JPH0326768B2 - - Google Patents
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- JPH0326768B2 JPH0326768B2 JP7937283A JP7937283A JPH0326768B2 JP H0326768 B2 JPH0326768 B2 JP H0326768B2 JP 7937283 A JP7937283 A JP 7937283A JP 7937283 A JP7937283 A JP 7937283A JP H0326768 B2 JPH0326768 B2 JP H0326768B2
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 34
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- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
- G01C3/08—Use of electric radiation detectors
- G01C3/085—Use of electric radiation detectors with electronic parallax measurement
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば自動焦点調節装置付きカメラ
の測距装置として用いられる測距装置に関し、詳
しくは、測距方向の像を所定間隔を置いて配置さ
れた一対の受光素子列で受光し、両受光素子列の
出力の相関々係から測定対象までの距離を求める
測距装置に関する。
の測距装置として用いられる測距装置に関し、詳
しくは、測距方向の像を所定間隔を置いて配置さ
れた一対の受光素子列で受光し、両受光素子列の
出力の相関々係から測定対象までの距離を求める
測距装置に関する。
上述のような従来の測距装置として、第1図乃
至第3図に示したようなものは知られている。
至第3図に示したようなものは知られている。
第1図は一対の受光素子列上に測距方向の像を
投影する装置部分の構成概要平面図、第2図は一
対の受光素子列の受光素子出力の配列パターンが
最も一致する位相を検出するブロツク回路図、第
3図は受光素子出力の二値化回路図である。
投影する装置部分の構成概要平面図、第2図は一
対の受光素子列の受光素子出力の配列パターンが
最も一致する位相を検出するブロツク回路図、第
3図は受光素子出力の二値化回路図である。
第1図において、測距方向Iの像は、それぞれ
レンズ1,2によつて、一定距離dを隔てて並べ
て設けた一対の受光素子列3,4上に投影され
る。ここで一定距離dは、測距対象Tが無限遠に
ある場合に、その測距対象Tの像が投影される受
光素子列3,4中の受光素子間の距離である。そ
して、レンズ1,2から距離lにある測距対象T
の像を投影された受光素子と前述の無限遠にある
像を投影される受光素子との距離xが求まると、
l=d×f/xにより距離lが求められる。fは
レンズ1,2が無限遠の像を受光素子列3,4上
に結像する焦点距離である。しかして、距離x
は、第2図の検出回路によつて求められる。
レンズ1,2によつて、一定距離dを隔てて並べ
て設けた一対の受光素子列3,4上に投影され
る。ここで一定距離dは、測距対象Tが無限遠に
ある場合に、その測距対象Tの像が投影される受
光素子列3,4中の受光素子間の距離である。そ
して、レンズ1,2から距離lにある測距対象T
の像を投影された受光素子と前述の無限遠にある
像を投影される受光素子との距離xが求まると、
l=d×f/xにより距離lが求められる。fは
レンズ1,2が無限遠の像を受光素子列3,4上
に結像する焦点距離である。しかして、距離x
は、第2図の検出回路によつて求められる。
第2図において、3,4は第1図におけると同
様の受光素子列であり、5,6は受光素子列3,
4の出力を所定の論理レベルで二値化する二値化
回路列、7,8はシフトレジスタ、9は一致検出
回路列、10はカウンタ、11は判断回路であ
る。受光素子列3,4の各受光素子のアナログ出
力は、それぞれ二値化回路列5,6の各二値化回
路によつて、適宜なスレツシユホールドレベルで
“0”または“1”にデジタル化され、シフトレ
ジスタ7,8に書き込まれる。そして、シフトレ
ジスタ7,8の各ビツトの出力は一致検出回路列
9に入力され比較される。一致検出回路列9の各
回路は、シフトレジスタ7,8からの二つの入力
が同じものであつたら“1”を出力し、異なれば
“0”を出力する。カウンタ10は、この一致検
出回路列9の出力の“1”をカウントして、その
数を判断回路11に出力する。判断回路11は、
この数を記憶した後、シフトレジスタ7または8
を1ビツトシフトさせて、再びシフト後のカウン
タ10の出力数を記憶する。さらに判断回路11
は、このようなシフトレジスタ7,8のシフトと
カウンタ10の出力数の記憶とを所定回数繰返し
た後、記憶されているカウンタ10の出力数の中
の最大のものを求める。この最大の出力数の得ら
れた状態が受光素子列3,4の受光素子出力の配
列パターンが最も一致した状態で、この最大の出
力数が得られるまでのシフト回数が第1図で述べ
た距離xに相当する。すなわち、このシフト回数
で測距対象Tまでの距離lを求める場合は、一対
の受光素子列3,4間の一定の距離dの代りに、
その距離dを受光素子列3,4の受光素子の配列
ピツチで割つた値を用いればよい。しかし、自動
焦点調節装置の測距装置の場合は、距離lを一々
求める必要はなく、焦点調節レンズを上記シフト
回数に対応して光軸方向に移動するものとすれ
ば、焦点調節レンズの光軸方向位置によつて距離
lが求まつたことになる。なお、第2図の上述の
説明からも分るように、二値化回路列5,6のデ
ジタル出力が書き込まれるレジスタは、両方がシ
フトレジスタである必要は無く、少くとも一方が
シフトレジスタであればよい。また、二値化回路
列5,6の各二値化回路には第3図に示したよう
な回路が用いられる。
様の受光素子列であり、5,6は受光素子列3,
4の出力を所定の論理レベルで二値化する二値化
回路列、7,8はシフトレジスタ、9は一致検出
回路列、10はカウンタ、11は判断回路であ
る。受光素子列3,4の各受光素子のアナログ出
力は、それぞれ二値化回路列5,6の各二値化回
路によつて、適宜なスレツシユホールドレベルで
“0”または“1”にデジタル化され、シフトレ
ジスタ7,8に書き込まれる。そして、シフトレ
ジスタ7,8の各ビツトの出力は一致検出回路列
9に入力され比較される。一致検出回路列9の各
回路は、シフトレジスタ7,8からの二つの入力
が同じものであつたら“1”を出力し、異なれば
“0”を出力する。カウンタ10は、この一致検
出回路列9の出力の“1”をカウントして、その
数を判断回路11に出力する。判断回路11は、
この数を記憶した後、シフトレジスタ7または8
を1ビツトシフトさせて、再びシフト後のカウン
