JPH03289548A - 試料水平型x線回折装置およびその装置に用いられるゴニオメータ支持装置 - Google Patents

試料水平型x線回折装置およびその装置に用いられるゴニオメータ支持装置

Info

Publication number
JPH03289548A
JPH03289548A JP2092663A JP9266390A JPH03289548A JP H03289548 A JPH03289548 A JP H03289548A JP 2092663 A JP2092663 A JP 2092663A JP 9266390 A JP9266390 A JP 9266390A JP H03289548 A JPH03289548 A JP H03289548A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
goniometer
sample
ray diffraction
ray
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2092663A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsushi Shibata
淳 柴田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rigaku Denki Co Ltd
Rigaku Corp
Original Assignee
Rigaku Denki Co Ltd
Rigaku Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rigaku Denki Co Ltd, Rigaku Corp filed Critical Rigaku Denki Co Ltd
Priority to JP2092663A priority Critical patent/JPH03289548A/ja
Publication of JPH03289548A publication Critical patent/JPH03289548A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はX線回折装置に関し、特に試料を水平に保持し
た状態でX線回折測定を行う形式のX線回折装置に関す
る。
[従来の技術] 上記のように試料を水平に保持した状態でX線回折測定
を行う形式のX線回折装置として、縦型ゴニオメータお
よび試料水平固定型ゴニオメータと呼ばれる2種類のX
線回折装置があることは既に知られている。
縦型ゴニオメ〒りは、X線源を固定配置し、試料を所定
の微小ステップ角度および所定のステップ時間で試料軸
を中心として小刻みに回転(いわゆる、θ回転)させ、
一方、X線検出器を試料軸を中心として試料の2倍のス
テップ角で回転(いわゆる、20回転)させながら、X
線源から放出されて試料で回折したX線(すなわち、回
折X線)の強度をX線検出器によって測定するものであ
る。
試料水平固定型ゴニオメータは、試料を固定配置し、X
ll1A源およびX線検出器をその試料を中心として互
いに逆方向へ同じステップ角度およびステップ時間でθ
回転させながらX線回折測定を行うものである。
両者の根本的な相違は、縦型ゴニオメータでは試料をθ
回転させるのに対して、試料水平型ゴニオメータでは試
料を固定配置していることである。
試料水平固定型ゴニオメータは、試料が水平に固定され
るということから、液体試料について測定を行う場合と
か、融解点近傍の高温状態で測定を行う場合のように、
こぼれやすい試料を測定対象とする場合に有利である。
しかしながら、このゴニオメータにおいては、重量が大
きく高電圧電線などの付帯機器が接続されるX線源をθ
回転させなければならないので、高精度のθ回転を得る
のが難しいという問題点を有している。
一方、縦型ゴニオメータは、XIl源が固定配置される
ので、試料水平固定型ゴニオメータに比べて、より容易
に高精度のθ回転を得ることができる。しかしながら、
試料それ自体がθ回転するので、液体試料などこぼれや
すい試料を測定することが困難であるという問題点を有
している。
[発明が解決しようとする課題] 上記のように、縦型ゴニオメータおよび試料水平固定型
ゴニオメータは、それぞれが長所および短所を持ってい
る。従って従来は、測定しようとしている試料の特性に
応じて、両ゴニオメータのうちから適切な方を選択して
使用していた。
従って従来は、予め2台のゴニオメータを用意しておか
なければならないという不都合があった。
本発明は、従来装置における上記の問題点に鑑みてなさ
れたものであって、測定者の希望に応じて、縦型ゴニオ
メータとしても、あるいは試料水平固定型ゴニオメータ
としても用いることのできるX線回折装置を提供するこ
とを目的とする。
[課題を解決するための手段] 上記の目的を達成するため、本発明に係るX線回折装置
は、試料を試料軸を中心として回転駆動する試料回転手
段と、X線検出器を試料軸を中心として回転駆動する検
出器回転手段と、Xi源を固定して保持すると共に上記
