JPH03259601A - 静磁波装置 - Google Patents
静磁波装置Info
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- JPH03259601A JPH03259601A JP5882090A JP5882090A JPH03259601A JP H03259601 A JPH03259601 A JP H03259601A JP 5882090 A JP5882090 A JP 5882090A JP 5882090 A JP5882090 A JP 5882090A JP H03259601 A JPH03259601 A JP H03259601A
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- magnetostatic wave
- transducer
- wave device
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Landscapes
- Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は静磁波装置に関し、特にたとえば、YIG
(イツトリウム、アイアン、ガーネット)薄膜などのフ
ェリ磁性基体とトランスデユーサとを有し、たとえばフ
ィルタとして用いられる、静磁波装置に関する。
(イツトリウム、アイアン、ガーネット)薄膜などのフ
ェリ磁性基体とトランスデユーサとを有し、たとえばフ
ィルタとして用いられる、静磁波装置に関する。
(従来技術)
第4図は従来の静磁波装置の一例を示す斜視図である。
この静磁波装置lは、フェリ磁性基体としての矩形のY
I Gl膜2を含み、このYIGi膜2は、GGG
(ガドリニウム、ガリウム、ガーネット)基板3の一方
主面上に形成されている。
I Gl膜2を含み、このYIGi膜2は、GGG
(ガドリニウム、ガリウム、ガーネット)基板3の一方
主面上に形成されている。
さらに、このYIG薄膜2上には、トランスデユーサと
して、2つのアンテナ4および5が間隔を隔てて形成さ
れているやまた、これらのアンテナ4および5は、それ
らの一方端が接地され、それらの他方端が入力端子6お
よび出力端子7にそれぞれ接続される。
して、2つのアンテナ4および5が間隔を隔てて形成さ
れているやまた、これらのアンテナ4および5は、それ
らの一方端が接地され、それらの他方端が入力端子6お
よび出力端子7にそれぞれ接続される。
この静磁波装置1では、YIG薄膜2に磁界を印加し一
方のアンテナ4に入力信号を与えれば、YIG薄膜2に
静磁波が励起され、その静磁波が他方のアンテナ5で受
信され、そのアンテナ5から出力信号が得られる。
方のアンテナ4に入力信号を与えれば、YIG薄膜2に
静磁波が励起され、その静磁波が他方のアンテナ5で受
信され、そのアンテナ5から出力信号が得られる。
(発明が解決しようとする課題)
ところが、この従来の静磁波装置1では、2つのアンテ
ナ4および5とYIGI膜2との結合が弱いので挿入損
失が大きい。また、2つのアンテナ4および5が電磁界
で結合するので、入出力間のアイソレーション特性が悪
い。
ナ4および5とYIGI膜2との結合が弱いので挿入損
失が大きい。また、2つのアンテナ4および5が電磁界
で結合するので、入出力間のアイソレーション特性が悪
い。
それゆえに、この発明の主たる目的は、低損失でしかも
アイソレーション特性の良い、静磁波装置を提供するこ
とである。
アイソレーション特性の良い、静磁波装置を提供するこ
とである。
(課題を解決するための手段)
この発明にかかる静磁波装置は、フェリ磁性基体と、フ
ェリ磁性基体の一方主面上に形成される誘電体基板と、
誘電体基板上に間隔を隔てて形成されるトランスデユー
サと、トランスデユーサの間に形成されるアース電極と
を含む、静磁波装置である。
ェリ磁性基体の一方主面上に形成される誘電体基板と、
誘電体基板上に間隔を隔てて形成されるトランスデユー
サと、トランスデユーサの間に形成されるアース電極と
を含む、静磁波装置である。
(作用〉
フェリ磁性基体とトランスデユーサとの間に形成される
誘電体基板は、トランスデユーサとフェリ磁性基体との
結合を強める働きをする。したがって、挿入損失が小さ
くなる。
誘電体基板は、トランスデユーサとフェリ磁性基体との
結合を強める働きをする。したがって、挿入損失が小さ
くなる。
さらに、トランスデユーサの間に形成されるアース電極
は、電磁界でのトランスデユーサ間の結合を弱める働き
をする。したがって、入出力間のアイソレーション特性
が改善される。
は、電磁界でのトランスデユーサ間の結合を弱める働き
をする。したがって、入出力間のアイソレーション特性
が改善される。
(発明の効果)
この発明によれば、低損失でしかもアイソレーション特
性の良い、静磁波装置が得られる。
性の良い、静磁波装置が得られる。
