JPH03242566A - 回路基板検査装置 - Google Patents
回路基板検査装置Info
- Publication number
- JPH03242566A JPH03242566A JP2039358A JP3935890A JPH03242566A JP H03242566 A JPH03242566 A JP H03242566A JP 2039358 A JP2039358 A JP 2039358A JP 3935890 A JP3935890 A JP 3935890A JP H03242566 A JPH03242566 A JP H03242566A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- board
- inspection
- unit
- circuit board
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- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 13
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 12
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は回路基板検査装置に関し、さらに詳しく言え
ば、多品種の回路基板を自動的に検査し得る回路基板検
査装置に関するものである。
ば、多品種の回路基板を自動的に検査し得る回路基板検
査装置に関するものである。
自動化された回路基板検査装置においては、被検査回路
基板をコンベアなどの搬送手段にて順次基板検査部に搬
送し、同基板検査部にて所定の検査プログラムにしたが
って被検査回路基板を電気的に測定するようにしている
。
基板をコンベアなどの搬送手段にて順次基板検査部に搬
送し、同基板検査部にて所定の検査プログラムにしたが
って被検査回路基板を電気的に測定するようにしている
。
ところで、基板検査部にはフイクスチュアーと呼ばれる
基板固定手段が設けられている。このフィクスチュアー
には、被検査回路基板の測定ポイントに対応して配置さ
れた複数のプローブを有するビンボードが設けられてお
り、検査に際してはその全プローブを測定ポイントに接
触させ、所定の検査プログラムにしたがってスキャナを
切換え。
基板固定手段が設けられている。このフィクスチュアー
には、被検査回路基板の測定ポイントに対応して配置さ
れた複数のプローブを有するビンボードが設けられてお
り、検査に際してはその全プローブを測定ポイントに接
触させ、所定の検査プログラムにしたがってスキャナを
切換え。
例えばビン間測定の場合には２本のプローブを選択して
それらを測定信号源と信号測定部に接続するようにして
いる。
それらを測定信号源と信号測定部に接続するようにして
いる。
この従来装置は、同じ被検査回路基板を大量に処理する
場合には威力を発揮するが、多品種少量生産品になると
次のような問題があった。すなわち、機種が変わるごと
にピンボードおよびその検査プログラムなどを変更する
必要があり、これには多大な時間がかかる。
場合には威力を発揮するが、多品種少量生産品になると
次のような問題があった。すなわち、機種が変わるごと
にピンボードおよびその検査プログラムなどを変更する
必要があり、これには多大な時間がかかる。
この発明は上記課題を解決するためになされたもので、
その構成上の特徴は、被検査回路基板と平行な平面内で
移動自在な一対のＸ−Ｙユニットを有しその各ユニット
に測定信号源に接続される信号源側プローブと信号測定
部側に接続される測定部側プローブとを設けてなる基板
検査部と、被検査回路基板を上記基板検査部に搬送する
コンベアなどの搬送手段と、上記被検査回路基板の種類
を判別する基板判別部と、該基板判別部にて判別された
基板の種類に応じてそれに対応する所定の検査プログラ
ムおよび上記Ｘ−Ｙユニツ１−を駆動する位置座標デー
タなどを設定する制御部とを備えていることにある。
その構成上の特徴は、被検査回路基板と平行な平面内で
移動自在な一対のＸ−Ｙユニットを有しその各ユニット
に測定信号源に接続される信号源側プローブと信号測定
部側に接続される測定部側プローブとを設けてなる基板
検査部と、被検査回路基板を上記基板検査部に搬送する
コンベアなどの搬送手段と、上記被検査回路基板の種類
を判別する基板判別部と、該基板判別部にて判別された
基板の種類に応じてそれに対応する所定の検査プログラ
ムおよび上記Ｘ−Ｙユニツ１−を駆動する位置座標デー
タなどを設定する制御部とを備えていることにある。
基板判別部にて被検査回路基板の種別が判別されると、
制御部にてその基板検査に必要は検査プログラムおよび
Ｘ−Ｙユニットを駆動する位置座標データなどが自動的
に設定される。
制御部にてその基板検査に必要は検査プログラムおよび
Ｘ−Ｙユニットを駆動する位置座標データなどが自動的
に設定される。
