JPH03216501A - 小穴径寸法測定方法 - Google Patents
小穴径寸法測定方法Info
- Publication number
- JPH03216501A JPH03216501A JP1182190A JP1182190A JPH03216501A JP H03216501 A JPH03216501 A JP H03216501A JP 1182190 A JP1182190 A JP 1182190A JP 1182190 A JP1182190 A JP 1182190A JP H03216501 A JPH03216501 A JP H03216501A
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- JP
- Japan
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- measured
- hole diameter
- diameter
- hole
- capacitance
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- Pending
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明はミニチュア軸受のような小内径を有する部品
の内径寸法の測定方法に関するものである。
の内径寸法の測定方法に関するものである。
(従来の技術)
小穴の径寸法を簡易に測定しようとする場合、一般的な
方法としてシリンダーゲージタイプの接触式と、小穴の
表面の工・/ヂ部を光学的に拡大、観察しながら座標を
読み取る顕微鏡タイプの非接触式がある。
方法としてシリンダーゲージタイプの接触式と、小穴の
表面の工・/ヂ部を光学的に拡大、観察しながら座標を
読み取る顕微鏡タイプの非接触式がある。
(発明が解決しようとする課題)
しかし、シリングーゲージタイプの接触式では、測定子
を小さくすることに限界があり、数1以下の小穴の径を
測定することが困難である。
を小さくすることに限界があり、数1以下の小穴の径を
測定することが困難である。
また、顕微鏡タイプの非接触式では、穴の表面のエツヂ
部のみが、測定可能で、穴の内部は測定できない。
部のみが、測定可能で、穴の内部は測定できない。
この発明は工場においても使用できる簡易な測定操作に
より測定できる小穴の内径寸法測定方法の提供を目的と
する。
より測定できる小穴の内径寸法測定方法の提供を目的と
する。
(課題を解決する為の手段)
上記の目的を達成するためにこの発明は、導電性の測定
子の外径と被測定穴径面との隙間が均一になるように測
定子を位置させ、前記隙間の大きさによる静電容量を計
測し、予め求めておいた静電容量値と穴径寸法の関係図
より前記計測の静電容量値をもとに穴径寸法を求めるも
のである。
子の外径と被測定穴径面との隙間が均一になるように測
定子を位置させ、前記隙間の大きさによる静電容量を計
測し、予め求めておいた静電容量値と穴径寸法の関係図
より前記計測の静電容量値をもとに穴径寸法を求めるも
のである。
(作用)
披測定穴径に対し、測定子を求心後静電容量を計測し、
この静電容量と穴径寸法の関係図を利用してmff!に
穴径寸法を求められる。
この静電容量と穴径寸法の関係図を利用してmff!に
穴径寸法を求められる。
(実施例)
次に図を参照しながらこの発明の一実施例について説明
する。
する。
1は絶縁体でXYテーブル2上に載置されている。この
絶縁体1の上に小内径をもった被測定物3が置かれてい
る。4は先端に鋼球の取付けられた測定子で、図示を省
略した支持部材によって支承されている。5は静電容量
計で、導線によりそれぞれ測定子4と被測定物3と結線
されている。
絶縁体1の上に小内径をもった被測定物3が置かれてい
る。4は先端に鋼球の取付けられた測定子で、図示を省
略した支持部材によって支承されている。5は静電容量
計で、導線によりそれぞれ測定子4と被測定物3と結線
されている。
この測定法においては、絶縁体1上の被測定物3と測定
子4との求心を行うが、この実施例ではXYテーブル2
を微小変位させながら被測定物3を移動させ求心する。
子4との求心を行うが、この実施例ではXYテーブル2
を微小変位させながら被測定物3を移動させ求心する。
この求心は静電容量計5により静電容量の最小となる位
置を探索する。萌記求心は被測定物3の代りに測定子4
を変位させてもよい。
置を探索する。萌記求心は被測定物3の代りに測定子4
を変位させてもよい。
上記のように求心できたら、測定子4の外径と被測定物
3の内径との隙間の大!Ilさによってきまる静電容量
を静電容量計5により計測する。そして各測定子4毎に
、予め穴径寸法と静電容量の関係を求めた図(第2図参
照)により、計測した静電容量値から穴径寸法を求める
ことができる。
3の内径との隙間の大!Ilさによってきまる静電容量
を静電容量計5により計測する。そして各測定子4毎に
、予め穴径寸法と静電容量の関係を求めた図(第2図参
照)により、計測した静電容量値から穴径寸法を求める
ことができる。
上記のように予め測定子毎に穴径寸法と静電容量値の関
係を求めておく必要はあるが、この測定法では前記求心
作業の完了時の静電容量値が即測定値となる。
係を求めておく必要はあるが、この測定法では前記求心
作業の完了時の静電容量値が即測定値となる。
(発明の効果)
この発明は、静電容量を寸法測定に応用することにより
、非接触で測定力による変形のない内径寸法の測定が可
能となる。
、非接触で測定力による変形のない内径寸法の測定が可
能となる。
求心作業と同時に計測値が求められるので、比較的能率
的である。
的である。
しかも測定子に鋼球を用いることにより、測定子の径を
小さくすることができ、例えば0.5mmから数mmの
小穴の径にも十分対応できる。