タ10の出力数を記憶する。さらに判断回路11
は、このようなシフトレジスタ7,8のシフトと
カウンタ10の出力数の記憶とを所定回数繰返し
た後、記憶されているカウンタ10の出力数の中
の最大のものを求める。この最大の出力数の得ら
れた状態が受光素子列3,4の受光素子出力の配
列パターンが最も一致した状態で、この最大の出
力数が得られるまでのシフト回数が第1図で述べ
た距離xに相当する。すなわち、このシフト回数
で測距対象Tまでの距離lを求める場合は、一対
の受光素子列3,4間の一定の距離dの代りに、
その距離dを受光素子列3,4の受光素子の配列
ピツチで割つた値を用いればよい。しかし、自動
焦点調節装置の測距装置の場合は、距離lを一々
求める必要はなく、焦点調節レンズを上記シフト
回数に対応して光軸方向に移動するものとすれ
ば、焦点調節レンズの光軸方向位置によつて距離
lが求まつたことになる。なお、第2図の上述の
説明からも分るように、二値化回路列5,6のデ
ジタル出力が書き込まれるレジスタは、両方がシ
フトレジスタである必要は無く、少くとも一方が
シフトレジスタであればよい。また、二値化回路
列5,6の各二値化回路には第3図に示したよう
な回路が用いられる。
第3図において、12は第1図、第2図の受光
素子列3,4の構成受光素子であるフオトダイオ
ード、13,14はスイツチングトランジスタ、
15はコンデンサ、16はインバータ、VDはフ
オトダイオード12の駆動電圧、GおよびCはそ
れぞれスイツチングトランジスタ13,14の作
動信号である。この二値化回路は、スイツチング
トランジスタ13,14がオフしており、フオト
ダイオード12に駆動電圧が印加されて像投影が
行われている状態から、作動信号Cによつて一旦
スイツチングトランジスタ14をオンさせてコン
デンサ15の放電を行つた後、さらに作動信号C
によつてスイツチングトランジスタ14をオフさ
せ、次いで作動信号Gによつてスイツチングトラ
ンジスタ13をオンさせることによりコンデンサ
15の充電を行い、それから一定時間経過後にさ
らに作動信号Gによつてスイツチングトランジス
タ13をオフして、その間に、フオトダイオード
12の受光強度に略比例する電流によつて行われ
たコンデンサ15の充電電圧がインバータ16の
スレツシユホールド電圧以上になつていればイン
バータ16の出力が“1”から“0”に反転し、
充電電圧がスレツシユホールド電圧に達していな
ければインバータ16の出力が“1”のまゝであ
ることによつて、フオトダイオード12の出力を
二値化する。この場合、スイツチングトランジス
タ13をオンしてからオフするまでの時間が長過
ぎると、総べてのコンデンサ15がスレツシユホ
ールド電圧以上に充電されて了うし、反対に短か
過ぎると、総べてのコンデンサ15の充電電圧が
スレツシユホールド電圧に達しないようになつ
て、受光素子列3,4の二値化出力の配列パター
ンは総べての位相において一致することになるか
ら、距離xの情報を得ることができなくなる。し
たがつて、スイツチングトランジスタ13をオン
してからオフするまでの時間は、受光素子列3,
4の受光素子全体の受光量を考慮して設定する必
要があるが、この種の制御は一般に複雑であると
云う欠点がある。
素子列3,4の構成受光素子であるフオトダイオ
ード、13,14はスイツチングトランジスタ、
15はコンデンサ、16はインバータ、VDはフ
オトダイオード12の駆動電圧、GおよびCはそ
れぞれスイツチングトランジスタ13,14の作
動信号である。この二値化回路は、スイツチング
トランジスタ13,14がオフしており、フオト
ダイオード12に駆動電圧が印加されて像投影が
行われている状態から、作動信号Cによつて一旦
スイツチングトランジスタ14をオンさせてコン
デンサ15の放電を行つた後、さらに作動信号C
によつてスイツチングトランジスタ14をオフさ
せ、次いで作動信号Gによつてスイツチングトラ
ンジスタ13をオンさせることによりコンデンサ
15の充電を行い、それから一定時間経過後にさ
らに作動信号Gによつてスイツチングトランジス
タ13をオフして、その間に、フオトダイオード
12の受光強度に略比例する電流によつて行われ
たコンデンサ15の充電電圧がインバータ16の
スレツシユホールド電圧以上になつていればイン
バータ16の出力が“1”から“0”に反転し、
充電電圧がスレツシユホールド電圧に達していな
ければインバータ16の出力が“1”のまゝであ
ることによつて、フオトダイオード12の出力を
二値化する。この場合、スイツチングトランジス
タ13をオンしてからオフするまでの時間が長過
ぎると、総べてのコンデンサ15がスレツシユホ
ールド電圧以上に充電されて了うし、反対に短か
過ぎると、総べてのコンデンサ15の充電電圧が
スレツシユホールド電圧に達しないようになつ
て、受光素子列3,4の二値化出力の配列パター
ンは総べての位相において一致することになるか
ら、距離xの情報を得ることができなくなる。し
たがつて、スイツチングトランジスタ13をオン
してからオフするまでの時間は、受光素子列3,
4の受光素子全体の受光量を考慮して設定する必
要があるが、この種の制御は一般に複雑であると
云う欠点がある。
また、上述のような従来の測距装置において
は、受光素子列3または4の一方もしくは両方の
出力に、相対的に差のあるノイズが重畳される
と、そのために誤つた測距情報が得られたり、全
く測距情報を得ることができなくなつたりするこ
とが起ると云う欠点もある。第4図はそのような
場合の例を示している。
は、受光素子列3または4の一方もしくは両方の
出力に、相対的に差のあるノイズが重畳される
と、そのために誤つた測距情報が得られたり、全
く測距情報を得ることができなくなつたりするこ
とが起ると云う欠点もある。第4図はそのような
場合の例を示している。
第4図のAは、受光素子列3,4の出力にノイ
ズが重畳されないか、あるいは重畳されても相対
的に差のないノイズが重畳された場合の出力配列
パターンを近似的に曲線波形で示したものであ
り、Bは、受光素子列3の出力に相対的に斜線影
を施したように台形にノイズが重畳された場合、
Cは同じく三角形にノイズが重畳された場合を示
している。図の縦軸は、構成受光素子の出力すな
わち、第3図のコンデンサ15の充電電流の強さ
または充電電圧、一点鎖線は、スレツシユホール
ドレベルである。Aの場合は、受光素子列3,4
に一致位相を求められる略同じ受光素子出力の変
換配列パターンが得られるが、B,Cの場合は、
一致位相が求められないか、あるいは誤つた一致
位相が求められるようになる。
ズが重畳されないか、あるいは重畳されても相対
的に差のないノイズが重畳された場合の出力配列
パターンを近似的に曲線波形で示したものであ
り、Bは、受光素子列3の出力に相対的に斜線影
を施したように台形にノイズが重畳された場合、
Cは同じく三角形にノイズが重畳された場合を示
している。図の縦軸は、構成受光素子の出力すな
わち、第3図のコンデンサ15の充電電流の強さ
または充電電圧、一点鎖線は、スレツシユホール
