JPH0342419B2 - - Google Patents
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- JPH0342419B2 JPH0342419B2 JP57134140A JP13414082A JPH0342419B2 JP H0342419 B2 JPH0342419 B2 JP H0342419B2 JP 57134140 A JP57134140 A JP 57134140A JP 13414082 A JP13414082 A JP 13414082A JP H0342419 B2 JPH0342419 B2 JP H0342419B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/56—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は水晶発振式水分計システムに関す
る。詳しくは試料ガスまたは他の対照ガスの第１
水分除去路と試料ガス導入路とを水晶発振式水分
計システムに連結し、更に上記第１水分除去路と
並列に第２水分除去路を並列に連結してなる水晶
発振式水分計システムに関する。
る。詳しくは試料ガスまたは他の対照ガスの第１
水分除去路と試料ガス導入路とを水晶発振式水分
計システムに連結し、更に上記第１水分除去路と
並列に第２水分除去路を並列に連結してなる水晶
発振式水分計システムに関する。
従来、水晶発振式水分計で試料ガスの水分を測
定する場合は、一般に第１図に示したようなシス
テムが用いられており、以下に説明する。
定する場合は、一般に第１図に示したようなシス
テムが用いられており、以下に説明する。
まず試料ガスまたはその他の対照ガスがその導
入路１を通じて水分除去路２に送られて通過して
水分が除去され開かれた電磁弁３を通過して水晶
発振式水分計４に送られその発振周波数が測定さ
れる〔このとき電磁弁５は閉鎖〕、次いで、電磁
弁３を閉じて電磁弁５を開き、試料ガスを試料ガ
ス導入路６から電磁弁５を通過させて水分計４に
送りその発振周波数が測定される。このようにし
て得られたふたつの発振周波数データの差から試
料ガスの水分が測定される。また上記操作を連続
的に繰返すことによつて連続的に試料ガスの水分
含有量が測定される。そして一般に水分除去器２
にはモレキユラーシーブ、シリカゲルなどの吸湿
剤が充填されているがその吸湿能力が低下すると
水分の測定誤差の原因になるという問題点があ
る。
入路１を通じて水分除去路２に送られて通過して
水分が除去され開かれた電磁弁３を通過して水晶
発振式水分計４に送られその発振周波数が測定さ
れる〔このとき電磁弁５は閉鎖〕、次いで、電磁
弁３を閉じて電磁弁５を開き、試料ガスを試料ガ
ス導入路６から電磁弁５を通過させて水分計４に
送りその発振周波数が測定される。このようにし
て得られたふたつの発振周波数データの差から試
料ガスの水分が測定される。また上記操作を連続
的に繰返すことによつて連続的に試料ガスの水分
含有量が測定される。そして一般に水分除去器２
にはモレキユラーシーブ、シリカゲルなどの吸湿
剤が充填されているがその吸湿能力が低下すると
水分の測定誤差の原因になるという問題点があ
る。
この発明は上記問題点を解消するためになされ
たもので、試料ガスまたは他の対照ガスの導入路
と、水分除去器の前後にそれぞれ開閉弁を備えた
第１水分除去路と、水晶発振式水分計とをこの順
に適宜連結すると共に、開閉弁を備えた試料ガス
導入路を前記水晶発振式水分計に連結し、更にも
うひとつの水分除去器の前後にそれぞれ開閉弁を
備えた第２水分除去路を前記第１水分除去路に並
列に連結してなる水晶発振式水分計システムを提
供するもである。
たもので、試料ガスまたは他の対照ガスの導入路
と、水分除去器の前後にそれぞれ開閉弁を備えた
第１水分除去路と、水晶発振式水分計とをこの順
に適宜連結すると共に、開閉弁を備えた試料ガス
導入路を前記水晶発振式水分計に連結し、更にも
うひとつの水分除去器の前後にそれぞれ開閉弁を
備えた第２水分除去路を前記第１水分除去路に並
列に連結してなる水晶発振式水分計システムを提
供するもである。
このシステムは、第１水分除去路の外にこれと
並列に第２水分除去路を設置したことを特徴とす
るものである。試料ガス導入路からの試料ガスの
