JPH0328772A - 半導体ウエハ測定用プローブカード収納ケース - Google Patents
半導体ウエハ測定用プローブカード収納ケースInfo
- Publication number
- JPH0328772A JPH0328772A JP1164746A JP16474689A JPH0328772A JP H0328772 A JPH0328772 A JP H0328772A JP 1164746 A JP1164746 A JP 1164746A JP 16474689 A JP16474689 A JP 16474689A JP H0328772 A JPH0328772 A JP H0328772A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- probe card
- tray
- card
- storage case
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は半導体ウエハを測定する治工具に関するもの
である。
である。
第4図は従来のプローブカード収納ケースの斜視図を示
すもので、図に卦いて、(1)はプローブカード、(2
)はプローブカード(1)に固定されたブロープ針、(
3)はプローブカード(1)を収納するためのケースの
溝である。
すもので、図に卦いて、(1)はプローブカード、(2
)はプローブカード(1)に固定されたブロープ針、(
3)はプローブカード(1)を収納するためのケースの
溝である。
次に動作について説明する。
上下に向かい合った平行なケースの溝(3)にプロ?プ
カード(1)をはめこみ、プロープカード(1)をケー
スの溝(3)に沿って抜き差しすることによってプロー
ブカード(1)の収納・取り出しを行う。
カード(1)をはめこみ、プロープカード(1)をケー
スの溝(3)に沿って抜き差しすることによってプロー
ブカード(1)の収納・取り出しを行う。
従来のプローブカード収納ケースは以上のように構戒さ
れていたので、ケースの溝への抜き差し時にブローブ針
が周囲に当たらぬようブローブ針カバー等を装着するこ
とが必要で、また、ケースの溝間の間隔とプローブカー
ドのサイズが合わZい場合、抜き差しが円滑に行iえな
いなどの問題点があった。
れていたので、ケースの溝への抜き差し時にブローブ針
が周囲に当たらぬようブローブ針カバー等を装着するこ
とが必要で、また、ケースの溝間の間隔とプローブカー
ドのサイズが合わZい場合、抜き差しが円滑に行iえな
いなどの問題点があった。
この発明は上記のよう■問題点を解消するためになされ
たもので、プロープ針カバーが不要にするとともに、プ
ローブカードの収納,取り出しが円滑ド行なえるプロー
ブカード収納ケースを?G ルことを目的とする。
たもので、プロープ針カバーが不要にするとともに、プ
ローブカードの収納,取り出しが円滑ド行なえるプロー
ブカード収納ケースを?G ルことを目的とする。
この発明に係る半導体ウエハ測定用ブローブカ− }”
収納ケースは、プローブカード収納時のプロープ針部分
にカバーをすることなく収納トレイの上に置くだけでプ
ロープ針を保護,保管できるようにしたものである。
収納ケースは、プローブカード収納時のプロープ針部分
にカバーをすることなく収納トレイの上に置くだけでプ
ロープ針を保護,保管できるようにしたものである。
この発明におけるプローブカード収納ケースは、収納ト
レイにあいた穴により、ブロープヵードをプロープ針の
露出したま1収納トレイに置いても、収納トレイとプロ
ーブ針の接触が回避されてブローブ針の損傷を防ぐ。
レイにあいた穴により、ブロープヵードをプロープ針の
露出したま1収納トレイに置いても、収納トレイとプロ
ーブ針の接触が回避されてブローブ針の損傷を防ぐ。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図によ・いて、(1)はブローブヵード、(2)ハフo
−フカ− 1’ (1)に固定されているプロープ針、
(4) ハ7’ロープカード(1)を収納するトレイ、
(5)ハトレイ(4)とプロープ針(2)との接触を防
ぐために設けられた穴である。
図によ・いて、(1)はブローブヵード、(2)ハフo
−フカ− 1’ (1)に固定されているプロープ針、
(4) ハ7’ロープカード(1)を収納するトレイ、
(5)ハトレイ(4)とプロープ針(2)との接触を防
ぐために設けられた穴である。
次に動作について説明する。
収納するプローブカード(1)の場所の固定が置くだけ
でできる様なトレイ(4)とし、プローブカード(1)
をこのトレイ(4)に置いた時、プロープ針(2)の位
槓に対応するトレイ(4)の部分に、プロープ針(2)
が?レイ(4)に接触しないように充分なスペースの凹
型または貫通の穴(5)があけたものである。
でできる様なトレイ(4)とし、プローブカード(1)
をこのトレイ(4)に置いた時、プロープ針(2)の位
槓に対応するトレイ(4)の部分に、プロープ針(2)
が?レイ(4)に接触しないように充分なスペースの凹
型または貫通の穴(5)があけたものである。
第3図はこの発明の他の実施例を示すトレイ(4)の断
而側面図で、プローブカード(1)は複数個(図の場合
は3個)トレイ(4)に置かれて居り、プローブカード
(1)のターミナルビン(6)が上部に突出しているが
、トレイ(4)の上面がターミナルピン(6)より高く
なるように形或されて接触を防止している。
而側面図で、プローブカード(1)は複数個(図の場合
は3個)トレイ(4)に置かれて居り、プローブカード
(1)のターミナルビン(6)が上部に突出しているが
、トレイ(4)の上面がターミナルピン(6)より高く
なるように形或されて接触を防止している。
また、プローブ針(2)は穴(5)によって同様に保護
されている。
されている。
なお、上記実施例ではトレイ(4)のプロープ針(2)
の位置に対応する場所に穴をあけた場合を示したが、プ
■−プカード(1)を固定する場所さえあればいかなる
大きさの穴であってもよい。
の位置に対応する場所に穴をあけた場合を示したが、プ
■−プカード(1)を固定する場所さえあればいかなる
大きさの穴であってもよい。
また、上記実施例では半導体ウエハ測定用プローブカー
