JPH0332019B2 - - Google Patents
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- JPH0332019B2 JPH0332019B2 JP18152584A JP18152584A JPH0332019B2 JP H0332019 B2 JPH0332019 B2 JP H0332019B2 JP 18152584 A JP18152584 A JP 18152584A JP 18152584 A JP18152584 A JP 18152584A JP H0332019 B2 JPH0332019 B2 JP H0332019B2
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- voltage
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/20—Investigating the presence of flaws
- G01N27/205—Investigating the presence of flaws in insulating materials
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、グラスライニング機器等のグラスラ
イニング面に存在するピンホール等の微小欠陥を
検知するための装置に関し、特にプローブの検知
電極とグラスライニング機器の金属母材との間に
２万Ｖ程度の直流電圧を印加しピンホールを通じ
て発生する火花放電により欠陥を検知する種類の
検知器に関する。
イニング面に存在するピンホール等の微小欠陥を
検知するための装置に関し、特にプローブの検知
電極とグラスライニング機器の金属母材との間に
２万Ｖ程度の直流電圧を印加しピンホールを通じ
て発生する火花放電により欠陥を検知する種類の
検知器に関する。
（従来の技術）
この種の検知器は、ピンホール部で絶縁破壊に
より火花放電を起こさせるための火花開始電圧と
して、２万Ｖ程度の直流高電圧が必要である。こ
のような直流高電圧を発生させる手段としては、
従来、(1)高周波電圧をフライバツクトランス等で
昇圧し整流を直流高電圧とする方式、(2)商用周波
電源電圧を電源トランス等で昇圧し整流して直流
高電圧とする方式が知られている。しかしピンホ
ール検知器用の直流高電圧の電源としては、(1)の
少ない巻線で高電圧が得られるが、パワーが不足
するため、グラスライニング面と大地との間の絶
縁抵抗が50MΩ以下では著しい電圧降下が認めら
れ実用上機能面に問題がある。(2)は低周波のため
トランスが大きくボルト当りの巻線数が多く装置
全体が大形で重量も170Kg程度と重く、取扱上手
軽に運搬することが困難であり、機能面でも出力
電圧の安定性に欠け遮断電流が不同となる等に因
り測定精度が低い。
より火花放電を起こさせるための火花開始電圧と
して、２万Ｖ程度の直流高電圧が必要である。こ
のような直流高電圧を発生させる手段としては、
従来、(1)高周波電圧をフライバツクトランス等で
昇圧し整流を直流高電圧とする方式、(2)商用周波
電源電圧を電源トランス等で昇圧し整流して直流
高電圧とする方式が知られている。しかしピンホ
ール検知器用の直流高電圧の電源としては、(1)の
少ない巻線で高電圧が得られるが、パワーが不足
するため、グラスライニング面と大地との間の絶
縁抵抗が50MΩ以下では著しい電圧降下が認めら
れ実用上機能面に問題がある。(2)は低周波のため
トランスが大きくボルト当りの巻線数が多く装置
全体が大形で重量も170Kg程度と重く、取扱上手
軽に運搬することが困難であり、機能面でも出力
電圧の安定性に欠け遮断電流が不同となる等に因
り測定精度が低い。
そして上記何れの方式の従来のピンホール検出
器も、火花放電が過度的現象であり制御の面から
火花放電を継続して安定状態で発生させることが
困難で、このことはグラスライニング機器におけ
る特異な形状の部分等でのテスト実施を妨げてい
る。
器も、火花放電が過度的現象であり制御の面から
火花放電を継続して安定状態で発生させることが