該水分計への導入と試料ガスまたは他の対照ガス
の導入路から第１水分除去器を経由した試料ガス
または他の対照ガスの該水分計への導入を交互に
行い両者のガスによる発振周波数の差によつて試
料ガス水分が測定される。そして時々、第１水分
除去路の代りに第２水分除去路を用いて第１水分
除去路の水分吸収能を検査しながら水分測定を行
い、水分吸収能が一定限度以下に低下した場合、
第１水分除去路の代りに第２水分除去路が用いら
れる。従つて水分測定精度は極めて高いものであ
る。そして第２水分除去路使用している間に、第
１水分除去路の水分除去器を吸湿能力の高いもの
と交換するとか、吸湿剤の吸湿能力を復活させる
などの処理を行い、試料ガス中の水分測定を連続
して行うことができる。
並列に第２水分除去路を設置したことを特徴とす
るものである。試料ガス導入路からの試料ガスの
該水分計への導入と試料ガスまたは他の対照ガス
の導入路から第１水分除去器を経由した試料ガス
または他の対照ガスの該水分計への導入を交互に
行い両者のガスによる発振周波数の差によつて試
料ガス水分が測定される。そして時々、第１水分
除去路の代りに第２水分除去路を用いて第１水分
除去路の水分吸収能を検査しながら水分測定を行
い、水分吸収能が一定限度以下に低下した場合、
第１水分除去路の代りに第２水分除去路が用いら
れる。従つて水分測定精度は極めて高いものであ
る。そして第２水分除去路使用している間に、第
１水分除去路の水分除去器を吸湿能力の高いもの
と交換するとか、吸湿剤の吸湿能力を復活させる
などの処理を行い、試料ガス中の水分測定を連続
して行うことができる。
次に図面によつてこの発明を詳細に説明する。
第２図はこの発明のシステムの一実施例の構成説
明図である。
第２図はこの発明のシステムの一実施例の構成説
明図である。
試料ガスまたはその他の対照ガスの導入路１０
と、電磁弁１２と水分除去器１３と電磁弁１４を
備えた第１除去路１１と、水晶発振式水分計１５
とが連結され、一方電磁弁１７を有する試料ガス
導入路１６が水分計１５に連結されている。さら
に電磁弁１９と水分除去器２０と電磁弁２１を備
えた第２水分除去路１８が前記第１水分除去路１
１と並列に連結されている。
と、電磁弁１２と水分除去器１３と電磁弁１４を
備えた第１除去路１１と、水晶発振式水分計１５
とが連結され、一方電磁弁１７を有する試料ガス
導入路１６が水分計１５に連結されている。さら
に電磁弁１９と水分除去器２０と電磁弁２１を備
えた第２水分除去路１８が前記第１水分除去路１
１と並列に連結されている。
試料ガスの水分含有量の測定は次のような操作
によつて行われる。
によつて行われる。
試料ガスまたは他の対照ガスが一定時間、その
導入路１０から導入され、第１水分除去路１１の
電磁弁１２と水分除去器１３と電磁弁１４とを経
由してその水分が実質的に除去された水分計１５
に送られる〔この際第２水分除去路１８の電磁弁
１９，２１と試料ガス導入路１６の電磁弁１７は
閉鎖〕。次いで試料ガスが一定時間、その導入路
１６から導入され、電磁弁１７を通過させて水分
計１５に送られる〔この際他の電磁弁は閉鎖〕。
そしてこの２つの操作によつて水分計１５から発
振される２つの周波数の差から試料ガスの水分含
有量が測定される。この操作を連続して繰返し、
試料ガスの水分含有量が連続的に測定される。そ
して適宜時間間隔をおいて、第１水分除去路１１
の代りに第２水分除去路１８を用いて（すなわち
電磁弁１２と１４を閉鎖して電磁弁１９と２１を
開いて）試料ガスまたは他の対照ガスを水分計１
５に送り、その場合発振周波数と第１水分除去路
１１を用いて得られた発振周波数との差が一定限
度以上高くなれば（例えば水分量として1ppm以
上に相当）、第１水分除去路１１から第２水分除
去路１８に切換えられる。そしてその間に水分除
去器１３を取替えるなどの方法で第１水分除去路
１１の水分除去性能を復活させる。このような操
作を繰返して試料ガスの水分量の連続測定がなさ
れる。
導入路１０から導入され、第１水分除去路１１の
電磁弁１２と水分除去器１３と電磁弁１４とを経
由してその水分が実質的に除去された水分計１５
に送られる〔この際第２水分除去路１８の電磁弁
１９，２１と試料ガス導入路１６の電磁弁１７は
閉鎖〕。次いで試料ガスが一定時間、その導入路
１６から導入され、電磁弁１７を通過させて水分
