JPH03219229A - デジタルx線読取装置 - Google Patents
デジタルx線読取装置Info
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- JPH03219229A JPH03219229A JP2263006A JP26300690A JPH03219229A JP H03219229 A JPH03219229 A JP H03219229A JP 2263006 A JP2263006 A JP 2263006A JP 26300690 A JP26300690 A JP 26300690A JP H03219229 A JPH03219229 A JP H03219229A
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- ray
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- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—HANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K4/00—Conversion screens for the conversion of the spatial distribution of X-rays or particle radiation into visible images, e.g. fluoroscopic screens
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/30—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/80—Camera processing pipelines; Components thereof
- H04N23/81—Camera processing pipelines; Components thereof for suppressing or minimising disturbance in the image signal generation
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/60—Circuit arrangements for obtaining a series of X-ray photographs or for X-ray cinematography
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
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- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
蓄積性蛍光板又はシートを使用したデジタルX線読取装
置に右けるデジタルX線画像信号の補正に関し、 蓄積性蛍光板又はシートが励起光により輝尽発光し、そ
の後に励起光が次の画素に移動した時に、輝尽発光の時
間的な尾引き、即ち、残光による読取速度の遅延を改善
することにより高速な読取を可能とするとを目的とし、 被写体を透過したX線エネルギの一部を吸収し蓄積する
蓄積性蛍光体板に励起光を照射し、これにより放射され
る輝尽発光光を光電変換器により変換し、A/D変換後
画像情報るデジタルX線読取装置において、輝尽発光さ
せるために該蓄積性蛍光板に照射する励起光を発生する
励起光発生手段と、励起後に該蓄積性蛍光板からの輝尽
発光光を収集する集光手段と、該輝尽発光光をアナログ
電気信号に変換する増倍するフォトマルチプライヤと、
該電気信号をデジタルX線画像信号に変換するアナログ
・デジタル変換手段と、輝尽発光の測光量を所定の時間
間隔でサンプリングし、該サンプリング間隔の各々にお
ける測光量と、該サンプリング間隔の各々における残光
との関係を規定する所定の式に基づき、該デジタルX線
画像信号を補正する補正手段と、該補正手段による補正
後のデジタルX線画像信号を格納するメモリを有する記
憶手段とにより構成される。
置に右けるデジタルX線画像信号の補正に関し、 蓄積性蛍光板又はシートが励起光により輝尽発光し、そ
の後に励起光が次の画素に移動した時に、輝尽発光の時
間的な尾引き、即ち、残光による読取速度の遅延を改善
することにより高速な読取を可能とするとを目的とし、 被写体を透過したX線エネルギの一部を吸収し蓄積する
蓄積性蛍光体板に励起光を照射し、これにより放射され