この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点
は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から
一層明らかとなろう。
は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から
一層明らかとなろう。
(実施例〉
第1A図はこの発明の一実施例を示す平面図であり、第
1B図は第1A図の線IB−IBにおける断面図解図で
ある。この静磁波装置10は、フェリ磁性基体として、
たとえば矩形のYIGff膜12を含む。このY I
Gi膜12は、台としてのGGG基板14の一方主面上
に、たとえば液相法などの方法でYIG単結晶をエピタ
キシャル戊辰させることによって形成される。
1B図は第1A図の線IB−IBにおける断面図解図で
ある。この静磁波装置10は、フェリ磁性基体として、
たとえば矩形のYIGff膜12を含む。このY I
Gi膜12は、台としてのGGG基板14の一方主面上
に、たとえば液相法などの方法でYIG単結晶をエピタ
キシャル戊辰させることによって形成される。
さらに、このYIG薄膜12上には、誘電体基板16が
形成される。この誘電体基板16は、たとえばアルミナ
、酸化シリコンなどの誘電体で形成される。
形成される。この誘電体基板16は、たとえばアルミナ
、酸化シリコンなどの誘電体で形成される。
この誘電体基板16の表面には、その長手方向に間隔を
隔てて、人出刃用のトランスデユーサ18および20が
、それぞれ形成される。これらのトランスデユーサ18
および20は、それぞれ、たとえば互いに平行する3つ
のラインを有するストリップラインで構成される。そし
て、それらのストリップラインの平行するラインは、誘
電体基板16の幅方向に配置される。
隔てて、人出刃用のトランスデユーサ18および20が
、それぞれ形成される。これらのトランスデユーサ18
および20は、それぞれ、たとえば互いに平行する3つ
のラインを有するストリップラインで構成される。そし
て、それらのストリップラインの平行するラインは、誘
電体基板16の幅方向に配置される。
また、一方のトランスデユーサ18の一端および他方の
トランスデユーサ20の他端は、それぞれ接地される。
トランスデユーサ20の他端は、それぞれ接地される。
さらに、一方のトランスデユーサ18の他端および他方
のトランスデユーサ20の一端は、入力端子(図示せず
〉および出力端子(図示せず)にそれぞれ接続される。
のトランスデユーサ20の一端は、入力端子(図示せず
〉および出力端子(図示せず)にそれぞれ接続される。
また、誘電体基板16の表面の中央には、2つのトラン
スデユーサ18および20間に、アース電極22が形成
される。そして、このアース電極22は接地される。な
お、このアース電極22は、たとえば銀などの導体材料
を蒸着あるいはスパッタリングなどの方法で誘電体基板
16の表面に付着することによって形成される。
スデユーサ18および20間に、アース電極22が形成
される。そして、このアース電極22は接地される。な
お、このアース電極22は、たとえば銀などの導体材料
を蒸着あるいはスパッタリングなどの方法で誘電体基板
16の表面に付着することによって形成される。
この静磁波装置10では、たとえばYIG薄膜12の主
面に直交する方向に、直流磁界が印加される。そして、
たとえば一方のトランスデユーサ18に入力信号を与え
れば、YIG薄膜12に体積前進静磁波(MSFVW)
が励起され、その静磁波が他方のトランスデユーサ20
で受信され、そのトランスデユーサ20から信号として
出力される。
面に直交する方向に、直流磁界が印加される。そして、
たとえば一方のトランスデユーサ18に入力信号を与え
れば、YIG薄膜12に体積前進静磁波(MSFVW)
が励起され、その静磁波が他方のトランスデユーサ20
で受信され、そのトランスデユーサ20から信号として
出力される。
この静磁波装置10では、第4図の従来例と比べて、Y
IG薄膜12とトランスデユーサ18および20との間
に誘電体基板16が形成されているので、YIG薄膜1
2とトランスデユーサ18および20との結合が強くな
る。すなわち、誘電体基板16は、トランスデユーサ1
8および20とY I G薄膜12との結合を強める働
きをする。
IG薄膜12とトランスデユーサ18および20との間
に誘電体基板16が形成されているので、YIG薄膜1
2とトランスデユーサ18および20との結合が強くな
る。すなわち、誘電体基板16は、トランスデユーサ1
8および20とY I G薄膜12との結合を強める働
きをする。
その結果、挿入損失が小さくなる。
さらに、この静磁波装置10では、2つのトランスデユ
ーサ18および20間にアース電極22が形成されてい
るので、電磁界でのトランスデユーサ18および20間
の結合が弱くなり、入出力間のアイソレーション特性が
良くなる。発明者の実験によれば、この実施例のように