計１５に送られる〔この際他の電磁弁は閉鎖〕。
そしてこの２つの操作によつて水分計１５から発
振される２つの周波数の差から試料ガスの水分含
有量が測定される。この操作を連続して繰返し、
試料ガスの水分含有量が連続的に測定される。そ
して適宜時間間隔をおいて、第１水分除去路１１
の代りに第２水分除去路１８を用いて（すなわち
電磁弁１２と１４を閉鎖して電磁弁１９と２１を
開いて）試料ガスまたは他の対照ガスを水分計１
５に送り、その場合発振周波数と第１水分除去路
１１を用いて得られた発振周波数との差が一定限
度以上高くなれば（例えば水分量として1ppm以
上に相当）、第１水分除去路１１から第２水分除
去路１８に切換えられる。そしてその間に水分除
去器１３を取替えるなどの方法で第１水分除去路
１１の水分除去性能を復活させる。このような操
作を繰返して試料ガスの水分量の連続測定がなさ
れる。
なおこれらの操作は手動で行うことができる
が、電子式制御系を用いて自動的に行うこともで
きる。自動的に行つて得られた発振周波数のチヤ
ートの一例を第３図に示した。すなわちＢ、Ｄ、
Ｆ、Ｉ、ＫおよびＭのレベルは、電磁弁１２，１
４，１９，２１を閉じ電磁弁１７を開いて試料ガ
スを試料ガス導入路１６から導入して水分計１５
に送つて得られた発振周波数である。またＡ、
Ｃ、ＥおよびＧのレベルは第１水分除去路１１に
試料ガスを通過させてその水分を実質的に除去し
て水分計１５に送つて得られた発振周波数であ
る。そしてＨのレベルは水分除去路を第１から第
２に切換えて得た発振周波数であり、ＧとＨとの
レベルの差が1ppm以上の水分量に相当する差で
あつたのでＨ以後は第１水分除去路１１の代りに
第２水分除去路１８が用いられ、Ｊ、ＬおよびＮ
の発振周波数が得られた。
が、電子式制御系を用いて自動的に行うこともで
きる。自動的に行つて得られた発振周波数のチヤ
ートの一例を第３図に示した。すなわちＢ、Ｄ、
Ｆ、Ｉ、ＫおよびＭのレベルは、電磁弁１２，１
４，１９，２１を閉じ電磁弁１７を開いて試料ガ
スを試料ガス導入路１６から導入して水分計１５
に送つて得られた発振周波数である。またＡ、
Ｃ、ＥおよびＧのレベルは第１水分除去路１１に
試料ガスを通過させてその水分を実質的に除去し
て水分計１５に送つて得られた発振周波数であ
る。そしてＨのレベルは水分除去路を第１から第
２に切換えて得た発振周波数であり、ＧとＨとの
レベルの差が1ppm以上の水分量に相当する差で
あつたのでＨ以後は第１水分除去路１１の代りに
第２水分除去路１８が用いられ、Ｊ、ＬおよびＮ
の発振周波数が得られた。
さらに、この発明のシステムの別の実施例の構
成説明図を第４図と第５図とに示した。
成説明図を第４図と第５図とに示した。
第４図に示したこの発明のシステムの実施例
は、第１および第２水分除去路３１および３８の
電磁弁を３方弁とし、各除去路の一方の弁３２，
３９に各除去器内の吸湿剤乾燥用の乾燥ガス導入
路４２，４４を連結し、各除去路の他方の弁３
４，４１に該ガスの排出路４３，４５を連結した
ものである。そして例えば第１水分除去路３１を
用いて水分測定を行つていた場合にその水分除去
器３３の吸湿能力か低下したことが判明した際、
電磁弁３２と３４を閉じ一方電磁弁３９と４１と
を開いて試料ガスまたは他の対照ガスをその導入
部３０から第２水分除去路３８を通過させて、第
１水分除去路３１を第２水分除去路３８に切換え
て試料ガス水分の測定を続ける。この間に三方電
磁弁の３２と３４を切替え、乾燥ガスが乾燥ガス
導入路４２から電磁弁３２を経て送られ水分除去
器３３内を通過し電磁弁３４を経て乾燥ガス排出
路４３から排出され、水分除去器３３内に充填さ
れたモレキユラーシーブ、シリカゲルなどの吸湿
剤が乾燥される。このようにして吸湿剤の水分吸
収能が再生され、第２水分除去路３８中の水分除
去器４０の吸湿能力が一定限度以下に低下したと
きの切替えにそなえられる。この実施例のシステ
ムは特別の場合を除いて水分除去器を取外さずに
その吸湿能力を再生することができる。更にこれ
らの水分除去器にその加熱器を設けたシステムも
この発明に含まれ、水分除去器の吸湿能力再生時
にこの加熱器で水分除去器を加熱することによつ
てより速やかに水分除去器の吸湿能力を再生でき
るものである。
は、第１および第２水分除去路３１および３８の
電磁弁を３方弁とし、各除去路の一方の弁３２，
３９に各除去器内の吸湿剤乾燥用の乾燥ガス導入
