JPH03215664A - 薄膜形成装置 - Google Patents
薄膜形成装置Info
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- JPH03215664A JPH03215664A JP2009742A JP974290A JPH03215664A JP H03215664 A JPH03215664 A JP H03215664A JP 2009742 A JP2009742 A JP 2009742A JP 974290 A JP974290 A JP 974290A JP H03215664 A JPH03215664 A JP H03215664A
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- Japan
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- cathode
- thin film
- plasma
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、半導体工業等の薄膜を形成する工程に利用す
ることができる薄膜形成装置の改良に関する。
ることができる薄膜形成装置の改良に関する。
[従来の技術]
近年、薄膜形成装置の発展には著しいものがある。たと
えば蒸着装置やスパッタリング装置により、磁気テープ
や反射膜などの製造手段としてさまざまな分野で薄膜形
成装置は用いられている。
えば蒸着装置やスパッタリング装置により、磁気テープ
や反射膜などの製造手段としてさまざまな分野で薄膜形
成装置は用いられている。
以下図面を参照しながら、上述した薄膜形成装置の一例
としてアルミニウム(A/)を堆積する場合について説
明する。
としてアルミニウム(A/)を堆積する場合について説
明する。
第2図は従来の薄膜形成装置の断面図を示すものである
。
。
真空槽1は、雰囲気ガス導入口8と雰囲気ガス排気口7
を有する。6は真空室内に軸方向の磁界を印加するため
の永久磁石であり、陽極2および陰極5は真空槽1内に
軸方向の電界を生じせしめるために配置されている。タ
ーゲット4をスパッタすることにより、スパッタされた
ターゲット分子が付着するのが基板3である。
を有する。6は真空室内に軸方向の磁界を印加するため
の永久磁石であり、陽極2および陰極5は真空槽1内に
軸方向の電界を生じせしめるために配置されている。タ
ーゲット4をスパッタすることにより、スパッタされた
ターゲット分子が付着するのが基板3である。
以上のように構成された薄膜形成装置について以下説明
する。
する。
真空槽1は接続されている雰囲気ガス導入口8からアル
ゴンガスをたとえば208CCMを流した状態で、真空
度はたとえば約5X10−3Torrに保たれる。
ゴンガスをたとえば208CCMを流した状態で、真空
度はたとえば約5X10−3Torrに保たれる。
雰囲気ガス導入口8より真空槽1に導入された上記のア
ルゴンガスに対して、陽極2と陰極5間にたとえば電圧
0.5KVを印加すると、ターゲット4表面に永久磁石
6による磁界の効果も加わってプラズマが発生する。こ
のプラズマ放電によって生じたアルゴンガスの正イオン
は、ターゲット4の原子をたたき出し、基板3において
アルミニウム膜を堆積する。
ルゴンガスに対して、陽極2と陰極5間にたとえば電圧
0.5KVを印加すると、ターゲット4表面に永久磁石
6による磁界の効果も加わってプラズマが発生する。こ
のプラズマ放電によって生じたアルゴンガスの正イオン
は、ターゲット4の原子をたたき出し、基板3において
アルミニウム膜を堆積する。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上記のような構成では、スパッタ電力を
増加していくとプラズマから生ずる熱によりターゲット
表面が熱せられる。そのためターゲットが金属の場合は
ターゲットが溶解したり、またターゲットが絶縁物の場
合はヒートショックによりターゲットが割れたりした。
増加していくとプラズマから生ずる熱によりターゲット
表面が熱せられる。そのためターゲットが金属の場合は
ターゲットが溶解したり、またターゲットが絶縁物の場
合はヒートショックによりターゲットが割れたりした。
その結果、スパッタ電力を必要以上に増加することがで
きないという課題を有していた。
きないという課題を有していた。
本発明は上記課題を解決するため、スパッタ電力を増加
させた場合においても、ターゲット表面が熱せられず、
かっ成膜速度の速い薄膜形成装置を提供するものである
。
させた場合においても、ターゲット表面が熱せられず、
かっ成膜速度の速い薄膜形成装置を提供するものである
。
[課題を解決するための手段]
上記課題を解決するために、本発明は、排気系に接続さ
れている真空槽内に、対向するように置かれた陰極ター
ゲットおよび陽極と、前記陰極ターゲットと陽極間に接
続される電源と、前記陰極ターゲット付近に電界と直交
するような磁界を発生させるために配置された磁界発生
手段を備え、前記陰極ターゲットと対向する陽極付近に
被スパッタ粒子を堆積させるための基板と、プラズマを
発生させるためのガスを導入するための雰囲気ガス導入
口と、雰囲気ガス排気口を含む薄膜形成装置において、
前記陰極ターゲットの表面近辺にセラミックシールドを
設けたことを特徴とする薄膜形成装置である。
れている真空槽内に、対向するように置かれた陰極ター
ゲットおよび陽極と、前記陰極ターゲットと陽極間に接
続される電源と、前記陰極ターゲット付近に電界と直交
するような磁界を発生させるために配置された磁界発生
手段を備え、前記陰極ターゲットと対向する陽極付近に
被スパッタ粒子を堆積させるための基板と、プラズマを
発生させるためのガスを導入するための雰囲気ガス導入
