JPH01185455A - 機能検査システム - Google Patents
機能検査システムInfo
- Publication number
- JPH01185455A JPH01185455A JP63010269A JP1026988A JPH01185455A JP H01185455 A JPH01185455 A JP H01185455A JP 63010269 A JP63010269 A JP 63010269A JP 1026988 A JP1026988 A JP 1026988A JP H01185455 A JPH01185455 A JP H01185455A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- inspected
- printed wiring
- wiring board
- slide type
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 101
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 38
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 3
- 238000004904 shortening Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 6
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 3
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/12—Circuits for multi-testers, i.e. multimeters, e.g. for measuring voltage, current, or impedance at will
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
- B65G47/00—Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
- B65G47/34—Devices for discharging articles or materials from conveyor
- B65G47/46—Devices for discharging articles or materials from conveyor and distributing, e.g. automatically, to desired points
- B65G47/50—Devices for discharging articles or materials from conveyor and distributing, e.g. automatically, to desired points according to destination signals stored in separate systems
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F41—WEAPONS
- F41H—ARMOUR; ARMOURED TURRETS; ARMOURED OR ARMED VEHICLES; MEANS OF ATTACK OR DEFENCE, e.g. CAMOUFLAGE, IN GENERAL
- F41H5/00—Armour; Armour plates
- F41H5/02—Plate construction
- F41H5/04—Plate construction composed of more than one layer
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
- H05K13/081—Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
- H05K13/0815—Controlling of component placement on the substrate during or after manufacturing
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
- H05K13/084—Product tracking, e.g. of substrates during the manufacturing process; Component traceability
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Operations Research (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Control Of Conveyors (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は機能検査システムに関し、特に電子回路を搭載
した被検査装置の機種が異なっても各被検査装置の機種
別に同時に機能検査ができるようにした機能検査システ
ムに関する。
した被検査装置の機種が異なっても各被検査装置の機種
別に同時に機能検査ができるようにした機能検査システ
ムに関する。
この種の機能検査システムは、電子回路を構成させた印
刷配線板等の被検査装置について、誤った部品が取り付
けられていないか、誤配線がないか等の検査や、或いは
所定の機能を達成できるが否かを検査するシステムとし
て供されている。かかる機能検査システムは、通常、−
機種の印刷配線板等の被検査装置の機能を検査するだけ
であり、二機種以上の被検査装置の機能検査をするもの
ではなかった。
刷配線板等の被検査装置について、誤った部品が取り付
けられていないか、誤配線がないか等の検査や、或いは
所定の機能を達成できるが否かを検査するシステムとし
て供されている。かかる機能検査システムは、通常、−
機種の印刷配線板等の被検査装置の機能を検査するだけ
であり、二機種以上の被検査装置の機能検査をするもの
ではなかった。
第６図は上述した従来の機能検査システムを示す構成図
である。
である。
第６図において、従来の機能検査システムは、第一の検
査項目を担当する第一の検査機２と、第二の検査項目を
担当する第二の検査機４と、第三の検査項目を担当する
第三の検査機６との王台の検査機を直列に配置し、ベル
トコンベアの如きライン８上を搬送されてくる被検査装
置である印刷配線板１０を前記第一の検査機２から第三
の検査機６まで順次流し、各検査機の応じた検査を行う
ようにしたものである。
査項目を担当する第一の検査機２と、第二の検査項目を
担当する第二の検査機４と、第三の検査項目を担当する
第三の検査機６との王台の検査機を直列に配置し、ベル
トコンベアの如きライン８上を搬送されてくる被検査装
置である印刷配線板１０を前記第一の検査機２から第三
の検査機６まで順次流し、各検査機の応じた検査を行う
ようにしたものである。
かかる従来の機能検査システムによれば、流れに従って
各検査機により一機種の印刷配線板１０の機能等が検査
できることになる。また、前記従来の機能検査システム
によれば、印刷配線板１０の機種が異なるときは、前記
検査機２，４．６の検査機能を入れ替えることにより前
記印刷配線板１０の検査を実行することができる。
各検査機により一機種の印刷配線板１０の機能等が検査