路４２，４４を連結し、各除去路の他方の弁３
４，４１に該ガスの排出路４３，４５を連結した
ものである。そして例えば第１水分除去路３１を
用いて水分測定を行つていた場合にその水分除去
器３３の吸湿能力か低下したことが判明した際、
電磁弁３２と３４を閉じ一方電磁弁３９と４１と
を開いて試料ガスまたは他の対照ガスをその導入
部３０から第２水分除去路３８を通過させて、第
１水分除去路３１を第２水分除去路３８に切換え
て試料ガス水分の測定を続ける。この間に三方電
磁弁の３２と３４を切替え、乾燥ガスが乾燥ガス
導入路４２から電磁弁３２を経て送られ水分除去
器３３内を通過し電磁弁３４を経て乾燥ガス排出
路４３から排出され、水分除去器３３内に充填さ
れたモレキユラーシーブ、シリカゲルなどの吸湿
剤が乾燥される。このようにして吸湿剤の水分吸
収能が再生され、第２水分除去路３８中の水分除
去器４０の吸湿能力が一定限度以下に低下したと
きの切替えにそなえられる。この実施例のシステ
ムは特別の場合を除いて水分除去器を取外さずに
その吸湿能力を再生することができる。更にこれ
らの水分除去器にその加熱器を設けたシステムも
この発明に含まれ、水分除去器の吸湿能力再生時
にこの加熱器で水分除去器を加熱することによつ
てより速やかに水分除去器の吸湿能力を再生でき
るものである。
第５図に示したこの発明のシステムの実施例
は、第４図に示した実施例のシステムの２つの水
分除去器の間にこれらに接してサーモモジユール
を設置したものである。
は、第４図に示した実施例のシステムの２つの水
分除去器の間にこれらに接してサーモモジユール
を設置したものである。
例えば第２水分除去路５８を用いて試料ガス水
分を測定中で一方第１水分除去路５１の三方電磁
弁５２，５４を切替えて乾燥ガスをその導入路６
２から導入して水分除去器５３内を通過させて充
填されている吸湿剤を乾燥させ、乾燥ガス排出路
６３から排出している場合についてその作動を説
明する。この場合、サーモモジユール６７に直流
電流を通して水分除去器５３と接している側の面
６８で発熱させて水分除去器５３を加熱すること
によつて水分除去器５３の吸湿能力再生を速める
とともに水分除去器６０と接してる側の面６９で
吸熱させて水分除去器６０を冷却してその吸湿能
力を高めることができる。また電流を逆方向に通
すことによつて逆の加熱、冷却を行うこともでき
る。
分を測定中で一方第１水分除去路５１の三方電磁
弁５２，５４を切替えて乾燥ガスをその導入路６
２から導入して水分除去器５３内を通過させて充
填されている吸湿剤を乾燥させ、乾燥ガス排出路
６３から排出している場合についてその作動を説
明する。この場合、サーモモジユール６７に直流
電流を通して水分除去器５３と接している側の面
６８で発熱させて水分除去器５３を加熱すること
によつて水分除去器５３の吸湿能力再生を速める
とともに水分除去器６０と接してる側の面６９で
吸熱させて水分除去器６０を冷却してその吸湿能
力を高めることができる。また電流を逆方向に通
すことによつて逆の加熱、冷却を行うこともでき
る。
第１図は水晶発振式水分計システムの従来例の
構成説明図、第２図、第４図および第５図はこの
発明の水晶発振式水分計システムの実施例の構成
説明図、第３図は第２図の水晶発振式水分計シス
テムによつて得られた発振周波数のチヤートであ
る。 １，１０，３０，５０……試料ガスまたは他の
対照ガス導入路、２，１３，２０，３３，４０，
５３，６０……水分除去器、４，１５，３５，５
５……水晶発振式水分計、６，１６，３６，５６
……試料ガス導入路、３，５，１２，１４，１
９，２１……電磁弁、３２，３４，３９，４１，
５２，５４，５９，６１……三方電磁弁、４２，
４４，６２，６４……乾燥ガス導入路、４３，４
５，６３，６５……乾燥ガス排出路、６７……サ
ーモモジユール、６８，６９……サーモモジユー
ルの発熱または吸熱面。
構成説明図、第２図、第４図および第５図はこの
発明の水晶発振式水分計システムの実施例の構成
説明図、第３図は第２図の水晶発振式水分計シス
テムによつて得られた発振周波数のチヤートであ
る。 １，１０，３０，５０……試料ガスまたは他の
対照ガス導入路、２，１３，２０，３３，４０，
５３，６０……水分除去器、４，１５，３５，５
５……水晶発振式水分計、６，１６，３６，５６
……試料ガス導入路、３，５，１２，１４，１
