JPH03280719A - A/d変換器 - Google Patents
A/d変換器Info
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- JPH03280719A JPH03280719A JP8252290A JP8252290A JPH03280719A JP H03280719 A JPH03280719 A JP H03280719A JP 8252290 A JP8252290 A JP 8252290A JP 8252290 A JP8252290 A JP 8252290A JP H03280719 A JPH03280719 A JP H03280719A
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- capacitor array
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 46
- 102100026221 Protein-L-histidine N-pros-methyltransferase Human genes 0.000 abstract 1
- 101710085005 Protein-L-histidine N-pros-methyltransferase Proteins 0.000 abstract 1
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
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- 208000024330 bloating Diseases 0.000 description 2
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Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は、2進の重み付けされた容量アレイを備えた電
荷再分配型A/D変換器に関する。
荷再分配型A/D変換器に関する。
(口〉従来の技術
第3図は、従来の電荷再分配型A/D変換器の回路図で
あり、4ビツト構成の場合を示している。
あり、4ビツト構成の場合を示している。
2進の重み付けきれた容量アレイ(1)は、4ビツト構
成の場合、容量が夫々8C,4C,2C,C及びCの5
つのコンデンサ(1a)〜(1e)で構成されており、
各二ノ)デ〉ザ(la)−・−(1,e)の第1電極が
共通に接Rビ≦ね、スイッチ(2)を介し千接地される
と共に、第2電極が夫々切換スイッチ〈3a)〜(3e
)に接続される。各切換スイッチ(3a)〜(3e)は
一方が接地されると共に他方が切換スイッチ(4)に接
続される。この切換スイッチ(4)は、一方に基準電圧
VRが入力され、他方にアナログ信号V、イが人力され
る。これら各スイッチ(3a)〜(3e)、(4)及び
(2)は、後述する制御ロジック〈5)からの切換制御
信号SCに従っ又切換制御される。
成の場合、容量が夫々8C,4C,2C,C及びCの5
つのコンデンサ(1a)〜(1e)で構成されており、
各二ノ)デ〉ザ(la)−・−(1,e)の第1電極が
共通に接Rビ≦ね、スイッチ(2)を介し千接地される
と共に、第2電極が夫々切換スイッチ〈3a)〜(3e
)に接続される。各切換スイッチ(3a)〜(3e)は
一方が接地されると共に他方が切換スイッチ(4)に接
続される。この切換スイッチ(4)は、一方に基準電圧
VRが入力され、他方にアナログ信号V、イが人力され
る。これら各スイッチ(3a)〜(3e)、(4)及び
(2)は、後述する制御ロジック〈5)からの切換制御
信号SCに従っ又切換制御される。
容重アレイ(1〉の第1電極側は、スイッチ(2)に接
続されると共に差動アンプ(6)の反転入力側に接Rさ
れる。差動アンプ(6)の非反転入力側は接地されてお
り、従って容量アレイ(1〉の第1%L極側の電位Vx
が負であれば差動ア〉・ブ(6〉の出力がrl」、正で
あれば10」となる。そして、差動アンプクロ)の出力
が制御ロジック(5〉に入力され、デジタ)しデー タ
D、□アが作成される。さらに制御ロジッ’7(5)で
は差動アンプ(6)の出力状態に基づいて切換制御信号
SC,−・SC,が作成され、各スイッチ<3a)〜(
3e) 、 (り及び(2)CS供給される。
続されると共に差動アンプ(6)の反転入力側に接Rさ
れる。差動アンプ(6)の非反転入力側は接地されてお
り、従って容量アレイ(1〉の第1%L極側の電位Vx
が負であれば差動ア〉・ブ(6〉の出力がrl」、正で
あれば10」となる。そして、差動アンプクロ)の出力
が制御ロジック(5〉に入力され、デジタ)しデー タ
D、□アが作成される。さらに制御ロジッ’7(5)で
は差動アンプ(6)の出力状態に基づいて切換制御信号