困難で、このことはグラスライニング機器におけ
る特異な形状の部分等でのテスト実施を妨げてい
る。
（発明が解決しようとする問題点）
本発明は従来技術のピンホール検出器の上記問
題点に解決を与えるためになされたものである。
すなわち運搬性を良好とし、電源特性の改善によ
り直流高電圧による放電テストの安定性および安
全性を向上させ、さらにプローブの検知電極の直
流高電圧と金属母材のアース部との間に短絡に近
い状態が生ずるようなグラスライニングの周辺部
でも連続テストを行うことができるようにするこ
とを目的とする。
題点に解決を与えるためになされたものである。
すなわち運搬性を良好とし、電源特性の改善によ
り直流高電圧による放電テストの安定性および安
全性を向上させ、さらにプローブの検知電極の直
流高電圧と金属母材のアース部との間に短絡に近
い状態が生ずるようなグラスライニングの周辺部
でも連続テストを行うことができるようにするこ
とを目的とする。
（問題点を解決するための手段および作用および
実施例） 本発明は、上記従来技術の問題点を解決するた
め、昇圧トランスの１次側に直流電圧可変電源か
ら供給する電流を昇圧トランス駆動アンプのトラ
ンジスタによりスイツチング制御して２次側に発
生したパルス電圧を整流して直流高電圧を発生す
る方式を採用し、これにより直流高電圧出力発生
装置を小形化軽量化するとともに、直流高電圧出
力電圧を直流電圧可変電源において制御する電圧
安定化回路、および放電負荷時の過電流を昇圧ト
ランスの１次側において遮断する直流高圧過演流
遮断回路を設けて安定した火花放電テストを行い
得るように、さらに上記２回路間の切換によつて
無負荷時の定電圧と放電負荷時の設定定電流とを
維持するオートバランス回路を設けてグラスライ
ニング面の特殊形状部分も連続的にテストできる
ようにしたものである。
実施例） 本発明は、上記従来技術の問題点を解決するた
め、昇圧トランスの１次側に直流電圧可変電源か
ら供給する電流を昇圧トランス駆動アンプのトラ
ンジスタによりスイツチング制御して２次側に発
生したパルス電圧を整流して直流高電圧を発生す
る方式を採用し、これにより直流高電圧出力発生
装置を小形化軽量化するとともに、直流高電圧出
力電圧を直流電圧可変電源において制御する電圧
安定化回路、および放電負荷時の過電流を昇圧ト
ランスの１次側において遮断する直流高圧過演流
遮断回路を設けて安定した火花放電テストを行い
得るように、さらに上記２回路間の切換によつて
無負荷時の定電圧と放電負荷時の設定定電流とを
維持するオートバランス回路を設けてグラスライ
ニング面の特殊形状部分も連続的にテストできる
ようにしたものである。
以下、本発明を、添付図の１実施例の回路を示
すブロツク図により、各構成回路および関連を具
体的に詳細に説明する。
すブロツク図により、各構成回路および関連を具
体的に詳細に説明する。
() 直流高電圧発生回路
直流電圧可変電源１は、例えばAC 100V電
源トランスの２次側14Vからブリツジダイオー
ド（図示省略）で整流して得られる12V直流電
源２とそれに接続した直流電圧可変用IC３と
からなる。電源の容量は20V、3A程度である。
直流電圧可変用IC３は後述の直流電圧可変用
IC作動用トランジスタ４の制御を受けて０〜
16V範囲に電圧可変の直流出力する。（以下、
トランジスタはTR、そのベースはＢ、コレク
タはＣ、エミツタはＥと略称することがある。
源トランスの２次側14Vからブリツジダイオー
ド（図示省略）で整流して得られる12V直流電
源２とそれに接続した直流電圧可変用IC３と
からなる。電源の容量は20V、3A程度である。
直流電圧可変用IC３は後述の直流電圧可変用
IC作動用トランジスタ４の制御を受けて０〜
16V範囲に電圧可変の直流出力する。（以下、
トランジスタはTR、そのベースはＢ、コレク
タはＣ、エミツタはＥと略称することがある。
この出力は後述の高圧出力遮断用リレー５の
ａ接点（リレーが動作したとき閉じる接点）６
を経て昇圧トランス７の１次側の一端に接続さ
れ、その他端はTRからなる昇圧トランス駆動
アンプ８のＣ−Ｅを経て回路のマイナス側９に
流れるように接続される。昇圧トランス駆動ア