９，２１……電磁弁、３２，３４，３９，４１，
５２，５４，５９，６１……三方電磁弁、４２，
４４，６２，６４……乾燥ガス導入路、４３，４
５，６３，６５……乾燥ガス排出路、６７……サ
ーモモジユール、６８，６９……サーモモジユー
ルの発熱または吸熱面。
Claims (1)
- １ 試料ガスまたは他の対照ガスの導入路と、水
分除去器の前後にそれぞれ三方開閉弁を備えた第
１水分除去路と、水晶発振式水分計とをこの順に
適宜連結すると共に、開閉弁を備えた試料ガス導
入路を前記水晶発振式水分計に連結し、更にもう
ひとつの水分除去器の前後にそれぞれ三方開閉弁
を備えた第２水分除去路を前記第１水分除去路に
並列に連結し、さらに上記のふたつの水分除去器
間にサーモモジユールを設置してなる水晶発振式
水分計システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13414082A JPS5924252A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 水晶発振式水分計システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13414082A JPS5924252A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 水晶発振式水分計システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5924252A JPS5924252A (ja) | 1984-02-07 |
| JPH0342419B2 true JPH0342419B2 (ja) | 1991-06-27 |
Family
ID=15121403
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13414082A Granted JPS5924252A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 水晶発振式水分計システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5924252A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59100847A (ja) * | 1982-12-02 | 1984-06-11 | Seikosha Co Ltd | 湿度検出装置 |
| JPS60201233A (ja) * | 1984-03-26 | 1985-10-11 | Shimadzu Corp | 成分濃度測定方法 |
| JPS61196134A (ja) * | 1985-02-27 | 1986-08-30 | Shimadzu Corp | 水分測定セル |
| JPH0446203Y2 (ja) * | 1986-09-30 | 1992-10-29 | ||
| JPS63111441A (ja) * | 1986-10-30 | 1988-05-16 | Shimadzu Corp | 水分計 |
| JPH0769256B2 (ja) * | 1987-06-19 | 1995-07-26 | 株式会社島津製作所 | 水晶発振式水分計 |
| JP3830788B2 (ja) * | 2001-08-27 | 2006-10-11 | 三菱電機株式会社 | 臭気管理装置および臭気管理方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5644826A (en) * | 1979-09-21 | 1981-04-24 | Toshiba Corp | Measuring method and system of tritium concentration |
-
1982
- 1982-07-30 JP JP13414082A patent/JPS5924252A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5924252A (ja) | 1984-02-07 |
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