ドの場合について説明したが、様々な部品の付いた他の
電子基板であってもよく上記実施例と同様の効果を奏す
る。
ドの場合について説明したが、様々な部品の付いた他の
電子基板であってもよく上記実施例と同様の効果を奏す
る。
以上のようにこの発明によれば、半導体ウエハプローブ
カードを収納するケースにブローブ針の先端が当たる場
所に穴をあけるようにしたので、プローブ針の損傷を防
ぐことができ、また、プロープカードの収納,取り出し
が簡単に行える効果がある。
カードを収納するケースにブローブ針の先端が当たる場
所に穴をあけるようにしたので、プローブ針の損傷を防
ぐことができ、また、プロープカードの収納,取り出し
が簡単に行える効果がある。
第1図はこの発明の一実施例によるプローブカード収納
ケースを示す斜視図、第2図は第1図に釦けるトレイの
断面側面図、第3図はこの発明の他の実施例を示すトレ
イの断面側面図、第4図は従来のプローブカード収納ケ
ースを示す斜視図である。 図ニおいて、(1)ldプローブカード、(2)はプロ
ープ針、(4)はトレイ、(5)は穴を示す。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
ケースを示す斜視図、第2図は第1図に釦けるトレイの
断面側面図、第3図はこの発明の他の実施例を示すトレ
イの断面側面図、第4図は従来のプローブカード収納ケ
ースを示す斜視図である。 図ニおいて、(1)ldプローブカード、(2)はプロ
ープ針、(4)はトレイ、(5)は穴を示す。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 半導体ウエハ測定用プローブカードを収納するケースに
おいてプローブ針の先端があたる場所に凹型穴または貫
通穴をあけたことを特徴とする半導体ウエハ測定用プロ
ーブカード収納ケース。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1164746A JPH0328772A (ja) | 1989-06-27 | 1989-06-27 | 半導体ウエハ測定用プローブカード収納ケース |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1164746A JPH0328772A (ja) | 1989-06-27 | 1989-06-27 | 半導体ウエハ測定用プローブカード収納ケース |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0328772A true JPH0328772A (ja) | 1991-02-06 |
Family
ID=15799128
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1164746A Pending JPH0328772A (ja) | 1989-06-27 | 1989-06-27 | 半導体ウエハ測定用プローブカード収納ケース |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0328772A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008018286A1 (en) * | 2006-08-09 | 2008-02-14 | Panasonic Corporation | Probe card cassette and probe card |
| KR100809605B1 (ko) * | 2006-11-22 | 2008-03-04 | 가부시키가이샤 교도 | 프로브 수납 상자 보관고 |
| DE102018207730B4 (de) | 2017-05-17 | 2023-12-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Sondierungskarten-Halteeinschub, Behälter, System und Verfahren zur Lagerung und zum Transportieren einer oder mehrerer Sondierungskarten |
| JP2024160926A (ja) * | 2023-05-02 | 2024-11-15 | 家登精密工業股▲ふん▼有限公司 | プローブカードの定位環および保護ケース |
-
1989
- 1989-06-27 JP JP1164746A patent/JPH0328772A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008018286A1 (en) * | 2006-08-09 | 2008-02-14 | Panasonic Corporation | Probe card cassette and probe card |
| US8040147B2 (en) | 2006-08-09 | 2011-10-18 | Panasonic Corporation | Probe card cassette and probe card |
| KR100809605B1 (ko) * | 2006-11-22 | 2008-03-04 | 가부시키가이샤 교도 | 프로브 수납 상자 보관고 |
| DE102018207730B4 (de) | 2017-05-17 | 2023-12-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Sondierungskarten-Halteeinschub, Behälter, System und Verfahren zur Lagerung und zum Transportieren einer oder mehrerer Sondierungskarten |
| JP2024160926A (ja) * | 2023-05-02 | 2024-11-15 | 家登精密工業股▲ふん▼有限公司 | プローブカードの定位環および保護ケース |
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