JPH0339470A - 薄膜製造方法 - Google Patents
薄膜製造方法Info
- Publication number
- JPH0339470A JPH0339470A JP1175850A JP17585089A JPH0339470A JP H0339470 A JPH0339470 A JP H0339470A JP 1175850 A JP1175850 A JP 1175850A JP 17585089 A JP17585089 A JP 17585089A JP H0339470 A JPH0339470 A JP H0339470A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- targets
- frequency
- high frequency
- frequency power
- thin film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、高周波電源を供給した複数個のターゲットを
同時にスパッタリングすることによる薄膜の製造方法に
関するものである。
同時にスパッタリングすることによる薄膜の製造方法に
関するものである。
従来の技術
従来、Sin、、Sin、ZnS等の誘電体材料の′r
IIWAの製造には、高周波スパッタリングによる方法
が用いられてきた。これら誘電体filllを、特に光
ディスク等の保護膜あるいは干渉膜として用いる場合の
製造では、特性の安定した膜を高速で成膜することが要
求される。その方法としては、大型のターゲットを用い
る、複数個のターゲットを用いて別々にスパッタリング
する、などが考えられる。特に、複数個のターゲットを
用いたスパッタリングは ■ 小型のターゲットを利用できる。
IIWAの製造には、高周波スパッタリングによる方法
が用いられてきた。これら誘電体filllを、特に光
ディスク等の保護膜あるいは干渉膜として用いる場合の
製造では、特性の安定した膜を高速で成膜することが要
求される。その方法としては、大型のターゲットを用い
る、複数個のターゲットを用いて別々にスパッタリング
する、などが考えられる。特に、複数個のターゲットを
用いたスパッタリングは ■ 小型のターゲットを利用できる。
■ ターゲットの利用効率を上げることが容易である。
■ 単位面積当りの投入パワーを大きくできる。
などの利点を有する薄膜の製造方法である。
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記の従来の構成の高周波多元スパックリ
ング装置では、各供給高周波電源の発振周波数を一致さ
せることがむずかしく、各ターゲットと基板間のバイア
ス電圧の周波数に差が生し、そのため移動周波数の異な
るプラズマ間の干渉により、成膜速度が低下するという
li!題を有していた。
ング装置では、各供給高周波電源の発振周波数を一致さ
せることがむずかしく、各ターゲットと基板間のバイア
ス電圧の周波数に差が生し、そのため移動周波数の異な
るプラズマ間の干渉により、成膜速度が低下するという
li!題を有していた。
本発明は上記従来の課題を解決するもので、複数個のタ
ーゲットのプラズマ間の干渉をなくすとともに、高速で
成膜可能な高周波多元スパッタリング装置を提供するこ
とを目的とする。
ーゲットのプラズマ間の干渉をなくすとともに、高速で
成膜可能な高周波多元スパッタリング装置を提供するこ
とを目的とする。
課題を解決するための手段
この目的を解決するために本発明の多元高周波スパッタ
リング装置による薄膜製造方法では、ターゲット間に磁
性体材料の遮蔽板を設け、ターゲットに供給している高
周波電源の周波数の差を500Hz以上に設定するとい
う構成を有している。
リング装置による薄膜製造方法では、ターゲット間に磁
性体材料の遮蔽板を設け、ターゲットに供給している高
周波電源の周波数の差を500Hz以上に設定するとい
う構成を有している。
または、ターゲット間に磁性体材料の遮蔽板を設け、タ
ーゲットに供給する高周波電源の発振機能を完全に同調
させるというIjI戒を有している。
ーゲットに供給する高周波電源の発振機能を完全に同調
させるというIjI戒を有している。
作用
この構成により、複数個のターゲットのプラズマ間の干
渉を防止することができ、高速で成膜可能な高周波多元
スパンタリング装置による薄膜製造方法を実現すること
ができる。
渉を防止することができ、高速で成膜可能な高周波多元
スパンタリング装置による薄膜製造方法を実現すること
ができる。
実施例
以下本発明の一実施例について、図面を参照しなから説
明する。
明する。
第1図は本発明の一実施例における高周波多元スパッタ
リング装置の構成国を示すものである。
リング装置の構成国を示すものである。
第1図において、1は高周波電源(A)、2は高周波を
源(B)、3はターゲットA、4はターゲットB、5は
基板、6は基板ホルダー、7は磁性体材料の遮蔽板、8
は放電により発生したプラズマ、9は真空室である。
源(B)、3はターゲットA、4はターゲットB、5は
基板、6は基板ホルダー、7は磁性体材料の遮蔽板、8
は放電により発生したプラズマ、9は真空室である。
以上のように構成された本実施例の二元高周波スパッタ
リング装置において、高周波電源(A)1の周波数を1
3.56000MHz、高周波電源(B)2の周波数を
13.56’100MHzに設定した。
リング装置において、高周波電源(A)1の周波数を1
3.56000MHz、高周波電源(B)2の周波数を
13.56’100MHzに設定した。
従来の構成では、高周波電源(A)と高周波電源(B)
の周波数がほぼ一致しているが、わずかに異なり、その
差が10Hz程度であるために、干渉が起こり、放電が
不安定となるために安定な成膜ができなかった。
の周波数がほぼ一致しているが、わずかに異なり、その
差が10Hz程度であるために、干渉が起こり、放電が
不安定となるために安定な成膜ができなかった。