できることになる。また、前記従来の機能検査システム
によれば、印刷配線板１０の機種が異なるときは、前記
検査機２，４．６の検査機能を入れ替えることにより前
記印刷配線板１０の検査を実行することができる。
しかしながら、上記従来の機能検査システムは、−機種
の印刷配線板１０の検査をするのみであり、同時に複数
機種の印刷配線板１０を検査するものではなかった。こ
のため、印刷配線板１０の機種が異なると、全検査機２
，４．６の８！能を全て入れ換える必要があり、この期
間は検査ができないという不都合があった。また、検査
機２，４．６の検査機能の入れ換えには、相当の時間が
がり、その期間は検査ができないという不都合があった
。
の印刷配線板１０の検査をするのみであり、同時に複数
機種の印刷配線板１０を検査するものではなかった。こ
のため、印刷配線板１０の機種が異なると、全検査機２
，４．６の８！能を全て入れ換える必要があり、この期
間は検査ができないという不都合があった。また、検査
機２，４．６の検査機能の入れ換えには、相当の時間が
がり、その期間は検査ができないという不都合があった
。
本発明は、上記従来技術が有する課題を解決するために
なされたもので、検査時間の短縮を図り、かつ多機種の
検査をも可能としてなる機能検査システムを提供するこ
とを目的とする。
なされたもので、検査時間の短縮を図り、かつ多機種の
検査をも可能としてなる機能検査システムを提供するこ
とを目的とする。
上記目的を達成する本発明に係る機能検査システムは、
電子回路が搭載された被検査装置の機能を検査できる複
数台の検査機と、前記各検査機のいずれにも前記被検査
装置を搬入することができかつ前記検査機から検査済の
被検査装置を搬出する配分搬送手段と、前記被検査装置
の種々の情報を示す符号を読み取って当該被検査装置の
検査を担当する検査装置に前記被検査装置を搬入させる
ように前記配分搬送手段の動作を制御する制御手段とか
ら構成したものである。
電子回路が搭載された被検査装置の機能を検査できる複
数台の検査機と、前記各検査機のいずれにも前記被検査
装置を搬入することができかつ前記検査機から検査済の
被検査装置を搬出する配分搬送手段と、前記被検査装置
の種々の情報を示す符号を読み取って当該被検査装置の
検査を担当する検査装置に前記被検査装置を搬入させる
ように前記配分搬送手段の動作を制御する制御手段とか
ら構成したものである。
〔作用］
このように構成された本発明に係る機能検査システムに
よれば、当該システムに搬入されてくる被検査装置があ
ると、前記制御手段により被検査装置に付されている符
号が読み込まれる。これにより、制御手段は、当該被検
査装置の種々の属性から当該被検査装置の検査を実行す
る検査機を判定し、その検査を担当する検査機に前記被
検査装置を搬入するように前記配分搬送手段に指令を出
す、したがって、前記配分搬送手段により前記被検査装
置は、当該検査機に搬入されて検査が実行される。前記
検査機において検査された被検査装置は、検査が終了す
ると、配分搬送手段により当該システムから搬出される
ことになる。
よれば、当該システムに搬入されてくる被検査装置があ
ると、前記制御手段により被検査装置に付されている符
号が読み込まれる。これにより、制御手段は、当該被検
査装置の種々の属性から当該被検査装置の検査を実行す
る検査機を判定し、その検査を担当する検査機に前記被
検査装置を搬入するように前記配分搬送手段に指令を出
す、したがって、前記配分搬送手段により前記被検査装
置は、当該検査機に搬入されて検査が実行される。前記
検査機において検査された被検査装置は、検査が終了す
ると、配分搬送手段により当該システムから搬出される
ことになる。
したがって、本発明によれば、はぼ同一の場所で複数機
種の被検査装置を検査できるので、検査時間が短縮され
ることになり、また複数機種の被検査装置を同時に検査
できるので、多品種少量生産がかのうとなり、しかも−
機種の被検査装置を検査する場合には著しく検査時間の
短縮が図れることになる。
種の被検査装置を検査できるので、検査時間が短縮され
ることになり、また複数機種の被検査装置を同時に検査
できるので、多品種少量生産がかのうとなり、しかも−
機種の被検査装置を検査する場合には著しく検査時間の
短縮が図れることになる。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図乃至第３図は本発明に係る機能検査システムの実
施例を説明するために示すものである。
施例を説明するために示すものである。
第１図は本発明の実施例を示す構成図である。
第１図に示す実施例は、複数の検査機２１〜２６と、配
分搬送手段３０と、制御手段５０とから構成されている
。
分搬送手段３０と、制御手段５０とから構成されている
。
さらに、上記実施例の説明をする。第一の検査項目を担
当する第一の検査機２１と、第二の検査項目を担当する
第二の検査１！ｉ２２と、第三の検査項目を担当する第
三の検査機２３と、第四の検査を担当する第四の検査機
２４と、第五の検査項目を担当する第五の検査機２５と
、第六の検査を担当する第六の検査機２６とが所定の間
隔を隔てて配設されている。各検査機２１．２２．・・
・、２６は、六機種の印刷配線板１０のそれぞれの機能
を検査できるように構成されている。
当する第一の検査機２１と、第二の検査項目を担当する
第二の検査１！ｉ２２と、第三の検査項目を担当する第
三の検査機２３と、第四の検査を担当する第四の検査機
２４と、第五の検査項目を担当する第五の検査機２５と
、第六の検査を担当する第六の検査機２６とが所定の間
隔を隔てて配設されている。各検査機２１．２２．・・
・、２６は、六機種の印刷配線板１０のそれぞれの機能
を検査できるように構成されている。
前記配分搬送手段３０は、スライド型トラバ−サ装置３
１，３２．・・・、３７と、上下二段式ベルトコンベア
ー３８．３９． ・・・、４３とから構成されており、
前記各検査機２１，２２．・・・、２６のいずれにも前
記被検査印刷配線板１０を搬入することができ、かつ前
記検査機２１，２２．・・・、２６から検査済の被検査
印刷配線板１０を搬出できるように構成されている。
１，３２．・・・、３７と、上下二段式ベルトコンベア
ー３８．３９． ・・・、４３とから構成されており、
前記各検査機２１，２２．・・・、２６のいずれにも前
記被検査印刷配線板１０を搬入することができ、かつ前
記検査機２１，２２．・・・、２６から検査済の被検査
印刷配線板１０を搬出できるように構成されている。
前記印刷配線板１０を搬送するベルトコンベアー６０を
上流側とすると、このベルトコンベアー６０の下流に第
一のスライド型トラバーサ装置３１を配置し、この第一
のスライド型トラバーサ装置３１の下流に第一の検査機
２１と第一の上下二段式ベルトコンベアー３８とが設け
られている。
上流側とすると、このベルトコンベアー６０の下流に第
一のスライド型トラバーサ装置３１を配置し、この第一
のスライド型トラバーサ装置３１の下流に第一の検査機
２１と第一の上下二段式ベルトコンベアー３８とが設け
られている。
前記第一の検査機２１の下流に第二のスライド型トラバ
ーサ装置３２を配置し、その第二のスライド型トラバー
サ装置３２の下流に第二の検査機２２と第二の上下二段
式ベルトコンベアー３９を配置してなる。前記第二の検
査機２２の下流に第三のスライド型トラバーサ装置３３
を配置し、その第三のスライド型トラバーサ装置３３の
下流に第三の検査４ｉ１２３と第三の上下二段式ベルト
コンベアー４０を配置してなる。前記第三の検査機２３