ンプ８は、Ｂが50／60Hzの電源トランスの２次
側から全波整流した2V、100／120Hz電源に接
続されてスイチング制御されるのでそのＣ−Ｅ
を経て昇圧トランス７の１次側を流れる電流は
100／120Hzの断続した電流となり昇圧トランス
７の２次側にパルス状の高電圧が発生する。
ａ接点（リレーが動作したとき閉じる接点）６
を経て昇圧トランス７の１次側の一端に接続さ
れ、その他端はTRからなる昇圧トランス駆動
アンプ８のＣ−Ｅを経て回路のマイナス側９に
流れるように接続される。昇圧トランス駆動ア
ンプ８は、Ｂが50／60Hzの電源トランスの２次
側から全波整流した2V、100／120Hz電源に接
続されてスイチング制御されるのでそのＣ−Ｅ
を経て昇圧トランス７の１次側を流れる電流は
100／120Hzの断続した電流となり昇圧トランス
７の２次側にパルス状の高電圧が発生する。
発生した高電圧は高圧整流用ダイオード１０
のアノード側に接続され、そのカソード側に接
続した高電圧出力端子１１に整流された約２万
Ｖ程度の直流高電圧が得られる。高電圧出力１
１にはプロープ１２のピンホール検知電極が接
続される。高電圧出力端子１１側とアース端子
１３との間にはリツプル除去用の平滑コンデン
サ１４が接続される。テストしようとするグラ
スライニング機器Ａは母材A′、グラスライニ
ング面A′により示されているが、母材A′が端
子１３に接続されアースされる。こうしてプロ
ーブ１２の約２万Ｖの直流高電圧検知電極と母
材A′との間にはグラスライニング面A′のピン
ホール等のホリデーと総称される欠陥部ｄでは
火花放電Ｓが発生する。
のアノード側に接続され、そのカソード側に接
続した高電圧出力端子１１に整流された約２万
Ｖ程度の直流高電圧が得られる。高電圧出力１
１にはプロープ１２のピンホール検知電極が接
続される。高電圧出力端子１１側とアース端子
１３との間にはリツプル除去用の平滑コンデン
サ１４が接続される。テストしようとするグラ
スライニング機器Ａは母材A′、グラスライニ
ング面A′により示されているが、母材A′が端
子１３に接続されアースされる。こうしてプロ
ーブ１２の約２万Ｖの直流高電圧検知電極と母
材A′との間にはグラスライニング面A′のピン
ホール等のホリデーと総称される欠陥部ｄでは
火花放電Ｓが発生する。
() 直流高圧出力電圧安定回路
高電圧出力端子１１に発生する直流電圧の安
定化のため、直流高圧出力電圧調整器１５から
設定コトロール電圧v1を電圧用差動アンプ１６
に入力する。一方、高電圧出力端子１１側とマ
イナス側９との間に接続した出力電圧安定化抵
抗器１７と電圧電圧計１８との間の直流高圧
（電圧）検出点１９からその電圧v2をアンプ１
６に入力し、前記コントロール電圧v1入力との
比較によりアンプ１６を作動させる。
定化のため、直流高圧出力電圧調整器１５から
設定コトロール電圧v1を電圧用差動アンプ１６
に入力する。一方、高電圧出力端子１１側とマ
イナス側９との間に接続した出力電圧安定化抵
抗器１７と電圧電圧計１８との間の直流高圧
（電圧）検出点１９からその電圧v2をアンプ１
６に入力し、前記コントロール電圧v1入力との
比較によりアンプ１６を作動させる。
電圧用差動アンプ１６の出力側は逆電圧阻止
用ダイオード２０を経て前記の直流電圧可変
IC３のドライブ用トランジスタ４のＢに接続
される。直流電圧可変用IC３の電圧調整端子
はそのドライブ用トランジスタ４のＣ−Ｅを経
てマイナス側９に接続され、Ｂにプラス電圧が
印加されることによりＣ−Ｅ間が導通して直流
電圧可変用IC３の直流出力電圧を低下される
ようになつている。
用ダイオード２０を経て前記の直流電圧可変
IC３のドライブ用トランジスタ４のＢに接続
される。直流電圧可変用IC３の電圧調整端子
はそのドライブ用トランジスタ４のＣ−Ｅを経
てマイナス側９に接続され、Ｂにプラス電圧が
印加されることによりＣ−Ｅ間が導通して直流
電圧可変用IC３の直流出力電圧を低下される
ようになつている。
電圧用差動アンプ１６に入力される検出点１
９の電圧v1がコントロール電圧v1より高い場合
は、その出力はプラスとなり、ドライブ用トラ
ンジスタ４により直流電圧可変用IC３の直流