SC,−・SC,が作成され、各スイッチ<3a)〜(
3e) 、 (り及び(2)CS供給される。
次にA/D変換動作について説明する。
第4図は第3図のス、イッチ動作のタイミング図である
。ここで、各スイップー(3い〜(3e)及び(4)の
切換は、各切換制御信号SC,〜S Csが「1゜のと
き第3図に示ずH(’II、’O,のときL側になり、
スイッチ(2)は切換制御信号SC,が11」のときに
オンするものとする。
。ここで、各スイップー(3い〜(3e)及び(4)の
切換は、各切換制御信号SC,〜S Csが「1゜のと
き第3図に示ずH(’II、’O,のときL側になり、
スイッチ(2)は切換制御信号SC,が11」のときに
オンするものとする。
先ずザンブリング期間に切換制御信号SC0〜SC,が
11ヨとなって各スイッチ(3a)〜(3e)(4)が
L側に切換えられ、スイッチ(2)がオンされると、各
コンデンサ(1,a)−(le)の第2電極側にアナロ
グ信号V□が印加され、各コンデンサ(la) =(1
e)に夫々8CVrn、4 CVIM、2 CVIN、
CVl、、CVl、fの電荷量が蓄積される。そして、
ホールド期間に切換制御信号SC6〜SC5がr□」と
なって各スイッチ(3a〉〜□(3e)がI、 (Il
lに切換えられ、スイッチク2)が才プすると、各コン
デンサく1a)〜(1e)の第2電極側が接l111電
位にまで引き下げられ、ブローティング状態にある第1
電極側の電位が−V I Nとなる。このとき、コ)・
デンリー(1a)〜(1e)に蓄積されている総電荷量
は16CVINとなり、この電荷量がホールドされろ。
11ヨとなって各スイッチ(3a)〜(3e)(4)が
L側に切換えられ、スイッチ(2)がオンされると、各
コンデンサ(1,a)−(le)の第2電極側にアナロ
グ信号V□が印加され、各コンデンサ(la) =(1
e)に夫々8CVrn、4 CVIM、2 CVIN、
CVl、、CVl、fの電荷量が蓄積される。そして、
ホールド期間に切換制御信号SC6〜SC5がr□」と
なって各スイッチ(3a〉〜□(3e)がI、 (Il
lに切換えられ、スイッチク2)が才プすると、各コン
デンサく1a)〜(1e)の第2電極側が接l111電
位にまで引き下げられ、ブローティング状態にある第1
電極側の電位が−V I Nとなる。このとき、コ)・
デンリー(1a)〜(1e)に蓄積されている総電荷量
は16CVINとなり、この電荷量がホールドされろ。
次に、MSB判定期間でスイッチ(3a)が再びL側に
切換えられると、コンデン1−(la)の第2電極に■
3が印加され、ホールド期間中にボールドされた電荷量
が各コンデンサ(1a)〜(1e)に分配される。この
電荷の分配は、コンデンサ(1a)〜(IQ)の両電極
間の電位が夫々等しくなり、コンデンサく1a)の第2
1E極の電位がコンデンサ(1b)〜(le)の第2寛
極の電位に対して■1だけ高くなるように行われる。従
って、コンデンサ(1a〉の容量とコンデンサ〈1b)
〜(1e)の総容量とが互いに等しいことから、第11
1i極側の電位■8は−V +ll+ Vl/ 2 、
!: すり、この■、が差動アンプ(6)で接地電位と
比較される。そこで、アナログ信号■、が■、/2に対
し王高ければ、v8が負となっで差動ア〉・ブ(6)の
出力はrl、となり制御ロジック(5)がMSBを11
」と判定する。逆にアナログ信号Vlやがv、l/2に
対して低ければ、■8が正となってMSBが10.と判
定される4制御ロジツク(5)はMSBの判定と共に、
切換制御信号SC1を発生するもので、MSBが「1.
のときには切換制御信号SC,を「1.のまま維持(7
、「0.のと港には次の期間(B2判定期間)に「0.
とする。
切換えられると、コンデン1−(la)の第2電極に■
3が印加され、ホールド期間中にボールドされた電荷量
が各コンデンサ(1a)〜(1e)に分配される。この
電荷の分配は、コンデンサ(1a)〜(IQ)の両電極
間の電位が夫々等しくなり、コンデンサく1a)の第2
1E極の電位がコンデンサ(1b)〜(le)の第2寛
極の電位に対して■1だけ高くなるように行われる。従
って、コンデンサ(1a〉の容量とコンデンサ〈1b)
〜(1e)の総容量とが互いに等しいことから、第11
1i極側の電位■8は−V +ll+ Vl/ 2 、
!: すり、この■、が差動アンプ(6)で接地電位と
比較される。そこで、アナログ信号■、が■、/2に対
し王高ければ、v8が負となっで差動ア〉・ブ(6)の
出力はrl、となり制御ロジック(5)がMSBを11
」と判定する。逆にアナログ信号Vlやがv、l/2に
対して低ければ、■8が正となってMSBが10.と判
定される4制御ロジツク(5)はMSBの判定と共に、
切換制御信号SC1を発生するもので、MSBが「1.
のときには切換制御信号SC,を「1.のまま維持(7
、「0.のと港には次の期間(B2判定期間)に「0.
