JPH0533342B2 - - Google Patents
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- JPH0533342B2 JPH0533342B2 JP60020299A JP2029985A JPH0533342B2 JP H0533342 B2 JPH0533342 B2 JP H0533342B2 JP 60020299 A JP60020299 A JP 60020299A JP 2029985 A JP2029985 A JP 2029985A JP H0533342 B2 JPH0533342 B2 JP H0533342B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- peak
- particle
- sample
- hold
- switching
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/1031—Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects
- G01N15/12—Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects by observing changes in resistance or impedance across apertures when traversed by individual particles, e.g. by using the Coulter principle
- G01N15/131—Details
- G01N15/132—Circuits
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野〕
この発明は、血球などの粒子の粒度を測定する
粒子分析装置に関し、さらに詳しくは粒子検出信
号波のピーク値をデジタル値に変換し、そのデジ
タル値に基づいて粒度を測定する粒子分析装置に
関するものである。
粒子分析装置に関し、さらに詳しくは粒子検出信
号波のピーク値をデジタル値に変換し、そのデジ
タル値に基づいて粒度を測定する粒子分析装置に
関するものである。
血球などの粒子の粒度を測定する装置として、
導電式粒子検出装置がある。導電式粒子検出装置
において、粒子の検出は次のようにして行なわれ
る。塩濃度0.8％程度の薄い電解質液中に測定用
粒子を浮遊させた懸濁液を作成し、その懸濁液に
微細孔を有する絶縁壁で隔絶された一対の電極を
浸漬する。そして一対の電極間に電位差を与え、
前記微細孔を通じてのみ、電極間に電流が流れる
ようにし、絶縁壁で隔絶された液間に水圧差を加
え、微細孔を通じて液とともに粒子を流過させ
る。このとき、粒子径に対する微細孔径を適切に
選べば、流過する粒子の体積に比例した電流変化
が電極間に生ずる。その電流変化を示す粒子検出
信号から測定用粒子の粒度を求める。
導電式粒子検出装置がある。導電式粒子検出装置
において、粒子の検出は次のようにして行なわれ
る。塩濃度0.8％程度の薄い電解質液中に測定用
粒子を浮遊させた懸濁液を作成し、その懸濁液に
微細孔を有する絶縁壁で隔絶された一対の電極を
浸漬する。そして一対の電極間に電位差を与え、
前記微細孔を通じてのみ、電極間に電流が流れる
ようにし、絶縁壁で隔絶された液間に水圧差を加
え、微細孔を通じて液とともに粒子を流過させ
る。このとき、粒子径に対する微細孔径を適切に
選べば、流過する粒子の体積に比例した電流変化
が電極間に生ずる。その電流変化を示す粒子検出
信号から測定用粒子の粒度を求める。
上述のようにして得られた粒子検出信号が、
Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換され、マイク
ロコンピユータなどで処理され、その処理結果の
粒度分布情報などが粒度記録装置に出力される。
Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換され、マイク
ロコンピユータなどで処理され、その処理結果の
粒度分布情報などが粒度記録装置に出力される。
このような粒子分析装置において、粒子検出信
号波のピーク値を粒子の大きさとして求めるため
に、粒子検出信号がＡ／Ｄ変換されるが、２つの
粒子が前記微細孔をほぼ同時に連続して流過する
と、２つ粒子の検出を示す２つのピークの間隔が
非常に接近してしまう。通常、そのピーク間隔は
数100μsecであるが、そのときは10μsecと極端に
短くなる。このような場合においても検出誤差が
生じないようにＡ／Ｄ変換を行なうには、一般的
にそれに見合う高速動作のＡ／Ｄ変換器が必要と
される。
号波のピーク値を粒子の大きさとして求めるため
に、粒子検出信号がＡ／Ｄ変換されるが、２つの
粒子が前記微細孔をほぼ同時に連続して流過する
と、２つ粒子の検出を示す２つのピークの間隔が
非常に接近してしまう。通常、そのピーク間隔は
数100μsecであるが、そのときは10μsecと極端に
短くなる。このような場合においても検出誤差が
生じないようにＡ／Ｄ変換を行なうには、一般的
にそれに見合う高速動作のＡ／Ｄ変換器が必要と
される。
しかし、一般的に高速動作のＡ／Ｄ変換器が高
価であることと、10μsec以内に連続して粒子が流
過する確率が低いなどの理由で、高速動作のＡ／
Ｄ変換器が用いられることは少ない。従来では低
速動作のＡ／Ｄ変換器を用いて、上述のような状
態において検出誤差が生じないようにするために
その検出波高値に対して補正が行なわれている。
その補正率は装置ごとに異なり、一定とはならな
いため、機差による検出誤差が生じる。
価であることと、10μsec以内に連続して粒子が流
過する確率が低いなどの理由で、高速動作のＡ／
Ｄ変換器が用いられることは少ない。従来では低
速動作のＡ／Ｄ変換器を用いて、上述のような状
態において検出誤差が生じないようにするために
その検出波高値に対して補正が行なわれている。
その補正率は装置ごとに異なり、一定とはならな
いため、機差による検出誤差が生じる。
他の従来例として、特願昭54−107395号に示さ
れるように、分周回路を用いて一定比率で粒子検
出信号を抽出し、Ａ／Ｄ変換することが考えられ
るが、この場合検出情報が減るため、粒子の濃度
が薄いときや計数時間が短いときには、滑らかな
粒子分布曲線が得られない。また得られた測定結
果の信頼性も低い。
れるように、分周回路を用いて一定比率で粒子検
出信号を抽出し、Ａ／Ｄ変換することが考えられ
るが、この場合検出情報が減るため、粒子の濃度
が薄いときや計数時間が短いときには、滑らかな
粒子分布曲線が得られない。また得られた測定結
果の信頼性も低い。
その他、特願昭58−50449号に示されるように、
信号記憶メモリを複数設けた例もあるが、この場
合制御回路が複雑となるとともに、複数の同じ装
置の並設が必要となる問題がある。
信号記憶メモリを複数設けた例もあるが、この場
合制御回路が複雑となるとともに、複数の同じ装
置の並設が必要となる問題がある。
この発明の目的は、回路構成が簡単でかつ分析
精度の高い粒子分析装置を提供することである。
精度の高い粒子分析装置を提供することである。
この発明の粒子分析装置は、粒子を検出し粒子
の大きさに対応したピークを有する粒子検出信号
を出力する粒子検出手段と、前記粒子検出信号を
入力しピーク値を交互に保持する第１および第２
のピーク値保持手段と、前記粒子検出信号の前記
ピークを検出するピーク検出手段と、このピーク
検出手段の出力に応答して前記第１および第２の
ピーク値保持手段のピーク値保持動作を交互に切
り換えて制御する制御手段と、前記第１および第
２のピーク値保持手段からのそれぞれの出力を交
互に切り換えて出力する切換手段と、この切換手
段の出力をデジタル値に変換するアナログ／デジ
タル変換手段とを備え、前記切換手段は前記アナ
ログ／デジタル変換手段の変換動作終了信号に基
づいて切換動作を行なうことを特徴とする。
の大きさに対応したピークを有する粒子検出信号
を出力する粒子検出手段と、前記粒子検出信号を
入力しピーク値を交互に保持する第１および第２
のピーク値保持手段と、前記粒子検出信号の前記
ピークを検出するピーク検出手段と、このピーク
検出手段の出力に応答して前記第１および第２の
ピーク値保持手段のピーク値保持動作を交互に切
り換えて制御する制御手段と、前記第１および第
２のピーク値保持手段からのそれぞれの出力を交
互に切り換えて出力する切換手段と、この切換手
段の出力をデジタル値に変換するアナログ／デジ
タル変換手段とを備え、前記切換手段は前記アナ
ログ／デジタル変換手段の変換動作終了信号に基
づいて切換動作を行なうことを特徴とする。
この発明の粒子分析装置は、粒子検出信号のピ
ーク検出毎にピーク値を第１および第２のピーク
値保持手段で交互に保持し、第１および第２のピ
ーク値保持手段からのそれぞれの出力をアナロ
グ／デジタル変換動作終了時点で切り換えてアナ
ログ／デジタル変換手段に与え、デジタル値に変
換するので、粒子検出信号のピーク間隔が比較的
短いときでも検出誤差のない分析結果が得られ、
高い分析精度を保つことができる。
ーク検出毎にピーク値を第１および第２のピーク
値保持手段で交互に保持し、第１および第２のピ
ーク値保持手段からのそれぞれの出力をアナロ
グ／デジタル変換動作終了時点で切り換えてアナ
ログ／デジタル変換手段に与え、デジタル値に変
換するので、粒子検出信号のピーク間隔が比較的
短いときでも検出誤差のない分析結果が得られ、
高い分析精度を保つことができる。
この発明の一実施例を第１図および第２図に基
づいて説明する。第１図はこの発明の一実施例の
粒子分析装置の構成を示すブロツク図であり、第
２図はその動作を説明するためのタイミングチヤ
ートである。
づいて説明する。第１図はこの発明の一実施例の
粒子分析装置の構成を示すブロツク図であり、第
２図はその動作を説明するためのタイミングチヤ
ートである。
粒子検出手段１は、従来技術で述べたような構
成で粒子を検出し、第２図Ａに示されるような粒
子検出信号SGを出力する。粒子検出信号SGは粒
子の大きさに対応したピークＰ１１，Ｐ１２，Ｐ
１３，Ｐ１４を有する。粒子検出手段１から出力
された粒子検出信号SGは、ピーク値保持手段で
あるサンプルホールド回路２，３およびピーク検
出手段４に与えられる。
成で粒子を検出し、第２図Ａに示されるような粒
子検出信号SGを出力する。粒子検出信号SGは粒
子の大きさに対応したピークＰ１１，Ｐ１２，Ｐ
１３，Ｐ１４を有する。粒子検出手段１から出力
された粒子検出信号SGは、ピーク値保持手段で
あるサンプルホールド回路２，３およびピーク検
出手段４に与えられる。
ピーク検出手段４は、粒子検出信号SGが与え
られ、そのピークＰ１１〜Ｐ１４が入力される毎
に第２図Ｂに示されるようなピーク検出パルスＰ
を切換回路５に出力する。
られ、そのピークＰ１１〜Ｐ１４が入力される毎
に第２図Ｂに示されるようなピーク検出パルスＰ
を切換回路５に出力する。
フリツプフロツプである切換回路５は、ピーク
検出パルスＰが入力される毎に、第２図Ｃ，Ｄに
示されるようなその２つの切換信号Ｐ１，Ｐ２の
出力レベルを切り換えて、サンプルホールド制御
回路６，７に与える。
検出パルスＰが入力される毎に、第２図Ｃ，Ｄに
示されるようなその２つの切換信号Ｐ１，Ｐ２の
出力レベルを切り換えて、サンプルホールド制御
回路６，７に与える。
サンプルホールド制御回路６，７は、フリツプ
フロツプから成り、第２図Ｅ，Ｆに示されている
ような制御信号PH１，PH２を出力する。制御
信号PH１，PH２は、前記サンプルホールド回
路２，３およびＡ／Ｄ変換制御回路８に与えられ
る。
フロツプから成り、第２図Ｅ，Ｆに示されている
ような制御信号PH１，PH２を出力する。制御
信号PH１，PH２は、前記サンプルホールド回
路２，３およびＡ／Ｄ変換制御回路８に与えられ
る。
各サンプルホールド回路２，３に、与えられた
粒子検出信号SGを制御信号PH１，PH２に従つ
てサンプルホールドし、第２図Ｇ，Ｈに示される
ようなサンプルホールド信号SH１，SH２をそれ
ぞれ切換回路９に出力する。
粒子検出信号SGを制御信号PH１，PH２に従つ
てサンプルホールドし、第２図Ｇ，Ｈに示される
ようなサンプルホールド信号SH１，SH２をそれ
ぞれ切換回路９に出力する。
切換回路９は、与えられた２つのサンプルホー
ルド信号SH１，SH２を交互に切り換え、第２図
Ｉに示されるような信号SHをＡ／Ｄ変換器１０
に出力する。
ルド信号SH１，SH２を交互に切り換え、第２図
Ｉに示されるような信号SHをＡ／Ｄ変換器１０
に出力する。
Ａ／Ｄ変換器１０は、前記Ａ／Ｄ変換制御回路
８から出力される第２図Ｊに示されるような変換
開始信号CSTに基づいて、前記信号SHをデジタ
ル値に変換する。そのデジタル化信号は、ラツチ
回路１１を介してデータ入力インタフエイス１２
に与えられる。またＡ／Ｄ変換器１０は、第２図
Ｋに示されるようなそのＡ／Ｄ変換期間ハイレベ
ルとなるパルスCCを、Ａ／Ｄ変換制御回路８、
ラツチ回路１１、データ入力インタフエイス１
２、切換回路１３およびホールドリセツト回路１
４に出力する。
８から出力される第２図Ｊに示されるような変換
開始信号CSTに基づいて、前記信号SHをデジタ
ル値に変換する。そのデジタル化信号は、ラツチ
回路１１を介してデータ入力インタフエイス１２
に与えられる。またＡ／Ｄ変換器１０は、第２図
Ｋに示されるようなそのＡ／Ｄ変換期間ハイレベ
ルとなるパルスCCを、Ａ／Ｄ変換制御回路８、
ラツチ回路１１、データ入力インタフエイス１
２、切換回路１３およびホールドリセツト回路１
４に出力する。
切換回路１３は、Ａ／Ｄ変換器１０のＡ／Ｄ変
換動作終了時点を示す入力されるパルスc.c.の立ち
下がりに同期して、レベルが反転する第２図Ｌに
示されるような切換信号SELを切換回路９および
ホールドリセツト回路１４に出力する。切換回路
９は、Ａ／Ｄ変換器１０のＡ／Ｄ変換動作終了時
点でレベルの反転するこの切換信号SELに基づい
て、サンプルホールド回路２，３から入力される
サンプルホールド信号SH１，SH２の切換動作を
行なう。
換動作終了時点を示す入力されるパルスc.c.の立ち
下がりに同期して、レベルが反転する第２図Ｌに
示されるような切換信号SELを切換回路９および
ホールドリセツト回路１４に出力する。切換回路
９は、Ａ／Ｄ変換器１０のＡ／Ｄ変換動作終了時
点でレベルの反転するこの切換信号SELに基づい
て、サンプルホールド回路２，３から入力される
サンプルホールド信号SH１，SH２の切換動作を
行なう。
ホールドリセツト回路１４は、入力される前記
パルスCCの立ち下がりに同期してローレベルと
なる第２図Ｍに示されるようなパルスHRを前記
サンプルホールド制御回路６，７に出力する。サ
ンプルホールド制御回路６，７は、このパルス
HRに従つて、サンプルホールド回路２，３のサ
ンプルホールド期間を制御する。
パルスCCの立ち下がりに同期してローレベルと
なる第２図Ｍに示されるようなパルスHRを前記
サンプルホールド制御回路６，７に出力する。サ
ンプルホールド制御回路６，７は、このパルス
HRに従つて、サンプルホールド回路２，３のサ
ンプルホールド期間を制御する。
次にこの粒子分析装置の経時的動作について説
明する。時間t1において、粒子検出信号SGにピ
ークＰ１１が存在すると、ピーク検出手段４から
ピーク検出パルスＰが、切換回路５に与えられ
る。切換回路５では、ピーク検出パルスＰの立ち
上がりに同期して、その出力信号Ｐ１がローレベ
ルからハイレベルとなつて出力される。サンプル
ホールド制御回路６は、入力信号Ｐ１の立ち上が
りに同期して、制御信号PH１をハイレベルと
し、サンプルホールド回路２に対してサンプル指
示を与える。このとき、サンプルホールド制御回
路７から出力される制御信号PH２は、ローレベ
ルのままであり、サンプルホールド回路３では、
サンプルホールド動作がなされない。
明する。時間t1において、粒子検出信号SGにピ
ークＰ１１が存在すると、ピーク検出手段４から
ピーク検出パルスＰが、切換回路５に与えられ
る。切換回路５では、ピーク検出パルスＰの立ち
上がりに同期して、その出力信号Ｐ１がローレベ
ルからハイレベルとなつて出力される。サンプル
ホールド制御回路６は、入力信号Ｐ１の立ち上が
りに同期して、制御信号PH１をハイレベルと
し、サンプルホールド回路２に対してサンプル指
示を与える。このとき、サンプルホールド制御回
路７から出力される制御信号PH２は、ローレベ
ルのままであり、サンプルホールド回路３では、
サンプルホールド動作がなされない。
時間t2では、Ａ／Ｄ変換器１０において、切換
回路９から与えられた信号SHのデジタル変換が
終了し、ハイレベルであつたパルスCCがローレ
ベルとして出力される。このパルスCCの立ち下
がりに同期して、制御信号PH１がハイレベルか
らローレベルとなり、サンプルホールド回路２に
おけるサンプルホールド動作が終了する。
回路９から与えられた信号SHのデジタル変換が
終了し、ハイレベルであつたパルスCCがローレ
ベルとして出力される。このパルスCCの立ち下
がりに同期して、制御信号PH１がハイレベルか
らローレベルとなり、サンプルホールド回路２に
おけるサンプルホールド動作が終了する。
次にこの発明が有利に実施される粒子検出信号
SGのピークＰ１２，Ｐ１３が間隔が接近してい
る場合の動作について説明する。時間t3におい
て、ピークＰ２が検出されると、ピーク検出手段
４からピーク検出パルスＰが出力される。このピ
ーク検出パルスＰの立ち上がりに同期して、切換
回路５の出力信号Ｐ２がローレベルからハイレベ
ルとなり、サンプルホールド制御回路７から出力
される制御信号PH２がローレベルからハイレベ
ルとなる。したがつてサンプルホールド回路３で
は、粒子検出信号SGのサンプルホールド動作が
行なわれる。
SGのピークＰ１２，Ｐ１３が間隔が接近してい
る場合の動作について説明する。時間t3におい
て、ピークＰ２が検出されると、ピーク検出手段
４からピーク検出パルスＰが出力される。このピ
ーク検出パルスＰの立ち上がりに同期して、切換
回路５の出力信号Ｐ２がローレベルからハイレベ
ルとなり、サンプルホールド制御回路７から出力
される制御信号PH２がローレベルからハイレベ
ルとなる。したがつてサンプルホールド回路３で
は、粒子検出信号SGのサンプルホールド動作が
行なわれる。
時間t4では、粒子検出信号SGのピークＰ１３
が検出され、ピーク検出手段４からピーク検出パ
ルスＰが出力される。検知パルスＰが入力される
と、切換回路５の出力信号Ｐ１，Ｐ２のレベルが
反転され、サンプルホールド制御回路６から出力
される制御信号PH１がローレベルからハイレベ
ルとなつて、サンプルホールド回路２のサンプル
ホールド動作が開始される。このときサンプルホ
ールド回路３では、Ａ／Ｄ変換器１０における
Ａ／Ｄ変換動作が終了していないので、サンプル
ホールド動作中である。
が検出され、ピーク検出手段４からピーク検出パ
ルスＰが出力される。検知パルスＰが入力される
と、切換回路５の出力信号Ｐ１，Ｐ２のレベルが
反転され、サンプルホールド制御回路６から出力
される制御信号PH１がローレベルからハイレベ
ルとなつて、サンプルホールド回路２のサンプル
ホールド動作が開始される。このときサンプルホ
ールド回路３では、Ａ／Ｄ変換器１０における
Ａ／Ｄ変換動作が終了していないので、サンプル
ホールド動作中である。
時間t5において、Ａ／Ｄ変換器１０におけるサ
ンプルホールド信号SH２のＡ／Ｄ変換動作が終
了すると、切換回路１３から出力される切換信号
SELのレベルが反転し、サンプルホールド信号
SH１が切換回路９で選択され、Ａ／Ｄ変換器１
０に与えられる。
ンプルホールド信号SH２のＡ／Ｄ変換動作が終
了すると、切換回路１３から出力される切換信号
SELのレベルが反転し、サンプルホールド信号
SH１が切換回路９で選択され、Ａ／Ｄ変換器１
０に与えられる。
時間t6では、Ａ／Ｄ変換器１０におけるサンプ
ルホールド信号SH１のＡ／Ｄ変換動作の終了に
ともなつて、サンプルホールド回路２のサンプル
ホールド動作が終了される。
ルホールド信号SH１のＡ／Ｄ変換動作の終了に
ともなつて、サンプルホールド回路２のサンプル
ホールド動作が終了される。
従来例では、粒子検出信号の１つのピーク値が
Ａ／Ｄ変換されている途中で、近接した次のピー
クが検出されても、そのピーク値が保持されず無
視されて、検出誤差が生じていた。しかし、この
実施例では１つの粒子検出信号SGを入力する２
つのサンプルホールド回路２，３を設け、粒子検
出信号SGのピークを１回検出する毎に、そのピ
ーク値の保持ためのサンプルホールド回路２，３
のサンプルホールド動作を交互に切り換えるよう
にしたので、上述の問題点を解決することができ
る。したがつて比較的低速動作のＡ／Ｄ変換器を
用いて高精度な粒子分析を行なうことができる。
Ａ／Ｄ変換されている途中で、近接した次のピー
クが検出されても、そのピーク値が保持されず無
視されて、検出誤差が生じていた。しかし、この
実施例では１つの粒子検出信号SGを入力する２
つのサンプルホールド回路２，３を設け、粒子検
出信号SGのピークを１回検出する毎に、そのピ
ーク値の保持ためのサンプルホールド回路２，３
のサンプルホールド動作を交互に切り換えるよう
にしたので、上述の問題点を解決することができ
る。したがつて比較的低速動作のＡ／Ｄ変換器を
用いて高精度な粒子分析を行なうことができる。
この発明に従つて、サンプルホールド回路を２
つ設けた場合、Ａ／Ｄ変換器の変換所要時間がtc
のとき、ｎ個目のパルスと（ｎ＋ｍ）個目のパル
スの間隔がtc×（ｍ−１）より長ければ、Ａ／Ｄ
変換誤動作は生じない。
つ設けた場合、Ａ／Ｄ変換器の変換所要時間がtc
のとき、ｎ個目のパルスと（ｎ＋ｍ）個目のパル
スの間隔がtc×（ｍ−１）より長ければ、Ａ／Ｄ
変換誤動作は生じない。
一般に粒子検出信号のパルス間隔は、ポアソン
分布していることが知られており、たとえば平均
のパルス間隔が400μsecとすると、パルス間隔が
20μsec以下となる確率は、約4.9％となる。変換
所要時間が20μsecのＡ／Ｄ変換器を用いた場合、
サンプルホールド回路が１つのとき、そのＡ／Ｄ
変換誤動作の生じる確率は、4.9％となる。この
発明に従つてサンプルホールド回路を２つ設ける
と、その確率は約0.14％と大幅に減少することが
できる。また変換所要時間が４倍の80μsecのＡ／
Ｄ変換器を用いた場合でも、サンプルホールド回
路を２つ設けることによつて、前記確率は約2.9
％となり、従来技術のように変換所要時間が
20μsecのＡ／Ｄ変換器を１つ用いるときの確率よ
りも低くなる。
分布していることが知られており、たとえば平均
のパルス間隔が400μsecとすると、パルス間隔が
20μsec以下となる確率は、約4.9％となる。変換
所要時間が20μsecのＡ／Ｄ変換器を用いた場合、
サンプルホールド回路が１つのとき、そのＡ／Ｄ
変換誤動作の生じる確率は、4.9％となる。この
発明に従つてサンプルホールド回路を２つ設ける
と、その確率は約0.14％と大幅に減少することが
できる。また変換所要時間が４倍の80μsecのＡ／
Ｄ変換器を用いた場合でも、サンプルホールド回
路を２つ設けることによつて、前記確率は約2.9
％となり、従来技術のように変換所要時間が
20μsecのＡ／Ｄ変換器を１つ用いるときの確率よ
りも低くなる。
この発明の粒子分析装置によれば、粒子検出信
号の連続した２個のピークを第１および第２のピ
ーク値保持手段でそれぞれ別々に保持することが
可能となり、粒子検出信号の先のピークのアナロ
グ／デジタル変換が終了するのを待つて、粒子検
出信号の後のピークをアナログ／デジタル変換回
路へ送つてアナログ／デジタル変換を開始させる
ことができ、粒子検出信号の２個のピークがアナ
ログ／デジタル変換手段の変換周期より短い時間
間隔で存在する場合においても、粒子検出信号の
２個のピークをアナログ／デジタル変換すること
が可能となり、アナログ／デジタル変換手段とし
て変換速度の遅い安価なものを使用しても粒子分
析を精度よく行うことが可能となる。
号の連続した２個のピークを第１および第２のピ
ーク値保持手段でそれぞれ別々に保持することが
可能となり、粒子検出信号の先のピークのアナロ
グ／デジタル変換が終了するのを待つて、粒子検
出信号の後のピークをアナログ／デジタル変換回
路へ送つてアナログ／デジタル変換を開始させる
ことができ、粒子検出信号の２個のピークがアナ
ログ／デジタル変換手段の変換周期より短い時間
間隔で存在する場合においても、粒子検出信号の
２個のピークをアナログ／デジタル変換すること
が可能となり、アナログ／デジタル変換手段とし
て変換速度の遅い安価なものを使用しても粒子分
析を精度よく行うことが可能となる。
第１図はこの発明の一実施例の粒子分析装置の
構成を示すブロツク図、第２図は第１図の粒子分
析装置の動作を説明するためのタイミングチヤー
トである。 １…粒子検出信号、２，３…サンプルホールド
回路、４…ピーク検出手段、６，７…サンプルホ
ールド制御回路、９…切換回路、１０…Ａ／Ｄ変
換器。
構成を示すブロツク図、第２図は第１図の粒子分
析装置の動作を説明するためのタイミングチヤー
トである。 １…粒子検出信号、２，３…サンプルホールド
回路、４…ピーク検出手段、６，７…サンプルホ
ールド制御回路、９…切換回路、１０…Ａ／Ｄ変
換器。
Claims (1)
- １ 粒子を検出し粒子の大きさに対応したピーク
を有する粒子検出信号を出力する粒子検出手段
と、前記粒子検出信号を入力しピーク値を交互に
保持する第１および第２のピーク値保持手段と、
前記粒子検出信号の前記ピークを検出するピーク
検出手段と、このピーク検出手段の出力に応答し
て前記第１および第２のピーク値保持手段のピー
ク値保持動作を交互に切り換えて制御する制御手
段と、前記第１および第２のピーク値保持手段か
らのそれぞれの出力を交互に切り換えて出力する
切換手段と、この切換手段の出力をデジタル値に
変換するアナログ／デジタル変換手段とを備え、
前記切換手段は前記アナログ／デジタル変換手段
の変換動作終了信号に基づいて切換動作を行なう
ことを特徴とする粒子分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60020299A JPS61178643A (ja) | 1985-02-05 | 1985-02-05 | 粒子分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60020299A JPS61178643A (ja) | 1985-02-05 | 1985-02-05 | 粒子分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61178643A JPS61178643A (ja) | 1986-08-11 |
| JPH0533342B2 true JPH0533342B2 (ja) | 1993-05-19 |
Family
ID=12023271
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60020299A Granted JPS61178643A (ja) | 1985-02-05 | 1985-02-05 | 粒子分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61178643A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0718787B2 (ja) * | 1988-08-26 | 1995-03-06 | 富士電機株式会社 | 微粒子測定装置 |
| JP2002022646A (ja) | 2000-07-07 | 2002-01-23 | Horiba Ltd | 粒径分布測定装置 |
| US6864979B2 (en) | 2000-12-08 | 2005-03-08 | Horiba, Ltd | Particle size distribution measuring apparatus |
| JP4266075B2 (ja) | 2001-02-19 | 2009-05-20 | 株式会社堀場製作所 | 粒径分布測定装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2448303B2 (de) * | 1973-10-16 | 1980-11-13 | Coulter Electronics Ltd., Harpenden, Hertfordshire (Ver. Koenigreich) | Einrichtung zum Analysieren von in einer Flüssigkeit suspendierten Teilchen |
| JPS568527A (en) * | 1979-07-02 | 1981-01-28 | Toa Medical Electronics Co Ltd | Particle analyzing device |
| JPS5841336A (ja) * | 1981-09-04 | 1983-03-10 | Toa Medical Electronics Co Ltd | 粒子分析装置 |
| JPS61126447A (ja) * | 1984-11-26 | 1986-06-13 | Hitachi Ltd | 粒子分析装置 |
-
1985
- 1985-02-05 JP JP60020299A patent/JPS61178643A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61178643A (ja) | 1986-08-11 |
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