出力電圧が低下し、その結果、高電圧出力端子
１１の直流高圧出力電圧が低下する。こうして
直流電圧出力電圧が低下し、電圧検出点１９の
電圧v2も低下しコントロール電圧v1より低くな
ると、電圧用差動アンプ１６の出力はマイナス
となり、ドライブ用トランジスタ４はオフとな
る。直流電圧可変用IC３はドライブ用トラン
ジスタ４がオフとなることによりその直流出力
電圧を再び上昇させる。このスイツチングによ
り、高電圧出力端子１１の直流高圧電圧は調整
器１５の設定に従う一定電圧に維持される。
９の電圧v1がコントロール電圧v1より高い場合
は、その出力はプラスとなり、ドライブ用トラ
ンジスタ４により直流電圧可変用IC３の直流
出力電圧が低下し、その結果、高電圧出力端子
１１の直流高圧出力電圧が低下する。こうして
直流電圧出力電圧が低下し、電圧検出点１９の
電圧v2も低下しコントロール電圧v1より低くな
ると、電圧用差動アンプ１６の出力はマイナス
となり、ドライブ用トランジスタ４はオフとな
る。直流電圧可変用IC３はドライブ用トラン
ジスタ４がオフとなることによりその直流出力
電圧を再び上昇させる。このスイツチングによ
り、高電圧出力端子１１の直流高圧電圧は調整
器１５の設定に従う一定電圧に維持される。
() 直流高圧過電流しや断回路
直流高電圧発生回路１を作動状態とするに
は、前述の高圧出力遮断用リレー５のａ接点６
が閉じた状態に保持する。そのため、高圧出力
遮断用リレー５は電源トランス２次側から整流
して得た＋12V電源２１からリレー５を経てリ
レーコントロールトランジスター２２のＣ−Ｅ
を経てマイナス側に９に接続され、このTR２
２のＢには＋12V電源２１ら手動のリレーコン
トロールスイツチ２３が抵抗２４を経て接続さ
れる。従つて最初にリレーコントロールスイツ
チ２３を閉じることによりTR２２のＢにプラ
ス電圧が印加され、それによりTR２２のＣ−
Ｅは導通してリレー５は動作状態となりａ接点
６は閉じた状態に維持される。
は、前述の高圧出力遮断用リレー５のａ接点６
が閉じた状態に保持する。そのため、高圧出力
遮断用リレー５は電源トランス２次側から整流
して得た＋12V電源２１からリレー５を経てリ
レーコントロールトランジスター２２のＣ−Ｅ
を経てマイナス側に９に接続され、このTR２
２のＢには＋12V電源２１ら手動のリレーコン
トロールスイツチ２３が抵抗２４を経て接続さ
れる。従つて最初にリレーコントロールスイツ
チ２３を閉じることによりTR２２のＢにプラ
ス電圧が印加され、それによりTR２２のＣ−
Ｅは導通してリレー５は動作状態となりａ接点
６は閉じた状態に維持される。
直流高電圧発生回路１の作動状態において機
器Ａのグラスライニング面A″のテスト中に、
プローブ１２からピンホール部ｄに火花放電Ｓ
が生じ、電流が流れ負荷状態となる場合に、大
電流による機器破損を防止し操作者の安全を確
保するため、電流値が設定値1.7ｍＡ以下とな
るように、過電流は高圧出力遮断用リレー５の
ａ接点６の開放により遮断されるようにする。
器Ａのグラスライニング面A″のテスト中に、
プローブ１２からピンホール部ｄに火花放電Ｓ
が生じ、電流が流れ負荷状態となる場合に、大
電流による機器破損を防止し操作者の安全を確
保するため、電流値が設定値1.7ｍＡ以下とな
るように、過電流は高圧出力遮断用リレー５の
ａ接点６の開放により遮断されるようにする。
過電流しや断のため、遮断電流調整器２５か
ら遮断電流値に対応するコントロール電圧v3を
電流用差動アンプ２６に入力する。一方、アー
ス１３側とマイナス側９に接続した高圧電流計
２７との間に直流高圧（電流）検出点２８から
負荷電流値に対応した電圧v4をアンプ２６に入
力し、前記コントロール電圧v3入力との比較に
よりアンプ２６を作動させる。電流用差動アン
プ２６の出力側は逆電圧阻止用ダイオード２９
を経てオートバランス切換スイツチ３０の電流
遮断側接点３１を経て電流遮断用補助トランジ
スタ３２のＢに接続されてそのＥはマイナス側
９に、そのＣは前記リレーコントロールトラン
ジシスタ２２のＢに接続される。
ら遮断電流値に対応するコントロール電圧v3を
電流用差動アンプ２６に入力する。一方、アー