とする。
MSBが1”1.と判定された場合、続<B2判定期間
ではスイッチ(3a)がL側のままでスイッチ(3b)
がL側に切換えられる。するとV。は−V Ill V
*/ 2 + V R/ 4となり、このV8の正負
に依りMSBの判定と同様に第2ビット(B2)が判定
される。即ち、voが3VII/4より高ければV8が
負となりB2は11.と判定され、Vxが3v1/4よ
り低ければvxが正となりB2はrO」となる。
ではスイッチ(3a)がL側のままでスイッチ(3b)
がL側に切換えられる。するとV。は−V Ill V
*/ 2 + V R/ 4となり、このV8の正負
に依りMSBの判定と同様に第2ビット(B2)が判定
される。即ち、voが3VII/4より高ければV8が
負となりB2は11.と判定され、Vxが3v1/4よ
り低ければvxが正となりB2はrO」となる。
一方、MSBがr6.と判定!された場合、続くB2判
定期間ではスイッチ(3a)は1.側に切換えられ、ス
イッチ(3b)がL側に切換えられる。従って、Vxは
−V I N + V */ 4となり、このVxの正
負に依ってB2が判定される。
定期間ではスイッチ(3a)は1.側に切換えられ、ス
イッチ(3b)がL側に切換えられる。従って、Vxは
−V I N + V */ 4となり、このVxの正
負に依ってB2が判定される。
以下、B3判定期間及びLSB判定期間で第3ビット(
B3)及びLSBがB2と同様にして判定される。従っ
て、各スイッチ(3a)〜(3e〉を順に切換えること
で、Vxが接地電位に近づけられ、最終的なスイッチ(
3a)〜(3e)の状態がデジタルデータD。UTを表
わすことになる。そこで制御ロジック(5)は、各判定
期間にシリアルに得られるMSB−LSBをまとめ、4
ビツトのデジタルデータD。UTとして出力する。
B3)及びLSBがB2と同様にして判定される。従っ
て、各スイッチ(3a)〜(3e〉を順に切換えること
で、Vxが接地電位に近づけられ、最終的なスイッチ(
3a)〜(3e)の状態がデジタルデータD。UTを表
わすことになる。そこで制御ロジック(5)は、各判定
期間にシリアルに得られるMSB−LSBをまとめ、4
ビツトのデジタルデータD。UTとして出力する。
このような電荷再分配型A/D変換器は、例えばI E
E E J 、5olid 5tate C1rcu
its 、 Vol、 5C−10、No、 6 、
”A11−MOS Charge Redistrib
ution Analog−to−Digital C
onversion Technigues−Part
l”に詳述されている。
E E J 、5olid 5tate C1rcu
its 、 Vol、 5C−10、No、 6 、
”A11−MOS Charge Redistrib
ution Analog−to−Digital C
onversion Technigues−Part
l”に詳述されている。
(恒発明が解決しようとする課題
上述の如きA/D変換器に於いては、容量アレイ(1)
の各コンデンサ(1a)〜(1e)の容量の相対的な精
度が重要なために、均一な容量を有する複数の単位コン
デンサを形成し、この単位コンデンサを所定の容量の比
に従って並列接続することで各コンデンサ(1a)〜(
1e)を構成している。例えば、単位コンデンサの容量
をCとし、8,4及び2個の単位コンデンサを並列接続
してコンデンサ(1g) 、 (lb)及び(IC)を
構成する。
の各コンデンサ(1a)〜(1e)の容量の相対的な精
度が重要なために、均一な容量を有する複数の単位コン
デンサを形成し、この単位コンデンサを所定の容量の比
に従って並列接続することで各コンデンサ(1a)〜(
1e)を構成している。例えば、単位コンデンサの容量
をCとし、8,4及び2個の単位コンデンサを並列接続
してコンデンサ(1g) 、 (lb)及び(IC)を
構成する。
しかしながら、単位コンデンサを並列接続して各コンデ
ンサ(1a)〜(1e)を構成する場合でも、素子の製
造ばらつきや配線容量等に依り各コンデンサ(1a)〜
(1e)の容量に誤差が生じ、リニアリティが低下する
という問題を有している。特にビット数を多くして高い
分解能を得ようとする場合には、リニアリティの影響が
大きく、高い分解能を有していながらも歪率が大きくな
る虞れがある。
ンサ(1a)〜(1e)を構成する場合でも、素子の製
造ばらつきや配線容量等に依り各コンデンサ(1a)〜
