JPH0333637A - 材料試験機 - Google Patents
材料試験機Info
- Publication number
- JPH0333637A JPH0333637A JP16880789A JP16880789A JPH0333637A JP H0333637 A JPH0333637 A JP H0333637A JP 16880789 A JP16880789 A JP 16880789A JP 16880789 A JP16880789 A JP 16880789A JP H0333637 A JPH0333637 A JP H0333637A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- load
- displacement
- deflection
- specimen
- frame
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
本発明は、O(状体の荷重−変位特性を精度よく測定す
る材料試験機に関する。
る材料試験機に関する。
■、従来の技術
従来から、例えば基台上に一対の支柱を立設させそこに
クロスヘツドを横架して成る負荷枠内に0(状体を設置
し、供試体を負荷しながらロードセルと差動トランス等
によって荷重と変位とを測定し、第5図に示すような供
試体の荷重−変位特性を求める材料試験機が知られてい
る。
クロスヘツドを横架して成る負荷枠内に0(状体を設置
し、供試体を負荷しながらロードセルと差動トランス等
によって荷重と変位とを測定し、第5図に示すような供
試体の荷重−変位特性を求める材料試験機が知られてい
る。
C0発明が解決しようとする課題
しかしながら、このような材料試験機の負荷枠はそれ自
体が負荷により変形し、ある荷重−たわみ特性を有して
いるので、測定結果には負荷枠のたわみ分が誤差として
含まれている。この誤差は、負荷枠の剛性を上げれば黒
視てきる程度に小さくすることが可能であるが、剛性を
高くすると負荷枠が大形化して重量増を什ない+Iまし
くない。
体が負荷により変形し、ある荷重−たわみ特性を有して
いるので、測定結果には負荷枠のたわみ分が誤差として
含まれている。この誤差は、負荷枠の剛性を上げれば黒
視てきる程度に小さくすることが可能であるが、剛性を
高くすると負荷枠が大形化して重量増を什ない+Iまし
くない。
本発明の技術的課題は、負荷枠の剛性を」−げることな
く供試体の荷重−変位特性を正確に4]す足することに
ある。
く供試体の荷重−変位特性を正確に4]す足することに
ある。
00課題を解決するための手段
一実施例を示す第1図により本発明を説明すると、本発
明は、一対の対向部材の間に供試体SPを設置して負荷
するための負荷枠LFと、この供試体SPを負荷するア
クチュエータ10eと、供試体SPの負荷荷重を検出す
る荷重検、11手段J2と、供試体spの変位を検出す
る変位検出手段13とを備え、荷重検出手段12が検出
した荷重と変位検出手段]3が検出した変位とにより0
(状体spの荷重−変位特性を求める材料試験機に適用
される。そして上述の技術的課題は、負荷枠型、Fのた
わみを検出するたわみ検出手段14と、供試体TPを設
置しない状態で負荷枠+、Fに荷重を加え荷重検出手段
12で検出される荷重とたわみ検出手段14て検出され
るたオ)みから荷重−たわみ特性を記憶する記憶手段1
6と、供試体S I”を負荷して荷重検出手段12て得
られた荷車と変;1 位検出手段13で検出した変位から得られる供試体S
Pの荷重−変(<l特性を負荷枠LFの荷重−たわみ特