ス１３側とマイナス側９に接続した高圧電流計
２７との間に直流高圧（電流）検出点２８から
負荷電流値に対応した電圧v4をアンプ２６に入
力し、前記コントロール電圧v3入力との比較に
よりアンプ２６を作動させる。電流用差動アン
プ２６の出力側は逆電圧阻止用ダイオード２９
を経てオートバランス切換スイツチ３０の電流
遮断側接点３１を経て電流遮断用補助トランジ
スタ３２のＢに接続されてそのＥはマイナス側
９に、そのＣは前記リレーコントロールトラン
ジシスタ２２のＢに接続される。
電流用差動アンプ２６に入力される直流高圧
（電流）検出点２８の電圧v4が1.7ｍＡの遮断電
流値コントロール電圧v3より高い場合は、その
出力はプラスとなり、補助トランジスタ３２の
Ｃ−Ｅ間は導通してリレーコントロールトラン
ジスタ２２のB.E間は短絡する。それによりリ
レーコントロールトランジスタ２５はオフとな
り、高圧出力遮断用リレー５のａ接点６をオフ
して直流高電圧発生回路１を開放して過電流は
遮断される。
（電流）検出点２８の電圧v4が1.7ｍＡの遮断電
流値コントロール電圧v3より高い場合は、その
出力はプラスとなり、補助トランジスタ３２の
Ｃ−Ｅ間は導通してリレーコントロールトラン
ジスタ２２のB.E間は短絡する。それによりリ
レーコントロールトランジスタ２５はオフとな
り、高圧出力遮断用リレー５のａ接点６をオフ
して直流高電圧発生回路１を開放して過電流は
遮断される。
電流用差動アンプ２６に入力される検出点２
８の電圧v4が1.7ｍＡの遮断電流値のコントロ
ール電圧v3より低ければ、補助トランジスター
３２はオフとなり、リレーコントロールトラン
ジスタ２２はオンに保持される。
８の電圧v4が1.7ｍＡの遮断電流値のコントロ
ール電圧v3より低ければ、補助トランジスター
３２はオフとなり、リレーコントロールトラン
ジスタ２２はオンに保持される。
前記の過電流遮断のため直流高電圧発生回路
１が開放したのち、再びピンホール検出器に直
流高圧出力電圧を発生させるにはリレーコント
ロールスイツチ２３により回路１をオンにす
る。直流高圧出力電圧の発生を所望により停止
する場合には、リレーコントロールスイツチ２
３によつて直流高電圧発生回路１をオフにす
る。
１が開放したのち、再びピンホール検出器に直
流高圧出力電圧を発生させるにはリレーコント
ロールスイツチ２３により回路１をオンにす
る。直流高圧出力電圧の発生を所望により停止
する場合には、リレーコントロールスイツチ２
３によつて直流高電圧発生回路１をオフにす
る。
() オードバランス回路
グラスライニング機器Ａのグラスライニング
面A″のピンホールの検出中にプローブ１２の
先端をグラスライニング面A″に20mm以下の程
度に接近させた場合に、付着物へのチヤージ電
流やコロナ放電によつて連続放電が生じやすく
なり、機器のノズル部等のグラスライニング面
と母材A′が露出した機器外面との境界付近、
あるいは部分的にグラスライニングした部品
等、特殊形状部分のピンホール検定を実施する
場合には、グラスライニング面A″を経由しな
い母材A′へ直接放電が発生する。この放電は
連続放電に近い頻繁な放電となる。そしてこの
放電電流が例えば1.7ｍＡの設定遮断電流値を
越えると、直流高圧過電流遮断回路１１が作動
して遮断を実行して高圧出力は無電圧となる。
従つてテストを続行するには遮断動作の都度、
同時にオフになつているリレーコントロールス
イツチ２３を操作して直流高電圧発生回路１を
オンにしなければならない。このことは非常に
繁雑でありテストの能率を極度に低下させる。
面A″のピンホールの検出中にプローブ１２の
先端をグラスライニング面A″に20mm以下の程
度に接近させた場合に、付着物へのチヤージ電
流やコロナ放電によつて連続放電が生じやすく
なり、機器のノズル部等のグラスライニング面
と母材A′が露出した機器外面との境界付近、
あるいは部分的にグラスライニングした部品
等、特殊形状部分のピンホール検定を実施する
場合には、グラスライニング面A″を経由しな
い母材A′へ直接放電が発生する。この放電は
連続放電に近い頻繁な放電となる。そしてこの
放電電流が例えば1.7ｍＡの設定遮断電流値を