(1e)の容量に誤差が生じ、リニアリティが低下する
という問題を有している。特にビット数を多くして高い
分解能を得ようとする場合には、リニアリティの影響が
大きく、高い分解能を有していながらも歪率が大きくな
る虞れがある。
そこで、レーザー・トリミングに依る容量の補正やデジ
タル補正に依るデータ自体の補正が施され、リニアリテ
ィの向上が図られるが、以上の補正は高価な製造装置や
大規模なロジック回路が必要となるためにコスト高を招
くことになる。
タル補正に依るデータ自体の補正が施され、リニアリテ
ィの向上が図られるが、以上の補正は高価な製造装置や
大規模なロジック回路が必要となるためにコスト高を招
くことになる。
そこで本発明は、簡単な補正回路を用いて素子のばらつ
き等に依るリニアリティの低下を防止し、高精度のA/
D変換器を提供することを目的とする。
き等に依るリニアリティの低下を防止し、高精度のA/
D変換器を提供することを目的とする。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明は上述の課題を解決するためのもので、その特徴
とするところは、2進の重み付けがされた複数の容量が
並列に配列された容量アレイと、この容量アレイの一方
の電極側に第1の基準電位を与えると共に他方の電極側
に被変換値のアナログ信号を与える手段と、上記容量ア
レイの他方の電極側に第2の基準電位を与える手段と、
上記容量アレイの他方の1極側に各容量毎に上記第1の
基準電位を与える手段と、上記容量アレイの一方の電極
側の電位を上記第1の基準電位と比較する比較回路と、
この比較回路の比較結果に基づいてデジタルデータを作
成すると共に上記各手段から上記容量アレイへの各電位
の供給を切換制御する制御回路と、上記容量アレイに並
設された補正用の容量と、上記容量アレイの各容量の容
量誤差を補正する補正データを記憶する記憶回路と、上
記比較回路の出力及び上記記憶回路から読み出される補
正データに従う電位を上記補正用容量に与えて上記容量
アレイの一方の電極側の電位を補正する補正回路と、を
備えたことにある。
とするところは、2進の重み付けがされた複数の容量が
並列に配列された容量アレイと、この容量アレイの一方
の電極側に第1の基準電位を与えると共に他方の電極側
に被変換値のアナログ信号を与える手段と、上記容量ア
レイの他方の電極側に第2の基準電位を与える手段と、
上記容量アレイの他方の1極側に各容量毎に上記第1の
基準電位を与える手段と、上記容量アレイの一方の電極
側の電位を上記第1の基準電位と比較する比較回路と、
この比較回路の比較結果に基づいてデジタルデータを作
成すると共に上記各手段から上記容量アレイへの各電位
の供給を切換制御する制御回路と、上記容量アレイに並
設された補正用の容量と、上記容量アレイの各容量の容
量誤差を補正する補正データを記憶する記憶回路と、上
記比較回路の出力及び上記記憶回路から読み出される補
正データに従う電位を上記補正用容量に与えて上記容量
アレイの一方の電極側の電位を補正する補正回路と、を
備えたことにある。
(ホ)作用
本発明に依れば、記憶回路に記憶された補正データに基
づいて補正用の容量に特定の電位を与えることで、補正
データに応じた正或いは負の電荷が補正用の容量に蓄積
される。従って、容量アレイの一方の電極側の電位が補
正用の容量に蓄積きれる電荷量に応じて上昇或いは降下
せしめられ、容量アレイの各容量の容量誤差に依る電位
の誤差が補正される。
づいて補正用の容量に特定の電位を与えることで、補正
データに応じた正或いは負の電荷が補正用の容量に蓄積
される。従って、容量アレイの一方の電極側の電位が補
正用の容量に蓄積きれる電荷量に応じて上昇或いは降下
せしめられ、容量アレイの各容量の容量誤差に依る電位
の誤差が補正される。
(へ)実施例
本発明の一実施例を図面に従って説明する。
第1図は本発明A/D変換器の回路図であり、4ビツト
構成の場合を示している。この図に於いて容量アレイ<
1)及び各スイッチ(2)(3a)〜(3e)(4)は
第3図と同一であり、同一部分は同一符号を付しである
。
構成の場合を示している。この図に於いて容量アレイ<
1)及び各スイッチ(2)(3a)〜(3e)(4)は
第3図と同一であり、同一部分は同一符号を付しである
。
本発明の特徴は、各コンデンサ(18)〜(1e)の容
量誤差を補正する補正データD□7と差動アンプ(6)