試料回転手段および検出器回転手段を保持するゴニオメ
ータとを有する試料水平型X線回折装置であって、上記
ゴニオメータを支持するゴニオメータ支持装置を有して
おり、そのゴニオメータ支持装置は、上記のゴニオメー
タ全体を試料軸を中心として回転駆動することを特徴と
している。
一般にX線回折装置は、剛性材料によって形成されたフ
レーム上に設置される。上記のX線回折装置をそのよう
なフレーム上に設置する場合、ゴニオメータ支持装置は
、そのフレームに一体に、すなわち着脱不能に取り付け
ておいても良いし。
あるいは着脱可能に取り付けておいてもよい。
ゴニオメータ支持装置をフレーム上に着脱可能に取り付
ける場合には、ゴニオメータ全体をそのゴニオメータ支
持装置に着脱可能に取り付け、さらにゴニオメータそれ
自体を、上記のフレーム上に取り付けることができるよ
うに構成しておくと好都合である。
[作用] 請求項1記載の試料水平型X線回折装置においては、試
料(17)およびX線検出器(13)がX線回折測定の
ために試料軸(ω)を中心として回転し、それに対して
、xsi源(X線管18)は位置固定されている形式の
ゴニオメータ(8)が用意される。通常このようなゴニ
オメータは、縦型ゴニオメータと呼ばれ°Cいる。
このゴニオメータは、ゴニオメータ支持装置(−fJ回
転軸4、ゴニオ回転モータ6、ゴニオ支持体2など)に
よって支持され、そしてその全体が試料軸を中心として
回転駆動される。
試料およびXM検出器を試料軸を中心として回転させな
がらX線回折測定を行っているとき、ゴニオメータ全体
を試料軸を中心として試料と反対の方向へ回転させれば
、そのX線回折測定中、試料を水平状態に保持すること
ができる。すなわち、いわゆる試料水平固定型ゴニオメ
ータとして用いられる。
試料を水平状態に保持しておく必要がない場合には、ゴ
ニオメータ全体を回転させることなく、試料をθ回転さ
せ、X線検出器を20回転させるという通常の縦型ゴニ
オメータとして動作させる。
請求項2の試料水平型X線回折装置においては、ゴニオ
メータ支持装置だけを、ゴニオメータから切り離してフ
レーム(1)から取り外すことができる。これにより、
本X線回折装置は、通常縦型ゴニオメータと呼ばれてい
る形式のゴニオメータと同一の構成となる。
請求項3のゴニオメータ支持装置は、請求項2において
フレームから取り外された状態のゴニオメータ支持装置
である。複数の縦型ゴニオメータが用意されている場合
において、このゴニオメータ支持装置を1つだけ用意し
ておけば、それら複数の縦型ゴニオメータのうちの任意
のものを、いわゆる試料水平固定型ゴニオメータとして
使用することができる。
[実施例] 第1図は本発明に係る試料水平型X線回折装置の一実施
例を示している。
同図において、フレーム1の上に、断面り字状のゴニオ
支持体2がネジ3,3によって着脱可能に固定されてい
る。第2図に示すように、ゴニオ支持体2にはゴニオ回
転軸4が貫通して取り付けられている。このゴニオ回転
軸4は、ゴニオ支持体2に対して回転自在に、しかし軸
方向(図の上下方向)へは移動不能に設けられている。
ゴニオ回転軸4のほぼ中央には、ギヤ5が固定して取り
付けられており、ゴニオ支持体2の裏面(第2図の上面
)に固定されているゴニオ回転モータ6の出力軸に取り
付けられた駆動ギヤ7がそのギヤ5に噛み合っている。
ゴニオ支持体2.ゴニオ回転軸4、ゴニオ回転モータ6
およびギヤ5,7より成る構造は、後述するゴニオメー
タ全体を回転駆動するためのゴニオメータ支持装置を構
成している。
第2図において、ゴニオ回転軸4の手前側先端(図の下
方側先端)に、ゴニオフレーム9が固定して取り付けら
れている。このゴニオフレーム9には試料回転軸10お
よび検出器アーム11がそれぞれ試料軸ωを中心として
回転可能に取り付けられおり、試料回転軸10の手前側
先端に試料ホルダ12が装着され、そして検出器アーム
11の右側先端にX線検出器13が固定されている。X
線検出器13の左側には、受光スリット14、ソーラス
リット15、そして散乱防止スリット16が検出器アー
ム11上に配置されている。試料ホルダ12には、測定
される試料17が収容されている。上記の試料軸ωは、
この試料17の表面を通過している。
試料17を挟んでX線検出器13の反対側には、ゴニオ
フレーム9に固定された、X線源としてのX線管18が
配設されている。X線管18の右側には、発散スリット
19が設けられている。
ゴニオフレーム9の内部には、試料回転軸10および検
出器アーム11のそれぞれを回転駆動するための駆動手
段が配設されている。実施例の場合は、試料回転軸10
の後方側先端(図の上方先端)に固定されたウオームホ
イール20と、それに噛み合うウオーム21と、そのウ
オーム21を回転駆動するパルスモータ22とによって
、試料17を回転駆動するための駆動系が構成されてい
る。 一方、検出器アーム11の後方側先端に固定され
たウオームホイール23と、それに噛み合うウオーム2
4と、そのウオーム24を回転駆動するパルスモータ2
5とによって、X線検出器13を回転駆動するための駆
動系が構成されている。
本実施例では、ゴニオフレーム9、そのゴニオフレーム