越えると、直流高圧過電流遮断回路１１が作動
して遮断を実行して高圧出力は無電圧となる。
従つてテストを続行するには遮断動作の都度、
同時にオフになつているリレーコントロールス
イツチ２３を操作して直流高電圧発生回路１を
オンにしなければならない。このことは非常に
繁雑でありテストの能率を極度に低下させる。
この問題に解決を与えるため、本発明におい
ては、前記のオートバランス切換スイツチ３０
を過電流遮断側接点３１からオートバランス接
点３３に切換えるようにせられ、オートバラン
ス接点３３は直流電圧可変用IC装置３のドラ
イブ用トランジスタ４のＢに接続される。ここ
には前記のように電圧用差動アンプ２０の出力
側も接続されている。
ては、前記のオートバランス切換スイツチ３０
を過電流遮断側接点３１からオートバランス接
点３３に切換えるようにせられ、オートバラン
ス接点３３は直流電圧可変用IC装置３のドラ
イブ用トランジスタ４のＢに接続される。ここ
には前記のように電圧用差動アンプ２０の出力
側も接続されている。
このオートバランス回路によると、直流高圧
出力電圧を所望の電圧に設定しピンホール検知
の実施中に、例えば前記の直接放電により高圧
電流計２７に例えば1.7ｍＡの設定電流値以上
の電流が流れて直流電圧（電流）検出点２８に
その電圧が発生すると電流用差動アンプ２６の
出力はプラスとなり、逆流阻止用ダイオード２
９、オートバランス切換スイツチ３０を経て、
今回はオートバランス用接点３３から直流電圧
可変用IC３のドライブ用トランジスタ４のＢ
に印加されるので、このトランジスタ４が導通
して直流電圧可変用IC装置３の出力電圧が低
下し、その結果高圧放電電流が低下して1.7ｍ
Ａ以下となり、直流高圧（電流）検出点２８の
電圧も低下する。
出力電圧を所望の電圧に設定しピンホール検知
の実施中に、例えば前記の直接放電により高圧
電流計２７に例えば1.7ｍＡの設定電流値以上
の電流が流れて直流電圧（電流）検出点２８に
その電圧が発生すると電流用差動アンプ２６の
出力はプラスとなり、逆流阻止用ダイオード２
９、オートバランス切換スイツチ３０を経て、
今回はオートバランス用接点３３から直流電圧
可変用IC３のドライブ用トランジスタ４のＢ
に印加されるので、このトランジスタ４が導通
して直流電圧可変用IC装置３の出力電圧が低
下し、その結果高圧放電電流が低下して1.7ｍ
Ａ以下となり、直流高圧（電流）検出点２８の
電圧も低下する。
こうして高圧放電電流が1.7ｍＡの設定値以
下となると、電流用作動アンプ２６の出力側は
マイナスとなる。このとき直流高圧出力電圧が
設定値より低下していると、直流高圧（電圧）
検出点１９からの入力電圧も電圧差動アンプ１
６のコントロール電圧入力より低いので、その
出力側からプラスがドライブ用トランジスター
４のＢに印加されることもない。結局ドライブ
用トランジスタ４は何れの経路からもプラスを
印加されないので、オフとなり、直流電圧可変
用IC３の出力電圧は再び上昇する。
下となると、電流用作動アンプ２６の出力側は
マイナスとなる。このとき直流高圧出力電圧が
設定値より低下していると、直流高圧（電圧）
検出点１９からの入力電圧も電圧差動アンプ１
６のコントロール電圧入力より低いので、その
出力側からプラスがドライブ用トランジスター
４のＢに印加されることもない。結局ドライブ
用トランジスタ４は何れの経路からもプラスを
印加されないので、オフとなり、直流電圧可変
用IC３の出力電圧は再び上昇する。
このようにして、高圧出力側が無負荷のとき
は高圧出力電圧調整器１５より設定した電圧が
維持される一方、放電等により負荷電流が流れ
る場合に電流は設定電流値1.7ｍＡに維持され
るので連続放電が可能となり連続テストが可能
となる。
は高圧出力電圧調整器１５より設定した電圧が
維持される一方、放電等により負荷電流が流れ
る場合に電流は設定電流値1.7ｍＡに維持され
るので連続放電が可能となり連続テストが可能
となる。
オートバランス回路（）の切換スイツチ３
０はプローブ１２の検知電極の近傍に設け、操
作者が押ボタンを押している間のみオートバラ
ンス接点３３に切換えられるようにすると、前