の出力とに基づいて容量アレイ(1)の第1電極側の電
位■8を補正する::−とにある。
量誤差を補正する補正データD□7と差動アンプ(6)
の出力とに基づいて容量アレイ(1)の第1電極側の電
位■8を補正する::−とにある。
即ち、容量アレイ(1)に並列して補正のコンデンサ(
10)が接続され、このコンテシリ”00)にD/A変
換回路(11、)を介して補正データ演算回路(12〉
が接続される。この補正データ演算回路(12)には、
補正データD iiE?が記憶されたEPROM(13
)が接続されると共に差動アンプ<6)の出力が接続さ
れ、各ピッ1−の判定動作毎に補正電位V−17をコン
デンサ(10)に与えるよう1こ構成されている。E
P RC)M(13)に記憶される補正データl31I
lll18は、後述する誤差検知動作に依り、例えば製
造後の動作試験の際にE F ROM(13)に書き込
まれる。、−のノ:−め、補正データD□7を改め1T
与える必要はなく、A/D変換器の使用に際15て周辺
回路を簡略化す−ることかT′きる。
10)が接続され、このコンテシリ”00)にD/A変
換回路(11、)を介して補正データ演算回路(12〉
が接続される。この補正データ演算回路(12)には、
補正データD iiE?が記憶されたEPROM(13
)が接続されると共に差動アンプ<6)の出力が接続さ
れ、各ピッ1−の判定動作毎に補正電位V−17をコン
デンサ(10)に与えるよう1こ構成されている。E
P RC)M(13)に記憶される補正データl31I
lll18は、後述する誤差検知動作に依り、例えば製
造後の動作試験の際にE F ROM(13)に書き込
まれる。、−のノ:−め、補正データD□7を改め1T
与える必要はなく、A/D変換器の使用に際15て周辺
回路を簡略化す−ることかT′きる。
ここでは、補正f−夕D□、をE P ROM(13)
に記憶させているが1、二の他にEPROM(Elec
trieally EraI3ab1.e PyoBr
aminahl、eROM)や0TPROM (Orp
、e Tiff1e Program■abl、eRO
M)等データの書き込みが可能な不揮発性メモリーCあ
れはEPOM(13)に換えて用いる、−とができる。
に記憶させているが1、二の他にEPROM(Elec
trieally EraI3ab1.e PyoBr
aminahl、eROM)や0TPROM (Orp
、e Tiff1e Program■abl、eRO
M)等データの書き込みが可能な不揮発性メモリーCあ
れはEPOM(13)に換えて用いる、−とができる。
次に誤差検知動作に一つい■:説明する。
第2図は、誤差検知動作の際のスイ・ンチ動作のタイミ
ング図でおる、この誤差検知動作の際には、スイッチ(
4)がH側に固定、即ち切換制御信号SC,が’Od:
m固定サレ、7すJ−r−1グ信号vIlllは入力さ
れない。
ング図でおる、この誤差検知動作の際には、スイッチ(
4)がH側に固定、即ち切換制御信号SC,が’Od:
m固定サレ、7すJ−r−1グ信号vIlllは入力さ
れない。
先ず、=7ンデンー9(10)の誤差灸゛−検知すると
き、切換制御信号SC,,SC,が11」となり、スイ
ッチ(2)がオンしてスイツプー(1a)がH側に切換
λられる。このとき切換制御信号SCs SCsは「
OJであり、スイッチ(lb)〜(le)はH側にある
。
き、切換制御信号SC,,SC,が11」となり、スイ
ッチ(2)がオンしてスイツプー(1a)がH側に切換
λられる。このとき切換制御信号SCs SCsは「
OJであり、スイッチ(lb)〜(le)はH側にある
。
続いてコンデンサ(10)4こ与えられる電位v*mv
を任意の電位Vfに固定した後にスイ・ノブ(2)を才
プさせて容量アレイ〈1)の第1電極側をフローティン
グ状態とする。そこで、切換制御信号S C+を「0.
とすると共に切換制御信号SC2〜SC3を1”1」と
し、スイッチ(3a)を1、側、スイ・ンチ(3b〉〜
(3e)をH側に切換える7すると、コンデンサ(1a
)に蓄積されでいた電荷が〕)ンデンサ(1b)〜(l
e)に分h−1,され、コンテシリ(1a〉の誤差分が
コンデンサ〈10)に分配される。即ち、コンデンナ(
1a)の容t(8C)とコンデンサ(lb) = (R
e)の容量−の和(4(’:。
を任意の電位Vfに固定した後にスイ・ノブ(2)を才
プさせて容量アレイ〈1)の第1電極側をフローティン
グ状態とする。そこで、切換制御信号S C+を「0.
