JPH0323584Y2 - - Google Patents

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JPH0323584Y2
JPH0323584Y2 JP1984029805U JP2980584U JPH0323584Y2 JP H0323584 Y2 JPH0323584 Y2 JP H0323584Y2 JP 1984029805 U JP1984029805 U JP 1984029805U JP 2980584 U JP2980584 U JP 2980584U JP H0323584 Y2 JPH0323584 Y2 JP H0323584Y2
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lead wire
drum
measurement terminal
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  • Testing Relating To Insulation (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
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Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、電子部品の測定装置に関し、たと
えば、抵抗器のような、本体部分の両側に一対の
リード線を取付けた形態を有する電子部品の性
能・特性の測定を、上記リード線に測定端子を押
しつけて行なうようにした測定装置の改良に関す
る。
連続的に生産される電子部品は、製造工程の最
終段階において、その性能・特性を測定され、所
定の性能・特性に合致しないものを不良品として
除外するということが一般に行なわれている。た
とえば抵抗器やダイオードなど、本体部分の両側
に一対のリード線を取付けた形態の電子部品にお
いては、上記一対のリード線に測定端子を接触さ
せることにより、上記の測定が行なわる。
ところで、上記リード線は、たとえば銅線など
の導体線にハンダ被膜を施して構成されるのであ
るが、ハンダは空気に触れるとわずかな時間でそ
の表面に比較的硬い酸化膜が形成されるため、正
確な性能・特性の測定を行なうには、何らかの方
法で、測定端子が酸化膜の下のハンダそのもの、
あるいは銅線そのものに直接接触するようにする
必要がある。測定端子がかりに酸化膜を介してリ
ード線に接触するとなると、酸化膜の電気抵抗の
影響が出て正確な測定を行なうことができず、本
来良品であるはずのものが不良品として除外さ
れ、良品率が一挙に低下してしまうことになる。
従来のこの種の一般的な測定装置は、外周の電
子部品を等間隔に担持してこれらの電子部品を所
定の測定位置に運ぶための搬送ドラムと、測定位
置において、その測定位置に近づきまたは遠ざか
るように往復動し、かつ測定端子を持つた測定端
子支持体とを有して構成され、上記電子部品が測
定位置に位置したとき、上記測定端子支持体が動
いて測定端子を電子部品のリード線に押しつけて
所定の測定をするようになつている。このような
測定装置では、測定端子が単にリード線に接触す
るだけであるので、上に述べたようにリード線に
酸化膜が形成されている場合にはその酸化膜の抵
抗の影響が出て正確な測定が行なえないことにな
る。このような装置において酸化膜の影響を除外
するには、たとえば、リード線が当接していると
きに測定端子をリード線方向に往復動させる機構
を測定端子支持体に付加し、リード線の酸化膜を
測定端子で擦り落としながら測定を行なうという
ことが考えられる。しかしながら、このようにす
ると、本来的に測定端子支持体が往復動する機構
の作動スピードをそれほど上げることができない
上に、あらたな機構が付加されるので、測定スピ
ードがさらに遅くなり、また、機構が複雑化して
コスト高をまぬがれないという問題がある。
本考案は、上記のような事情のもとで考え出さ
れたものであつて、その目的は、リード線の酸化
膜の影響がない正確な電子部品の性能・特性の測
定を、より高速で行なうことができる電子部品の
測定装置を提供することである。
このような目的を達成するため、本考案では、
次の技術的手段を講じている。
すなわち、適当な送り装置から電子部品を順次
受け取り、これを一定間隔毎に外周に担持して回
転する搬送ドラムと、回転する搬送ドラム上の電
子部品のリード線に順次弾性的に接触するように
外部固定体に支持させた測定端子とを備える電子
部品の測定装置において、少なくとも2個のプー
リに無端状に掛け回されて走行しうる条体の一部
を、上記搬送ドラムの外周における上記測定端子
と対応した部位に接触させ、上記測定端子が上記
リード線に接触するとき、このリード線が上記搬
送ドラムの外周と上記条体との間に挾み込まれて
搬送ドラムの外周に対する転がり回転が阻止され
るようにしたこと、である。
上記無端状の条体は、仮にこれを掛けるプーリ
が自由回転するものとすると、搬送ドラムに接触
する部分は搬送ドラムと同一の速度で走行する。
したがつて、搬送ドラム上に担持された電子部品
のリード線は搬送ドラムの外周面とこれと同一速