アース電極22を設けることによって、入出力間のアイ
ソレーション特性が40dBから70dBと改善された
。
ーサ18および20間にアース電極22が形成されてい
るので、電磁界でのトランスデユーサ18および20間
の結合が弱くなり、入出力間のアイソレーション特性が
良くなる。発明者の実験によれば、この実施例のように
アース電極22を設けることによって、入出力間のアイ
ソレーション特性が40dBから70dBと改善された
。
なお、上述の実施例では、一方のトランスデユーサ18
を入力端として用い、他方のトランスデユーサ20を出
力側として用いたが、これらのトランスデユーサを逆に
用いてもよい。
を入力端として用い、他方のトランスデユーサ20を出
力側として用いたが、これらのトランスデユーサを逆に
用いてもよい。
また、Y I Gl膜12には、その主面に平行する幅
方向に磁界を印加してもよい。この場合、YIGfjl
#12には、表面静磁波(MSSW)が励起される。あ
るいは、Y I G薄膜12には、その主面に平行する
長手方向に磁界を印加してもよい。
方向に磁界を印加してもよい。この場合、YIGfjl
#12には、表面静磁波(MSSW)が励起される。あ
るいは、Y I G薄膜12には、その主面に平行する
長手方向に磁界を印加してもよい。
この場合、YIGi膜12には、体積後退静磁波(MS
BVW)が励起される。
BVW)が励起される。
第2A図はこの発明の他の実施例を示す平面図であり、
第2B図は第2A図の線I[B−I[Bにおける断面図
解図であり、第2C図は第2B図の線nc−ncにおけ
る断面図である。この実施例では、第1A図および第1
B図に示す実施例と比べて、特に、誘電体基板16の裏
面に、たとえば3つの円板状の共振器電極24a、24
bおよび24cが形成される。この場合、これらの共振
器電極24a、24bおよび24cは、誘電体基板16
の長手方向に間隔を隔てかつアース電極22に対向する
ように形成される。これらの共振器電極24a、24b
および24Cは、たとえば銀などの導体材料を蒸着ある
いはスパフタリングなどの方法で誘電体基板16の裏面
に付着することによって、形成される。
第2B図は第2A図の線I[B−I[Bにおける断面図
解図であり、第2C図は第2B図の線nc−ncにおけ
る断面図である。この実施例では、第1A図および第1
B図に示す実施例と比べて、特に、誘電体基板16の裏
面に、たとえば3つの円板状の共振器電極24a、24
bおよび24cが形成される。この場合、これらの共振
器電極24a、24bおよび24cは、誘電体基板16
の長手方向に間隔を隔てかつアース電極22に対向する
ように形成される。これらの共振器電極24a、24b
および24Cは、たとえば銀などの導体材料を蒸着ある
いはスパフタリングなどの方法で誘電体基板16の裏面
に付着することによって、形成される。
この実施例の静磁波装置10では、第1A図および第1
B図に示す実施例と比べて、特に、誘電体基板16の裏
面に3つの共振器電極24a、24bおよび24Cが形
成されているので、Q値が大きくなり、不要なスプリア
ス応答が抑圧される。
B図に示す実施例と比べて、特に、誘電体基板16の裏
面に3つの共振器電極24a、24bおよび24Cが形
成されているので、Q値が大きくなり、不要なスプリア
ス応答が抑圧される。
第3A図は、第2A図ないし第2C図に示す実施例の変
形例を示す平面図であり、第3B図は第3A図の線1[
[B−II[Bにおける断面図解図である。
形例を示す平面図であり、第3B図は第3A図の線1[
[B−II[Bにおける断面図解図である。
この実施例では、第2A図ないし第2C図に示す実施例
に比べて、特に、アース電極22にその長手方向に間隔
を隔てて3つの孔22a、22bおよび22cが形成さ
れていて、3つの共振器電極24a、24bおよび24
cがそれらの孔22a22bおよび22c内において誘
電体基板16の表面にそれぞれ形成されている。
に比べて、特に、アース電極22にその長手方向に間隔
を隔てて3つの孔22a、22bおよび22cが形成さ
れていて、3つの共振器電極24a、24bおよび24
cがそれらの孔22a22bおよび22c内において誘
電体基板16の表面にそれぞれ形成されている。
また、この静磁波装210では、トランスデユーサ18
および20が、それぞれ、たとえば互いに平行する5つ
のラインを有するストリップラインで構成されている。
および20が、それぞれ、たとえば互いに平行する5つ
のラインを有するストリップラインで構成されている。
この実施例の静磁波装置10でも、挿入損失が小さく、
入出力間のアイソレーション特性が良く、しかも、Q値
が大きくなり、不要なスプリアス応答が抑圧される。
入出力間のアイソレーション特性が良く、しかも、Q値
が大きくなり、不要なスプリアス応答が抑圧される。
なお、上述の各実施例では、複数のラインを有するスト
リップラインでトランスデユーサを構成したが、この発
明では、トランスデユーサとしてたとえば1本のワイヤ