口と、雰囲気ガス排気口を含む薄膜形成装置において、
前記陰極ターゲットの表面近辺にセラミックシールドを
設けたことを特徴とする薄膜形成装置である。
[作用]
上記した本発明の構成によれば、雰囲気ガス導入口から
供給された不活性ガスおよび窒素ガスは、陽極一陰極間
に印加された電圧並びに永久磁石の磁界によってプラズ
マ状態となる。プラズマ中の電子は、プラズマ中のアル
ゴンイオンと比較して速度が速いので、アルゴンイオン
よりも早く陰極ターゲットに向かう。
供給された不活性ガスおよび窒素ガスは、陽極一陰極間
に印加された電圧並びに永久磁石の磁界によってプラズ
マ状態となる。プラズマ中の電子は、プラズマ中のアル
ゴンイオンと比較して速度が速いので、アルゴンイオン
よりも早く陰極ターゲットに向かう。
その際、陰極ターゲットの表面近辺セラミックシールド
で覆っておくので、電子がその部分でトラップされ、シ
ース電圧が低くなる。
で覆っておくので、電子がその部分でトラップされ、シ
ース電圧が低くなる。
その結果、陰極ターゲットとプラズマ間距離が変化し、
プラズマからの熱によって陰極ターゲットが熱せられに
くくなる。従って従来よりも高いスパッタ電力を投入す
ることが可能となる。
プラズマからの熱によって陰極ターゲットが熱せられに
くくなる。従って従来よりも高いスパッタ電力を投入す
ることが可能となる。
[実施例]
以下本発明の一実施例の薄膜形成装置について、図面を
参照しながら説明する。
参照しながら説明する。
第1図は、本発明の実施例における薄膜形成装置の断面
図を示すものである。真空9は、雰囲気ガス導入16と
、雰囲気ガス排気口15を有す。
図を示すものである。真空9は、雰囲気ガス導入16と
、雰囲気ガス排気口15を有す。
14は真空室内に軸方向の磁界を印加するための永久磁
石であり、陽極1oおよび陰極13は真空槽9に軸方向
の電界を生じせしめるために配置されている。ターゲッ
ト12をスパッタすることにより、スパッタされたター
ゲット分子が付着するのが基板11である。
石であり、陽極1oおよび陰極13は真空槽9に軸方向
の電界を生じせしめるために配置されている。ターゲッ
ト12をスパッタすることにより、スパッタされたター
ゲット分子が付着するのが基板11である。
以上のように構成された薄膜形成装置について、以下第
1図を用いてアルミニウムを堆積する場合について説明
する。
1図を用いてアルミニウムを堆積する場合について説明
する。
真空槽9は、雰囲気ガス導入口16からたとえばアルゴ
ンガス20SCCMを流した状態で、約2X10−3T
orrの真空に維持される。供給されたアルゴンガスは
、陽極1oと陰極13の間に印加された電圧および永久
磁石による磁界の効果によりプラズマ状態となる。
ンガス20SCCMを流した状態で、約2X10−3T
orrの真空に維持される。供給されたアルゴンガスは
、陽極1oと陰極13の間に印加された電圧および永久
磁石による磁界の効果によりプラズマ状態となる。
プラズマ状態になった雰囲気ガス中のアルゴンイオンは
ターゲットであるアルミニウムをスパッタする。その際
、より高いスパッタ電圧、たとえばIOKW程度を印加
しても、セラミックシールド17が電子をトラップする
ので、ターゲット表面がそれほど熱せられることなくス
パッタが可能となる。この実施例に用いたセラミックシ
ールド17は、陰極ターゲットの表面の約1/5を覆う
大きさであった。
ターゲットであるアルミニウムをスパッタする。その際
、より高いスパッタ電圧、たとえばIOKW程度を印加
しても、セラミックシールド17が電子をトラップする
ので、ターゲット表面がそれほど熱せられることなくス
パッタが可能となる。この実施例に用いたセラミックシ
ールド17は、陰極ターゲットの表面の約1/5を覆う
大きさであった。
またターゲットが絶縁物の場合はヒートショックにより
ターゲットが割れることが防止でき、その結果、スパッ
タ電力を大幅に増加することができる。
ターゲットが割れることが防止でき、その結果、スパッ
タ電力を大幅に増加することができる。
本発明で使用するセラミックシールド材料としては、セ
ラミック材料であればいかなるものでもよい。たとえば
アルミナ系、シリカ系、ジルコニア系、チタン系、或い
はこれらの混合組成物系である。
ラミック材料であればいかなるものでもよい。たとえば
アルミナ系、シリカ系、ジルコニア系、チタン系、或い
はこれらの混合組成物系である。
なお、セラミックシールド材料は、本発明の一実施例で
は、陰極ターゲットの表面の約1/5を覆ったが、陰極
ターゲットの周辺または陰極とターゲット間に設置して
も同様の効果が得られることを確認した。
は、陰極ターゲットの表面の約1/5を覆ったが、陰極
ターゲットの周辺または陰極とターゲット間に設置して
も同様の効果が得られることを確認した。
[発明の効果]
以上のように本発明によれば、陰極ターゲット電極の表
面近辺をセラミックシールドで覆うことにより、プラズ
マ中の電子がトラップされ、シース電圧が低くなること
からターゲット電極とプラズマ間距離が変化し、その結
果、より高いスパッタ電力を投入することが可能となり
、スパッタ電力を増加させた場合においても、ターゲッ
ト表面が熱せられず、かつ成膜速度の速い薄膜形成装置
とすることができるという顕著な効果を達成することが
できる。
面近辺をセラミックシールドで覆うことにより、プラズ
マ中の電子がトラップされ、シース電圧が低くなること
からターゲット電極とプラズマ間距離が変化し、その結
果、より高いスパッタ電力を投入することが可能となり
、スパッタ電力を増加させた場合においても、ターゲッ
ト表面が熱せられず、かつ成膜速度の速い薄膜形成装置
とすることができるという顕著な効果を達成することが
できる。
第1図は本発明の実施例における薄膜形成装置の断面図