度で走行する条体との間に挾まれ、転がり回転を
しなくなる。こうして転がり回転できないように
支持されたリード線に測定端子が接触すると、測
定端子はリード線の表面をほぼ搬送ドラムの周速
と同一速度で擦ることになり、このときリード線
に形成された酸化膜は効果的に擦り取られ、結
局、リード線に形成される酸化膜の影響のない、
正確な測定を行なうことができる。しかも、リー
ド線に測定端子を擦り付けるといつた特別な機構
が全く必要がないので、搬送ドラムの高速回転が
可能となり、効率のよい測定を行なうことができ
る。
以下、本考案の好ましい実施例を図面を参照し
つつ具体的に説明する。
搬送ドラム1は、図示しない機枠に回転可能に
支持された軸2に取付けられており、その周縁部
には、第2図に表れているように、電子部品3の
本体部4が位置すべき所定間隔の空間部5を挾む
ようにして左右一対のリード線支持部6…が形成
される。本例では、第3図によく表れているよう
に、円筒状外面部7と、この外面部7に乗るリー
ド線8が周方向にずれ動かないように規制する掛
止部9とを備え、かつ絶縁材料で形成された多数
個のリード線支持部材10…を上記搬送ドラム1
の基部円板部11に取付けて構成されている。ま
た、この搬送ドラム1の上部においてこの搬送ド
ラムの幅方向中央線方向にのびる板状の固定部材
12の両側には、上記左右のリード線支持部6の
円筒状外面部7上に位置する左右のリード線8
a,8bに接触すべき測定端子13が一方向に付
勢しながら回動可能に取付けられる。この測定端
子13としては、たとえば、中間部を上記固定部
材12の側面に突設した軸に対して回動可能に支
持されたアーム状に形成し、その接触部端縁14
を上記筒状外面部7の接線状にのびる所定長さの
直線状とするとともに、その後端部と固定部材1
2との間に引張コイルバネ15を介在させること
により構成することができる。この結果、測定端
子13の先端部は第1図矢印A方向に常時付勢さ
れ、その接触部端縁14は、常時弾性的に搬送ド
ラム1の円筒状外面部7ないしこれに担持される
リード線8に押しつけられることになる。なお、
本例では、左右のリード線8a,8bにそれぞれ
2個の測定端子13を接触させるように構成して
いるが、測定端子13の数はどのような測定をす
るかによつて適宜変更可能である。
さらに、上記搬送ドラム1の外周における上記
測定端子13が位置する部位の後方において、上
記外面部7にできるだけ近い位置に回転可能に支
持された第一プーリ16、同じく上記測定端子1
3が位置する部位の前方において上記外面部7に
できるだけ近い位置に回転可能に支持された第二
のプーリ17、および、上記測定端子13の邪魔
にならないように搬送ドラム1の上方に回転可能
に支持された第三プーリ18には、たとえばゴム
ベルト19などの無端状の条体が掛け回される。
こうして第一プーリ16と第二プーリ17とを測
定ドラム1の外面部7にできるだけ近く位置させ
る結果、この第一プーリ16と第二プーリ17と
の間を走行するゴムベルト19は、第1図および
第3図によく表れているように、搬送ドラム1の
外面部7の円弧形状に沿つて曲がりながらこの外
面部7に密着することになる。このゴムベルト1
9を掛け回すべき上記3個のプーリ16,17,
18は、それぞれフリー回転しうるようにしてお
けばよく、この結果、測定ドラム1が回転する
と、これに連れ回るようにしてゴムベルト19も
走行し、同時に、搬送ドラム1の外面部7に位置
する各電子部品3のリード線8は、上記外面部7
とこれに密着するゴムベルト19の間に弾性的に
挾まれながら転がり回転することなく移動するこ
とになる。なお、上記3個のプーリ16,17,
18およびこれに掛け回される条体19は、左右
のリード線支持部6に対して一組ずつ設けられる
ことはいうまでもない。
本測定装置の作動中は、回転する搬送ドラム1
上に等間隔に担持された電子部品のリード線8に
測定端子13の端縁14が摺接し、この間に所定
の測定が行なわれるのであるが、本考案では、上
記のように搬送ドラム1上のリード線8はゴムベ
ルト19に押えられて転がり回転しないので、測
定端子13がリード線に接触しているとき、この
測定端子自身がリード線を効果的に擦るため、こ
の擦り作用によつてリード線8の表面の酸化膜は
効果的に剥ぎ取られる。このような効果は、も
し、本考案のようにリード線8を押え付けるゴム
ベルトが存在しない場合、搬送ドラム1の外面部
7に対して相対的に移動する測定端子13が上記
リード線8に接触したとたんにこのリード線8が
転がり回転させられ、リード線8の表面と測定端
子の端縁14との間に相対的なすべりが発生しな
いと想像されることから明らかであろう。
なお、図示例において電子部品3を搬送ドラム
1上に送るための送り装置は、左右一対のガイド
板20によつて構成された搬送路21上を、チエ
ン22に取付けられた送り爪23でリード線8を
引つ掛けながら送るようにしたものが用いられて
おり、また、上記チエン22は、搬送ドラム1を
支持する軸2に取付けられたスプロケツト24に
噛合して搬送ドラム1を回転させる役割をも果た
している。
上記搬送路21上を順次送られた電子部品3
は、その左右のリード線8が掛止部9に引つ掛け
られることにより搬送ドラム1のリード線支持部