ドレベルである。Aの場合は、受光素子列3,4
に一致位相を求められる略同じ受光素子出力の変
換配列パターンが得られるが、B,Cの場合は、
一致位相が求められないか、あるいは誤つた一致
位相が求められるようになる。
以上のような欠点を解消するために、本発明者
らは先に、第4図に見るような受光素子列の出力
配列パターンの代りに、その微分値を三値化して
示したような変換配列パターンを用いるようにし
た測距装置を発明した。その発明は特願昭58−
7275号によつて出願されている。その測距装置に
は、第3図の二値化回路の代りに、第5図に示し
たような変換回路が用いられ、そして第2図の二
値化回路列5,6の代りに、第5図の変換回路が
二点鎖線で示すように並列した変換回路列が用い
られる。
らは先に、第4図に見るような受光素子列の出力
配列パターンの代りに、その微分値を三値化して
示したような変換配列パターンを用いるようにし
た測距装置を発明した。その発明は特願昭58−
7275号によつて出願されている。その測距装置に
は、第3図の二値化回路の代りに、第5図に示し
たような変換回路が用いられ、そして第2図の二
値化回路列5,6の代りに、第5図の変換回路が
二点鎖線で示すように並列した変換回路列が用い
られる。
第5図において、121,122は一個の受光
素子列中の相隣る受光素子であるフオトダイオー
ド、131,132及び141,142はスイツ
チングトランジスタ、151,152はコンデン
サ、161,162はインバータ、VDはフオト
ダイオードの駆動電圧、GよびCはスイツチング
トランジスタの作動信号で、こゝまでの構成は第
2図の二値化回路の場合と同じである。そして、
インバータ161,162の出力がそれぞれ入力
されるノアゲート17,18に共に入力されるφ
は、一定または変化する時間間隔で“0”のパル
スが発生するストローブ信号、フリツプフロツプ
22〜24のR端子に入力されるリセツト信号R
は、作動信号Cがスイツチングトランジスタ14
1,142をオンするのと同じタイミングで、
“0”パルスによりフリツプフロツプ22〜24
をリセツトして、それらのQ出力を“0”、した
がつて出力を“1”とする信号である。
素子列中の相隣る受光素子であるフオトダイオー
ド、131,132及び141,142はスイツ
チングトランジスタ、151,152はコンデン
サ、161,162はインバータ、VDはフオト
ダイオードの駆動電圧、GよびCはスイツチング
トランジスタの作動信号で、こゝまでの構成は第
2図の二値化回路の場合と同じである。そして、
インバータ161,162の出力がそれぞれ入力
されるノアゲート17,18に共に入力されるφ
は、一定または変化する時間間隔で“0”のパル
スが発生するストローブ信号、フリツプフロツプ
22〜24のR端子に入力されるリセツト信号R
は、作動信号Cがスイツチングトランジスタ14
1,142をオンするのと同じタイミングで、
“0”パルスによりフリツプフロツプ22〜24
をリセツトして、それらのQ出力を“0”、した
がつて出力を“1”とする信号である。
この変換回路によれば、作動信号Cによつてス
イツチングトランジスタ141,142がオンさ
れ、同時にリセツト信号Rによつてフリツプフロ
ツプ22〜24がリセツトされてQ出力が“0”
になると、以後、ノアゲート17,18は、スト
ローブ信号φの“0”パルスを入力しているとき
に、インバータ161,162の出力が“1”か
ら“0”に反転している場合、出力が“0”から
“1”に反転する。そこで、スイツチングトラン
ジスタ131,132がオンされて、コンデンサ
151,152の充電が開始され、今仮に、スト
ローブ信号φの一つの“0”パルスから次の
“0”パルスまでの間において、コンデンサ15
1の充電電圧のみがスレツシユホールド電圧以上
となり、インバータ161の出力が“1”から
“0”に反転したとすると、ノアゲート17の出
力はストローブ信号φの次の“0”パルスを入力
したときに“0”から“1”に反転し、ノアゲー
ト18の出力は“0”のまゝである。ノアゲート
17の出力が“1”に反転すると、ノアゲート1
9がフリツプフロツプ22のセツト端子Sに
“0”のセツト信号を出力する。それによつてフ
リツプフロツプ22は、Q出力が“1”となり、
ノアゲート17,18の出力を“0”に保持する
ことになる。しかし、一旦は“1”に反転したノ
アゲート17の出力はインバータ21を介してフ
リツプフロツプ24のセツト端子Sに“0”のセ
ツト信号として入力されて、フリツプフロツプ2
4のQ出力を“0”から“1”に反転させ、出
力を“1”から“0“に反転させる。その結果、
ノアゲート25の出力q1はフリツプフロツプ23
のQ出力に拘らず“0”を与える。また、フリツ
プフロツプ23のQ出力のq3は、ナンドゲート2
0に入力されるノアゲート18の出力が“0”の
まゝであるから、リセツトされたまゝの“0”で
あり、このq3の“0”とフリツプフロツプ24の
Q出力の“0”とが入力されているノアゲート2
6の出力q2は“1”を与える。すなわち、フオト
ダイオード121の出力がフオトダイオード12
2の出力よりも大であつて、その差がストローブ
信号φの一つの“0”パルスから次の“0”パル
スまでの間でインバータ161の出力のみが反転
するような大きさであるときは、出力q1,q2,q3
はそれぞれ“0”、“1”、“0”を与える。
イツチングトランジスタ141,142がオンさ
れ、同時にリセツト信号Rによつてフリツプフロ
ツプ22〜24がリセツトされてQ出力が“0”
になると、以後、ノアゲート17,18は、スト
ローブ信号φの“0”パルスを入力しているとき
に、インバータ161,162の出力が“1”か
ら“0”に反転している場合、出力が“0”から
“1”に反転する。そこで、スイツチングトラン
ジスタ131,132がオンされて、コンデンサ
151,152の充電が開始され、今仮に、スト
ローブ信号φの一つの“0”パルスから次の
“0”パルスまでの間において、コンデンサ15
1の充電電圧のみがスレツシユホールド電圧以上
となり、インバータ161の出力が“1”から
“0”に反転したとすると、ノアゲート17の出
力はストローブ信号φの次の“0”パルスを入力
したときに“0”から“1”に反転し、ノアゲー
ト18の出力は“0”のまゝである。ノアゲート
17の出力が“1”に反転すると、ノアゲート1
9がフリツプフロツプ22のセツト端子Sに
“0”のセツト信号を出力する。それによつてフ
リツプフロツプ22は、Q出力が“1”となり、
ノアゲート17,18の出力を“0”に保持する
ことになる。しかし、一旦は“1”に反転したノ
アゲート17の出力はインバータ21を介してフ
リツプフロツプ24のセツト端子Sに“0”のセ
ツト信号として入力されて、フリツプフロツプ2
4のQ出力を“0”から“1”に反転させ、出
力を“1”から“0“に反転させる。その結果、
ノアゲート25の出力q1はフリツプフロツプ23
のQ出力に拘らず“0”を与える。また、フリツ
プフロツプ23のQ出力のq3は、ナンドゲート2