性で補正する補正′ト段25とをJl、 miすること
により解決される F0作用 記憶手段1にには負荷枠1、Fの荷ii−たわみ特性が
記憶されている。供試体s■〕を負荷しつつ’Qj重と
変位を検出する。記憶手段]6に記憶した負荷枠L I
’の荷重−たわみ特性を用いて、検出された変位データ
から同一荷重に対応する負荷枠L Fのたわみを減算し
て補正後の変位データを得る。
明は、一対の対向部材の間に供試体SPを設置して負荷
するための負荷枠LFと、この供試体SPを負荷するア
クチュエータ10eと、供試体SPの負荷荷重を検出す
る荷重検、11手段J2と、供試体spの変位を検出す
る変位検出手段13とを備え、荷重検出手段12が検出
した荷重と変位検出手段]3が検出した変位とにより0
(状体spの荷重−変位特性を求める材料試験機に適用
される。そして上述の技術的課題は、負荷枠型、Fのた
わみを検出するたわみ検出手段14と、供試体TPを設
置しない状態で負荷枠+、Fに荷重を加え荷重検出手段
12で検出される荷重とたわみ検出手段14て検出され
るたオ)みから荷重−たわみ特性を記憶する記憶手段1
6と、供試体S I”を負荷して荷重検出手段12て得
られた荷車と変;1 位検出手段13で検出した変位から得られる供試体S
Pの荷重−変(<l特性を負荷枠LFの荷重−たわみ特
性で補正する補正′ト段25とをJl、 miすること
により解決される F0作用 記憶手段1にには負荷枠1、Fの荷ii−たわみ特性が
記憶されている。供試体s■〕を負荷しつつ’Qj重と
変位を検出する。記憶手段]6に記憶した負荷枠L I
’の荷重−たわみ特性を用いて、検出された変位データ
から同一荷重に対応する負荷枠L Fのたわみを減算し
て補正後の変位データを得る。
この変位テークにより供試体s pの荷重−変位特性を
求めれば、負荷枠り、 Fのたわみ分を除去した正確な
結果が得られる。
求めれば、負荷枠り、 Fのたわみ分を除去した正確な
結果が得られる。
なお、本発明の詳細な説明する−に記り項およびE x
rtでは、本発明を分かり易くするために実施例の図を
用いたが、これにより本発明が実施例に限定されるもの
ではない。
rtでは、本発明を分かり易くするために実施例の図を
用いたが、これにより本発明が実施例に限定されるもの
ではない。
ド、実施例
第1ト1は本発明の・実施例を示す全体構成口である。
同図において、10は供試体SPに圧縮荷重または引張
荷重などを加える試験機本体であり、この試験機本体]
Oは負荷枠T、Fを備えている。
荷重などを加える試験機本体であり、この試験機本体]
Oは負荷枠T、Fを備えている。
負荷枠■、Fは、基台10d上に立設された一対の支柱
1.0に、]、Omの上端にヨーク10aを横架すると
共に、支柱10に、10mにト下移動可能にクロスヘツ
ド10 bを取付けて構成される。ノ、(台10dには
負命用の抽圧アクチュエータ10(うが設置され、油圧
アクチュエータ10eの可@部に取付けた下部治具10
fとクロスヘツド1olJにロ−ドセル12を介して取
付けた上部治具10cとの間に供試体SPが設置される
。13は、Rt+圧アクチュエータ1. Ocのストロ
ーク、すなわち供試体spの変位を検出する差動トラン
ス、14は、負荷枠L Fのたわみを検出するたわみ検
出器である。
1.0に、]、Omの上端にヨーク10aを横架すると
共に、支柱10に、10mにト下移動可能にクロスヘツ
ド10 bを取付けて構成される。ノ、(台10dには
負命用の抽圧アクチュエータ10(うが設置され、油圧
アクチュエータ10eの可@部に取付けた下部治具10
fとクロスヘツド1olJにロ−ドセル12を介して取