記のグラスライニング機器の特殊形状部分や部
品類の連続テストが容易に行えるようになり、
操作者の安全も確保される。
０はプローブ１２の検知電極の近傍に設け、操
作者が押ボタンを押している間のみオートバラ
ンス接点３３に切換えられるようにすると、前
記のグラスライニング機器の特殊形状部分や部
品類の連続テストが容易に行えるようになり、
操作者の安全も確保される。
（発明の効果）
本発明によれば、グラスライニング面のピンホ
ール検知器として、重量が十数Kg程度の軽量小形
の可搬式の装置とすることができるので取扱が容
易で作業能率が上り、機能上、火花放電のための
直流高電圧が安定して得られるので確実な欠陥検
出ができ、放電負荷時の過電流が遮断されて作業
者および機器の安全が確保され、さらに無負荷時
の定電圧と放電負荷時の定電流の自動両立を実現
してグラスライニング機器の特殊形状部分等も遮
断の都度リセツトする必要なく連続テストできる
等の効果が得られる。
ール検知器として、重量が十数Kg程度の軽量小形
の可搬式の装置とすることができるので取扱が容
易で作業能率が上り、機能上、火花放電のための
直流高電圧が安定して得られるので確実な欠陥検
出ができ、放電負荷時の過電流が遮断されて作業
者および機器の安全が確保され、さらに無負荷時
の定電圧と放電負荷時の定電流の自動両立を実現
してグラスライニング機器の特殊形状部分等も遮
断の都度リセツトする必要なく連続テストできる
等の効果が得られる。
添付図は本発明のグラスライニング面のピンホ
ール検知器の１実施例の回路図を示す。 １……直流電圧可変電源、２……直流電源、３
……直流電圧可変用IC、４……直流電圧可変用
IC作動用トランジスタ、５……高圧出力遮断用
リレー、６……ａ接点、７……昇圧トランス、８
……昇圧トランス駆動用アンプ、９……マイナス
側、１０……高圧整流用ダイオード、１１……高
電圧出力端子、１２……プローブ、１３……アー
ス側端子、１４……平滑コンデンサ、１５……直
流電圧出力電圧調整器、１６……電圧用差動アン
プ、１７……出力電圧安定化抵抗、１８……高圧
電圧計、１９……直流高圧（電圧）検出点、２
０，２９……逆電圧阻止用ダイオード、２１……
リレー駆動電源、２２……リレーコントロールト
ランジスタ、２３……リレーコントロールスイツ
チ、２４……抵抗、２５……遮断電流調整器、２
６……電流用差動アンプ、２７……高圧電流計、
２８……直流電圧（電流）検出点、３０……オー
トバランス切換スイツチ、３１……過電流遮断側
接点、３２……過電流遮断用補助トランジスタ、
３３……オートバランス側接点、……直流高電
圧発生回路、……直流高圧出力電圧安定回路、
……直流高圧過電流遮断回路、……オートバ
ランス回路、Ａ……グラスライニング機器、
A′……母材、A″……グラスライニング面、v1…
…コントロール電圧、v2……電圧検出点電圧、v3
……遮断電流コントロール電圧、v4……負荷電流
値電圧。
ール検知器の１実施例の回路図を示す。 １……直流電圧可変電源、２……直流電源、３
……直流電圧可変用IC、４……直流電圧可変用
IC作動用トランジスタ、５……高圧出力遮断用
リレー、６……ａ接点、７……昇圧トランス、８
……昇圧トランス駆動用アンプ、９……マイナス
側、１０……高圧整流用ダイオード、１１……高
電圧出力端子、１２……プローブ、１３……アー
ス側端子、１４……平滑コンデンサ、１５……直
流電圧出力電圧調整器、１６……電圧用差動アン
プ、１７……出力電圧安定化抵抗、１８……高圧
電圧計、１９……直流高圧（電圧）検出点、２
０，２９……逆電圧阻止用ダイオード、２１……
リレー駆動電源、２２……リレーコントロールト
ランジスタ、２３……リレーコントロールスイツ
チ、２４……抵抗、２５……遮断電流調整器、２
６……電流用差動アンプ、２７……高圧電流計、
２８……直流電圧（電流）検出点、３０……オー
トバランス切換スイツチ、３１……過電流遮断側
接点、３２……過電流遮断用補助トランジスタ、
３３……オートバランス側接点、……直流高電
圧発生回路、……直流高圧出力電圧安定回路、
……直流高圧過電流遮断回路、……オートバ
ランス回路、Ａ……グラスライニング機器、
A′……母材、A″……グラスライニング面、v1…