0に入力されるノアゲート18の出力が“0”の
まゝであるから、リセツトされたまゝの“0”で
あり、このq3の“0”とフリツプフロツプ24の
Q出力の“0”とが入力されているノアゲート2
6の出力q2は“1”を与える。すなわち、フオト
ダイオード121の出力がフオトダイオード12
2の出力よりも大であつて、その差がストローブ
信号φの一つの“0”パルスから次の“0”パル
スまでの間でインバータ161の出力のみが反転
するような大きさであるときは、出力q1,q2,q3
はそれぞれ“0”、“1”、“0”を与える。
次に仮に、ストローブ信号φの一つの“0”パ
ルスから次の“0”パルスまでの間において、コ
ンデンサ152,152の充電電圧が共にスレツ
シユホールド電圧以上となり、インバータ16
1,162の出力が共に“1”から“0”に反転
したとすると、ノアゲート17,18はストロー
ブ信号φの次の“0”パルスを入力したときに共
に“0”から“1”に反転する。この反転も一時
的なものであることは、反転によつてノアゲート
19からフリツプフロツプ22のセツト端子Sに
“0”のセツト信号が入力されることから、前の
場合と同様である。そして、ノアゲート17の反
転した出力“1”はフリツプフロツプ24をセツ
トして、Q出力を“0”から“1”に反転させ、
Q出力を“1”から“0”に反転させるから、ノ
アゲート25の出力q1は前の場合と同様“0”を
与える。また、ノアゲート17,18の反転した
出力“1”は、ノアゲート20を介してセツト信
号の“0”をフリツプフロツプ23のセツト端子
Sに入力し、Q出力のq3をリセツトの“0”から
“1”に反転させ、同時にこの出力q3の“1”は
ノアゲート26の出力q2をフリツプフロツプ24
の出力に拘りなく“0”にさせる。すなわち、
フオトダイオード121,122の出力がストロ
ーブ信号φの一つの“0”パルスから次の“0”
パルスまでの間で共にそれぞれインバータ16
1,162の出力を反転させるような差の小さい
範囲にあるときは、出力q1,q2,q3はそれぞれ
“0”、“0”、“1”を与える。
ルスから次の“0”パルスまでの間において、コ
ンデンサ152,152の充電電圧が共にスレツ
シユホールド電圧以上となり、インバータ16
1,162の出力が共に“1”から“0”に反転
したとすると、ノアゲート17,18はストロー
ブ信号φの次の“0”パルスを入力したときに共
に“0”から“1”に反転する。この反転も一時
的なものであることは、反転によつてノアゲート
19からフリツプフロツプ22のセツト端子Sに
“0”のセツト信号が入力されることから、前の
場合と同様である。そして、ノアゲート17の反
転した出力“1”はフリツプフロツプ24をセツ
トして、Q出力を“0”から“1”に反転させ、
Q出力を“1”から“0”に反転させるから、ノ
アゲート25の出力q1は前の場合と同様“0”を
与える。また、ノアゲート17,18の反転した
出力“1”は、ノアゲート20を介してセツト信
号の“0”をフリツプフロツプ23のセツト端子
Sに入力し、Q出力のq3をリセツトの“0”から
“1”に反転させ、同時にこの出力q3の“1”は
ノアゲート26の出力q2をフリツプフロツプ24
の出力に拘りなく“0”にさせる。すなわち、
フオトダイオード121,122の出力がストロ
ーブ信号φの一つの“0”パルスから次の“0”
パルスまでの間で共にそれぞれインバータ16
1,162の出力を反転させるような差の小さい
範囲にあるときは、出力q1,q2,q3はそれぞれ
“0”、“0”、“1”を与える。
最後に仮に、ストローブ信号φの一つの“0”
パルスから次の“0”パルスまでの間において、
コンデンサ152の充電電圧のみがスレツシユホ
ールド電圧以上となり、インバータ162の出力
が“1”から“0”に反転したとすると、ノアゲ
ート18の出力はストローブ信号φの次の“0”
パルスを入力したときに“0”から“1”に反転
し、ノアゲート17の出力は“0”のまゝであ
る。この場合も、反転したノアゲート18の出力
“1”がノアゲート19を介してフリツプフロツ
プ22のセツト端子Sにセツト信号の“0”を入
力するから、ノアゲート18の“0”から“1”
への反転は一時的なものである。そして、ノアゲ
ート18の出力が“1”に反転してもノアゲート
17の出力が“0”であるから、フリツプフロツ
プ23はセツトされず、またフリツプフロツプ2
4もセツトされない。したがつて、フリツプフロ
ツプ23,24のQ出力は共に“0”、出力は
“1”のまゝであるから、ノアゲート25の出力
q1は“1”、ノアゲート26の出力q2は“0”、出
力q3は“0”のまゝである。すなわち、フオトダ
イオード121の出力よりもフオトダイオード1
22の出力が大であつて、その差がストローブ信
号φの一つの“0”パルスから次の“0”パルス
までの間でインバータ162の出力のみが反転す
るような大きさであるときは、出力q1,q2,q3は
それぞれ“1”、“0”、“0”を与える。
パルスから次の“0”パルスまでの間において、
コンデンサ152の充電電圧のみがスレツシユホ
ールド電圧以上となり、インバータ162の出力
が“1”から“0”に反転したとすると、ノアゲ
ート18の出力はストローブ信号φの次の“0”
パルスを入力したときに“0”から“1”に反転
し、ノアゲート17の出力は“0”のまゝであ
る。この場合も、反転したノアゲート18の出力
“1”がノアゲート19を介してフリツプフロツ
プ22のセツト端子Sにセツト信号の“0”を入
力するから、ノアゲート18の“0”から“1”
への反転は一時的なものである。そして、ノアゲ
ート18の出力が“1”に反転してもノアゲート
17の出力が“0”であるから、フリツプフロツ
プ23はセツトされず、またフリツプフロツプ2
4もセツトされない。したがつて、フリツプフロ
ツプ23,24のQ出力は共に“0”、出力は
“1”のまゝであるから、ノアゲート25の出力
q1は“1”、ノアゲート26の出力q2は“0”、出
力q3は“0”のまゝである。すなわち、フオトダ
イオード121の出力よりもフオトダイオード1
22の出力が大であつて、その差がストローブ信
号φの一つの“0”パルスから次の“0”パルス
までの間でインバータ162の出力のみが反転す
るような大きさであるときは、出力q1,q2,q3は
それぞれ“1”、“0”、“0”を与える。
以上のように、第5図の変換回路は、受光素子
列中の隣り合う受光素子の出力差がストローブ信
号φのパルス間隔で与えられる所定値を超える減
または増あるいは所定値以内であるかによつてそ
れぞれ異なる信号出力を与える。したがつて、こ
のような変換回路の次々に一部を重複させたよう
な並列から成る変換回路列は、第4図に示したよ
うな受光素子列の受光素子の出力配列パターンを
微分して、微分値を三値化したような変換パター
ンを与えることになる。すなわち、第5図の変換
回路は出力差三値化回路と称し得るし、また、こ
のような変換回路の並列から成る変換回路列は差
分三値化回路列と称し得る。なお、受光素子間の