それに対し本実施例のIIItcでは、ターゲットに印
加する周波数の差がIKHzと非常に大きいため、それ
ぞれのターゲットのプラズマが周波数の差に追従しきれ
なくなる。しかも、各ターゲット間には磁性体材料の遮
幣板を設けているため、プラズマ間での干渉効果を低下
させることができ、高速で安定した成膜を実現できるも
のである。実際に、ターゲット個数に対する成膜速度は
第3図に示すような結果が得られた。このように、ター
ゲット間に磁性体材料の遮幣板を設け、ターゲットに供
給する高周波電源の周波数の差を500Hz以上に設定
することにより、ターゲット間の干渉効果がなく、ター
ゲット個数に比例した成膜を実現できる。
加する周波数の差がIKHzと非常に大きいため、それ
ぞれのターゲットのプラズマが周波数の差に追従しきれ
なくなる。しかも、各ターゲット間には磁性体材料の遮
幣板を設けているため、プラズマ間での干渉効果を低下
させることができ、高速で安定した成膜を実現できるも
のである。実際に、ターゲット個数に対する成膜速度は
第3図に示すような結果が得られた。このように、ター
ゲット間に磁性体材料の遮幣板を設け、ターゲットに供
給する高周波電源の周波数の差を500Hz以上に設定
することにより、ターゲット間の干渉効果がなく、ター
ゲット個数に比例した成膜を実現できる。
また、第2図は別の実施例における高周波多元スパンタ
リング装置の構成図を示すものである。
リング装置の構成図を示すものである。
第2図において、11は高周波型R(a)、12は高周
波ti(b)、10はこれら高周波電源の発振器、3は
ターゲット(a)、4はターゲットb、5は基羊反、6
は基板ホルダー、7は磁性体材料の遮幣板、8は放電に
より発生したプラズマ、9は真空室である。
波ti(b)、10はこれら高周波電源の発振器、3は
ターゲット(a)、4はターゲットb、5は基羊反、6
は基板ホルダー、7は磁性体材料の遮幣板、8は放電に
より発生したプラズマ、9は真空室である。
本実施例では高周波電源11.12の周波数を同一の周
波数発振器10で発振させるため、周波数は全く一致し
ている。この結果、各ターゲットのプラズマ間で周波数
の差による移動度の差は生じない、また、ターゲット間
には磁性体材料の遮幣板17を設けているため、ターゲ
ットのプラズマ間での干渉を低下させることができ、高
速で安定した成膜を実現できる。この結果も第1の実施
例の場合と同様にターゲット個数に比例した成膜を実現
できるものである。
波数発振器10で発振させるため、周波数は全く一致し
ている。この結果、各ターゲットのプラズマ間で周波数
の差による移動度の差は生じない、また、ターゲット間
には磁性体材料の遮幣板17を設けているため、ターゲ
ットのプラズマ間での干渉を低下させることができ、高
速で安定した成膜を実現できる。この結果も第1の実施
例の場合と同様にターゲット個数に比例した成膜を実現
できるものである。
以上のように本実施例によれば、ターゲット表面に発生
するプラズマ間の干渉効果を低減でき、高速で安定した
成膜を実現できるものである。
するプラズマ間の干渉効果を低減でき、高速で安定した
成膜を実現できるものである。
発明の効果
本発明は、高周波電源を供給した複数ターゲットからス
パッタリングにより薄膜を製造する方法において、ター
ゲット間に磁性体材料の遮蔽板を介在させることにより
、ターゲットのプラズマ間の干渉効果を低下させること
ができ、さらにターゲットに供給する高周波電源の周波
数の差を5001(z以上にするか、または複数の高周
波電源の周波数を同一の周波数発振器で発振させること
により、高速で安定した成膜を実現できる優れた薄膜製
造方法を実現できるものである。
パッタリングにより薄膜を製造する方法において、ター
ゲット間に磁性体材料の遮蔽板を介在させることにより
、ターゲットのプラズマ間の干渉効果を低下させること
ができ、さらにターゲットに供給する高周波電源の周波
数の差を5001(z以上にするか、または複数の高周
波電源の周波数を同一の周波数発振器で発振させること
により、高速で安定した成膜を実現できる優れた薄膜製
造方法を実現できるものである。
第1図は本発明の一実施例における高周波多元スパッタ
リング装置の構成図、第2図は本発明の別の実施例にお
ける高周波多元スパッタリング装置の構成図、第3図は
ターゲット個数に対する成膜速度の変化を示す図である
。 1.2・・・・・・高周波電源、3,4・・・・・・タ
ーゲット、5・・・・・・基板、6・・・・・・基板ホ
ルダー、7・・・・・・遮蔽板、8・・・・・・放電に
よるプラズマ、9・・・・・・真空室、IO・・・・・
・発振器、11.12・・・・・・高周波電源。
リング装置の構成図、第2図は本発明の別の実施例にお
ける高周波多元スパッタリング装置の構成図、第3図は
ターゲット個数に対する成膜速度の変化を示す図である
。 1.2・・・・・・高周波電源、3,4・・・・・・タ
ーゲット、5・・・・・・基板、6・・・・・・基板ホ
ルダー、7・・・・・・遮蔽板、8・・・・・・放電に
よるプラズマ、9・・・・・・真空室、IO・・・・・
・発振器、11.12・・・・・・高周波電源。
Claims (3)
- (1) 高周波電源を供給した複数ターゲットからスパ
ッタリングにより薄膜の製造する方法であって、前記複
数ターゲット間に、磁性材料の遮蔽板を介在させたこと
を特徴とする薄膜製造方法。 - (2) 高周波電源が500Hz以上の周波数差をもっ
たバイアス電圧をそれぞれのターゲットに供給すること
を特徴とする請求項(1)記載の薄膜製造方法。 - (3) 高周波電源の交流バイアス電圧に同一発振器を