の下流に第四のスライド型トラバーサ装置３４を配置し
、その第四のスライド型トラバーサ装置３４の下流に第
四の検査機２４と第四の上下二段式ベルトコンベアー４
１を配置してなる。前記第四の検査機２４の下流に第五
のスライド型トラバーサ装置３５を配置し、その第五の
スライド型トラバーサ装置３５の下流に第五の検査機２
５と第五の上下二段式ベルトコンベアー４２を配置して
なる。前記第五の検査機２５の下流に第六のスライド型
トラバーサ装置３６を配置し、その第六のスライド型ト
ラバーサ装置３６の下流に第六の検査機２６と第六の上
下二段式ベルトコンベアー４３を配置してなる。前記第
六の検査機２６の下流に第七のスライド型トラバーサ装
置３７を配置し、その第七のスライド型トラバーサ装置
３７の下流には、検査済印刷配線板１０を搬送するベル
トコンベアー６２が設けられている。
ーサ装置３２を配置し、その第二のスライド型トラバー
サ装置３２の下流に第二の検査機２２と第二の上下二段
式ベルトコンベアー３９を配置してなる。前記第二の検
査機２２の下流に第三のスライド型トラバーサ装置３３
を配置し、その第三のスライド型トラバーサ装置３３の
下流に第三の検査４ｉ１２３と第三の上下二段式ベルト
コンベアー４０を配置してなる。前記第三の検査機２３
の下流に第四のスライド型トラバーサ装置３４を配置し
、その第四のスライド型トラバーサ装置３４の下流に第
四の検査機２４と第四の上下二段式ベルトコンベアー４
１を配置してなる。前記第四の検査機２４の下流に第五
のスライド型トラバーサ装置３５を配置し、その第五の
スライド型トラバーサ装置３５の下流に第五の検査機２
５と第五の上下二段式ベルトコンベアー４２を配置して
なる。前記第五の検査機２５の下流に第六のスライド型
トラバーサ装置３６を配置し、その第六のスライド型ト
ラバーサ装置３６の下流に第六の検査機２６と第六の上
下二段式ベルトコンベアー４３を配置してなる。前記第
六の検査機２６の下流に第七のスライド型トラバーサ装
置３７を配置し、その第七のスライド型トラバーサ装置
３７の下流には、検査済印刷配線板１０を搬送するベル
トコンベアー６２が設けられている。
制御手段５０は、前記各被検査印刷配線板１０に付され
た当該印刷配線板１０の種々の情報（例えば、機種、そ
の電子回路の機能等）を読み取る例えばバーコードリー
グの如き読取装置５１と、この読取装置５１からの情報
を取り込むとともに、前記検査機２１，２２．・・・、
２７、及び前記スライド型トラバーサ装置３１，３２．
・・・、３７からの情報を取り込み、当該被検査印刷配
線板１０の検査を担当する検査装置２１．２２．・・・
、２６に前記被検査印刷配線板１０を搬入させるように
前記前記スライド型トラバーサ装置３１．３２．・・・
。
た当該印刷配線板１０の種々の情報（例えば、機種、そ
の電子回路の機能等）を読み取る例えばバーコードリー
グの如き読取装置５１と、この読取装置５１からの情報
を取り込むとともに、前記検査機２１，２２．・・・、
２７、及び前記スライド型トラバーサ装置３１，３２．
・・・、３７からの情報を取り込み、当該被検査印刷配
線板１０の検査を担当する検査装置２１．２２．・・・
、２６に前記被検査印刷配線板１０を搬入させるように
前記前記スライド型トラバーサ装置３１．３２．・・・
。
３７を駆動制御し、かつ検査機２１，２２．・・・。
２６に検査開始信号を与えるプログラマブルコントロー
ラ５５とから構成されている。
ラ５５とから構成されている。
第２図は同実施例に用いるスライド型トラバーサ装置を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
第２図に示すスライド型トラバーサ装置３１は次のよう
に構成されている。すなわち、基台３１１にはガイドシ
ャフト３１２が設けられている。
に構成されている。すなわち、基台３１１にはガイドシ
ャフト３１２が設けられている。
前記ガイドシャフト３１２にはスライダー３１３が移動
可能に取り付けられている。このスライダー３１３には
シリンダ３１４が取り付けられている。シリンダ３１４
のピストンロッド３１５は、基台３１１に固定されてい
る。前記スライダー３１３にはシリンダー３１６が立設
されており、このシリンダー３１６内を摺動するピスト
ンに連結したロッド３１７には印刷配線板１０を′ｉａ
置する載置台３１８が設けられており、これにより前記
載置台３１８が上下動できるようになっている。
可能に取り付けられている。このスライダー３１３には
シリンダ３１４が取り付けられている。シリンダ３１４
のピストンロッド３１５は、基台３１１に固定されてい
る。前記スライダー３１３にはシリンダー３１６が立設
されており、このシリンダー３１６内を摺動するピスト
ンに連結したロッド３１７には印刷配線板１０を′ｉａ
置する載置台３１８が設けられており、これにより前記
載置台３１８が上下動できるようになっている。
前記載置台３１８には、ガイドレール３１９が設けられ
ており、このガイドレール３１９の側方に図示しないベ
ルトが設けられている。前記載置台３１８の側方には、
センサ３２０Ｕ、３２０Ｄが設けられており、これらセ
ンサ３２０Ｕ、３２０Ｄからの信号に基づいて前記シリ
ンダ３１６に供給する作動流体を供給制御することによ
り前記載置台３１Ｂの上下移動を規制し、前記ｉａ載置
台１８のガイドレール３１９を、上下二段式ヘルドコン
ベアー３８の上側ガイドレール３８１と、下側ガイドレ
ール３８２とに一致させられるようになっている。
ており、このガイドレール３１９の側方に図示しないベ
ルトが設けられている。前記載置台３１８の側方には、
センサ３２０Ｕ、３２０Ｄが設けられており、これらセ
ンサ３２０Ｕ、３２０Ｄからの信号に基づいて前記シリ
ンダ３１６に供給する作動流体を供給制御することによ
り前記載置台３１Ｂの上下移動を規制し、前記ｉａ載置
台１８のガイドレール３１９を、上下二段式ヘルドコン
ベアー３８の上側ガイドレール３８１と、下側ガイドレ
ール３８２とに一致させられるようになっている。
また、前記スライダー３１３にはセンサ３２１Ｒとセン
サ３２１Ｌとが設けられており、これらセンサ３２１Ｒ
，３２１Ｌからの信号により前記シリンダ３１４に供給
する作動流体を供給制御することにより前記スライダー
３１３の移動範囲を規制できるようになっている。そし
て、スライダー３１３が前記各センサ３２１Ｒ，３２１
Ｌにより移動が規制されることによって、スライダー３
１３のガイドレールと上下二段式ベルトコンベアー３８
のガイドレールとが−敗し、或いはスライダー３１３の
ガイドレールと第一の検査機２１のガイドレール２１１
とが一致するようにしである。
サ３２１Ｌとが設けられており、これらセンサ３２１Ｒ
，３２１Ｌからの信号により前記シリンダ３１４に供給
する作動流体を供給制御することにより前記スライダー
３１３の移動範囲を規制できるようになっている。そし
て、スライダー３１３が前記各センサ３２１Ｒ，３２１
Ｌにより移動が規制されることによって、スライダー３
１３のガイドレールと上下二段式ベルトコンベアー３８
のガイドレールとが−敗し、或いはスライダー３１３の
ガイドレールと第一の検査機２１のガイドレール２１１
とが一致するようにしである。
なお、符号３２２は印刷配線板１０が載置台３１８の所
定位置に載置されたことを検出するセンサであり、この
センサ３２２は印刷配線ｖｉ１０が上流側から搬送され
てきて載置台３１８上の所定の位置に達した時に、図示
しない載置台ベルトコンベアを停止させるためのもので
ある。
定位置に載置されたことを検出するセンサであり、この
センサ３２２は印刷配線ｖｉ１０が上流側から搬送され