る輝尽発光光を光電変換器により変換し、A/D変換後
画像情報るデジタルX線読取装置において、輝尽発光さ
せるために該蓄積性蛍光板に照射する励起光を発生する
励起光発生手段と、励起後に該蓄積性蛍光板からの輝尽
発光光を収集する集光手段と、該輝尽発光光をアナログ
電気信号に変換する増倍するフォトマルチプライヤと、
該電気信号をデジタルX線画像信号に変換するアナログ
・デジタル変換手段と、輝尽発光の測光量を所定の時間
間隔でサンプリングし、該サンプリング間隔の各々にお
ける測光量と、該サンプリング間隔の各々における残光
との関係を規定する所定の式に基づき、該デジタルX線
画像信号を補正する補正手段と、該補正手段による補正
後のデジタルX線画像信号を格納するメモリを有する記
憶手段とにより構成される。
本発明は、デジタルX線読取装置に関し、特に、輝尽発
光光の残光により生じる読み取り時間の遅延に対処する
ために、読み取られたデジタルX線画像信号を補正する
補正手段に関する。
光光の残光により生じる読み取り時間の遅延に対処する
ために、読み取られたデジタルX線画像信号を補正する
補正手段に関する。
〔従来の技術と発明が解決しようとする課題〕従来から
X線画像の如き放射線画像は病気の診断用に広く用いら
れている。従来方法の1つとして、このX線画像を得る
ために被写体を透過したX線を蓄積性蛍光体板に照射し
、この可視光を銀塩を使用したフィルムに照射して現像
し放射線写真を得ている。
X線画像の如き放射線画像は病気の診断用に広く用いら
れている。従来方法の1つとして、このX線画像を得る
ために被写体を透過したX線を蓄積性蛍光体板に照射し
、この可視光を銀塩を使用したフィルムに照射して現像
し放射線写真を得ている。
さらに従来の方法として、高感度、高解像度のX線画像
を得るために、銀塩感光剤をシート上に塗布したフィル
ムに直接又は間接に放射線の二次元像を記録する方法が
ある。さらにこの方法に代わり、上述の蓄積性蛍光板又
はシートを使用する方法が利用されている。
を得るために、銀塩感光剤をシート上に塗布したフィル
ムに直接又は間接に放射線の二次元像を記録する方法が
ある。さらにこの方法に代わり、上述の蓄積性蛍光板又
はシートを使用する方法が利用されている。
この蓄積性蛍光板を使用する方法については、例えば、
米国特許第3.859.527号に基本的な方法が開示
されている。
米国特許第3.859.527号に基本的な方法が開示
されている。
第6図は従来のデジタルX線読取装置のブロック構成図
である。図中、3.1は蓄積性蛍光体板、3.4は励起
光発生源、3.5はガルバノメータ・ミラー、3.6は
f−θレンズ、3.7は副走査方向可動支持台、3.8
は光ファイバー、3.9はフォトマルチプライヤ、3.
10は増幅器、3.11はA/D変換器、3.12は画
像メモリである。
である。図中、3.1は蓄積性蛍光体板、3.4は励起
光発生源、3.5はガルバノメータ・ミラー、3.6は
f−θレンズ、3.7は副走査方向可動支持台、3.8
は光ファイバー、3.9はフォトマルチプライヤ、3.
10は増幅器、3.11はA/D変換器、3.12は画
像メモリである。
このシステムに使用される蓄積性蛍光板3.1はX線等
の放射線エネルギを受けると、そのエネルギの一部を蓄
積する。この蓄積状態は比較的安定であり長時間にわた
り保持される。この保持状態に励起光発生源3.4から
励起光として例えば、レーザビームを照射すると、蓄積
されていたエネルギが輝尽発光光となって放射される。
の放射線エネルギを受けると、そのエネルギの一部を蓄
積する。この蓄積状態は比較的安定であり長時間にわた
り保持される。この保持状態に励起光発生源3.4から
励起光として例えば、レーザビームを照射すると、蓄積
されていたエネルギが輝尽発光光となって放射される。
この輝尽発光光は、光ファイバを束ねた集光手段3.8
に集められ、フォトマルチプライヤ3.9にてアナログ
電気信号に変換しかつ増倍した後、A/D変換してメモ
lJ3.12に格納される。
に集められ、フォトマルチプライヤ3.9にてアナログ
電気信号に変換しかつ増倍した後、A/D変換してメモ
lJ3.12に格納される。
しかしながら、−船釣に輝尽発光があった後にその輝尽
発光の残光があるために、この残光が所定レベルまで減
衰するのを待たねばならず、そのため読み取りに時間が
かかるという問題がある。
発光の残光があるために、この残光が所定レベルまで減
衰するのを待たねばならず、そのため読み取りに時間が
かかるという問題がある。
これをさらに詳しく説明すると、励起光を蓄積性蛍光板
の所定の画素領域に照射し輝尽発光を得た後、励起光が
次の画像に移動すると、輝尽発光した前の画素の輝尽発