以下、この発明の実施例を添付図面を参照しながら詳細
に説明する。
に説明する。
この回路基板検査装置の概略が示されている第１図を参
照すると、同装置は被検査回路基板１を運び入れるため
の第１コンベア２を備えている。
照すると、同装置は被検査回路基板１を運び入れるため
の第１コンベア２を備えている。
同コンベア２の所定位置には、被検査回路基板１の種別
を判別する基板判別部３が設けられている。
を判別する基板判別部３が設けられている。
この実施例において、基板判別部３はＣＣＤカメラを有
し、その撮像した形状によりどのような種類の基板であ
るかを判別するようにしている。なお、この他に例えば
被検査回路基板１にバーコードを付けておき、それを読
み取るようにしてもよい。
し、その撮像した形状によりどのような種類の基板であ
るかを判別するようにしている。なお、この他に例えば
被検査回路基板１にバーコードを付けておき、それを読
み取るようにしてもよい。
第２同に例示されているように、第１コンベア２の終端
側には検査前基板ストッカー４と、被検査回路基板１を
コンベア２から同ストッカー４に移し代えるプッシャー
５とが設けられている。検査前基板ストッカー４は複数
の棚板４ａを有する例えば縦長の箱体からなり、その背
面側には屏動源をモータ６とするピニオン７ａとラック
７ｂからなる上下動機構７が設けられている。プッシャ
ー５は第１コンベア２を横切る方向に往復動自在で、図
示されていないが例えばエアシンリダーもしくはソレノ
イドなどにより駆動される。
側には検査前基板ストッカー４と、被検査回路基板１を
コンベア２から同ストッカー４に移し代えるプッシャー
５とが設けられている。検査前基板ストッカー４は複数
の棚板４ａを有する例えば縦長の箱体からなり、その背
面側には屏動源をモータ６とするピニオン７ａとラック
７ｂからなる上下動機構７が設けられている。プッシャ
ー５は第１コンベア２を横切る方向に往復動自在で、図
示されていないが例えばエアシンリダーもしくはソレノ
イドなどにより駆動される。
第１コンベア２の終端側上部には、検査前基板ストッカ
ー４から被検査回路基板１が受は渡される第２コンベア
１１が配設されている。図示されていないが、検査前基
板ストッカー４の背面側にはに記プッシャー５と同様の
プッシャーが設けられており、そのブツシャ−にてスト
ッカー４内の被検査ｉＩｌ路基板１が第２コンベア１１
上に押し出される。この第２コンベア１１上には、基板
検査部１２が設けられている。
ー４から被検査回路基板１が受は渡される第２コンベア
１１が配設されている。図示されていないが、検査前基
板ストッカー４の背面側にはに記プッシャー５と同様の
プッシャーが設けられており、そのブツシャ−にてスト
ッカー４内の被検査ｉＩｌ路基板１が第２コンベア１１
上に押し出される。この第２コンベア１１上には、基板
検査部１２が設けられている。
基板検査部１２は第３図に示されているように、被検査
回路基板１と平行な平面内で移動自在な一対のＸ−Ｙユ
ニット１３．１４を備えている。各ユニット１３．１４
は例えばコンベア１１の移送方向（Ｘ−Ｘ方向）と平行
に配向された案内レール１３ａ、１４ａと、同案内レー
ル１３ａ、１４ａにそれと直交する方向（Ｙ −Ｙ方向
）に延びた状態で摺動可能に支持されたアーム１３ｂ、
１４ｂとを含み、各アーム１３ｂ。
回路基板１と平行な平面内で移動自在な一対のＸ−Ｙユ
ニット１３．１４を備えている。各ユニット１３．１４
は例えばコンベア１１の移送方向（Ｘ−Ｘ方向）と平行
に配向された案内レール１３ａ、１４ａと、同案内レー
ル１３ａ、１４ａにそれと直交する方向（Ｙ −Ｙ方向
）に延びた状態で摺動可能に支持されたアーム１３ｂ、
１４ｂとを含み、各アーム１３ｂ。
１．４ｂには各々がプローブ１３ｃ、１４ｃを有するス
ライダー１３ｄ、１４ｄが摺動自在に取付けられている
。
ライダー１３ｄ、１４ｄが摺動自在に取付けられている
。
作図の都合上、一方のユニット１４例しか示されていな
いが、各案内レール１３ａ、１４ａにはそれに取付けら
れているアーム１３ｂ、１４ｂを移動させるためのモー
タ１５がそれぞれ設けられている。また、各アーム１３
ｂ、１４ｂにもスライダー１３ｄ 、 １４ｄのための
モータ１６がそれぞれ設けられている。この実施例によ
ると、一方のプローブ１３ｃが信号測定部２１に接続さ
れ、他方のプローブ１４ｃが測定信号ｇ２２に接続され
ている。
いが、各案内レール１３ａ、１４ａにはそれに取付けら
れているアーム１３ｂ、１４ｂを移動させるためのモー
タ１５がそれぞれ設けられている。また、各アーム１３
ｂ、１４ｂにもスライダー１３ｄ 、 １４ｄのための
モータ１６がそれぞれ設けられている。この実施例によ
ると、一方のプローブ１３ｃが信号測定部２１に接続さ
れ、他方のプローブ１４ｃが測定信号ｇ２２に接続され
ている。
この基板検査部１２に関連して説明を続けると、この装
置はＣＰＵからなる制御部２３と、被検査回路基板↓の
種類に応じた検査プログラムを記憶する第１メモリ２４
と、同じく被検査回路基板工の種類に応じた位置座標デ