てきて載置台３１８上の所定の位置に達した時に、図示
しない載置台ベルトコンベアを停止させるためのもので
ある。
第一のスライド型トラバーサ装置３１は上述のように構
成されている。また、第二のスライド型トラバーサ装置
３２、第三のスライド型トラバーサ装置３３、第四のス
ライド型トラバーサ装置３４、第五のスライド型トラバ
ーサ装置３５、第六のスライド型トラバーサ装置３６、
第七のスライド型トラバーサ装置３７も、前記第一のス
ライド型トラバーサ装置３１と同一構成とされている。
成されている。また、第二のスライド型トラバーサ装置
３２、第三のスライド型トラバーサ装置３３、第四のス
ライド型トラバーサ装置３４、第五のスライド型トラバ
ーサ装置３５、第六のスライド型トラバーサ装置３６、
第七のスライド型トラバーサ装置３７も、前記第一のス
ライド型トラバーサ装置３１と同一構成とされている。
このように構成された実施例の作用を説明する。
第３図は同実施例の作用を説明するために示すフローチ
ャートであり、以下では第１図乃至第３図を参照しなが
ら説明をする。
ャートであり、以下では第１図乃至第３図を参照しなが
ら説明をする。
前記ベルトコンベア６０の上を搬入されてくる被検査印
刷配線板ｌＯがあると、前記制御手段５０の読取装置５
１により、被検査印刷配線板１０に付されているバーコ
ードの如き符号が読み込まれる（ステップ１００）、こ
の読取装置５１により読み込まれた符号は、前記プログ
ラマブルコントローラ５５に取り込まれる。前記プログ
ラマブルコントローラ５５は、第一のスライド型トラバ
ーサ装置３１の載置台３１８がベルトコンベアー６０の
下流に位置しているかを判定し、位置していれば印刷配
線板１０を前記第一のスライド型トラバーサ装置３１の
載置台３１Ｂに搬入させる（ステップ１０１）、ついで
、プログラマブルコントローラ５５は、読み取った当該
被検査印刷配線板ＩＯの種々の属性から当該被検査印刷
配線板ＩＯの検査を実行する検査機２１〜２６を判定す
る（ステップ１０２）、そして、まず対応する検査機２
１〜２６があるか否かを判定する（ステップ１０３）。
刷配線板ｌＯがあると、前記制御手段５０の読取装置５
１により、被検査印刷配線板１０に付されているバーコ
ードの如き符号が読み込まれる（ステップ１００）、こ
の読取装置５１により読み込まれた符号は、前記プログ
ラマブルコントローラ５５に取り込まれる。前記プログ
ラマブルコントローラ５５は、第一のスライド型トラバ
ーサ装置３１の載置台３１８がベルトコンベアー６０の
下流に位置しているかを判定し、位置していれば印刷配
線板１０を前記第一のスライド型トラバーサ装置３１の
載置台３１Ｂに搬入させる（ステップ１０１）、ついで
、プログラマブルコントローラ５５は、読み取った当該
被検査印刷配線板ＩＯの種々の属性から当該被検査印刷
配線板ＩＯの検査を実行する検査機２１〜２６を判定す
る（ステップ１０２）、そして、まず対応する検査機２
１〜２６があるか否かを判定する（ステップ１０３）。
このステップ１０３で対応する検査機があると、次に対
応する検査機から当該印刷配線板１０を供給要求がある
かを判定する（ステップ１０４）、このステップ１０４
で検査要求が無いときは、このステップ１０４で待機状
態になる。
応する検査機から当該印刷配線板１０を供給要求がある
かを判定する（ステップ１０４）、このステップ１０４
で検査要求が無いときは、このステップ１０４で待機状
態になる。
このステップ１０４で印刷配線板１０の供給要求がある
と、要求のある検査機に印刷配線板１０を搬入する（ス
テップ１０５）、例えば、第三の検査機２３に印刷配線
板ｌＯを搬入する場合、ベルトコンベアー６０で印刷配
線板１０が搬入されてくると、印刷配線板１０の符号を
読取装置５１が読み、かつ第三の検査機２３から搬入要
求があるものとする。ここで、プログラマブルコントロ
ーラ５５は、印刷配線板１ｏを、第一のスライド型トラ
バーサ装置３１・第二のスライド型トラバーサ装置３２
・第三のスライド型トラバーサ装置３３まで搬送する指
令を出す。これにより、前記印刷配線板１０は、第一の
スライド型トラバーサ装置３１→第一の上下二段式ベル
トコンベアー３８→第二のスライド型トラバーサ装置３
２→第二の上下二段式ベルトコンベアー３９の順で搬送
されて第三のスライド型トラバーサ装置３３に搬入され
る。そして、前記印刷配線板１０が第三のスライド型ト
ラバーサ装置３３の１ｉＩＩｉｌＩ台３１８の所定。
と、要求のある検査機に印刷配線板１０を搬入する（ス
テップ１０５）、例えば、第三の検査機２３に印刷配線
板ｌＯを搬入する場合、ベルトコンベアー６０で印刷配
線板１０が搬入されてくると、印刷配線板１０の符号を
読取装置５１が読み、かつ第三の検査機２３から搬入要
求があるものとする。ここで、プログラマブルコントロ
ーラ５５は、印刷配線板１ｏを、第一のスライド型トラ
バーサ装置３１・第二のスライド型トラバーサ装置３２
・第三のスライド型トラバーサ装置３３まで搬送する指
令を出す。これにより、前記印刷配線板１０は、第一の
スライド型トラバーサ装置３１→第一の上下二段式ベル
トコンベアー３８→第二のスライド型トラバーサ装置３
２→第二の上下二段式ベルトコンベアー３９の順で搬送
されて第三のスライド型トラバーサ装置３３に搬入され
る。そして、前記印刷配線板１０が第三のスライド型ト
ラバーサ装置３３の１ｉＩＩｉｌＩ台３１８の所定。
の位置に達したことを、センサ３２２で検出されると、
搬送停止となる。すると、第三のスライド型トラバーサ
装置３３は、載置台３１８を図示矢印Ａの如く移動させ
、蔵置台３１８の移動が完了したところで印刷配線板１
０を第三の検査［１１２３に搬入する。
搬送停止となる。すると、第三のスライド型トラバーサ
装置３３は、載置台３１８を図示矢印Ａの如く移動させ
、蔵置台３１８の移動が完了したところで印刷配線板１
０を第三の検査［１１２３に搬入する。
そして、プログラマブルコントローラ５５は、検査機か
らの搬出要求がなければ処理を終えてスチップ１０１に
戻ることになるが、搬出要求があれば当該要求を出した
検査機に検査済印刷配線板１０を取りにゆくことになる
０例えば、上記の如く第三の検査機２３で検査が終了し
た検査済印刷配線板１０は、第四のスライド型トラバー
サ装置３４が矢印Ｂの如く移動し、このトラバーサ装置
３４が所定の位置に到達したかをセンサ３２１して確認
してこのトラバーサ装置３４を停止させる。
らの搬出要求がなければ処理を終えてスチップ１０１に
戻ることになるが、搬出要求があれば当該要求を出した
検査機に検査済印刷配線板１０を取りにゆくことになる
０例えば、上記の如く第三の検査機２３で検査が終了し
た検査済印刷配線板１０は、第四のスライド型トラバー
サ装置３４が矢印Ｂの如く移動し、このトラバーサ装置
３４が所定の位置に到達したかをセンサ３２１して確認
してこのトラバーサ装置３４を停止させる。
ついで、第三の検査機２３から検査済印刷配線板１０を
受は取る。このとき、プログラマブルコントローラ５５
は検査結果を通知されているものとする。しかるのち、
第四のスライド型トラバーサ装置３４は、矢印Ｃの如く
移動し、このトラバーサ装置３４が所定の位置に到達し
たかをセンサ３２１Ｒで確認してこのトラバーサ装置３
４を停止する。そして、第四のスライド型トラバーサ装
置３４は、第四の上下二段式ベルトコンベアー４１の下
側ガイドレール３８２に前記印刷配線板１０を乗せる。
受は取る。このとき、プログラマブルコントローラ５５
は検査結果を通知されているものとする。しかるのち、
第四のスライド型トラバーサ装置３４は、矢印Ｃの如く