6上の置き換えられる。そして、第一プーリ16
と第二プーリ17の間の条体19によつてリード
線8を押えられながらこのリード線8に測定端子
13に接触させられ、所定の測定が連続的に行な
われる。測定によつて不良品であると判断された
電子部品は、第1図の仮想線の位置から実線の位
置に回動した不良品排出シユート25によつて外
部に除けられ、良品と判断された電子部品だけが
搬送ドラム1のリード線支持部6に保持されたま
ま次の工程へと運ばれる。
以上説明したように、本考案の電子部品の測定
装置は、搬送ドラム上を移動する電子部品のリー
ド線を、プーリに掛け回された無端状の条体で押
えながらこのリード線に測定端子を接触させて所
定の測定を行なうようにしているので、転がり回
転不能となつたリード線を測定端子で効果的に擦
り、これによつてリード線の表面の酸化膜を剥ぎ
取りながら測定を行なうことができる。したがつ
て、酸化膜の下のハンダ自体または導線自体に直
接的に測定端子を接触させて正確な測定を高速で
行なうことができる。また、本考案は、従来から
存在する測定端子をリード線に摺接させるように
構成された測定装置に、所定個数のプーリとこれ
に掛け回す条体を付加するだけで簡単に構成する
ことができ、コスト的に非常に有利である。
なお、本考案の範囲は図面に示した実施例に限
定されないことは勿論である。たとえば、条体を
掛け回すプーリとしては、3個にかぎらず、2
個、あるいは4個以上としてもよい。また、条体
としては、図示例のようなゴムベルト状のものの
ほか、布製のベルトであつてもよい。また、ベル
トの断面としても、図示例のように丸状のほか、
平状としてもよい。さらに、図示例では、条体を
掛け回すプーリはフリー回転するものとし、条体
は搬送ドラムに連れ回るように構成しているが、
何れかのプーリを回転駆動し、条体を搬送ドラム
の周速と同一の速度で走行させるようにしてもよ
い。また、このような回転駆動装置による条体の
走行速度を搬送ドラムの周速より若干速く設定し
てもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の一部断面側面図、
第2図は第1図の−線断面図、第3図は要部
の斜視図、第4図は第1図の−線矢視図であ
る。 1……搬送ドラム、3……電子部品、8……リ
ード線、13……測定端子、16,17,18…
…プーリ、19……条体(ゴムベルト)。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 適当な送り装置から電子部品を順次受け取り、
    これを一定間隔毎に外周に担持して回転する搬送
    ドラムと、回転する搬送ドラム上の電子部品のリ
    ード線に順次弾性的に接触するように外部固定体
    に支持させた測定端子とを備える電子部品の測定
    装置において、 少なくとも2個のプーリに無端状に掛け回され
    て走行しうる条体の一部を、上記搬送ドラムの外
    周における上記測定端子と対応した部位に接触さ
    せ、上記測定端子が上記リード線に接触すると
    き、このリード線が上記搬送ドラムの外周と上記
    条体との間に挾み込まれて搬送ドラムの外周に対
    する転がり回転が阻止されるようにしたことを特
    徴とする、電子部品の測定装置。
JP2980584U 1984-02-29 1984-02-29 電子部品の測定装置 Granted JPS60141567U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2980584U JPS60141567U (ja) 1984-02-29 1984-02-29 電子部品の測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2980584U JPS60141567U (ja) 1984-02-29 1984-02-29 電子部品の測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60141567U JPS60141567U (ja) 1985-09-19
JPH0323584Y2 true JPH0323584Y2 (ja) 1991-05-22

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JP2980584U Granted JPS60141567U (ja) 1984-02-29 1984-02-29 電子部品の測定装置

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JP (1) JPS60141567U (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5925471B2 (ja) * 1977-11-28 1984-06-18 日東工業株式会社 連続生産ラインに於ける電子部品等の抵抗測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS60141567U (ja) 1985-09-19

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