、第2図は従来の薄膜形成装置の断面図である。 ■・・・真空槽、2・・・陽極、3・・・基板、4・・
・ターゲット、5・・・陰極、6・・・永久磁石、7・
・・雰囲気ガス排気口、8・・・雰囲気ガス導入口、9
・・・真空槽、10・・・陽極、11・・・基板、12
・・・ターゲット、13・・・陰極、14・・・永久磁
石、15・・・雰囲気ガス排気口、16・・・雰囲気ガ
ス導入口、17・・・セラミックシールド。 第1図 第2図
、第2図は従来の薄膜形成装置の断面図である。 ■・・・真空槽、2・・・陽極、3・・・基板、4・・
・ターゲット、5・・・陰極、6・・・永久磁石、7・
・・雰囲気ガス排気口、8・・・雰囲気ガス導入口、9
・・・真空槽、10・・・陽極、11・・・基板、12
・・・ターゲット、13・・・陰極、14・・・永久磁
石、15・・・雰囲気ガス排気口、16・・・雰囲気ガ
ス導入口、17・・・セラミックシールド。 第1図 第2図
Claims (1)
- (1) 排気系に接続されている真空槽内に、対向する
ように置かれた陰極ターゲットおよび陽極と、前記陰極
ターゲットと陽極間に接続される電源と、前記陰極ター
ゲット付近に電界と直交するような磁界を発生させるた
めに配置された磁界発生手段を備え、前記陰極ターゲッ
トと対向する陽極付近に被スパッタ粒子を堆積させるた
めの基板と、プラズマを発生させるためのガスを導入す
るための雰囲気ガス導入口と、雰囲気ガス排気口を含む
薄膜形成装置において、前記陰極ターゲットの表面近辺
にセラミックシールドを設けたことを特徴とする薄膜形
成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009742A JPH03215664A (ja) | 1990-01-18 | 1990-01-18 | 薄膜形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009742A JPH03215664A (ja) | 1990-01-18 | 1990-01-18 | 薄膜形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03215664A true JPH03215664A (ja) | 1991-09-20 |
Family
ID=11728764
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009742A Pending JPH03215664A (ja) | 1990-01-18 | 1990-01-18 | 薄膜形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03215664A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002220663A (ja) * | 2001-01-29 | 2002-08-09 | Anelva Corp | マグネトロンスパッタリング装置 |
| KR100444011B1 (ko) * | 1997-05-06 | 2004-11-03 | 삼성전자주식회사 | 마그네틱을이용한실리사이드제조방법 |
| US7041200B2 (en) * | 2002-04-19 | 2006-05-09 | Applied Materials, Inc. | Reducing particle generation during sputter deposition |
| RU2657275C2 (ru) * | 2016-11-17 | 2018-06-09 | Государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Московской области "Университет "Дубна" (Государственный университет "Дубна") | Способ получения пленок теллурида кадмия магнетронным распылением на постоянном токе |
-
1990
- 1990-01-18 JP JP2009742A patent/JPH03215664A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100444011B1 (ko) * | 1997-05-06 | 2004-11-03 | 삼성전자주식회사 | 마그네틱을이용한실리사이드제조방법 |
| JP2002220663A (ja) * | 2001-01-29 | 2002-08-09 | Anelva Corp | マグネトロンスパッタリング装置 |
| US7041200B2 (en) * | 2002-04-19 | 2006-05-09 | Applied Materials, Inc. | Reducing particle generation during sputter deposition |
| RU2657275C2 (ru) * | 2016-11-17 | 2018-06-09 | Государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Московской области "Университет "Дубна" (Государственный университет "Дубна") | Способ получения пленок теллурида кадмия магнетронным распылением на постоянном токе |
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