移動し、このトラバーサ装置３４が所定の位置に到達し
たかをセンサ３２１Ｒで確認してこのトラバーサ装置３
４を停止する。そして、第四のスライド型トラバーサ装
置３４は、第四の上下二段式ベルトコンベアー４１の下
側ガイドレール３８２に前記印刷配線板１０を乗せる。
また、前記プログラマブルコントローラ５５は、第五の
スライド型トラバーサ装置３５・第六のスライド型トラ
バーサ装置３６・第七のスライド型トラバーサ装置３７
に検査済印刷配線板１０を搬送する指令を出す、これに
より、検査済印刷配線板１０は、第四の上下二段式ベル
トコンベアー４１→第五のスライド型トラバーサ装置３
５−第五の上下二段式ベルトコンベアー４２→第六のス
ライド型トラバーサ装置３６−第六の上下二段式ベルト
コンベアー４３＝第七のスライド型トラバーサ装置３７
を搬送されてゆき、ベルトコンベア６２に与えられる。
スライド型トラバーサ装置３５・第六のスライド型トラ
バーサ装置３６・第七のスライド型トラバーサ装置３７
に検査済印刷配線板１０を搬送する指令を出す、これに
より、検査済印刷配線板１０は、第四の上下二段式ベル
トコンベアー４１→第五のスライド型トラバーサ装置３
５−第五の上下二段式ベルトコンベアー４２→第六のス
ライド型トラバーサ装置３６−第六の上下二段式ベルト
コンベアー４３＝第七のスライド型トラバーサ装置３７
を搬送されてゆき、ベルトコンベア６２に与えられる。
そして、ステップ１０３で対応する検査機がないと判定
されると、異機種の印刷配線板１０が混入したものと見
なし、コンベア等を一旦停止しくステ・Ｉプ１０８）、
ついでブザー等を鳴らしてオペレータに報知する（ステ
ップ１０９）。ついで、スタートスイッチが押されるの
を待つ状態になる（ステップ１１０）。
されると、異機種の印刷配線板１０が混入したものと見
なし、コンベア等を一旦停止しくステ・Ｉプ１０８）、
ついでブザー等を鳴らしてオペレータに報知する（ステ
ップ１０９）。ついで、スタートスイッチが押されるの
を待つ状態になる（ステップ１１０）。
本実施例は、以上のようになっており、はぼ同一の場所
で複数機種の被検査印刷配線板１０を検査できるので、
検査時間が短縮されることになり、また複数機種の被検
査印刷配線板ＩＯを同時に検査できるので、多品種少量
生産が可能となり、しかも−機種の被検査印刷配線板１
０を検査する場合には著しく検査時間の短縮が図れるこ
とになる。
で複数機種の被検査印刷配線板１０を検査できるので、
検査時間が短縮されることになり、また複数機種の被検
査印刷配線板ＩＯを同時に検査できるので、多品種少量
生産が可能となり、しかも−機種の被検査印刷配線板１
０を検査する場合には著しく検査時間の短縮が図れるこ
とになる。
なお、上記実施例では、被検査装置は印刷配線板１０で
あったが、これに限らず例えば印刷配線板１０を一つ以
上有する装置であってもよい。
あったが、これに限らず例えば印刷配線板１０を一つ以
上有する装置であってもよい。
第４図は本発明の第二の実施例を示す構成図である。
第二の実施例が第一の実施例と異なるところは、検査機
２１〜２６の両側にベルトコンベアー３８′〜４３’、
３８“〜４３＃を設け、かつスライド型トラバーサ装置
３１′〜３７′を両側のベルトコンベアーの位置まで移
動できるようにし、かつ排出側ベルトコンベアーヲ良品
ベルトコンベアー６４と、不良品ベルトコンベアー６６
とに分けた点にある。
２１〜２６の両側にベルトコンベアー３８′〜４３’、
３８“〜４３＃を設け、かつスライド型トラバーサ装置
３１′〜３７′を両側のベルトコンベアーの位置まで移
動できるようにし、かつ排出側ベルトコンベアーヲ良品
ベルトコンベアー６４と、不良品ベルトコンベアー６６
とに分けた点にある。
この第二の実施例によっても上記第一の実施例と同様の
作用効果を奏する。また、上記第二の実施例によれば、
検査結果により印刷配線板１０を分離して搬送すること
ができる。
作用効果を奏する。また、上記第二の実施例によれば、
検査結果により印刷配線板１０を分離して搬送すること
ができる。
第５図は本発明の第三の実施例を示す構成図である。
第５図に示す第三の実施例が第一の実施例と異なるとこ
れは、検査機２１〜２６の投入側に投入側スライド型ト
ラバーサ装置３１＃を、検査ｌｌＲ２１〜２６の出力側
に排出側スライド型トラバーサ装置３２″をそれぞれ設
け、かつ前記投入側スライド型トラバーサ装置３１＃に
ベルトコンベアー６０から印刷配線板１０を取り搬入す
るトラバーサ４５を設け、排出側スライド型トラバーサ
装置３２“から検査済印刷配線板１０を受は取り、検査
結果に応じてベルトコンベアー６４かベルトコンベアー
６６に与えるトラバーサ４６を設けてなる点にある。
れは、検査機２１〜２６の投入側に投入側スライド型ト
ラバーサ装置３１＃を、検査ｌｌＲ２１〜２６の出力側
に排出側スライド型トラバーサ装置３２″をそれぞれ設
け、かつ前記投入側スライド型トラバーサ装置３１＃に
ベルトコンベアー６０から印刷配線板１０を取り搬入す
るトラバーサ４５を設け、排出側スライド型トラバーサ
装置３２“から検査済印刷配線板１０を受は取り、検査
結果に応じてベルトコンベアー６４かベルトコンベアー
６６に与えるトラバーサ４６を設けてなる点にある。
このような第三の実施例によっても上記第一の実施例と
同様な作用効果がある。また、この第三の実施例によれ
ば、ベルトコンベアーを設けなくてもよい。
同様な作用効果がある。また、この第三の実施例によれ
ば、ベルトコンベアーを設けなくてもよい。
上記各実施例によれば、はぼ同一の場所で複数機種の被
検査印刷配線板１０を検査できるので、検査時間が短縮
されることになる。また上記各実施例によれば、複数機
種の被検査印刷配線板１０を同時に検査できるので、多
品種少量生産が可能となる。しかも上記各実施例によれ
ば、−機種の被検査印刷配線板１０を検査する場合には
著しく検査時間の短縮が図れることになる。上記各実施
例は、被検査装置を印刷配線板１０としたが、これに限
らず印刷配線Ｆｉ１０を一つ以上有する装置であっても
よい。
検査印刷配線板１０を検査できるので、検査時間が短縮
されることになる。また上記各実施例によれば、複数機
種の被検査印刷配線板１０を同時に検査できるので、多
品種少量生産が可能となる。しかも上記各実施例によれ
ば、−機種の被検査印刷配線板１０を検査する場合には
著しく検査時間の短縮が図れることになる。上記各実施
例は、被検査装置を印刷配線板１０としたが、これに限
らず印刷配線Ｆｉ１０を一つ以上有する装置であっても
よい。
以上述べたように本発明によれば、複数機種の被検査装
置を同時にほぼ同一場所で検査できるので検査時間が短
縮され、かつ複数機種の被検査装置を同時に検査できる
ので多品種少量生産が可能となり、しかも−機種の被検
査装置を検査する場合には著しく検査時間の短縮が図れ
るという効果がある。
置を同時にほぼ同一場所で検査できるので検査時間が短
縮され、かつ複数機種の被検査装置を同時に検査できる
ので多品種少量生産が可能となり、しかも−機種の被検
査装置を検査する場合には著しく検査時間の短縮が図れ
るという効果がある。
第１図は本発明の第一の実施例を示す構成図、第２図は
同第−の実施例で用いるスライド型トラバーサ装置を示
す斜視口、第３図は同第−の実施例の作用を示すフロー
チャート、第４図は本発明の第二の実施例を示す構成図
、第５図は本発明の第三の実施例を示す構成図、第６図
は従来例を示す構成図である。 １０・・・印刷配線板（被検査装置）、２１〜２６・・
・検査装置、３０・・・配分搬送手段、５ｏ・・・制御
手段、 代理人 弁理士 村 上 友 − 第２図 第３図