光は急激に減衰することなく一定のカーブに沿って連続
的に残光(尾引き)を生じて減衰する。
の所定の画素領域に照射し輝尽発光を得た後、励起光が
次の画像に移動すると、輝尽発光した前の画素の輝尽発
光は急激に減衰することなく一定のカーブに沿って連続
的に残光(尾引き)を生じて減衰する。
この場合、輝尽発光光の集光、受光系は励起光の走査線
上に並んでいるので、励起光を次の画素に直ちに照射す
ると、前の画素による輝尽発光光の残光と次の画素の輝
尽発光光を同時に検出することになるため、検出光が重
畳されて正確な画像情報が得られない。そのために正確
な画像情報が得られないという問題がある。
上に並んでいるので、励起光を次の画素に直ちに照射す
ると、前の画素による輝尽発光光の残光と次の画素の輝
尽発光光を同時に検出することになるため、検出光が重
畳されて正確な画像情報が得られない。そのために正確
な画像情報が得られないという問題がある。
従って、前画素の残光が所定の雑音レベルに減衰する時
間まで待ってから次画素への励起光の照射或いは読み取
りを行わなければならない。
間まで待ってから次画素への励起光の照射或いは読み取
りを行わなければならない。
即ち、蓄積性蛍光板の所定画素に励起光を照射し、そし
て次画素に照射が移った瞬間をt=Qとし、その時の輝
尽発光光量をKとすると、残光の時間的変化は次式で表
すことができる。
て次画素に照射が移った瞬間をt=Qとし、その時の輝
尽発光光量をKとすると、残光の時間的変化は次式で表
すことができる。
K (t) =K ・exp (−t/r) e
# ・(1)式(1)によると、例えば、残光が1/e
に減衰するまでの時間、即ち、時定数をτとする。
# ・(1)式(1)によると、例えば、残光が1/e
に減衰するまでの時間、即ち、時定数をτとする。
−例として、時定数τが 0.8μSであり、雑音レベ
ルが輝尽発光の最大検出光量の1/1000 (−60
dB)とすると、1画素に要する読取時間は(1)式か
ら明らかなように、 t #−2,303log (1/1000) Xo、
8 μs =5.5 μsとなる。
ルが輝尽発光の最大検出光量の1/1000 (−60
dB)とすると、1画素に要する読取時間は(1)式か
ら明らかなように、 t #−2,303log (1/1000) Xo、
8 μs =5.5 μsとなる。
一方、蓄積性蛍光体板の読み取るべき全画素数を、例え
ば、4 XIO’画素とし、励起光の走査効率ηを0.
7とすると、全読取時間Tは次の計算により約30秒と
なる。
ば、4 XIO’画素とし、励起光の走査効率ηを0.
7とすると、全読取時間Tは次の計算により約30秒と
なる。
T =5.5 μs X 4 xlO610,7#30
secこのように、従来は蓄積性蛍光体板からの残光
の時間的な尾引きによって、1画素を読み取る時間には
限界があった。
secこのように、従来は蓄積性蛍光体板からの残光
の時間的な尾引きによって、1画素を読み取る時間には
限界があった。
本発明の目的は、蓄積性蛍光体板からの残光による影響
をできるだけ低減するように補正することにより読取の
高速化を図ったデジタルX線読取装置を提供することに
ある。
をできるだけ低減するように補正することにより読取の
高速化を図ったデジタルX線読取装置を提供することに
ある。
第1図は本発明の原理構成図である。本発明は、被写体
を透過したX線エネルギの一部を吸収し蓄積する蓄積性
蛍光体板に励起光を照射し、これにより放出される輝尽
発光光を光電変換器により変換し、A/D変換後画像情
報るデジタルX線読取装置であって、輝尽発光させるた
めに該蓄積性蛍光板3.1に照射する励起光を発生する
励起光発生手段3.4と、励起後に該蓄積性蛍光板3.
1からの輝尽発光光を収集する集光手段3.8と、該輝
尽発光光をアナログ電気信号に変換し増倍するフォトマ
ルチプライヤ3.9と、該電気信号をデジタルX線画像
信号に変換するアナログ・デジタル変換手段3.11と
、輝尽発光の測光量Sを所定の時間間隔Δtでサンプリ
ングし、該サンプリング間隔の各々における測光量と、
該サンプリング間隔の各々における残光との関係を規定
する所定の式に基づき、該デジタルX線画像信号を補正
する補正手段3.13と、該補正手段による補正後のデ
ジタルX線画像信号を格納する記憶手段3.14とによ
り構成される。
を透過したX線エネルギの一部を吸収し蓄積する蓄積性
蛍光体板に励起光を照射し、これにより放出される輝尽
発光光を光電変換器により変換し、A/D変換後画像情
報るデジタルX線読取装置であって、輝尽発光させるた
めに該蓄積性蛍光板3.1に照射する励起光を発生する
励起光発生手段3.4と、励起後に該蓄積性蛍光板3.