小さくすることができ、例えば0.5mmから数mmの
小穴の径にも十分対応できる。
さらに測定子を内径面に沿って上下動することにより、
内径面の軸方向における任意の位置の測定も可能である
。
内径面の軸方向における任意の位置の測定も可能である
。
第1図はこの発明の一寅施例を示す説明用図、第2図は
静電容量値と寸法との関係を示す図である。 符号の説明 1は絶縁体、2はXYテーブル、3は被測定物、4は測
定子、5は静電容量計。
静電容量値と寸法との関係を示す図である。 符号の説明 1は絶縁体、2はXYテーブル、3は被測定物、4は測
定子、5は静電容量計。
Claims (1)
- 小さい穴径寸法測定方法において、電導性の測定子の外
径と被測定穴径面との隙間が均一になるように測定子を
位置させ、前記隙間の大きさによる静電容量を計測し、
予め求めておいた静電容量値と穴径寸法の関係より前記
計測の静電容量値をもとに穴径寸法を求める小穴径寸法
測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1182190A JPH03216501A (ja) | 1990-01-23 | 1990-01-23 | 小穴径寸法測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1182190A JPH03216501A (ja) | 1990-01-23 | 1990-01-23 | 小穴径寸法測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03216501A true JPH03216501A (ja) | 1991-09-24 |
Family
ID=11788446
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1182190A Pending JPH03216501A (ja) | 1990-01-23 | 1990-01-23 | 小穴径寸法測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03216501A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005199390A (ja) * | 2004-01-16 | 2005-07-28 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 切削加工装置 |
| JP2008309590A (ja) * | 2007-06-13 | 2008-12-25 | Mitsubishi Electric Corp | ノズル検査装置およびノズル検査方法 |
| WO2010139198A1 (en) * | 2009-05-31 | 2010-12-09 | Harbin Institute Of Technology | Ultraprecision non-contact three-dimensional probing system based on spherical capacitive plate |
| US20150056030A1 (en) * | 2013-02-26 | 2015-02-26 | The Boeing Company | Automated inspection system |
-
1990
- 1990-01-23 JP JP1182190A patent/JPH03216501A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005199390A (ja) * | 2004-01-16 | 2005-07-28 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 切削加工装置 |
| JP2008309590A (ja) * | 2007-06-13 | 2008-12-25 | Mitsubishi Electric Corp | ノズル検査装置およびノズル検査方法 |
| WO2010139198A1 (en) * | 2009-05-31 | 2010-12-09 | Harbin Institute Of Technology | Ultraprecision non-contact three-dimensional probing system based on spherical capacitive plate |
| GB2477893A (en) * | 2009-05-31 | 2011-08-17 | Harbin Inst Of Technology | Ultraprecision non-contact three-dimensional probing system based on spherical capacitive plate |
| GB2477893B (en) * | 2009-05-31 | 2016-07-13 | Harbin Institute Technology | Ultraprecision non-contact three-dimensional probing system based on spherical capacitive surface |
| US20150056030A1 (en) * | 2013-02-26 | 2015-02-26 | The Boeing Company | Automated inspection system |
| US9707656B2 (en) * | 2013-02-26 | 2017-07-18 | The Boeing Company | Automated inspection system |
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