同第−の実施例で用いるスライド型トラバーサ装置を示
す斜視口、第３図は同第−の実施例の作用を示すフロー
チャート、第４図は本発明の第二の実施例を示す構成図
、第５図は本発明の第三の実施例を示す構成図、第６図
は従来例を示す構成図である。 １０・・・印刷配線板（被検査装置）、２１〜２６・・
・検査装置、３０・・・配分搬送手段、５ｏ・・・制御
手段、 代理人 弁理士 村 上 友 − 第２図 第３図
Claims (3)
- （１）電子回路が搭載された被検査装置の機能を検査で
きる複数台の検査機と、前記各検査機のいずれにも前記
被検査装置を搬入することができかつ前記検査機から検
査済の被検査装置を搬出する配分搬送手段と、前記被検
査装置の種々の情報を示す符号を読み取って当該被検査
装置の検査を担当する検査装置に前記被検査装置を搬入
させるように前記配分搬送手段の動作を制御する制御手
段とからなることを特徴とする機能検査システム。 - （２）前記被検査装置は、電子回路が構成されている印
刷配線板であることを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の機能検査システム。 - （３）前記被検査装置は、電子回路が構成されている印
刷配線板を備え、所定の機能を果たす電子装置であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の機能検査シ
ステム。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63010269A JPH01185455A (ja) | 1988-01-20 | 1988-01-20 | 機能検査システム |
| US07/296,779 US4999578A (en) | 1988-01-20 | 1989-01-13 | Function inspecting system |
| GB8900949A GB2214152A (en) | 1988-01-20 | 1989-01-17 | Distributive conveyance and inspection system |
| AU28580/89A AU2858089A (en) | 1988-01-20 | 1989-01-18 | Function inspecting system |
| MYPI89000056A MY104394A (en) | 1988-01-20 | 1989-01-19 | Function inspecting system |
| KR1019890000577A KR890012166A (ko) | 1988-01-20 | 1989-01-20 | 기능검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63010269A JPH01185455A (ja) | 1988-01-20 | 1988-01-20 | 機能検査システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01185455A true JPH01185455A (ja) | 1989-07-25 |
Family
ID=11745593
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63010269A Pending JPH01185455A (ja) | 1988-01-20 | 1988-01-20 | 機能検査システム |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4999578A (ja) |
| JP (1) | JPH01185455A (ja) |
| KR (1) | KR890012166A (ja) |
| AU (1) | AU2858089A (ja) |
| GB (1) | GB2214152A (ja) |
| MY (1) | MY104394A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03242566A (ja) * | 1990-02-20 | 1991-10-29 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
| JP2002340962A (ja) * | 2001-05-11 | 2002-11-27 | Ibiden Co Ltd | プリント配線板の検査方法及び検査装置 |
| JP2013221945A (ja) * | 2012-04-18 | 2013-10-28 | Mire Kk | 半導体素子ハンドリングシステム |
| JP2015007549A (ja) * | 2013-06-25 | 2015-01-15 | 日置電機株式会社 | 基板検査装置 |
| JP2015021803A (ja) * | 2013-07-18 | 2015-02-02 | 日置電機株式会社 | 基板搬送装置および基板検査システム |
Families Citing this family (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5498117A (en) * | 1994-08-29 | 1996-03-12 | Tachi-S Co., Ltd. | Device for sidetracking a truck |
| FR2728822A1 (fr) * | 1994-12-29 | 1996-07-05 | Preciflex Syst | Atelier d'assemblage notamment pour pieces de tolerie |
| US5628112A (en) * | 1995-03-03 | 1997-05-13 | Ford Motor Company | Circuit board assembly system and method |
| IL139536A (en) | 1996-02-23 | 2004-02-08 | Orbotech Ltd | Conveyor system having selectively enabled conveyor elements |
| US6073342A (en) * | 1996-11-27 | 2000-06-13 | Fuji Machine Mfg., Co., Ltd. | Circuit-substrate-related-operation performing system |
| WO1999059389A2 (de) * | 1998-05-11 | 1999-11-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Anlage zum bestücken von bauelementeträgern mit elektrischen bauelementen |
| US6307386B1 (en) | 1998-05-29 | 2001-10-23 | Agilent Technologies, Inc. | Modular mechanical fixturing and automated handling of printed circuit assemblies on automated test equipment |