1からの輝尽発光光を収集する集光手段3.8と、該輝
尽発光光をアナログ電気信号に変換し増倍するフォトマ
ルチプライヤ3.9と、該電気信号をデジタルX線画像
信号に変換するアナログ・デジタル変換手段3.11と
、輝尽発光の測光量Sを所定の時間間隔Δtでサンプリ
ングし、該サンプリング間隔の各々における測光量と、
該サンプリング間隔の各々における残光との関係を規定
する所定の式に基づき、該デジタルX線画像信号を補正
する補正手段3.13と、該補正手段による補正後のデ
ジタルX線画像信号を格納する記憶手段3.14とによ
り構成される。
本発明による補正は、補正手段内に乗算回路と減算回路
を設け、乗算回路は式exp (Δt/τ)で表される
一定値と直前の画素のデジタルX線画像信号S。−1と
を乗算し、減算回路は当該画素のデジタルX線画像信号
SNから、該乗算回路による演算結果Sn−1・exp
(Δt/τ〉を差し引き補正された補正値Qnを得る
ものである。そして、得られた補正値Qnをその画素の
読み取り値として後段で処理する。
を設け、乗算回路は式exp (Δt/τ)で表される
一定値と直前の画素のデジタルX線画像信号S。−1と
を乗算し、減算回路は当該画素のデジタルX線画像信号
SNから、該乗算回路による演算結果Sn−1・exp
(Δt/τ〉を差し引き補正された補正値Qnを得る
ものである。そして、得られた補正値Qnをその画素の
読み取り値として後段で処理する。
第1図において、励起光発生源3.4からは例えば、波
長780 nmの半導体レーザを使用し、ガルバノメー
タ・ミラー又はポリゴン・ミラー3.5により主走査方
向く矢印方向)によりレーザビームLを走査する。また
、副走査方向可動支持台3.7により主走査方向と直交
する副走査方向に蓄積性蛍光体板3.1を移動させる。
長780 nmの半導体レーザを使用し、ガルバノメー
タ・ミラー又はポリゴン・ミラー3.5により主走査方
向く矢印方向)によりレーザビームLを走査する。また
、副走査方向可動支持台3.7により主走査方向と直交
する副走査方向に蓄積性蛍光体板3.1を移動させる。
レーザビームの1走査により発生した輝尽発光光は光フ
ァイバを束ねた集光手段3.8によりフォトマルチプラ
イヤ3.9に導かれる。通常、集光手段3.8とフォト
マルチプライヤ(PMT)3.9の間には、励起光レー
ザの波長は透過せずに、輝尽発光光の波長を透過するフ
ィルタ(図示せず)を配置する。このフィルタにより選
択的に取り出された輝尽発光光はフォトマルチプライヤ
3.9にて電気信号に変換され増倍され、さらに増幅器
3.10にて増幅された後、A/D変換器3゜11にて
デジタル値に変換される。そして、このデジタルX線画
像信号は後述する補正手段3.13にて補正後、記憶手
段3.14に格納される。格納された補正値は後段の画
像処理を経てモニタに表示されるか若しくはハードコピ
ーされる。
ァイバを束ねた集光手段3.8によりフォトマルチプラ
イヤ3.9に導かれる。通常、集光手段3.8とフォト
マルチプライヤ(PMT)3.9の間には、励起光レー
ザの波長は透過せずに、輝尽発光光の波長を透過するフ
ィルタ(図示せず)を配置する。このフィルタにより選
択的に取り出された輝尽発光光はフォトマルチプライヤ
3.9にて電気信号に変換され増倍され、さらに増幅器
3.10にて増幅された後、A/D変換器3゜11にて
デジタル値に変換される。そして、このデジタルX線画
像信号は後述する補正手段3.13にて補正後、記憶手
段3.14に格納される。格納された補正値は後段の画
像処理を経てモニタに表示されるか若しくはハードコピ
ーされる。
第2図は本発明の一実施例補正回路のブロック図である
。図中、3.13 aは乗算回路、3.13 bは減算
回路である。SnSsr、−1は、フォトマルチプライ
ヤ3.9により得られたアナログ値をA/D変換器3.
11によりデジタル値に変換した測光量を示す。即ち、
S、、はレーザビームの照射された画素から放射される
輝尽発光を測定した測光量を示し、Sn−1は1つ前の
画素の測光量を示す。
。図中、3.13 aは乗算回路、3.13 bは減算
回路である。SnSsr、−1は、フォトマルチプライ
ヤ3.9により得られたアナログ値をA/D変換器3.