の内部に配置された上述の各駆動系、そしてそれらの各
駆動系によって回転駆動される試料軸10および検出器
アーム11によってゴニオメータ8が構成されている。
本装置においては、いわゆる縦型ゴニオ形式のX線回折
測定およびいわゆる試料水平固定型ゴニオ形式のX線回
折測定の2種類のX線回折測定を行うことができる。以
下、それぞれについて説明する。
鉦工擾陰≧1脛式 この形式のX線回折測定においては、X線管18を位置
不動に固定し、試料17を所定のステップ角度およびス
テップ時間で間欠的に第1図の矢印入方向へ回転(いわ
ゆるθ回転)させ、一方、X線検出器13を試料に関す
るステップ角度の2倍のステップ角度で試料と同じ方向
へ回転(いわゆる20回転)させる。そして、試料17
がθ回転し、X線検出器13が20回転する間に、X線
管18から放射されて試料17で回折した回折X線の強
度がX線検出器13によって測定される。
この形式のX線回折測定が行われている間、ゴニオ回転
モータ6は停止している。従って、ゴニオ回転軸4(第
2図)およびそれに固定されているゴニオメータ8の全
体は、停止している。
上記説明から理解できるように、この形式の測定におい
ては、試料17がθ回転によって次第に試料軸ωのまわ
りに傾斜する。従って、試料として液体試料を選定した
場合には、θ回転に応じて試料の回折面が変化すること
になるので好ましくない。このような場合には、次に説
明する試料水平固定形式のX線回折測定を行う。
−ノ この形式のX線回折測定において、試料17が第1図の
入方向へθ回転し、X線検出器13が同じ方向へ20回
転することは、上記縦型ゴニオ形式の場合と同様である
。異なっているのは、それらの回転が行われている間、
ゴニオメータ8の全体が、ゴニオ回転モータ6によって
駆動されて第1図の矢印B方向、すなわち試料17およ
びX線検出器13の回転方向(入方向)と反対の方向へ
試料17の回転速度とほぼ同じ速度で回転することであ
る。
従って、この場合のX線回折装置を矢視C方向から見る
と、試料17はあたかも停止していて、それを中心とし
てX線管」8が正時計方向へθ回転し、一方、X線検出
器13が反時計方向へθ回転するように見える。この動
作態様は、従来よく知られている、いわゆる試料水平固
定型ゴニオメータの動作と同じである。
これにより、試料17を大きく傾けることなく測定を行
うことが可能となるので、液体試料についてのX線回折
測定を支障なく行うことができるようになる。なお、こ
の測定方法においては、試料17が大きく傾くことが防
止できさえすれば所期の目的が達成されるのであるから
、ゴニオ回転モータ6によるゴニオメータ8全体の回転
は、正確に試料17のθ回転に同期していなくてもよい
両者の間に、多少の回転ずれがあるとしても、それが液
体試料に関して許容できる範囲内のものであるならば、
測定上付等の支障はない。
本実施例においては、ゴニオ支持体2はフレーム1に対
して着脱可能となっている。また、ゴニオフレーム9、
従ってゴニオメータ8はゴニオ回転軸4に対して着脱可
能となでいる。さらに、第1図において、ゴニオフレー
ム9の下部にゴニオ固定台26が形成されており、この
固定台26は、ネジなどの締結手段によってフレーム1
に直接、固定できるようになっている。
従って、ゴニオ支持体2をフレーム1から取り外し、さ
らにゴニオメータ8をゴニオ支持体2と一体なゴニオ回
転軸4(第2図)から取り外し、そしてゴニオ固定台2
6を直接フレーム1に固定すれば、従来よく知られてい
る縦型ゴニオメータが構成される。
[発明の効果] 本発明によれば、ゴニオメータ支持装置によつてゴニオ
メータ全体を回転させるか、あるいは回転させないかに
よって、本XM回折装置をいわゆる試料水平固定型ゴニ
オメータとして使用したり、あるいはいわゆる縦型ゴニ
オメータとして使用したりすることができる。
縦型ゴニオメータとして使用すれば、重量の重いX線源
を回転させなくて済むので、精度の高い測定を行うこと
ができる。一方、試料水平型ゴニオメータとして使用す
れば液体試料などといったこぼれ易い試料を支障なく測
定することが可能となる。
請求項2および請求項3の発明によれば、1つのゴニオ
メータ支持装置を用意することによって、複数の縦型ゴ
ニオメータのうちから任意に選択した1つのものを試料
水平固定型ゴニオメータとして使用することが可能とな
る。また、このゴニオメータ支持装置を用いることによ
りて、既に設置されている縦型ゴニオメータを試料水平
固定型ゴニオメータとして使用することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る試料水平型X線回折装置の一実施
例を示す斜視図、W!2図は第1図における矢視■に従
った平面図である。 2・・・ゴニオ支持体、4・・・ゴニオ回転軸、6・・
・ゴニオ回転モータ、8・・・ゴニオメータ、9・・・
ゴニオフレーム、10・・・試料回転軸、11・・・検
出器アーム、13・・・X線検出器、17・・・試料、
18・・・X線管、20・・・ウオームホイール、21
・・・ウオーム、22・・・パルスモータ、23・・・