| US6836960B2 (en) * | 2000-05-15 | 2005-01-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Board transfer apparatus, board transfer method, and component mounting apparatus |
| US7349090B2 (en) * | 2000-09-20 | 2008-03-25 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for determining a property of a specimen prior to, during, or subsequent to lithography |
| US6673637B2 (en) | 2000-09-20 | 2004-01-06 | Kla-Tencor Technologies | Methods and systems for determining a presence of macro defects and overlay of a specimen |
| US6919957B2 (en) | 2000-09-20 | 2005-07-19 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for determining a critical dimension, a presence of defects, and a thin film characteristic of a specimen |
| US7130029B2 (en) | 2000-09-20 | 2006-10-31 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for determining an adhesion characteristic and a thickness of a specimen |
| US6812045B1 (en) | 2000-09-20 | 2004-11-02 | Kla-Tencor, Inc. | Methods and systems for determining a characteristic of a specimen prior to, during, or subsequent to ion implantation |
| US6891627B1 (en) | 2000-09-20 | 2005-05-10 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for determining a critical dimension and overlay of a specimen |
| US6633831B2 (en) | 2000-09-20 | 2003-10-14 | Kla Tencor Technologies | Methods and systems for determining a critical dimension and a thin film characteristic of a specimen |
| US6782337B2 (en) * | 2000-09-20 | 2004-08-24 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for determining a critical dimension an a presence of defects on a specimen |
| US7106425B1 (en) | 2000-09-20 | 2006-09-12 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for determining a presence of defects and a thin film characteristic of a specimen |
| US6694284B1 (en) | 2000-09-20 | 2004-02-17 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for determining at least four properties of a specimen |
| JP3729807B2 (ja) * | 2002-12-26 | 2005-12-21 | 照明 伊藤 | 検体搬送ホルダー移載システム |
| EP1930119B1 (de) * | 2006-12-08 | 2014-08-20 | Trumpf Sachsen GmbH | Maschinelle Anlage zum Bearbeiten von Werkstücken |
| DE102007017035B4 (de) * | 2007-04-11 | 2017-10-19 | Alpma Alpenland Maschinenbau Gmbh | Vorrichtung zum Fördern von vereinzelten Gütern |
| JP5155834B2 (ja) * | 2008-12-02 | 2013-03-06 | 富士機械製造株式会社 | 回路基板検査装置 |
| EP2552784B1 (en) * | 2010-03-27 | 2017-05-31 | Douglas Machine, Inc. | Apparatus and method for loading articles into cases. |
| CN102530325B (zh) * | 2010-12-23 | 2016-04-20 | 赛恩倍吉科技顾问（深圳）有限公司 | 自动装料系统及方法 |
| DE102011010152A1 (de) * | 2011-02-02 | 2012-08-02 | Grob-Werke Gmbh & Co. Kg | Zuführ- und Ladeeinheit |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| BE516602A (ja) * | 1952-03-18 | |||
| US3412333A (en) * | 1965-11-15 | 1968-11-19 | Philco Ford Corp | Apparatus for sequentially testing electrical components under controlled environment conditions |
| JPS5232137B2 (ja) * | 1971-12-29 | 1977-08-19 | ||
| JPS582131B2 (ja) * | 1978-09-27 | 1983-01-14 | 株式会社東芝 | 表示およびチェック方法 |
| WO1980002492A1 (fr) * | 1979-05-08 | 1980-11-13 | Tokyo Shibaura Electric Co | Appareil d'entrainement de moteurs a impulsions pour un systeme automatique d'essais |
| JPS56101753A (en) * | 1980-01-17 | 1981-08-14 | Citizen Watch Co Ltd | External inspecting machine for silicon wafer |
