JPH0328772A - 半導体ウエハ測定用プローブカード収納ケース - Google Patents

半導体ウエハ測定用プローブカード収納ケース

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Publication number
JPH0328772A
JPH0328772A JP1164746A JP16474689A JPH0328772A JP H0328772 A JPH0328772 A JP H0328772A JP 1164746 A JP1164746 A JP 1164746A JP 16474689 A JP16474689 A JP 16474689A JP H0328772 A JPH0328772 A JP H0328772A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
probe card
tray
card
storage case
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1164746A
Other languages
English (en)
Inventor
Goro Kan
管 吾朗
Sanae Shimizu
清水 早苗
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH0328772A publication Critical patent/JPH0328772A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は半導体ウエハを測定する治工具に関するもの
である。
〔従来の技術〕
第4図は従来のプローブカード収納ケースの斜視図を示
すもので、図に卦いて、(1)はプローブカード、(2
)はプローブカード(1)に固定されたブロープ針、(
3)はプローブカード(1)を収納するためのケースの
溝である。
次に動作について説明する。
上下に向かい合った平行なケースの溝(3)にプロ?プ
カード(1)をはめこみ、プロープカード(1)をケー
スの溝(3)に沿って抜き差しすることによってプロー
ブカード(1)の収納・取り出しを行う。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来のプローブカード収納ケースは以上のように構戒さ
れていたので、ケースの溝への抜き差し時にブローブ針
が周囲に当たらぬようブローブ針カバー等を装着するこ
とが必要で、また、ケースの溝間の間隔とプローブカー
ドのサイズが合わZい場合、抜き差しが円滑に行iえな
いなどの問題点があった。
この発明は上記のよう■問題点を解消するためになされ
たもので、プロープ針カバーが不要にするとともに、プ
ローブカードの収納,取り出しが円滑ド行なえるプロー
ブカード収納ケースを?G ルことを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る半導体ウエハ測定用ブローブカ− }”
収納ケースは、プローブカード収納時のプロープ針部分
にカバーをすることなく収納トレイの上に置くだけでプ
ロープ針を保護,保管できるようにしたものである。
〔作用〕
この発明におけるプローブカード収納ケースは、収納ト
レイにあいた穴により、ブロープヵードをプロープ針の
露出したま1収納トレイに置いても、収納トレイとプロ
ーブ針の接触が回避されてブローブ針の損傷を防ぐ。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図によ・いて、(1)はブローブヵード、(2)ハフo
−フカ− 1’ (1)に固定されているプロープ針、
(4) ハ7’ロープカード(1)を収納するトレイ、
(5)ハトレイ(4)とプロープ針(2)との接触を防
ぐために設けられた穴である。
次に動作について説明する。
収納するプローブカード(1)の場所の固定が置くだけ
でできる様なトレイ(4)とし、プローブカード(1)
をこのトレイ(4)に置いた時、プロープ針(2)の位
槓に対応するトレイ(4)の部分に、プロープ針(2)
が?レイ(4)に接触しないように充分なスペースの凹
型または貫通の穴(5)があけたものである。
第3図はこの発明の他の実施例を示すトレイ(4)の断
而側面図で、プローブカード(1)は複数個(図の場合
は3個)トレイ(4)に置かれて居り、プローブカード
(1)のターミナルビン(6)が上部に突出しているが
、トレイ(4)の上面がターミナルピン(6)より高く
なるように形或されて接触を防止している。
また、プローブ針(2)は穴(5)によって同様に保護
されている。
なお、上記実施例ではトレイ(4)のプロープ針(2)
の位置に対応する場所に穴をあけた場合を示したが、プ
■−プカード(1)を固定する場所さえあればいかなる
大きさの穴であってもよい。
また、上記実施例では半導体ウエハ測定用プローブカー
ドの場合について説明したが、様々な部品の付いた他の
電子基板であってもよく上記実施例と同様の効果を奏す
る。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、半導体ウエハプローブ
カードを収納するケースにブローブ針の先端が当たる場
所に穴をあけるようにしたので、プローブ針の損傷を防
ぐことができ、また、プロープカードの収納,取り出し
が簡単に行える効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例によるプローブカード収納
ケースを示す斜視図、第2図は第1図に釦けるトレイの
断面側面図、第3図はこの発明の他の実施例を示すトレ
イの断面側面図、第4図は従来のプローブカード収納ケ
ースを示す斜視図である。 図ニおいて、(1)ldプローブカード、(2)はプロ
ープ針、(4)はトレイ、(5)は穴を示す。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体ウエハ測定用プローブカードを収納するケースに
    おいてプローブ針の先端があたる場所に凹型穴または貫
    通穴をあけたことを特徴とする半導体ウエハ測定用プロ
    ーブカード収納ケース。
JP1164746A 1989-06-27 1989-06-27 半導体ウエハ測定用プローブカード収納ケース Pending JPH0328772A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2008018286A1 (en) * 2006-08-09 2008-02-14 Panasonic Corporation Probe card cassette and probe card
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DE102018207730B4 (de) 2017-05-17 2023-12-28 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Sondierungskarten-Halteeinschub, Behälter, System und Verfahren zur Lagerung und zum Transportieren einer oder mehrerer Sondierungskarten
JP2024160926A (ja) * 2023-05-02 2024-11-15 家登精密工業股▲ふん▼有限公司 プローブカードの定位環および保護ケース

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