ータを記憶する第２メモリ２５と、第１コンベア２、第
２コンベア１１の各モータ２ａ、Ｉｌａおよび検査前基
板ストッカー４のモータ６の送り量を調整する送り！＋
５Ｊ整部２６とを備えている。制御部２３には入力手段
としてのキーボード２３ａと、ＣＲＩやプリンタなどの
表示部２３ｂと、ＩＣカードもしくはフロッピーディス
クなどの外部記憶部２３ｃが接続されている。
置はＣＰＵからなる制御部２３と、被検査回路基板↓の
種類に応じた検査プログラムを記憶する第１メモリ２４
と、同じく被検査回路基板工の種類に応じた位置座標デ
ータを記憶する第２メモリ２５と、第１コンベア２、第
２コンベア１１の各モータ２ａ、Ｉｌａおよび検査前基
板ストッカー４のモータ６の送り量を調整する送り！＋
５Ｊ整部２６とを備えている。制御部２３には入力手段
としてのキーボード２３ａと、ＣＲＩやプリンタなどの
表示部２３ｂと、ＩＣカードもしくはフロッピーディス
クなどの外部記憶部２３ｃが接続されている。
第４図を養魚すると、第２コンベア１１の終端側には制
御部２３からの信号に基づいて被検査回路基板１を良品
ストッカー３１と不良品ストッカー３２とに振り分ける
振分は手段３０が配置されている。この例において、同
振分は手段３０はコンベア１１の移送方向と平行をなす
角度からほぼ４５度の範囲内で往復的に回転するレバー
３１を備えている。なお、同レバー３１の後方には振分
は手段３０を通過してきたｌ＆板１を不良品ストッカー
３２に落とし込むガイド板３２が設けられている。
御部２３からの信号に基づいて被検査回路基板１を良品
ストッカー３１と不良品ストッカー３２とに振り分ける
振分は手段３０が配置されている。この例において、同
振分は手段３０はコンベア１１の移送方向と平行をなす
角度からほぼ４５度の範囲内で往復的に回転するレバー
３１を備えている。なお、同レバー３１の後方には振分
は手段３０を通過してきたｌ＆板１を不良品ストッカー
３２に落とし込むガイド板３２が設けられている。
次に、この装置の作用について説明する。まず。
被検査回路基板１は第１コンベア２にて同装置に搬入さ
れる際、基板判別部３にてその種類が判別される。制御
部２３はこの基板判別部３からの判別信号により、送り
調整部２６を介して各モータ２ａ。
れる際、基板判別部３にてその種類が判別される。制御
部２３はこの基板判別部３からの判別信号により、送り
調整部２６を介して各モータ２ａ。
１１ａおよび６の回転量をその基板■の大きさなどに合
せて調整する。また、制御部２３はその基板１の種類に
応じた検査プログラムおよび位置座標データなどを外部
記憶部２３ｃの例えばフロッピーディスクから読み出し
、その各データを第１メモリ２４と第２メモリ２５にそ
れぞれ記憶させる。
せて調整する。また、制御部２３はその基板１の種類に
応じた検査プログラムおよび位置座標データなどを外部
記憶部２３ｃの例えばフロッピーディスクから読み出し
、その各データを第１メモリ２４と第２メモリ２５にそ
れぞれ記憶させる。
これにより、基板１は同期的に第１コンベア２から一旦
検査前ストッカー４に移し変えられ、さらに同ストッカ
ー４から第２コンベアｌｌ上に載せられる。同基板ｌが
基板検査部１２に至ると、コンベア１１が停止し、Ｘ−
Ｙユニット１３．１４による回路検査が行われる。この
場合、同ユニット１３．１４のモータ１５．１６は上記
第１メモリ２４の検査プログラムおよび第２メモリ２５
の位置座標データにしたがって制御される。検査が終了
すると、基板１は再びコンベア１１にて搬送されるが、
良品であればレバー３１が第４図のように同コンベア１
１をほぼ４５度の角度をもって遮るため、良品ストッカ
ー３１内に収納される。他方、不良品の場合にはレバー
３１がコンベア１１の移送方向と平行になるため、その
基板ｌはガイド板３２に突き当たり、それによって不良
品ストッカー３２内に落下する。
検査前ストッカー４に移し変えられ、さらに同ストッカ
ー４から第２コンベアｌｌ上に載せられる。同基板ｌが
基板検査部１２に至ると、コンベア１１が停止し、Ｘ−
Ｙユニット１３．１４による回路検査が行われる。この
場合、同ユニット１３．１４のモータ１５．１６は上記
第１メモリ２４の検査プログラムおよび第２メモリ２５
の位置座標データにしたがって制御される。検査が終了
すると、基板１は再びコンベア１１にて搬送されるが、
良品であればレバー３１が第４図のように同コンベア１
１をほぼ４５度の角度をもって遮るため、良品ストッカ
ー３１内に収納される。他方、不良品の場合にはレバー
３１がコンベア１１の移送方向と平行になるため、その
基板ｌはガイド板３２に突き当たり、それによって不良
品ストッカー３２内に落下する。
以」二説明したように、この発明によれば、被検査問路
Ｊ＆板の種類に応じて、自動的にその検査プログラムな
どが変更されるため、特に多品種少量生産品の検査を行
う上できわめて好都合である。
Ｊ＆板の種類に応じて、自動的にその検査プログラムな
どが変更されるため、特に多品種少量生産品の検査を行
う上できわめて好都合である。