とすると共に切換制御信号SC2〜SC3を1”1」と
し、スイッチ(3a)を1、側、スイ・ンチ(3b〉〜
(3e)をH側に切換える7すると、コンデンサ(1a
)に蓄積されでいた電荷が〕)ンデンサ(1b)〜(l
e)に分h−1,され、コンテシリ(1a〉の誤差分が
コンデンサ〈10)に分配される。即ち、コンデンナ(
1a)の容t(8C)とコンデンサ(lb) = (R
e)の容量−の和(4(’:。
+ 2 C+c + C= 8 c )が等1、ければ
、−1ンデンザ(1a)に蓄積、された電荷をコンテシ
リ−(1,b )〜(1e)に分配し2でも■8は変動
しないが、−1ンデンザ(1a)=(le)の容量が誤
差を含んでいると、その誤差分だけVT:が変動する、
そニーで、コンデンサ(10)に印加されているV x
gv (= Vf )を変動さける、゛とて?v1を最
初の接地電位と等しくし、その変動量がコンデンサ(1
B)に′Aづ−る補正電位Δ■8となる。ニーの補正電
位ΔVaは、デジタル値に変換され、補正データD□7
のひとつと(7てEFROM(13)に記憶される。
、−1ンデンザ(1a)に蓄積、された電荷をコンテシ
リ−(1,b )〜(1e)に分配し2でも■8は変動
しないが、−1ンデンザ(1a)=(le)の容量が誤
差を含んでいると、その誤差分だけVT:が変動する、
そニーで、コンデンサ(10)に印加されているV x
gv (= Vf )を変動さける、゛とて?v1を最
初の接地電位と等しくし、その変動量がコンデンサ(1
B)に′Aづ−る補正電位Δ■8となる。ニーの補正電
位ΔVaは、デジタル値に変換され、補正データD□7
のひとつと(7てEFROM(13)に記憶される。
次にコンデンサ(ib)の誤差を検知するとき、切換制
御信号S C、、S C−が「1.となり、スイッチ(
2)がオン1.てスイッチ(lb)が’ HJ @に切
換えられる。このとき切換制御信号SC,,SC,〜S
C,は’0.T、 スイッチ(la) 、 (lc)”
(le)はH側にある6続いて、V I、IVをVfに
固定しl;後にスイッチ(2)を才ブ17、さらに切換
制御信号SC3を「0.とすイ)と共に切換制御信号号
SC3〜SC8をrl」と1.てコンデンサ(1b〉に
蓄積された電荷をコンデンサ(1、C)〜(1e〉に分
配する。そこでコンデンサ(1a)の誤差検知動作の場
合と同様にVxが接地電位となるようにV、cv(=
Vf)を変動させ、その変動量がコ〉・デンザ(lb)
の補正電位Δ■bとなる。
御信号S C、、S C−が「1.となり、スイッチ(
2)がオン1.てスイッチ(lb)が’ HJ @に切
換えられる。このとき切換制御信号SC,,SC,〜S
C,は’0.T、 スイッチ(la) 、 (lc)”
(le)はH側にある6続いて、V I、IVをVfに
固定しl;後にスイッチ(2)を才ブ17、さらに切換
制御信号SC3を「0.とすイ)と共に切換制御信号号
SC3〜SC8をrl」と1.てコンデンサ(1b〉に
蓄積された電荷をコンデンサ(1、C)〜(1e〉に分
配する。そこでコンデンサ(1a)の誤差検知動作の場
合と同様にVxが接地電位となるようにV、cv(=
Vf)を変動させ、その変動量がコ〉・デンザ(lb)
の補正電位Δ■bとなる。
以後、同様にl、て第21図(ニー従うように各スイ・
ン・チ(2) 、 (3a)〜(3e)を切換え−て゛
二2ンデン′t(le)<1d)の補正電位ΔVe、Δ
Vdを得る。そ1.て、量子の補正電位Δ■八〜ΔVd
を示す補正データDIEVがE P ROM(13)に
記憶される。
ン・チ(2) 、 (3a)〜(3e)を切換え−て゛
二2ンデン′t(le)<1d)の補正電位ΔVe、Δ
Vdを得る。そ1.て、量子の補正電位Δ■八〜ΔVd
を示す補正データDIEVがE P ROM(13)に
記憶される。
次に、A/D変換動作につlaて説、明する。
A/D変換動作は、基ネ的に第3図の場合と同一であり
、スイッチング動作は第4図のタイミング図に従う。
、スイッチング動作は第4図のタイミング図に従う。
先ずザンブリ〉・グ期間に各コンデンサ(la) −(
1e)にアナログ信号Vl)Iに応j′;た電荷を蓄積
し、続くホールド期間に合量アレイ(1)の第1電極側
をブローティング状態としてV +!+をホールドする
。
1e)にアナログ信号Vl)Iに応j′;た電荷を蓄積
し、続くホールド期間に合量アレイ(1)の第1電極側
をブローティング状態としてV +!+をホールドする
。
そして、MSB判定期間でスイッチ(3a)がH側に切
換えられるときにコンデンサ(10)にVf−ΔvA(
V mgv= Vf−ΔVA)を印加してコンデンサ(
1a)の誤差を補正する。続いて、B2判定期間でスイ
ッチ(3b)がH側に切換えられると、MSBが10」
のときにはコンデンサ(10〉にVf−Δvb(V l
1lV= Vf−ΔVb)が印加され、MSBがrl、
のときにはコンデンサ(10)にVf−ΔV a −Δ
V b (V **v= Vf−ΔVa−ΔVb)が印
加きれる。
換えられるときにコンデンサ(10)にVf−ΔvA(
V mgv= Vf−ΔVA)を印加してコンデンサ(
1a)の誤差を補正する。続いて、B2判定期間でスイ
ッチ(3b)がH側に切換えられると、MSBが10」