| GB2101063A (en) * | 1981-05-08 | 1983-01-12 | Onorio Anzani | A storing, distributing and receiving assembly for distributing objects to unlinked working stations |
| JPS59122971A (ja) * | 1982-12-29 | 1984-07-16 | Fujitsu Ltd | プリント基板の自動検査方式 |
| NL8400261A (nl) * | 1984-01-27 | 1985-08-16 | Administratie En Automatiserin | Inrichting voor het in een uit een aantal bewerkingsstations bewerken van daartoe aangewezen voorwerpen. |
| JPS6160509A (ja) * | 1984-08-31 | 1986-03-28 | Fujitsu Ltd | 搬送装置 |
| US4658947A (en) * | 1984-11-08 | 1987-04-21 | Raymond Production Systems | Transfer mechanism |
| JPS61167883A (ja) * | 1985-01-21 | 1986-07-29 | Toshiba Seiki Kk | 電子部品の測定装置 |
| SE457433B (sv) * | 1985-08-08 | 1988-12-27 | Mats Ingvar Davidson | Anordning vid transportanlaeggningar |
| EP0247141B1 (en) * | 1985-10-28 | 1991-06-05 | Cimm, Inc. | System for testing and repairing printed circuit boards |
| CH668734A5 (de) * | 1986-02-12 | 1989-01-31 | Micafil Ag | Transporteinrichtung fuer eine fertigungsstrasse mit parallelgeschalteten bearbeitungsstationen. |
-
1988
- 1988-01-20 JP JP63010269A patent/JPH01185455A/ja active Pending
-
1989
- 1989-01-13 US US07/296,779 patent/US4999578A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-01-17 GB GB8900949A patent/GB2214152A/en not_active Withdrawn
- 1989-01-18 AU AU28580/89A patent/AU2858089A/en not_active Abandoned
- 1989-01-19 MY MYPI89000056A patent/MY104394A/en unknown
- 1989-01-20 KR KR1019890000577A patent/KR890012166A/ko not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03242566A (ja) * | 1990-02-20 | 1991-10-29 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
| JP2002340962A (ja) * | 2001-05-11 | 2002-11-27 | Ibiden Co Ltd | プリント配線板の検査方法及び検査装置 |
| JP2013221945A (ja) * | 2012-04-18 | 2013-10-28 | Mire Kk | 半導体素子ハンドリングシステム |
| JP2015007549A (ja) * | 2013-06-25 | 2015-01-15 | 日置電機株式会社 | 基板検査装置 |
| JP2015021803A (ja) * | 2013-07-18 | 2015-02-02 | 日置電機株式会社 | 基板搬送装置および基板検査システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB8900949D0 (en) | 1989-03-08 |
| KR890012166A (ko) | 1989-08-24 |
| AU2858089A (en) | 1989-07-20 |
| US4999578A (en) | 1991-03-12 |
| MY104394A (en) | 1994-03-31 |
| GB2214152A (en) | 1989-08-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH01185455A (ja) | 機能検査システム | |
| KR100261957B1 (ko) | 수평 반송 테스트 핸들러 | |
| US5680936A (en) | Printed circuit board sorting device | |
| CN104267330B (zh) | 一种多功能电源板测试生产线 | |
| EP1066535B1 (en) | Device and assembly for testing electronic components | |
| CN110615259A (zh) | 一种三轨输送检测的方法及装置 | |
| DE60132906D1 (de) | Prüfsystem in einer leiterplatten-herstellungslinie für die automatisierte prüfung von leiterplatten | |
| JP2616218B2 (ja) | 搬送装置を有する調整検査装置 | |
| CN108132215A (zh) | 一种smt贴片生产线的aoi检测方法 | |
| CN108792563B (zh) | 一种集成电路板自动测试设备及其测试方法 | |
| CN201122173Y (zh) | 往复式ic批次检测机台 | |
| JPH04176528A (ja) | 搬送装置を有する生産装置 | |
| JPH0222837A (ja) | ウエハプロービング装置 | |
| JPH08330381A (ja) | 製造装置 | |
| CN223862328U (zh) | 测试分类机 | |
| JP7393595B1 (ja) | ワーク位置決め機構及びワーク検査装置 | |
| CN110523659A (zh) | 一种物料选取输送装置 | |
| JPH04199894A (ja) | 接着剤塗布装置 | |
| JPH01233349A (ja) | 半導体デバイスのリード曲り検出機 | |
| KR101083776B1 (ko) | 반도체 칩 테스트장치 | |
| KR930010852B1 (ko) | Pcb 검사장치 | |
| JP3126159B2 (ja) | 連続検査装置 | |
| JPH01257276A (ja) | プリント配線基板の自動供給・取出し、選別、検査装置 | |
| JPH069007A (ja) | プリント板ユニット自動給排装置 | |
| JP2002181886A (ja) | 部品ハンドラ、ｉｃ測定システム、ｉｃの分別方法 |