出力差を変換する第5図のような変換回路におい
ては、スイツチングトランジスタ131,132
は省略することができ、したがつて作動信号Gも
省略できる。
列中の隣り合う受光素子の出力差がストローブ信
号φのパルス間隔で与えられる所定値を超える減
または増あるいは所定値以内であるかによつてそ
れぞれ異なる信号出力を与える。したがつて、こ
のような変換回路の次々に一部を重複させたよう
な並列から成る変換回路列は、第4図に示したよ
うな受光素子列の受光素子の出力配列パターンを
微分して、微分値を三値化したような変換パター
ンを与えることになる。すなわち、第5図の変換
回路は出力差三値化回路と称し得るし、また、こ
のような変換回路の並列から成る変換回路列は差
分三値化回路列と称し得る。なお、受光素子間の
出力差を変換する第5図のような変換回路におい
ては、スイツチングトランジスタ131,132
は省略することができ、したがつて作動信号Gも
省略できる。
第2図の二値化回路列5,6の代りに、上述の
差分三値化回路列を用いることによつて、(この
場合、シフトレジスタも出力q1,q2,q3を入力さ
れるものとなる、)先に述べた従来の測距装置に
おける、作動信号Gによるスイツチングトランジ
スタ131,132等のオンからオフまでの時間
設定制御の複雑さおよび、受光素子列間に差のあ
るノイズが重畳された場合に測距情報が得られな
くなつたり、誤つた測距情報が得られたりすると
云う欠点は解消される。
差分三値化回路列を用いることによつて、(この
場合、シフトレジスタも出力q1,q2,q3を入力さ
れるものとなる、)先に述べた従来の測距装置に
おける、作動信号Gによるスイツチングトランジ
スタ131,132等のオンからオフまでの時間
設定制御の複雑さおよび、受光素子列間に差のあ
るノイズが重畳された場合に測距情報が得られな
くなつたり、誤つた測距情報が得られたりすると
云う欠点は解消される。
しかし、このような差分三値化回路列を用いた
測距装置においても、一回の受光素子列出力の変
換が行われるときのストローブ信号φの“0”パ
ルス間隔が長過ぎると、その間にインバータ16
1,162等の出力が総べて反転して測距情報が
得られなくなつたり、また逆に、ストローブ信号
φの“0”パルス間隔が短か過ぎると、受光素子
の出力配列パターンの微分値が二値化されたよう
な変換配列パターンとなつて、受光素子の出力が
周期的に変化するような場合に、誤つた測距情報
が得られたりすることが起ると云う問題がある。
測距装置においても、一回の受光素子列出力の変
換が行われるときのストローブ信号φの“0”パ
ルス間隔が長過ぎると、その間にインバータ16
1,162等の出力が総べて反転して測距情報が
得られなくなつたり、また逆に、ストローブ信号
φの“0”パルス間隔が短か過ぎると、受光素子
の出力配列パターンの微分値が二値化されたよう
な変換配列パターンとなつて、受光素子の出力が
周期的に変化するような場合に、誤つた測距情報
が得られたりすることが起ると云う問題がある。
第6図は受光素子列の出力配列パターンを差分
三値化回路列で変換したときのストローブ信号φ
の“0”パルス間隔の長、短と変換パターンの関
係を示し、Aは変換前の出力配列パターン、Bは
ストローブ信号φの“0”パルス間隔が長過ぎた
ときの変換出力配列パターン、Cは短か過ぎたと
きの変換出力配列パターン、Dは間隔が適当なと
きの変換出力パターンをそれぞれ示している。な
お、変換出力の1、0、−1は、それぞれ第5図
の出力q1,q2,q3の組合せが〔0、1、0〕、
〔0、0、1〕、〔1、0、0〕になつたときであ
る。Aの出力配列パターンがBのように変換され
たのでは、測距情報が得られないし、Cのように
変換されたのでは、多くの一致位相が検出され
て、誤つた測距が行われることになる。そして、
Dのように変換されれば、一個の一致位相が検出
されて、正確な測距が行われる。
三値化回路列で変換したときのストローブ信号φ
の“0”パルス間隔の長、短と変換パターンの関
係を示し、Aは変換前の出力配列パターン、Bは
ストローブ信号φの“0”パルス間隔が長過ぎた
ときの変換出力配列パターン、Cは短か過ぎたと
きの変換出力配列パターン、Dは間隔が適当なと
きの変換出力パターンをそれぞれ示している。な
お、変換出力の1、0、−1は、それぞれ第5図
の出力q1,q2,q3の組合せが〔0、1、0〕、
〔0、0、1〕、〔1、0、0〕になつたときであ
る。Aの出力配列パターンがBのように変換され
たのでは、測距情報が得られないし、Cのように
変換されたのでは、多くの一致位相が検出され
て、誤つた測距が行われることになる。そして、
Dのように変換されれば、一個の一致位相が検出
されて、正確な測距が行われる。
本発明は、一対の各受光素子列の出力配列パタ
ーンを隣り合う受光素子の出力差が所定値以上の
増減であるか否かの相対差配列パターンに変換し
て、変換した一対のパターンの一致する位相を検
出するようにした上述のような測距装置における
問題をさらに解消するためになされたものであ
り、受光素子列の出力配列パターンが自動的に第
6図のDに示したようなパターンに変換されて、
正確な測距が行われる測距装置を提供するもので
ある。
ーンを隣り合う受光素子の出力差が所定値以上の
増減であるか否かの相対差配列パターンに変換し
て、変換した一対のパターンの一致する位相を検
出するようにした上述のような測距装置における
問題をさらに解消するためになされたものであ
り、受光素子列の出力配列パターンが自動的に第
6図のDに示したようなパターンに変換されて、
正確な測距が行われる測距装置を提供するもので
ある。
本発明は、複数の受光素子からなる2組の受光
素子列を所定間隔を置いて配置した受光手段と、
前記複数の受光素子のそれぞれに対応して設けら
れ前記受光素子の受光光量が所定値に達したか否
かを比較し所定値に達することにより信号を出力
する複数の比較手段と、前記複数の受光素子のう
ち近接した2つの受光素子に対応する2つの比較
手段の一方の比較手段の出力と他方の比較手段の
出力を所定の周期ごとに検出し、いずれの信号の
出力が早いか、等しいか、遅いかの判別を前記複
数の受光素子の所定の2つずつの受光素子につい
て行う判別手段と、前記2組の受光素子列の一方
についての前記判別手段の出力と前記受光素子列
の他方についての前記判別手段の出力を比較し、
その一致を検出する一致検出手段とからなり、前
記2組の受光素子列の出力の相関関係から測距対
象までの距離を求める測距装置において、前記判
別手段における前記一方の受光素子列のうちの近
接した2つの受光素子の受光レベルが等しいと判
断したことを示す出力の数をカウントするカウン
ト手段を設けると共に、前記カウントした出力の
数と前記判別手段により判別した数とが一致した
時は、前記判別手段における前記所定周期を短縮
して、前記短縮された周期に基づいて再度測距を
行う。ことを特徴とする測距装置、にある。
素子列を所定間隔を置いて配置した受光手段と、
前記複数の受光素子のそれぞれに対応して設けら