ウオームホイール、24・・・ウオーム、25・・・パ
ルスモータ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料を試料軸を中心として回転駆動する試料回転
    手段と、 X線検出器を試料軸を中心として回転駆動する検出器回
    転手段と、 X線源を固定して保持すると共に上記試料回転手段およ
    び検出器回転手段を保持するゴニオメータと を有する試料水平型X線回折装置において、上記ゴニオ
    メータを支持すると共に、そのゴニオメータを上記試料
    軸を中心として回転駆動するゴニオメータ支持装置を設
    けたことを特徴とする試料水平型X線回折装置。
  2. (2)請求項1記載の試料水平型X線回折装置であつて
    、 上記ゴニオメータ支持装置は、フレーム上に着脱可能に
    取り付けられており、 上記ゴニオメータは、ゴニオメータ支持装置に着脱可能
    に取り付けられており、さらに ゴニオメータは、それ自体が上記フレームに着脱可能で
    あることを特徴とする試料水平型X線回折装置。
  3. (3)試料を試料軸を中心として回転駆動する試料駆動
    手段と、X線検出器を試料軸を中心として回転駆動する
    検出器回転手段と、位置固定して配置されたX線源とを
    有するゴニオメータを支持するための支持装置であつて
    、 上記ゴニオメータを試料軸を中心として回転するように
    、しかも着脱可能に支持するゴニオ回転軸と、 ゴニオ回転軸を回転駆動するゴニオ回転駆動手段とを有
    することを特徴とするゴニオメータ支持装置。
JP2092663A 1990-04-06 1990-04-06 試料水平型x線回折装置およびその装置に用いられるゴニオメータ支持装置 Pending JPH03289548A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2092663A JPH03289548A (ja) 1990-04-06 1990-04-06 試料水平型x線回折装置およびその装置に用いられるゴニオメータ支持装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2092663A JPH03289548A (ja) 1990-04-06 1990-04-06 試料水平型x線回折装置およびその装置に用いられるゴニオメータ支持装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03289548A true JPH03289548A (ja) 1991-12-19

Family

ID=14060718

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2092663A Pending JPH03289548A (ja) 1990-04-06 1990-04-06 試料水平型x線回折装置およびその装置に用いられるゴニオメータ支持装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03289548A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4559499B2 (ja) 小角x線散乱の測定方法
US3728541A (en) X-ray diffractometer
US5459770A (en) X-ray diffractometer
JPH05107203A (ja) X線試料表面状態評価装置
JP2001013095A (ja) 試料の無機物分析装置ならびに試料の無機物および/または有機物分析装置
JPH03289548A (ja) 試料水平型x線回折装置およびその装置に用いられるゴニオメータ支持装置
Burke et al. Errors in the bond method of lattice parameter determinations–further considerations
JPH0692888B2 (ja) X線ct装置
JP3659553B2 (ja) X線装置
US4071758A (en) Multiple test X-ray goniometer
JP2000258366A (ja) 微小部x線回折装置
JPH0358058B2 (ja)
JPH04225152A (ja) X線自動結晶方位解析装置
JP2912670B2 (ja) X線回折装置
JPH0117098B2 (ja)
JPH0972864A (ja) X線回折測定装置
JPS60122362A (ja) X−線検査装置
JP2535380B2 (ja) X線回折装置
JPH0136899B2 (ja)
JP2567840B2 (ja) 結晶方位決定装置
JPH03148055A (ja) X線トポグラフィ装置
JPH05288694A (ja) 陽電子消滅法による材料劣化検出装置
JP2003254917A (ja) X線測定装置
JPH0339643A (ja) X線回折装置
JPH08313457A (ja) X線回折装置