同はいずれもこの発明の実施例に関するもので、第１図
はこの発明の一実施例を概略的に示した模式間、第２図
は同実施例の検査前基板ストッカーおよびその周辺部分
を示した斜視図、第３図は同実施例のＸ−Ｙユニットを
示した斜視図、第４図は良品、不良品振分は手段を例示
した斜視図である。 図中、上は被検査回路基板、２は第１コンベア、３は基
板判別部、４は検査前基板ストッカー、１１は第２コン
ベア、１２は基板検査部、１３．１４はＸ−Ｙユニット
、２１は信号測定部、２２は測定信号源、２３は制御部
（ＣＰＵ）、２４．２５はメモリ、３０は良品不良品振
分は手段である。
はこの発明の一実施例を概略的に示した模式間、第２図
は同実施例の検査前基板ストッカーおよびその周辺部分
を示した斜視図、第３図は同実施例のＸ−Ｙユニットを
示した斜視図、第４図は良品、不良品振分は手段を例示
した斜視図である。 図中、上は被検査回路基板、２は第１コンベア、３は基
板判別部、４は検査前基板ストッカー、１１は第２コン
ベア、１２は基板検査部、１３．１４はＸ−Ｙユニット
、２１は信号測定部、２２は測定信号源、２３は制御部
（ＣＰＵ）、２４．２５はメモリ、３０は良品不良品振
分は手段である。
Claims (1)
- （１）被検査回路基板と平行な平面内で移動自在な一対
のＸ−Ｙユニットを有しその各ユニットに測定信号源に
接続される信号源側プローブと信号測定部側に接続され
る測定部側プローブとを設けてなる基板検査部と、被検
査回路基板を上記基板検査部に搬送するコンベアなどの
搬送手段と、上記被検査回路基板の種類を判別する基板
判別部と、該基板判別部にて判別された基板の種類に応
じてそれに対応する所定の検査プログラムおよび上記Ｘ
−Ｙユニットを駆動する位置座標データなどを設定する
制御部とを備えてなることを特徴とする回路基板検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2039358A JPH03242566A (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | 回路基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2039358A JPH03242566A (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | 回路基板検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03242566A true JPH03242566A (ja) | 1991-10-29 |
Family
ID=12550851
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2039358A Pending JPH03242566A (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | 回路基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03242566A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007107973A (ja) * | 2005-10-12 | 2007-04-26 | Micronics Japan Co Ltd | 検査装置 |
| JP2009103661A (ja) * | 2007-10-25 | 2009-05-14 | Ricoh Microelectronics Co Ltd | 基板検査装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01185455A (ja) * | 1988-01-20 | 1989-07-25 | Nec Home Electron Ltd | 機能検査システム |
-
1990
- 1990-02-20 JP JP2039358A patent/JPH03242566A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01185455A (ja) * | 1988-01-20 | 1989-07-25 | Nec Home Electron Ltd | 機能検査システム |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007107973A (ja) * | 2005-10-12 | 2007-04-26 | Micronics Japan Co Ltd | 検査装置 |
| JP2009103661A (ja) * | 2007-10-25 | 2009-05-14 | Ricoh Microelectronics Co Ltd | 基板検査装置 |
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