れ前記受光素子の受光光量が所定値に達したか否
かを比較し所定値に達することにより信号を出力
する複数の比較手段と、前記複数の受光素子のう
ち近接した2つの受光素子に対応する2つの比較
手段の一方の比較手段の出力と他方の比較手段の
出力を所定の周期ごとに検出し、いずれの信号の
出力が早いか、等しいか、遅いかの判別を前記複
数の受光素子の所定の2つずつの受光素子につい
て行う判別手段と、前記2組の受光素子列の一方
についての前記判別手段の出力と前記受光素子列
の他方についての前記判別手段の出力を比較し、
その一致を検出する一致検出手段とからなり、前
記2組の受光素子列の出力の相関関係から測距対
象までの距離を求める測距装置において、前記判
別手段における前記一方の受光素子列のうちの近
接した2つの受光素子の受光レベルが等しいと判
断したことを示す出力の数をカウントするカウン
ト手段を設けると共に、前記カウントした出力の
数と前記判別手段により判別した数とが一致した
時は、前記判別手段における前記所定周期を短縮
して、前記短縮された周期に基づいて再度測距を
行う。ことを特徴とする測距装置、にある。
以下、本発明を第7図乃至第10図に示した実
施例によつて説明する。
施例によつて説明する。
第7図は本発明測距装置の検出回路の一例を示
すブロツク回路図、第8図はストローブ信号の変
化例を示すタイムチヤート、第9図は判断制御回
路の動作フローチヤート、第10図は受光素子列
の出力配列パターンと変換出力の配列パターンの
関係を示すグラフである。
すブロツク回路図、第8図はストローブ信号の変
化例を示すタイムチヤート、第9図は判断制御回
路の動作フローチヤート、第10図は受光素子列
の出力配列パターンと変換出力の配列パターンの
関係を示すグラフである。
第7図において、3,4は第2図と同じ受光素
子列、5′,6′は第5図に示したような出力差三
値化回路の並列から成る差分三値化回路列、7a
および8aは第5図の出力q1またはq2のシフトレ
ジスタ、7bおよび8bは出力q3のシフトレジス
タ、9a,9bは一致検出回路列、10′,1
0″はカウンタ、11′は判断制御回路、27はア
ンド回路列、28は比較回路、29はストローブ
信号発生回路である。なお、この検出回路では、
第5図の出力q1,q2のうちのいずれか一方だけを
利用するようにしているが、受光素子列3,4の
それぞれについてもう一つシフトレジスタを増加
して、変換出力q1,q2,q3の全部の情報を利用す
るようにしてもよいことは勿論である。この検出
回路においては、受光素子列3,4の出力配列パ
ターンは、差分三値化回路列5′,6′によつて、
第5図について述べたように、出力q1,q2,q3の
配列パターンに変換されて、出力q1またはq2はシ
フトレジスタ7a,8aに入力され、出力q3はシ
フトレジスタ7b,8bに入力される。そして、
受光素子列3,4についての配列順に対応する出
力q1またはq2および出力q3が一致検出回路列9a
および9bで比較されて、一致検出回路列9a,
9bは一致しているときは“1”を出力し、一致
してないときは“0”を出力する。この一致検出
回路列9a,9bの配列順に対応する出力はさら
にアンド回路列27で比較されて、アンド回路列
27は両方の一致検出回路列9a,9bの出力が
共に“1”であるものについて“1”を出力し、
その出力“1”の数がカウンタ10′でカウント
されて、判断制御回路11′がカウンタ10′のカ
ウント数を記憶する。続いて判断制御回路11′
は、シフトレジスタ7a,7bまたは8a,8b
を1ビツトシフトさせて、再びシフト後のカウン
タ10′のカウント数を記憶する動作を繰返し、
最後に記憶されたカウント数の最大なものを求め
て、その最大カウント数が得られたときのシフト
回数を測距対象の把えられたときとするが、この
点は第2図の検出回路の判断回路11、あるいは
先に発明した第5図の変換回路を用いる測距装置
におけるものと同様である。しかし、この判断制
御回路11′は、上述の動作を比較回路28から
変換出力の配列パターンが有効な一致検出のなさ
れる状態にあると云う情報を入力してから行うよ
うにしている点が、第2図の判断回路11や先に
発明した測距装置におけるものと異なる。すなわ
ち、判断制御回路11′は、第5図のコンデンサ
151,152等の充電を開始して、インバータ
161,162等のいずれかの出力が反転する
と、それによつてストローブ信号発生回路29を
駆動して、先ず例えば第8図のδ=4EVで示すよ
うな“0”パルス時間間隔のストローブ信号を第
5図のφとして出力する。なお、第7図の例で
は、上述のストローブ信号発生回路29の駆動を
トリガーするためのインバータ161,162等
は、受光素子列3に関するものだけでよい。スト
ローブ信号の“0”パルスが出力されると、その
時点で受光素子列3,4の出力配列パターンは変
換出力q1,q2,q3の変換パターンとして、先に述
べたようにシフトレジスタ7a,7bおよび8
a,8bに入力される。このときの受光素子列3
の変換出力q3は、相隣る受光素子の出力差が受光
強度差で4EV以下のときは、全部“1”になる。
カウンタ10″は変換出力q3の“1”をカウント
して、比較回路28は、カウンタ10″のカウン
ト数がシフトレジスタ7bのビツト数に等しいと
きは、判断制御回路11′に変換出力配列パター
ンがフラツトで有効な一致検出ができない状態で
ある旨の信号を出力し、上述のカウント数がビツ
ト数より少ないときは、有効な一致検出が行われ
る状態である旨の信号を出力する。この比較回路
28の判別動作は、第9図のフローチヤートの
「変換出力配列パターンフラツトか?」の判別ス
テツプで行われる。そして、判断制御回路11′
は、比較回路28から有効な一致検出が行われる
旨の信号を入力したときには前述の一致検出動作
(一致位相検出動作)を行い、有効な一致検出が
行われない旨の信号を入力したときには、以下の
ように再度測距を行う。すなわち、改めて再びコ
ンデンサ151,152等の充電を開始して、今
度はδ=2EVのストローブ信号による変換を行な
い、それによつて比較回路28から有効な一致検
出が行われる旨の信号を入力したら、それにより
判断制御回路11′は一致位相検出動作を行う。
しかし、それでも比較回路28から有効な一致検
出が行われない旨の信号を入力したときは、更に
δ=1EVのストローブ信号による変換を行う等の
動作を繰返す。そして例えば、δ=1/8EVのスト
ローブ信号による変換を行つても相隣る受光素子
の出力差が1/8EV以下であつて、なお比較回路2
8から有効な一致検出が行われない旨の信号を入
力したときには、判断制御回路11′は測距不能
である旨の信号を出力して表示を行う。
子列、5′,6′は第5図に示したような出力差三
値化回路の並列から成る差分三値化回路列、7a
および8aは第5図の出力q1またはq2のシフトレ
ジスタ、7bおよび8bは出力q3のシフトレジス
タ、9a,9bは一致検出回路列、10′,1
0″はカウンタ、11′は判断制御回路、27はア
ンド回路列、28は比較回路、29はストローブ