のときにはコンデンサ(10〉にVf−Δvb(V l
1lV= Vf−ΔVb)が印加され、MSBがrl、
のときにはコンデンサ(10)にVf−ΔV a −Δ
V b (V **v= Vf−ΔVa−ΔVb)が印
加きれる。
以後同様にしてB3 、LSBの判定期間に、上位ビッ
トの判定結果に応じた補正電位がコンデンサ(10)に
印加され、夫々のコンデンサ(1a)〜(1d)の誤差
が補正される。即ち、補正データ演算回路(12〉は、
各ビットの判定結果に基づいて各コンデンサ(1a)〜
(1d)の補正データD□7を加算し、その加算値をV
f相当値から差引き、D/A変換器(11)を介してコ
ンデンサ(10)に与えるように構成されており、各判
定期間に於いてスイッチ(3a)〜(3d)がH側にあ
り、基準電位V、が印加されているコンデンサ(1a)
〜(1d)の補正電位ΔVa〜ΔVdの和がVfから差
引かれてコンデンサ(10)に印加される。従って、各
判定期間に、基準電位■1が印加きれているコンデンサ
(1a)〜(1d)に対して補正が施され、入力される
アナログ信号vtttに対してリニアリティの良いデジ
タル信号り。UTを得られる。
トの判定結果に応じた補正電位がコンデンサ(10)に
印加され、夫々のコンデンサ(1a)〜(1d)の誤差
が補正される。即ち、補正データ演算回路(12〉は、
各ビットの判定結果に基づいて各コンデンサ(1a)〜
(1d)の補正データD□7を加算し、その加算値をV
f相当値から差引き、D/A変換器(11)を介してコ
ンデンサ(10)に与えるように構成されており、各判
定期間に於いてスイッチ(3a)〜(3d)がH側にあ
り、基準電位V、が印加されているコンデンサ(1a)
〜(1d)の補正電位ΔVa〜ΔVdの和がVfから差
引かれてコンデンサ(10)に印加される。従って、各
判定期間に、基準電位■1が印加きれているコンデンサ
(1a)〜(1d)に対して補正が施され、入力される
アナログ信号vtttに対してリニアリティの良いデジ
タル信号り。UTを得られる。
尚、本実施例に於いては、4ビツト構成の場合を例示し
たが、コンデンサの増設や、他の方式、例えば抵抗スト
リングを用いた比較方式のA/D変換器との組み合わせ
に依り5ビット以上とすることは容易に成し得る。
たが、コンデンサの増設や、他の方式、例えば抵抗スト
リングを用いた比較方式のA/D変換器との組み合わせ
に依り5ビット以上とすることは容易に成し得る。
(ト)発明の効果
本発明に依れば、容量アレイの容量誤差を補正する補正
データが記憶きれたROMを内蔵したことで、誤差の補
正を容易に行うことができ、リニアリティを向上して歪
率の低下を図ることができる。また、A/D変換動作の
度に容量アレイの誤差を検知する必要がないことから、
A/D変換器の立上りが極めて速くなると共に、誤差検
知のための周辺回路を省略することができ、回路規模の
縮小が望める。従って、複雑で大規模な回路構成を必要
とせず、リニアリティの優れたA/D変換器を実現でき
る。
データが記憶きれたROMを内蔵したことで、誤差の補
正を容易に行うことができ、リニアリティを向上して歪
率の低下を図ることができる。また、A/D変換動作の
度に容量アレイの誤差を検知する必要がないことから、
A/D変換器の立上りが極めて速くなると共に、誤差検
知のための周辺回路を省略することができ、回路規模の
縮小が望める。従って、複雑で大規模な回路構成を必要
とせず、リニアリティの優れたA/D変換器を実現でき
る。
第1図は本発明A/D変換器の回路図、第2図は誤差検
知動作のタイミング図、第3図は従来のA/D変換器の
回路図、第4図はA/D変換動作のタイミング図である
。 (1)・・・容量アレイ、 (1a)〜(le)(10
)・・・コンデンサ、 (2)(3a)〜(3e) 、
(4)・・・スイッチ、 (5)・・・制御ロジック
、 (6)・・・差動アンプ、 (11)・・・D/A
変換器、 (12〉・・・補正データ演算回路、(13
)・・・EPROM。
知動作のタイミング図、第3図は従来のA/D変換器の
回路図、第4図はA/D変換動作のタイミング図である
。 (1)・・・容量アレイ、 (1a)〜(le)(10
)・・・コンデンサ、 (2)(3a)〜(3e) 、
(4)・・・スイッチ、 (5)・・・制御ロジック
、 (6)・・・差動アンプ、 (11)・・・D/A
変換器、 (12〉・・・補正データ演算回路、(13
)・・・EPROM。
Claims (2)
- (1)2進の重み付けがされた複数の容量が並列に配列
された容量アレイと、 この容量アレイの一方の電極側に第1の基準電位を与え
ると共に他方の電極側に被変換値のアナログ信号を与え
る手段と、 上記容量アレイの他方の電極側に第2の基準電位を与え
る手段と、 上記容量アレイの他方の電極側に各容量毎に上記第1の
基準電位を与える手段と、 上記容量アレイの一方の電極側の電位を上記第1の基準
電位と比較する比較回路と、 この比較回路の比較結果に基づいてデジタルデータを作
成すると共に上記各手段から上記容量アレイへの各電位
の供給を切換制御する制御回路と、上記容量アレイに並
設された補正用の容量と、上記容量アレイの各容量の容
