JPH03248501A - グレーズ抵抗材料 - Google Patents

グレーズ抵抗材料

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Publication number
JPH03248501A
JPH03248501A JP2046224A JP4622490A JPH03248501A JP H03248501 A JPH03248501 A JP H03248501A JP 2046224 A JP2046224 A JP 2046224A JP 4622490 A JP4622490 A JP 4622490A JP H03248501 A JPH03248501 A JP H03248501A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistor
metal
borate glass
wiring conductors
glass
Prior art date
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Pending
Application number
JP2046224A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Izeki
健 井関
Mitsuo Ioka
満雄 井岡
Osamu Makino
治 牧野
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、非酸化性雰囲気中での焼成で実用可能な抵抗
体を形成するためのグレーズ抵抗材料に関するものであ
る。このグレーズ抵抗材料を使用すれば、Cu配線導体
等の卑金属配線導体と厚膜抵抗体とを同一のセラミック
基板上に形成することができる。
従来の技術 従来、厚膜ハイブリッドIC分野では、配線導体にAg
、AgPd、AgPt等のAg系の貴金属導体ペースト
を、抵抗体にRub:系抵抗ペーストをそれぞれ用い、
空気中焼成方法により回路を形成していた(例えば、「
厚膜IC技術」日本マイクロエレクトロニクス協会編、
工業調査会刊行 第26頁〜第34頁)。
近年、厚膜ハイブリッドIC分野では、高密度回路、高
速ディジタル回路への要望が高まっている。しかし、従
来のAg系配線導体では、マイグレイジョン、回路イン
ピーダンスの問題があり、この要望を十分に満たすこと
ができない。そこで、Cu配線導体を用いた厚膜ノ1イ
ブリッドICが有望視されているが、Cu配線導体は空
気中で焼成すると酸化するため、Cu配線導体に用いる
抵抗体は非酸化性雰囲気中で焼成して形成しなければな
らない。しかし、前述のRub2系抵抗ペーストではR
uO2の還元反応のため実用可能な抵抗体を形成できな
い。
このようなRub:系抵抗ペーストに代わって、非酸化
性雰囲気中の焼成で還元反応を起こさない珪化物−ガラ
ス系のグレーズ抵抗材料が考案されている(特開昭56
−153702号公報)。
発明が解決しようとする課題 しかし、上記抵抗材料からなる抵抗体では、珪化物とガ
ラスの漏れ性がRu 02 とガラスの漏れ性よりも悪
いため、微細な導電ネットワークを形成できず、過負荷
試験等の電気的特性が弱く、実用上大きな不安を残して
いる。
本発明は、上記課題を解決するもので、’ Cu配線導
体等の卑金属配線導体に用いることができる、非酸化性
雰囲気中の焼成で高性能な抵抗体を形成できるグレーズ
抵抗材料を提供することにある。
課題を解決するための手段 上記課題を解決するために、本発明のグレーズ抵抗材料
は、金属珪化物とrVa、Va、VIa族の酸化物、お
よび5in2含有量が3重量%以下のホウ酸塩ガラスで
構成されるものである。
作用 本発明のグレーズ抵抗材料では、焼成時に、ホウ酸塩ガ
ラス中のB2O3が、rVa、Va、VIaの族の酸化
物と金属珪化物およびSiと化学反応を起こし、IVa
、Va、VIa族の金属硼化物を生成する。これらの金
属硼化物は耐候性が高く、しかも化学反応により生成さ
れるため抵抗体中に微細な導電ネットワークを形成する