信号発生回路である。なお、この検出回路では、
第5図の出力q1,q2のうちのいずれか一方だけを
利用するようにしているが、受光素子列3,4の
それぞれについてもう一つシフトレジスタを増加
して、変換出力q1,q2,q3の全部の情報を利用す
るようにしてもよいことは勿論である。この検出
回路においては、受光素子列3,4の出力配列パ
ターンは、差分三値化回路列5′,6′によつて、
第5図について述べたように、出力q1,q2,q3の
配列パターンに変換されて、出力q1またはq2はシ
フトレジスタ7a,8aに入力され、出力q3はシ
フトレジスタ7b,8bに入力される。そして、
受光素子列3,4についての配列順に対応する出
力q1またはq2および出力q3が一致検出回路列9a
および9bで比較されて、一致検出回路列9a,
9bは一致しているときは“1”を出力し、一致
してないときは“0”を出力する。この一致検出
回路列9a,9bの配列順に対応する出力はさら
にアンド回路列27で比較されて、アンド回路列
27は両方の一致検出回路列9a,9bの出力が
共に“1”であるものについて“1”を出力し、
その出力“1”の数がカウンタ10′でカウント
されて、判断制御回路11′がカウンタ10′のカ
ウント数を記憶する。続いて判断制御回路11′
は、シフトレジスタ7a,7bまたは8a,8b
を1ビツトシフトさせて、再びシフト後のカウン
タ10′のカウント数を記憶する動作を繰返し、
最後に記憶されたカウント数の最大なものを求め
て、その最大カウント数が得られたときのシフト
回数を測距対象の把えられたときとするが、この
点は第2図の検出回路の判断回路11、あるいは
先に発明した第5図の変換回路を用いる測距装置
におけるものと同様である。しかし、この判断制
御回路11′は、上述の動作を比較回路28から
変換出力の配列パターンが有効な一致検出のなさ
れる状態にあると云う情報を入力してから行うよ
うにしている点が、第2図の判断回路11や先に
発明した測距装置におけるものと異なる。すなわ
ち、判断制御回路11′は、第5図のコンデンサ
151,152等の充電を開始して、インバータ
161,162等のいずれかの出力が反転する
と、それによつてストローブ信号発生回路29を
駆動して、先ず例えば第8図のδ=4EVで示すよ
うな“0”パルス時間間隔のストローブ信号を第
5図のφとして出力する。なお、第7図の例で
は、上述のストローブ信号発生回路29の駆動を
トリガーするためのインバータ161,162等
は、受光素子列3に関するものだけでよい。スト
ローブ信号の“0”パルスが出力されると、その
時点で受光素子列3,4の出力配列パターンは変
換出力q1,q2,q3の変換パターンとして、先に述
べたようにシフトレジスタ7a,7bおよび8
a,8bに入力される。このときの受光素子列3
の変換出力q3は、相隣る受光素子の出力差が受光
強度差で4EV以下のときは、全部“1”になる。
カウンタ10″は変換出力q3の“1”をカウント
して、比較回路28は、カウンタ10″のカウン
ト数がシフトレジスタ7bのビツト数に等しいと
きは、判断制御回路11′に変換出力配列パター
ンがフラツトで有効な一致検出ができない状態で
ある旨の信号を出力し、上述のカウント数がビツ
ト数より少ないときは、有効な一致検出が行われ
る状態である旨の信号を出力する。この比較回路
28の判別動作は、第9図のフローチヤートの
「変換出力配列パターンフラツトか?」の判別ス
テツプで行われる。そして、判断制御回路11′
は、比較回路28から有効な一致検出が行われる
旨の信号を入力したときには前述の一致検出動作
(一致位相検出動作)を行い、有効な一致検出が
行われない旨の信号を入力したときには、以下の
ように再度測距を行う。すなわち、改めて再びコ
ンデンサ151,152等の充電を開始して、今
度はδ=2EVのストローブ信号による変換を行な
い、それによつて比較回路28から有効な一致検
出が行われる旨の信号を入力したら、それにより
判断制御回路11′は一致位相検出動作を行う。
しかし、それでも比較回路28から有効な一致検
出が行われない旨の信号を入力したときは、更に
δ=1EVのストローブ信号による変換を行う等の
動作を繰返す。そして例えば、δ=1/8EVのスト
ローブ信号による変換を行つても相隣る受光素子
の出力差が1/8EV以下であつて、なお比較回路2
8から有効な一致検出が行われない旨の信号を入
力したときには、判断制御回路11′は測距不能
である旨の信号を出力して表示を行う。
第9図は判断制御回路11′によつて行われる
上述の動作のうちの主要動作を示している。な
お、第9図のフローチヤートにおける変換出力配
列パターンフラツトは、比較回路28から有効な
一致検出が行われない旨の信号が出力されたとき
であり、一致位相検出はカウンタ10′のカウン
ト数を記憶して最大カウント数が得られたシフト
数を求める動作である。
上述の動作のうちの主要動作を示している。な
お、第9図のフローチヤートにおける変換出力配
列パターンフラツトは、比較回路28から有効な
一致検出が行われない旨の信号が出力されたとき
であり、一致位相検出はカウンタ10′のカウン
ト数を記憶して最大カウント数が得られたシフト
数を求める動作である。
判断制御回路11′が以上のように動作するこ
とによつて、第10図のAに示したような受光素
子列の出力配列パターンは殆んどの場合B乃至D
に示したような変換出力パターンに変換され、こ
のようなB乃至Dの変換出力パターンによつて正
確な測距情報が得られることになる。なお、B
は、受光素子列3,4についてそれぞれシフトレ
ジスタ1個追加して、変換出力q1,q2,q3を全部
利用するようにした場合、Cは、第7図のシフト
レジスタ7a,8aに変換出力q2を入力した場
合、Dは、シフトレジスタ7a,8aに変換出力
q1を入力した場合である。
とによつて、第10図のAに示したような受光素
子列の出力配列パターンは殆んどの場合B乃至D
に示したような変換出力パターンに変換され、こ
のようなB乃至Dの変換出力パターンによつて正
確な測距情報が得られることになる。なお、B
は、受光素子列3,4についてそれぞれシフトレ
ジスタ1個追加して、変換出力q1,q2,q3を全部
利用するようにした場合、Cは、第7図のシフト
レジスタ7a,8aに変換出力q2を入力した場
合、Dは、シフトレジスタ7a,8aに変換出力
q1を入力した場合である。
本発明によれば、一対の受光素子列の出力の間
に相対差のあるノイズが重畳されても、それによ
つて測距不能になつたり、誤つた測距情報が得ら
れたりすることがなくなるばかりでなく、受光素
子列の出力配列パターンが周期的であつても受光
素子の出力の山または谷の高さが異なれば正確な
測距が行われると云う優れた効果が得られる。
に相対差のあるノイズが重畳されても、それによ
つて測距不能になつたり、誤つた測距情報が得ら
れたりすることがなくなるばかりでなく、受光素
子列の出力配列パターンが周期的であつても受光
素子の出力の山または谷の高さが異なれば正確な