11によりデジタル値に変換した測光量を示す。即ち、
S、、はレーザビームの照射された画素から放射される
輝尽発光を測定した測光量を示し、Sn−1は1つ前の
画素の測光量を示す。
図示のように、まず、前画素の測光量S。−1と残光特
性を示す式(1)によるey、p (Δt/τ)とを乗
算回路3.13 aにて乗算する。そして、この演算結
果を当該画素の測光量S。から差し引き補正値Q。
性を示す式(1)によるey、p (Δt/τ)とを乗
算回路3.13 aにて乗算する。そして、この演算結
果を当該画素の測光量S。から差し引き補正値Q。
を得る。即ち、
Qh = Sh Sn−+ ’ eXp<Δt/τ
)・・・(2)この補正値Q、は画像メモリ3.14に
格納され、補正された画素値として後段にて表示若しく
は印刷される。
)・・・(2)この補正値Q、は画像メモリ3.14に
格納され、補正された画素値として後段にて表示若しく
は印刷される。
第3図は本発明の基本処理フローチャートである。この
処理はマイクロプロセッサにより処理される手順である
。前述のように、測光量S。−1及びS、、を取り込む
と(ステップ1)、次に、式(2)に基づき補正値Q。
処理はマイクロプロセッサにより処理される手順である
。前述のように、測光量S。−1及びS、、を取り込む
と(ステップ1)、次に、式(2)に基づき補正値Q。
を算出しくステップ2)、この補正値Q7をメモ’J
3.14に格納する(ステップ3)。格納された補正値
Q、、は補正された画素値として後段にて読み出され表
示若しくは印刷される。
3.14に格納する(ステップ3)。格納された補正値
Q、、は補正された画素値として後段にて読み出され表
示若しくは印刷される。
第4図は本発明による補正の説明図である。縦軸は測光
量、輝尽発光量、残光量等であり、横軸は時間である。
量、輝尽発光量、残光量等であり、横軸は時間である。
前述のように、主走査方向に励起光により走査していく
と、励起光が照射された瞬間にはその画素から“K”な
る輝尽発光がある。
と、励起光が照射された瞬間にはその画素から“K”な
る輝尽発光がある。
そして、励起光が通り過ぎるとその画素から残光が式(
1)のような曲線で発生される。
1)のような曲線で発生される。
図中、K、、に、、−−−−−−一に、、、に、、に、
、。1 は各画素の輝尽発光を示す。この時間間隔はΔ
tである。
、。1 は各画素の輝尽発光を示す。この時間間隔はΔ
tである。
前画素の測光量5ri−1は、当該画素の輝尽発光とそ
の直前の画素までの残光の総和で表すことができる。即
ち、 sn l =KOexp (−(n−i) Δt/r
) + K、 exp(−(n−2)△t/τ)+ +Kl、−2 exp (−Δt/τ)十に、、−1・
・・(3)次に、当該画素の測光量S。は、 S、、=Ko exp (−nΔt/r) + K+
exp(−(n−1)Δt/τ)+ +Kn−1eXp (−Δt/r) 十 K
。
の直前の画素までの残光の総和で表すことができる。即
ち、 sn l =KOexp (−(n−i) Δt/r
) + K、 exp(−(n−2)△t/τ)+ +Kl、−2 exp (−Δt/τ)十に、、−1・
・・(3)次に、当該画素の測光量S。は、 S、、=Ko exp (−nΔt/r) + K+
exp(−(n−1)Δt/τ)+ +Kn−1eXp (−Δt/r) 十 K
。
=S、、 exp (−Δt/τ)十に9・・・(4)
図中の式、 Qp −3p−3nexp (−(tp −tn)/r
) ・・・(5)において、この式は上記の(3)及
び(4)式から得られるもので、明らかなように、補正
値Q、は時間tpとtnの間の情報を示している。ここ
で、tp −tnは時間間隔であり、τは時定数である
から補正値QPを容易に求めることができる。
図中の式、 Qp −3p−3nexp (−(tp −tn)/r
) ・・・(5)において、この式は上記の(3)及
び(4)式から得られるもので、明らかなように、補正
値Q、は時間tpとtnの間の情報を示している。ここ
で、tp −tnは時間間隔であり、τは時定数である
から補正値QPを容易に求めることができる。
以上説明したように、式(5)に基づき測光量を補正す
ることにより、いかなるサンプリング間隔であっても前
画素による残光の影響を補正することができる。
ることにより、いかなるサンプリング間隔であっても前
画素による残光の影響を補正することができる。
第5図は本発明を適用するデジタルX線読取装置の要部
構成図である。図中、1.1は制御車、1゜2はX線管
、1.3は超音波距離計、1.6はモニタ画面、2.0
は制御部、2.1は標準ヒストグラム、2.2は判定部
である。さらに、3.0は被写体、3゜1は蓄積性蛍光
体板、3.3は本読取部である。
構成図である。図中、1.1は制御車、1゜2はX線管
、1.3は超音波距離計、1.6はモニタ画面、2.0