用いることを特徴とする請求項(1)記載の薄膜製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17585089A JP2679273B2 (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | 薄膜製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17585089A JP2679273B2 (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | 薄膜製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0339470A true JPH0339470A (ja) | 1991-02-20 |
| JP2679273B2 JP2679273B2 (ja) | 1997-11-19 |
Family
ID=16003299
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17585089A Expired - Fee Related JP2679273B2 (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | 薄膜製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2679273B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006249506A (ja) * | 2005-03-10 | 2006-09-21 | National Institute For Materials Science | バイポーラパルススパッタリング成膜装置および同装置を用いて作製される薄膜材料の製造方法 |
| KR100944868B1 (ko) * | 2009-01-07 | 2010-03-04 | 윤지훈 | 마그네트론 스퍼터링 장치 |
-
1989
- 1989-07-07 JP JP17585089A patent/JP2679273B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006249506A (ja) * | 2005-03-10 | 2006-09-21 | National Institute For Materials Science | バイポーラパルススパッタリング成膜装置および同装置を用いて作製される薄膜材料の製造方法 |
| KR100944868B1 (ko) * | 2009-01-07 | 2010-03-04 | 윤지훈 | 마그네트론 스퍼터링 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2679273B2 (ja) | 1997-11-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0547868A1 (en) | Apparatus and method for controlling plasma size and position in plasma-activated chemical vapor deposition processes | |
| JP2001508923A (ja) | 容量結合rfプラズマ反応室 | |
| KR20030071926A (ko) | 스퍼터링 타겟 어셈블리 및 이를 이용한 스퍼터링 장비 | |
| US20040089541A1 (en) | Sputtering device | |
| TW200502426A (en) | Deposition apparatus and method | |
| JPH0339470A (ja) | 薄膜製造方法 | |
| JPH04174514A (ja) | プラズマ処理装置 | |
| JPH10152772A (ja) | スパッタリング方法及び装置 | |
| KR960031641A (ko) | 콜리메이트 스퍼터링 방법과 이를 위한 장치 | |
| JPH0649936B2 (ja) | バイアススパツタリング装置 | |
| JPS61250166A (ja) | 多成分薄膜の製造方法 | |
| Felmetsger et al. | Dual cathode DC–RF and MF–RF coupled S-Guns for reactive sputtering | |
| JPH06280030A (ja) | 薄膜作成装置 | |
| JPH01319671A (ja) | 多元スパッタリング装置 | |
| JPS63210006A (ja) | アモルフアスカ−ボン薄膜の形成方法 | |
| JPS6247472A (ja) | 立方晶チツ化ホウ素膜の形成方法 | |
| JPS6013066A (ja) | マグネトロンスパツタリング電極 | |
| JP2918926B2 (ja) | 成膜方法及び装置 | |
| JPH08165569A (ja) | 反応性マグネトロンスパッタリング成膜装置 | |
| CN119710637A (zh) | 射频装置、薄膜沉积设备及电场控制方法 | |
| JP2000226649A (ja) | 高周波スパッタリング装置、その基板側及びターゲット側グランドリング、並びに、酸化絶縁膜の成膜方法 | |
| JP3130977B2 (ja) | 薄膜形成方法および装置 | |
| JPS6393861A (ja) | 低応力薄膜の堆積方法 | |
| JPH0949077A (ja) | Dcスパッタリング装置 | |
| KR0138905B1 (ko) | 절연물박막의 코팅방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070801 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080801 Year of fee payment: 11 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |