JPH0336651A - 制御記憶読出検査方式 - Google Patents

制御記憶読出検査方式

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Publication number
JPH0336651A
JPH0336651A JP1172344A JP17234489A JPH0336651A JP H0336651 A JPH0336651 A JP H0336651A JP 1172344 A JP1172344 A JP 1172344A JP 17234489 A JP17234489 A JP 17234489A JP H0336651 A JPH0336651 A JP H0336651A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
areas
control memory
area
unused
length
Prior art date
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Pending
Application number
JP1172344A
Other languages
English (en)
Inventor
Akio Otani
大谷 明雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0336651A publication Critical patent/JPH0336651A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は制御記憶読出検査方式に関する。
〔従来の技術〕
従来例の制御記憶読出検査方式のブロック図を第2図に
示す。
本例は、マイクロ演算処理ユニット(MPU)10、母
線20.制御記憶として使用される読出専用記憶装置(
ROM)300およびランダムアクセスメモリ(RAM
)60とからなる構成となっている。
ROM300において、310,330は使用領域、3
20.340は未使用領域、360はCRC領域を示す
。未使用領域320,340は、制御記憶に記憶される
制御情報やプログラムが情報処理装置のシステム構成に
よって異なるのに対応して、考えられる最大記憶容量の
ROM300楕成としたことにより生じる。
MPU10を動作させるための制御情報やプログラムを
格納しているROM 300の自己検査は、ROM30
0の作成時に埋め込まれたCRC領域360をキーとし
て、交換単位となっている読出専用制御記憶回路の全領
域に渡る巡回符号演算により行なっている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来方式では、交換単位であるROM300の
全領域に渡って試験が行われている為、制御記憶の内部
に複数の未使用領域320,340が散在しても、この
未使用領域をも検査するので余計な時間を要し、又、未
使用領域に障害があると、本来の真の障害ではないのに
障害検出となって情報処理装置の処理能率を低下させる
などの問題点があった。
本発明は、以上の問題点を解決するためのもので、制御
記憶読出検査時間の短縮および偽障害の排除を行なうこ
とにより、情報処理装置の処理能率を向上させることの
できる制御記憶読出検査方式を提供することを目的とす
る。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の制御記憶読出検査方式は、制御記憶内の未使用
領域と1:1対応で該制御記憶内に、未使用領域の開始
番地と長さとを予め記憶しておき、制御記憶の読出検査
は開始番地を参照しながらアクセスアドレスを順次に変
化させて行ない、アクセスアドレスが開始番地になると
長さ分だけ飛越して次の使用領域から読出検査を続行す
るようにしたことを特徴とする。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す情報処理装置の制御記
憶読出検査方式のブロック構成図である。
本実施例は、MPU10とROM30とRAM60とが
母線20で接続されて構成されており、ROM30は3
つの使用領域31.33および35と、2つの未使用領
域32.34と、2つの開始番地領域41.42及び2
つの長さ領域51゜52から成る管理テーブルと、CR
C領域36とから楕或されている。
開始番地領域41と長さ領域51は、未使用領域32の
それぞれ開始番地と長さを予め格納するためのエリアで
あり、開始番地領域42と長さ領域52は、未使用領域
34のそれぞれ開始番地と長さを予め格納するためのエ
リアである。
使用領域31.33及び35は、本情報処理装置の動作
において、必要なプログラムおよび定数の格納された領
域であり、未使用領域32および34は、本情報処理装
置の動作において無効な領域でありアクセスする必要は
ない、CRC領域36には未使用領域32.34を除い
た残りの領域に対して定められた生成多項式による巡回
符号検査情報がROM作戒作成埋め込まれている。
ROM30の読出検査を行なうときには、MPUl0は
、母線20を°介してROM30内の使用領域31の最
初の番地から順次読出しては所定の巡回符号演算を行な
う。
MPL+ 10は、また本演算動作と並行して未使用領
域群の開始番地と長さの情報を格納した管理テーブルを
覗いており、読出しが未使用領域32または34にさし
かかると、これらの領域を自律的にスキップして、実使
用領域である、それぞれ使用領域33または35に対し
て所定の巡回符号演算を継続する。
その後に、本巡回符号演算は、未使用領域群の管理テー
ブル部(41〜55〉を含めCRC領域36まで行われ
ることによって検査が終了する。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、制御記憶内の未使用領域
群を表わす開始番地と長さの管理テーブルを制御記憶自
身に内蔵する構成としたため、逐次読出によって行なう
巡回符1号検査を未使用領域群に対してスキップするこ
とにより、読出検査時間の短縮および未使用領域群に存
在していた偽障害の排除という優れた効果があり、情報
処理装置の処理能率を向上することができるという利点
がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック構成図、第2
図は従来例のブロック構成図である。 10・・・マイクロ演算処理ユニット(MPU)、20
・・・母線、30,300・・・読出専用記憶装置(R
OM)、3L  33,35,310,330・・・使
用領域、32,34,320,340・・・未使用領域
、36,360・・・CRC領域、41.42・・・開
始番地領域、51.52・・・長さ領域、60・・・ラ
ンダムアクセスメモリ(RAM)。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 制御記憶内の未使用領域と1:1対応で該制御記憶内に
    、 前記未使用領域の開始番地と長さとを予め記憶しておき
    、 該制御記憶の読出検査は前記開始番地を参照しながらア
    クセスアドレスを順次に変化させて行ない、該アクセス
    アドレスが前記開始番地になると前記長さ分だけ飛越し
    て次の使用領域から前記読出検査を続行するようにした
    ことを特徴とする制御記憶読出検査方式。
JP1172344A 1989-07-03 1989-07-03 制御記憶読出検査方式 Pending JPH0336651A (ja)

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JP1172344A JPH0336651A (ja) 1989-07-03 1989-07-03 制御記憶読出検査方式

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JPH0336651A true JPH0336651A (ja) 1991-02-18

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002163155A (ja) * 2000-11-29 2002-06-07 Rb Controls Co ガス器具のマイコン制御装置
JP2011237934A (ja) * 2010-05-07 2011-11-24 Canon Inc 記憶装置アレイシステム、情報処理装置、記憶装置アレイ制御方法、及び、プログラム
US8950214B2 (en) * 2013-02-11 2015-02-10 Pandora A/S Component with gripping element

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