。このため、焼成後の抵抗体は過負荷試験等の電気的特
性に優れ、かつ耐候性の高いものになっている。
尚、上記の化学反応の際にはSiO:+ も生成される
ため、ガラス中のSiO3量が3重量%以上になると反
応が抑制され、良好な抵抗体が得られない。
実施例 次に本発明の実施例に係るグレーズ抵抗材料について述
べる。
(実施例1) ガラス組成が、B2O3、Bad、Aj!2C)+ 。
MgO,CaOからなるガラス粉を用意し、このガラス
粉と金属珪化物粉、rVa、Va、VIa族の酸化物粉
をビークル(アクリル系樹脂をターピネオールに溶かし
たもの)と混練し、抵抗ペーストとした。この抵抗ペー
ストの無機組成中の金属珪化物の含有量、rVa、Va
、VIa族の酸化物の含有量は第1表上に示す通りであ
る。この抵抗ペーストを、Cu厚膜電極を形成した96
%アルミナ基板上に300メツシユのステンレススクリ
ーンを用いて印刷し、120℃の温度で乾燥させてから
、窒素ガスパージされ、トップ温度900℃に加熱した
トンネル炉を通して焼成し、抵抗体を形成した。この抵
抗体の25℃における面積抵抗値と、25℃と125℃
の温度間で測定した抵抗温度係数を第1表に示す。負荷
寿命試験(150mW/ mm 2の負荷電力を、周囲
温度70℃で、1.5時間ON、0.5時間OFFの1
000時間印加)、耐湿試験(周囲温度85℃、相対湿
度85%で1000時間放置する)、熱衝撃試験(周囲
温度65℃で30分間放置、周囲温度125℃で30分
間放置を1000時間繰り返す)での抵抗値変化率はい
ずれも±1%以内であった。
第  1  表 (実施例2) 実施例1と同様のガラス粉と金属珪化物物、rVa、V
a、VIa族の酸化物粉、Si粉をビークル(アクリル
系樹脂をターピネオールに溶かしたもの)と混練し、抵
抗ペーストとした。この抵抗ペーストの無機組成中の金
属珪化物とrVa、Va。
VIa族の酸化物の含有量、およびSiの含有量は第2
表に示す通りである。この抵抗ペーストを実施例1と同
様にして、96%アルミナ基板上に抵抗体を形成した。
この抵抗体の25℃における面積抵抗値と、25℃と1
25℃温度間で測定した抵抗温度係数を第2表に示す。
負荷寿命試験、耐湿試験、熱衝撃試験は実施例1と同様
に行い、抵抗値変化率いずれも±1%以内であった。
(以  下  余  白  ) 第 表 上記実施例が示すように、本発明に係るグレーズ抵抗材
料により、優れた特性を有する厚膜抵抗体を得ることが
できる。
発明の効果 上述から明らかなように本発明に係るグレーズ抵抗材料
は、非酸化性雰囲気中の焼成により実用可能な抵抗体を
形成することが可能であるため、Cu等の卑金属配線導
体と共に回路を形成することができる。従って、本発明
はCu配線厚膜ハイブリッドICを実現し、厚膜ハイブ
リッドICの高密度化、高速ディジタル化に寄与する。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)金属珪化物とIVa,Va,VIa族の酸化物、およ
    びホウ酸塩ガラスからなり、前記ホウ酸塩ガラスのSi
    O_2含有量が3重量%以下であることを特徴とするグ
    レーズ抵抗材料。
  2. (2)金属珪化物とIVa,Va,VIa族の酸化物、Si
    およびSiO_2の低次酸化物とホウ酸塩ガラスからな
    り、前記ホウ酸塩ガラスのSiO_2含有量が3重量%
    以下であることを特徴とするグレーズ抵抗材料。
  3. (3)金属珪化物がTiSi_2である請求項1または
    2記載のグレーズ抵抗材料。
  4. (4)請求項1または2記載のグレーズ抵抗材料を有機
    媒体中に分散させることからなる抵抗ペースト。
  5. (5)基板上に、請求項4記載の抵抗ペーストを印刷,
    焼成して抵抗体を形成した混成集積回路装置。
JP2046224A 1990-02-27 1990-02-27 グレーズ抵抗材料 Pending JPH03248501A (ja)

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