付けた上部治具10cとの間に供試体SPが設置される
。13は、Rt+圧アクチュエータ1. Ocのストロ
ーク、すなわち供試体spの変位を検出する差動トラン
ス、14は、負荷枠L Fのたわみを検出するたわみ検
出器である。
このたわみ検出器14は、例えば第2図の拡大断面図に
示すように、油圧アクチュエータ1o(4内のピストン
1011の周面に取付けた磁性片]Ojと、シリンダ側
壁に取付けられ磁性バ]O4の位IMtを磁気的に検出
する磁気センサ]Ojとで構成される。なお、油圧アク
チュエータ10eは、サーボ弁1.0 gによって圧R
1+力″向と圧油量が制御されてピストン10 hが伸
縮するもので、このビス1〜ン1. Ohに連結したピ
ストンロッドに下部治具10fが装着されている。
示すように、油圧アクチュエータ1o(4内のピストン
1011の周面に取付けた磁性片]Ojと、シリンダ側
壁に取付けられ磁性バ]O4の位IMtを磁気的に検出
する磁気センサ]Ojとで構成される。なお、油圧アク
チュエータ10eは、サーボ弁1.0 gによって圧R
1+力″向と圧油量が制御されてピストン10 hが伸
縮するもので、このビス1〜ン1. Ohに連結したピ
ストンロッドに下部治具10fが装着されている。
試験機本体]Oを制御する制御系は、全体を制御する制
御回路21と、負荷枠r、Fの荷重−たゎみ特性を記憶
するメモリ22と、試験条件入力部23から制御回路2
1を介して指示された荷重負荷パターンに対応した負荷
パターン波形を発生する波形発生回路24とを有する。
御回路21と、負荷枠r、Fの荷重−たゎみ特性を記憶
するメモリ22と、試験条件入力部23から制御回路2
1を介して指示された荷重負荷パターンに対応した負荷
パターン波形を発生する波形発生回路24とを有する。
また、波形発生回路24が発生した負荷パターン波形と
ロードセル12が検出した荷重値との偏差を求める加算
器25と、その偏差信号を増幅してサーボ弁1ogに入
力するサーボアンプ26とをイfする。さらに、ロード
セル12からの出力を増幅する増幅器27と、増幅した
荷重信号をデジタル信号に変換して制御回路21に入力
するA r)変換器28と、斧動トランス13およびた
オ)み検出器14が検出した変位信号およびたわみ信珍
をそれぞれ増幅する増幅器29.30と、増幅器29.
30の出力信シ)を選択する切換スイッチ3】と、この
切換スイッチ3]の出力信号をテジタル信号に変換して
制御回路2]に入力するA I)変換器32とを右する
1゜さらにまた、ロードセル12が検出した荷重4.1
号と差1111 +−ランス13が検出した変位信号と
が人力され、このうち変位信号については制御回路21
からの補正信号によって補正して出力する補正回路33
と、この補正回路33から出力される荷重信号と変位信
号によって供試体s pの荷重変位特性をグラフ化して
出力するレコーダ34とを備える。また、35は、材料
試験機自体の荷重たわみ特性を測定して記憶するメモリ
モー1−を指示するスイッチ、36は、使用する上下治
具に応して操作される治具選択スイッチてあり、メモリ
22に格納された複数の治具に応じた複数の荷重−たわ
み特性を選択するものである。
ロードセル12が検出した荷重値との偏差を求める加算
器25と、その偏差信号を増幅してサーボ弁1ogに入
力するサーボアンプ26とをイfする。さらに、ロード
セル12からの出力を増幅する増幅器27と、増幅した
荷重信号をデジタル信号に変換して制御回路21に入力
するA r)変換器28と、斧動トランス13およびた
オ)み検出器14が検出した変位信号およびたわみ信珍
をそれぞれ増幅する増幅器29.30と、増幅器29.
30の出力信シ)を選択する切換スイッチ3】と、この
切換スイッチ3]の出力信号をテジタル信号に変換して
制御回路2]に入力するA I)変換器32とを右する
1゜さらにまた、ロードセル12が検出した荷重4.1
号と差1111 +−ランス13が検出した変位信号と
が人力され、このうち変位信号については制御回路21
からの補正信号によって補正して出力する補正回路33
と、この補正回路33から出力される荷重信号と変位信
号によって供試体s pの荷重変位特性をグラフ化して
出力するレコーダ34とを備える。また、35は、材料
試験機自体の荷重たわみ特性を測定して記憶するメモリ
モー1−を指示するスイッチ、36は、使用する上下治
具に応して操作される治具選択スイッチてあり、メモリ
22に格納された複数の治具に応じた複数の荷重−たわ
み特性を選択するものである。
次に動作について説明する。
まず、メモリモードスイッチ35をオンすると切換スイ
ッチ31がb側に切換わりたわみ信号選択モードとなる
。負荷枠L Fの荷重−たわみ特性を求めるために上下
治具1. C)c、 10 fに供試体を数代しない
状態で制御開路21から波形発生回路24に指令を与え
、波形発生+il路24から例えばある比例定数で直線
的に増加するパターンの負荷パターン波形(ランプ波形
)を発生させる。この【1荷パターン波形は加算器25
に入力され、そこでロー1−セル12が検出している現
在の荷重信2シとの偏差を求め、その偏差信号が増幅器
26で増幅されてサーボ弁1.0 gに入力される。サ
ーボづflogは、負負荷パターン波形のある瞬時植と
現在の荷重信号との差が零になるように油圧アクチュエ
ータ100を制御するので、負荷枠L Fは」1下治具
10c、1.Ofを介して負荷パターン波形に従った荷
重パターンで供試体SPを圧縮する。
ッチ31がb側に切換わりたわみ信号選択モードとなる
。負荷枠L Fの荷重−たわみ特性を求めるために上下
治具1. C)c、 10 fに供試体を数代しない
状態で制御開路21から波形発生回路24に指令を与え
、波形発生+il路24から例えばある比例定数で直線
的に増加するパターンの負荷パターン波形(ランプ波形
)を発生させる。この【1荷パターン波形は加算器25
に入力され、そこでロー1−セル12が検出している現
在の荷重信2シとの偏差を求め、その偏差信号が増幅器
26で増幅されてサーボ弁1.0 gに入力される。サ
ーボづflogは、負負荷パターン波形のある瞬時植と
現在の荷重信号との差が零になるように油圧アクチュエ
ータ100を制御するので、負荷枠L Fは」1下治具
10c、1.Ofを介して負荷パターン波形に従った荷
重パターンで供試体SPを圧縮する。
この圧縮の過程で負荷枠L Fは、第4図の模式口に破
線で示すようにたオ〕み、そのたオ)み量は圧縮荀iP
、の増加と井に大きくなる。この時、ロードセル]2が
検出している圧縮荷重を増幅器27を介してA/D変換
器28に入力し、デジタル変換された荷重信号を制御回
路21に人力する。また、たわみ検出器]4が検出して
いるたわみ借りを増幅器30および切換スイッチ31を
介してA/D変換器32に入力し、デジタル変換された
たわみ信号を制御回路21に入力する。これにより、制
御回路2」は入力された荷重信号とたわみ信号を順次サ
ンプリングし、第3図のグラフの失線Aで示すように、
負荷枠型、Fの荷重−たわみ特性としてメモリ22に記
憶させる。
線で示すようにたオ〕み、そのたオ)み量は圧縮荀iP
、の増加と井に大きくなる。この時、ロードセル]2が
検出している圧縮荷重を増幅器27を介してA/D変換
器28に入力し、デジタル変換された荷重信号を制御回
路21に人力する。また、たわみ検出器]4が検出して
いるたわみ借りを増幅器30および切換スイッチ31を
介してA/D変換器32に入力し、デジタル変換された
たわみ信号を制御回路21に入力する。これにより、制
御回路2」は入力された荷重信号とたわみ信号を順次サ
ンプリングし、第3図のグラフの失線Aで示すように、
負荷枠型、Fの荷重−たわみ特性としてメモリ22に記
憶させる。
次に、供試体spの荷重−変位特性をイ1す定するため
治具10 c、と1Ofとの間に供試体SPを設置し、
メモリスイッチ36をオフして切換スイッチ31をa側
に切換える。その後、波形発生回路24から所望の勾配
で変化する負荷パターン波形を出力し」二連したと同様
にサーボ弁10gにより油圧アクチュエータ10eを制
御して供試体S l)に負荷パターン波形に従った圧縮
荷重を加える。
治具10 c、と1Ofとの間に供試体SPを設置し、
メモリスイッチ36をオフして切換スイッチ31をa側
に切換える。その後、波形発生回路24から所望の勾配
で変化する負荷パターン波形を出力し」二連したと同様
にサーボ弁10gにより油圧アクチュエータ10eを制
御して供試体S l)に負荷パターン波形に従った圧縮
荷重を加える。
制御回路21は、A/D変換器32から入力される変位
信号およびA/D変換器28から入力される荷重信号を
順次にサンプリングする。これにより、第30の実線n
に示すように負荷枠T、Fの荷重−たわみ特性を包含し
た供試体S Pの荷重−変位特性がサンプリングされる
が、ある荷jet P iの荷重信号をサンプリングし
たならば、この荷重Plをアクセスポイントとしてメモ
リ22をアクセスし、荷重P]における負荷枠I、Fの
たわみrl]を読み11jシ、補正回路33に補正信号
として入力する。
信号およびA/D変換器28から入力される荷重信号を
順次にサンプリングする。これにより、第30の実線n
に示すように負荷枠T、Fの荷重−たわみ特性を包含し
た供試体S Pの荷重−変位特性がサンプリングされる
が、ある荷jet P iの荷重信号をサンプリングし
たならば、この荷重Plをアクセスポイントとしてメモ
リ22をアクセスし、荷重P]における負荷枠I、Fの
たわみrl]を読み11jシ、補正回路33に補正信号
として入力する。
補正回路33にはロードセル12が検出している荷重信
号と差動トランス13が検出している変位信号が人力さ
れて′いるが、たわみR1を示す補正信号が入力される
と、差動トランス13から入力されている変位信号から
たオ)み8jに相当する変位を減算する。そして、この
補正された変位信号と荷重信号とをレコーダ34に出力
する。
号と差動トランス13が検出している変位信号が人力さ
れて′いるが、たわみR1を示す補正信号が入力される
と、差動トランス13から入力されている変位信号から
たオ)み8jに相当する変位を減算する。そして、この
補正された変位信号と荷重信号とをレコーダ34に出力
する。
これにより、レコーダ34ては、第3図の破線Cて示す
ように4j(状体S l”の荷重−変イSt特性かグラ
フ化されて出力される。すなわち、負荷枠型、Fの荷車
−たわみ特性(たオ)み分)が含まれない供試体spに
固有の荷重−変位特性が正確に測定されて出力される。
ように4j(状体S l”の荷重−変イSt特性かグラ
フ化されて出力される。すなわち、負荷枠型、Fの荷車
−たわみ特性(たオ)み分)が含まれない供試体spに
固有の荷重−変位特性が正確に測定されて出力される。
また、制御回路21内でも同様な補正演算を行ない補正
後の荷重−変位特性を記憶する。
後の荷重−変位特性を記憶する。
このように、負荷枠LFの荷重−たわみ特性をキャンセ
ルする機能を設けたことにより、負荷枠LFの剛性を高
くすることなく小形、軽量の材料試験機で精度の高い荷
重−変位特性を得ることができる。
ルする機能を設けたことにより、負荷枠LFの剛性を高
くすることなく小形、軽量の材料試験機で精度の高い荷
重−変位特性を得ることができる。
なお、負荷枠の荷重−たわみ特性は上下治具により異な
るので、使用する治具ごとに予め荷重たわみ特性を測定
してそれらをメモリ22に記憶しておき、試験時に使用
治具選択スイッチ36により補正演算に供する荷重−た
わみ特性を選択するようにしてもよい。この場合、メモ
リ22を電池等によってバンクアップしておく。また、
圧縮試験以外の各挿試験にも本発明を実施できる。さら
に、負荷枠のたわみを実施例以外の部位で異なった方式
で計測してもよい。例えば、特別のたわみ検出手段を設
けることなく、供試体なしで圧縮11 を行なった際に、変位検出用差動トランスなどで測定さ
れる変位量を負荷枠のたわみと考えてもよい。この場合
には構成が簡素化される。この発明が特許請求の範囲で
ぃう「たオ)み検出手段」はこれらを包含するものであ
る。
るので、使用する治具ごとに予め荷重たわみ特性を測定
してそれらをメモリ22に記憶しておき、試験時に使用
治具選択スイッチ36により補正演算に供する荷重−た
わみ特性を選択するようにしてもよい。この場合、メモ
リ22を電池等によってバンクアップしておく。また、
圧縮試験以外の各挿試験にも本発明を実施できる。さら
に、負荷枠のたわみを実施例以外の部位で異なった方式
で計測してもよい。例えば、特別のたわみ検出手段を設
けることなく、供試体なしで圧縮11 を行なった際に、変位検出用差動トランスなどで測定さ
れる変位量を負荷枠のたわみと考えてもよい。この場合
には構成が簡素化される。この発明が特許請求の範囲で
ぃう「たオ)み検出手段」はこれらを包含するものであ
る。
G1発明の詳細
な説明したように本発明においては、測定したa(状体
の荷重−変イQ特性から負荷枠のたわみ分をキャンセル
するようにしたので、剛性を高めることなく供試体に固
有の荷重−変位特性を正確に11111定することがで
き、材料試験機の小形軒量化に寄与する。
の荷重−変イQ特性から負荷枠のたわみ分をキャンセル
するようにしたので、剛性を高めることなく供試体に固
有の荷重−変位特性を正確に11111定することがで
き、材料試験機の小形軒量化に寄与する。
4、口面の筒車な説明
第1図は本発明の一実施例を示す全体構成図、第2図は
たわみ検出器の一例を示す拡大断面図、第3図は負荷枠
と供試体の荷重−変位(たわみ)特性の一例を示すグラ
フ、第4図は負荷枠がたわむ様子を示す模式図、第5図
は供試体の荷重−変位特性の一例を示すグラフである。
たわみ検出器の一例を示す拡大断面図、第3図は負荷枠
と供試体の荷重−変位(たわみ)特性の一例を示すグラ
フ、第4図は負荷枠がたわむ様子を示す模式図、第5図
は供試体の荷重−変位特性の一例を示すグラフである。
JO:試験機本体 1. Ob :クロスヘッド2
10o:上側治具 1.od:基台
10c:抽圧アクチュエータ
10f:下側治具 log:サーボ弁10i:磁性片
10j:磁気センサ12:ロードセル 13:
差動1−ランス14:たわみ検出器 21:制御回路 22:メモリ 24:波形発生回路31;切換ス
イッチ 33:補正回路
10j:磁気センサ12:ロードセル 13:
差動1−ランス14:たわみ検出器 21:制御回路 22:メモリ 24:波形発生回路31;切換ス
イッチ 33:補正回路
Claims (1)
- 一対の対向部材の間に供試体を設置して負荷するための
負荷枠と、この供試体を負荷するアクチュエータと、供
試体の負荷荷重を検出する荷重検出手段と、供試体の変
位を検出する変位検出手段とを備え、前記荷重検出手段
が検出した荷重と前記変位検出手段が検出した変位とに
より供試体の荷重−変位特性を求める材料試験機におい
て、前記負荷枠のたわみを検出するたわみ検出手段と、
供試体を設置しない状態で前記負荷枠に荷重を加え前記
荷重検出手段で検出される荷重と前記たわみ検出手段で
検出されるたわみから荷重−たわみ特性を記憶する記憶
手段と、前記供試体を負荷して前記荷重検出手段で得ら
れた荷重と変位検出手段で検出した変位から得られる供
試体の荷重−変位特性を前記負荷枠の荷重−たわみ特性
で補正する補正手段とを具備することを特徴とする材料
試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1168807A JP2720529B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1168807A JP2720529B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 材料試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0333637A true JPH0333637A (ja) | 1991-02-13 |
| JP2720529B2 JP2720529B2 (ja) | 1998-03-04 |
Family
ID=15874858
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1168807A Expired - Fee Related JP2720529B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 材料試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2720529B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007218809A (ja) * | 2006-02-17 | 2007-08-30 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
| JP2009156725A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Hyogo Prefecture | 薄膜試験片構造体、その製造方法、その引張試験方法及び引張試験装置 |
| JP2010127797A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Shimadzu Corp | 小型材料試験機 |
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| JPS5951331A (ja) * | 1982-09-18 | 1984-03-24 | Shimadzu Corp | たわみ補正形材料試験機 |
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1989
- 1989-06-30 JP JP1168807A patent/JP2720529B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2720529B2 (ja) | 1998-03-04 |
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