は制御部、2.1は標準ヒストグラム、2.2は判定部
である。さらに、3.0は被写体、3゜1は蓄積性蛍光
体板、3.3は本読取部である。
医師はこの制御卓1.1からX線管電圧、管電流、照射
時間、撮影部位等を人力する。これらの照射条件は制御
部2.0に送られ、また、X線管1.2から対象物3.
0までの距離もまた制御部2.0に送られる。制御部2
.0はこれらの撮影条件から被写体に入射するX線量や
蓄積性蛍光体板3.1に到達する量を予測し、撮影部位
、診断目的に応じて標準ヒストグラムの中から最も近似
するものを選択してモニタ画面1.6に表示する。
時間、撮影部位等を人力する。これらの照射条件は制御
部2.0に送られ、また、X線管1.2から対象物3.
0までの距離もまた制御部2.0に送られる。制御部2
.0はこれらの撮影条件から被写体に入射するX線量や
蓄積性蛍光体板3.1に到達する量を予測し、撮影部位
、診断目的に応じて標準ヒストグラムの中から最も近似
するものを選択してモニタ画面1.6に表示する。
モニタ画面の横軸はX線強度(I)、縦軸は頻度(f)
であり、Hはヒストグラムである。診断部位に応じて、
このヒストグラムのX線強度の特定範囲を指定して診断
目的、例えば、肺野部の診断を行う。この特定範囲の情
報に沿ってフォトマツチプライヤの増倍率や増幅器の増
幅度を決定し本読取部3.3に情報提供する。なお、本
読取とは、医師が実際に診断のためにX線画像を読み取
る行為をいう。
であり、Hはヒストグラムである。診断部位に応じて、
このヒストグラムのX線強度の特定範囲を指定して診断
目的、例えば、肺野部の診断を行う。この特定範囲の情
報に沿ってフォトマツチプライヤの増倍率や増幅器の増
幅度を決定し本読取部3.3に情報提供する。なお、本
読取とは、医師が実際に診断のためにX線画像を読み取
る行為をいう。
以上説明したように、本発明によれば当該画素の測光量
と前画素の測光量に基づく所定の式により前画素による
残光の影響を補正することができるので、X線画像の高
速読み取りが可能となり全体的な処理時間の短縮になる
。
と前画素の測光量に基づく所定の式により前画素による
残光の影響を補正することができるので、X線画像の高
速読み取りが可能となり全体的な処理時間の短縮になる
。
第1図は本発明の原理構成図、
第2図は本発明の一実施例補正回路のブロック図、
第3図は本発明の基本処理フローチャート、第4図は本
発明による補正の説明図、 第5図は本発明を適用するデジタルX線読み取り装置の
要部構成図、及び 第6図は従来装置の要部構成図である。 (符号の説明) 3.1・・・蓄積性蛍光体板 3.4・・・励起光発生源、 3.5・・・ガルバノメータ・ミラー 3.6・・・f−θレンズ、 3.8・・・光ファイバ、 3.9・・・フォトマルチプライヤ、 3.10・・・増幅器、 3.11・・・A/D変換器、 3.13・・・補正回路、 3、13a・・・乗算回路、 3、13b・・・減算回路、 3.14・・・メモリ。 3.13
発明による補正の説明図、 第5図は本発明を適用するデジタルX線読み取り装置の
要部構成図、及び 第6図は従来装置の要部構成図である。 (符号の説明) 3.1・・・蓄積性蛍光体板 3.4・・・励起光発生源、 3.5・・・ガルバノメータ・ミラー 3.6・・・f−θレンズ、 3.8・・・光ファイバ、 3.9・・・フォトマルチプライヤ、 3.10・・・増幅器、 3.11・・・A/D変換器、 3.13・・・補正回路、 3、13a・・・乗算回路、 3、13b・・・減算回路、 3.14・・・メモリ。 3.13
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、被写体を透過したX線エネルギの一部を吸収し蓄積
する蓄積性蛍光体板に励起光を照射し、これにより放出
される輝尽発光光を光電変換器により変換し、A/D変
換後画像情報を得るデジタルX線読取装置において、 輝尽発光させるために該蓄積性蛍光板(3、1)に照射
する励起光を発生する励起光発生手段(3、4)と、 励起後に該蓄積性蛍光板(3、1)からの輝尽発光光を
収集する集光手段(3、8)と、該輝尽発光光をアナロ
グ電気信号に変換し増倍するフォトマルチプライヤ(3
、9)と、該電気信号をデジタルX線画像信号に変換す
るアナログ・デジタル変換手段(3、11)と、輝尽発
光の測光量(S)を所定の時間間隔(Δt)でサンプリ
ングし、該サンプリング間隔の各々における測光量と、
該サンプリング間隔の各々における残光との関係を規定
する所定の式に基づき、該デジタルX線画像信号を補正
する補正手段(3、13)と、 該補正手段による補正後のデジタルX線画像信号を格納
する記憶手段(3、14)と、 を具備することを特徴とするデジタルX線読取装置。 2、該補正手段(3、13)は、式exp(Δt/τ)
、但し、τは時定数、で表される一定値と直前の画素の
デジタルX線画像信号の測光量(S_n_−_1)とを
乗算する乗算回路(3、13a)と、当該画素のデジタ
ルX線画像信号の測光量(S_n)から、該乗算回路(
3、13a)による演算結果、S_n_−_1・exp
(Δt/τ)を差し引き補正された値(Qn)を得る減
算回路(3、13b)を具備する請求項1に記載のデジ
タルX線読取装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1-255265 | 1989-10-02 | ||
| JP25526589 | 1989-10-02 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03219229A true JPH03219229A (ja) | 1991-09-26 |
Family
ID=17276349
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2263006A Pending JPH03219229A (ja) | 1989-10-02 | 1990-10-02 | デジタルx線読取装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5083024A (ja) |
| EP (1) | EP0422817B1 (ja) |
| JP (1) | JPH03219229A (ja) |
| DE (1) | DE69029554T2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001309915A (ja) * | 2000-02-16 | 2001-11-06 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ctイメージング・システムの検出器のための高次主減衰補正 |
| JP2007183213A (ja) * | 2006-01-10 | 2007-07-19 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE69429142T2 (de) * | 1993-09-03 | 2002-08-22 | Koninklijke Philips Electronics N.V., Eindhoven | Roentgenbildaufnehmer |
| EP0642264B1 (en) * | 1993-09-03 | 2001-11-21 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Image detection device |
| GB9326413D0 (en) * | 1993-12-24 | 1994-02-23 | British Nuclear Fuels Plc | Materials and devices incorporating phosphors |
| JP3894534B2 (ja) * | 2001-05-16 | 2007-03-22 | キヤノン株式会社 | 撮像装置および放射線撮像装置 |
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| DE3803766A1 (de) * | 1988-02-08 | 1989-08-17 | Siemens Ag | Roentgendiagnostikeinrichtung mit einem speicherleuchtschirm |
-
1990
- 1990-10-02 JP JP2263006A patent/JPH03219229A/ja active Pending
- 1990-10-02 US US07/591,805 patent/US5083024A/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-10-02 EP EP90310765A patent/EP0422817B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-10-02 DE DE69029554T patent/DE69029554T2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69029554D1 (de) | 1997-02-13 |
| US5083024A (en) | 1992-01-21 |
| DE69029554T2 (de) | 1997-04-24 |
| EP0422817A1 (en) | 1991-04-17 |
| EP0422817B1 (en) | 1997-01-02 |
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