測距が行われると云う優れた効果が得られる。
第1図は一対の受光素子列上に測距方向の像を
投影する装置部分の構成概要平面図、第2図は一
対の受光素子列の受光素子出力の配列パターンが
最も一致する位相を検出するブロツク回路図、第
3図は受光素子出力の二値化回路図、第4図は受
光素子列の出力にノイズが重畳された例を示す出
力グラフ、第5図は出力差三値化回路、第6図は
受光素子列の出力配列パターンと差分三値化回路
列による変換出力パターンの関係を示すグラフ、
第7図は本発明測距装置の検出回路の一例を示す
ブロツク回路図、第8図はストローブ信号の変化
例を示すタイムチヤート、第9図は判断制御回路
の動作フローチヤート、第10図は受光素子列の
出力配列パターンと変換出力の配列パターンの関
係を示すグラフである。 1,2……レンズ、3,4……受光素子列、
5,6……二値化回路列、5′,6′……差分三値
化回路列、7,7a,7b,8,8a,8b……
シフトレジスタ、9,9a,9b……一致検出回
路列、10,10′,10″……カウンタ、11…
…判断回路、11′……判断制御回路、12,1
21,122……フオトダイオード、13,13
1,132,14,141,142……スイツチ
ングトランジスタ、15,151,152……コ
ンデンサ、16,161,162……インバー
タ、17〜19,25,26……ノアゲート、2
0……ナンドゲート、21……インバータ、22
〜24……フリツプフロツプ、27……アンド回
路列、28……比較回路、29……ストローブ信
号発生回路。
投影する装置部分の構成概要平面図、第2図は一
対の受光素子列の受光素子出力の配列パターンが
最も一致する位相を検出するブロツク回路図、第
3図は受光素子出力の二値化回路図、第4図は受
光素子列の出力にノイズが重畳された例を示す出
力グラフ、第5図は出力差三値化回路、第6図は
受光素子列の出力配列パターンと差分三値化回路
列による変換出力パターンの関係を示すグラフ、
第7図は本発明測距装置の検出回路の一例を示す
ブロツク回路図、第8図はストローブ信号の変化
例を示すタイムチヤート、第9図は判断制御回路
の動作フローチヤート、第10図は受光素子列の
出力配列パターンと変換出力の配列パターンの関
係を示すグラフである。 1,2……レンズ、3,4……受光素子列、
5,6……二値化回路列、5′,6′……差分三値
化回路列、7,7a,7b,8,8a,8b……
シフトレジスタ、9,9a,9b……一致検出回
路列、10,10′,10″……カウンタ、11…
…判断回路、11′……判断制御回路、12,1
21,122……フオトダイオード、13,13
1,132,14,141,142……スイツチ
ングトランジスタ、15,151,152……コ
ンデンサ、16,161,162……インバー
タ、17〜19,25,26……ノアゲート、2
0……ナンドゲート、21……インバータ、22
〜24……フリツプフロツプ、27……アンド回
路列、28……比較回路、29……ストローブ信
号発生回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 複数の受光素子からなる2組の受光素子列を
所定間隔を置いて配置した受光手段と、前記複数
の受光素子のそれぞれに対応して設けられ前記受
光素子の受光光量が所定値に達したか否かを比較
し所定値に達することにより信号を出力する複数
の比較手段と、前記複数の受光素子のうち近接し
た2つの受光素子に対応する2つの比較手段の一
方の比較手段の出力と他方の比較手段の出力を所
定の周期ごとに検出し、いずれの信号の出力が早
いか、等しいか、遅いかの判別を前記複数の受光
素子の所定の2つずつの受光素子について行う判
別手段と、前記2組の受光素子列の一方について
の前記判別手段の出力と前記受光素子列の他方に
ついての前記判別手段の出力を比較し、その一致
を検出する一致検出手段とからなり、前記2組の
受光素子列の出力の相関関係から測距対象までの
距離を求める測距装置において、前記判別手段に
おける前記一方の受光素子列のうちの近接した2
つの受光素子の受光レベルが等しいと判断したこ
とを示す出力の数をカウントするカウント手段を
設けると共に、前記カウントした出力の数と前記
判別手段により判別した数とが一致した時は、前
記判別手段における前記所定周期を短縮して、前
記短縮された周期に基づいて再度測距を行うこと
を特徴とする測距装置。 2 前記判別手段の出力のうち、特定の判別レベ
ルに属すると判別したことを示す出力の数をカウ
ントするカウント手段と判別レベルを変える判別
レベル設定手段とを有し、異る判別レベル毎に前
記数のカウントを行うようにした特許請求の範囲
第1項記載の測距装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7937283A JPS59204703A (ja) | 1983-05-09 | 1983-05-09 | 測距装置 |
| GB08411225A GB2142496B (en) | 1983-05-09 | 1984-05-02 | Range finder |
| DE19843417193 DE3417193A1 (de) | 1983-05-09 | 1984-05-09 | Entfernungsmesser |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7937283A JPS59204703A (ja) | 1983-05-09 | 1983-05-09 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59204703A JPS59204703A (ja) | 1984-11-20 |
| JPH0326768B2 true JPH0326768B2 (ja) | 1991-04-11 |
Family
ID=13688038
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7937283A Granted JPS59204703A (ja) | 1983-05-09 | 1983-05-09 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59204703A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6316216A (ja) * | 1986-07-08 | 1988-01-23 | Mitsubishi Electric Corp | 距離計 |
-
1983
- 1983-05-09 JP JP7937283A patent/JPS59204703A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59204703A (ja) | 1984-11-20 |
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