かに押し出されるとともに、遮蔽板を取りつけた第２
プランジヤ２４ｂが第１プランジヤと同一方向且つ同一
速度で本体部内に引き込まれる。

そして、遮蔽板がリセットセンサの送光部２５ａと受光
部２５ｂ間にきて送光部２５ａが送出するビーム状の光
線（図示せず）を遮断した瞬間に、リセ・ノドセンサは
電気信号を高速カウンタに送出して該高速カウンタが表
示している数字を零に戻すとともに動作状態とする。

斯かる時においてもシリンダは作動を続けているので、
第１プランジヤ及び第２プランジヤは、そのまま矢印入
方向に移動を続けている。

したがって、第１プランジヤに取り付けられた光電スイ
ッチは、高速カウンタが動作状態となった直後にプリン
ト基板に仮留めされたコネクターの最端ピンの直上部に
まず差し掛かる。

光電スイッチは、光を自ら発光して該ピンをプリント基
板に仮留めされたコネクターのピン上に結像させる発光
部と、プリント基板に仮留めされたコネクターのピン上
に結像した光の反射光を集光且つ受光してその強度があ
るレベル以上であれば電気信号を高速カウンタに送出し
、またあるレベル以下であれば電気信号を高速カウンタ
に送出しない受光部とを備えて構成されている。

斯くして、光電スイッチがプリント基板に仮留めされた
コネクターのピン列上を移動することにより、光電スイ
ッチはコネクターのピンに曲がりがなければ電気信号を
高速カウンタに送出し、曲がりがあれば電気信号を高速
カウンタに送出しないこととなる。

すなわち、ピンに曲がりがなければ光電スイッチの発光
部からの光はピン上に結像された状態で集光されている
から、当然その反射光の強度も強いために光電スイッチ
の受光部は電気信号を高速カウンタに送出、逆にピンに
曲がりがあると光電スイッチの発光部からの光はピン上
に発散した状態で照射されているから、当然その反射光
の強度も弱いために光電スイッチの受光部は電気信号を
送出しない。

また、高速カウンタは、光電スイッチからの電気信号の
出力回数を積算し、その出力回数を表示するように構成
されている。

したがって、光電スイッチがコネクターのもう一方の最
端のピンを最後に通過した時点で、高速カウンタが表示
している数字を読み取ることによりコネクターのピンに
曲がりがあるか否かの判定が可能となる。

すなわち、高速カウンタが表示している数字がピンの総
数と同一であればピンには一つの曲がりも無い状態、ま
た高速カウンタが表示している数字がピンの総数より小
さな数字であれば曲がりがあることを意味し、ピンの総
数と該表示された数字との差数が曲がりのあるピンの数
である。

そして、光電スイッチが全ピン上を通過し終わった直後
に、遮蔽板がエントドセンサの送光部２６ａと受光部２
６ｂ間にきて送光部２６ａが送出するビーム状の光線（
図示せず）を遮断した瞬間に、エンドセンサは電気信号
を高速カウンタに送出すると、高速カウンタは動作停止
状態となって表示された数字がそのままホールドされる
。

また、エンドセンサの前記電気信号は、シリンダの制御
部にも送出されるために、制御部はシリンダに第１プラ
ンジヤ及び第２プランジヤを矢印入方向とは逆方向に移
動させた後にその作動を停止させ、第１プランジヤ及び
第２プランジヤを初期位置に戻して停止させ次検査のた
めの待機状態とする。

〔発明の効果〕

以上の説明から明らかなように本発明によればコネクタ
ーピン曲がりを迅速に且つ正確に検出できるコネクター
ピンの曲がり検査装置の提供が可能となる。

したがって、本発明のコネクターピンの曲がり検査装置
により、コネクターをメモリカードのプリント基板に仮
留め状態のピンのプリント基板からの浮きを検査するこ
とにより、メモリカードの製造歩留まりの向上はもとよ
り、完成したメモリカードの信頼度も向上することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理説明図、 第２図は本発明のコネクターピンの曲がり検査装置の一
実施例の説明図、 第３図はメモリカードの組立工程順斜視図である。 図において、 １０はコネクター １０ａはコネクターのピン、 １０ｂはコネクターの端面、 １１は光照射手段、 １２は反射光検出手段、 １３は計測手段粒、 Ａは光、 Ｂは反射光をそれぞれ示す。 、ｆ−発ｅに４／ｌ左理訝朗図 第１図 ２０Ｑ　？’。 ２０Ａ’鴫）Ｉ′１

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 　端面（１０ｂ）に垂設且つ該端面（１０ｂ）の長手方
   向に直線状に列設されたピン（１０ａ）を有するコネク
   ター（１０）の該ピン（１０ａ）の列設方向と直交方向
   の曲がりを検査するコネクターピンの曲がり検査装置に
   おいて、 光（Ａ）を集光して前記ピン（１０ａ）上に結像する光
   照射手段（１１）と、 前記ピン（１０ａ）上に結像した前記光（Ａ）の反射光
   （Ｂ）の受光時は電気信号を出力し、非受光時は電気信
   号を出力しない反射光検出手段（１２）と、前記反射光
   検出手段（１２）から前記電気信号が出力された回数を
   計測して該回数を出力する計測手段（１３）とを含んで
   構成し、 前記コネクター（１０）を前記ピン（１０ａ）の列設方
   向に移動させて該ピン（１０ａ）の列設方向と直交方向
   の曲がりを検出することを特徴とするコネクターピンの
   曲がり検査装置。