…コントロール電圧、v2……電圧検出点電圧、v3
……遮断電流コントロール電圧、v4……負荷電流
値電圧。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 直流電圧可変電源を昇圧トランスの１次側に
接続し通電を昇圧トランス駆動アンプにより断続
して昇圧トランスの２次側に発生したパルス電圧
を整流して得る直流高電圧をプローブ部に導いて
グラスライニング面のピンホールに火花放電させ
るようにした装置に対し、直流高圧出力電圧安定
回路と、直流高圧過電流しや断回路とを設けたこ
とを特徴とするグラスライニング面のピンホール
検知器。 ２ 直流高圧過電流しや断回路の途中から直流高
圧出力電圧安定回路に向つて切換えるオートバラ
ンス切換スイツチを設けてオートバランス回路を
構成し、それにより無負荷時の定電圧維持と放電
負荷時の定電流維持とを両立させて自動制御され
るようにした特許請求の範囲第１項記載のグラス
ライニング面のピンホール検知器。 ３ オートバランス切換スイツチをプローブ部に
付設した特許請求の範囲第２項記載のグラスライ
ニング面のピンホール検知器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18152584A JPS6157850A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | グラスライニング面のピンホ−ル検知器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18152584A JPS6157850A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | グラスライニング面のピンホ−ル検知器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6157850A JPS6157850A (ja) | 1986-03-24 |
| JPH0332019B2 true JPH0332019B2 (ja) | 1991-05-09 |
Family
ID=16102285
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18152584A Granted JPS6157850A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | グラスライニング面のピンホ−ル検知器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6157850A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20160064427A (ko) * | 2014-11-28 | 2016-06-08 | 한영만 | 도금하고자 하는 제품의 전처리장치 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0737115B2 (ja) * | 1988-11-16 | 1995-04-26 | 三菱化学株式会社 | 耐食性材料を被覆した金属製機器 |
| JPH087192B2 (ja) * | 1990-07-09 | 1996-01-29 | 東洋製罐株式会社 | 被膜欠陥検査方法と装置 |
-
1984
- 1984-08-29 JP JP18152584A patent/JPS6157850A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20160064427A (ko) * | 2014-11-28 | 2016-06-08 | 한영만 | 도금하고자 하는 제품의 전처리장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6157850A (ja) | 1986-03-24 |
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