からなるアンテナが用いられてもよい。
リップラインでトランスデユーサを構成したが、この発
明では、トランスデユーサとしてたとえば1本のワイヤ
からなるアンテナが用いられてもよい。
第1A図はこの発明の一実施例を示す平面図であり、第
1B図は第1A図の線IB−IBにおける断面図解図で
ある。 第2A図はこの発明の他の実施例を示す平面図であり、
第2B図は第2A図の線nB−IIBにおける断面図解
図であり、第2c図は第2B図の線nc−ncにおける
断面図である。 第3A図は第2A図ないし第2c図に示す実施例の変形
例を示す平面図であり、第3B図は第3A図の線I[[
B−II[Bにおける断面図解図である。 第4図は従来の静磁波装置の一例を示す斜視図である。 図において、10は静磁波装置、12はYIG薄膜、1
6は誘電体基板、18および2oはトランスデユーサ、
22はアース電極を示す。
1B図は第1A図の線IB−IBにおける断面図解図で
ある。 第2A図はこの発明の他の実施例を示す平面図であり、
第2B図は第2A図の線nB−IIBにおける断面図解
図であり、第2c図は第2B図の線nc−ncにおける
断面図である。 第3A図は第2A図ないし第2c図に示す実施例の変形
例を示す平面図であり、第3B図は第3A図の線I[[
B−II[Bにおける断面図解図である。 第4図は従来の静磁波装置の一例を示す斜視図である。 図において、10は静磁波装置、12はYIG薄膜、1
6は誘電体基板、18および2oはトランスデユーサ、
22はアース電極を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 フェリ磁性基体、 前記フェリ磁性基体の一方主面上に形成される誘電体基
板、 前記誘電体基板上に間隔を隔てて形成されるトランスデ
ューサ、および 前記トランスデューサの間に形成されるアース電極を含
む、静磁波装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5882090A JPH03259601A (ja) | 1990-03-09 | 1990-03-09 | 静磁波装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5882090A JPH03259601A (ja) | 1990-03-09 | 1990-03-09 | 静磁波装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03259601A true JPH03259601A (ja) | 1991-11-19 |
Family
ID=13095266
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5882090A Pending JPH03259601A (ja) | 1990-03-09 | 1990-03-09 | 静磁波装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03259601A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100385121B1 (ko) * | 1999-03-09 | 2003-05-22 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 정자파 디바이스 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6019301A (ja) * | 1983-07-13 | 1985-01-31 | Murata Mfg Co Ltd | ストリツプラインフイルタ |
| JPS63275201A (ja) * | 1987-05-06 | 1988-11-11 | Murata Mfg Co Ltd | 静磁波装置 |
-
1990
- 1990-03-09 JP JP5882090A patent/JPH03259601A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6019301A (ja) * | 1983-07-13 | 1985-01-31 | Murata Mfg Co Ltd | ストリツプラインフイルタ |
| JPS63275201A (ja) * | 1987-05-06 | 1988-11-11 | Murata Mfg Co Ltd | 静磁波装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100385121B1 (ko) * | 1999-03-09 | 2003-05-22 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 정자파 디바이스 |
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