量誤差を補正する補正データを記憶する記憶回路と、 上記比較回路の出力及び上記記憶回路から読み出される
補正データに従う電位を上記補正用の容量に与えて上記
容量アレイの一方の電極側の電圧を補正する補正回路と
、 を備えたことを特徴とするA/D変換器。 - (2)上記記憶回路は、データの書き込みが可能な読出
専用メモリであることを特徴とする請求項第1項記載の
A/D変換器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8252290A JPH03280719A (ja) | 1990-03-29 | 1990-03-29 | A/d変換器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8252290A JPH03280719A (ja) | 1990-03-29 | 1990-03-29 | A/d変換器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03280719A true JPH03280719A (ja) | 1991-12-11 |
Family
ID=13776865
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8252290A Pending JPH03280719A (ja) | 1990-03-29 | 1990-03-29 | A/d変換器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03280719A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009118488A (ja) * | 2007-11-08 | 2009-05-28 | Advantest Corp | Da変換装置およびad変換装置 |
| US7764214B2 (en) | 2007-07-31 | 2010-07-27 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Analog-to-digital converter for converting input analog signal into digital signal through multiple conversion processings |
| JP2013526179A (ja) * | 2010-04-22 | 2013-06-20 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | 積分非直線性補正を備えた逐次比較レジスタアナログ・デジタル・コンバータ |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5983418A (ja) * | 1982-11-04 | 1984-05-14 | Hitachi Ltd | A/d変換器 |
| JPS6477322A (en) * | 1987-09-18 | 1989-03-23 | Fujitsu Ltd | Optional calibration type analog/digital conversion system |
-
1990
- 1990-03-29 JP JP8252290A patent/JPH03280719A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5983418A (ja) * | 1982-11-04 | 1984-05-14 | Hitachi Ltd | A/d変換器 |
| JPS6477322A (en) * | 1987-09-18 | 1989-03-23 | Fujitsu Ltd | Optional calibration type analog/digital conversion system |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7764214B2 (en) | 2007-07-31 | 2010-07-27 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Analog-to-digital converter for converting input analog signal into digital signal through multiple conversion processings |
| JP2009118488A (ja) * | 2007-11-08 | 2009-05-28 | Advantest Corp | Da変換装置およびad変換装置 |
| JP2013526179A (ja) * | 2010-04-22 | 2013-06-20 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | 積分非直線性補正を備えた逐次比較レジスタアナログ・デジタル・コンバータ |
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