JPH0346919B2 - - Google Patents
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- JPH0346919B2 JPH0346919B2 JP61096604A JP9660486A JPH0346919B2 JP H0346919 B2 JPH0346919 B2 JP H0346919B2 JP 61096604 A JP61096604 A JP 61096604A JP 9660486 A JP9660486 A JP 9660486A JP H0346919 B2 JPH0346919 B2 JP H0346919B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- input
- charge transfer
- charge
- output
- Prior art date
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/34—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
- G01R13/345—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies for displaying sampled signals by using digital processors by intermediate A.D. and D.A. convertors (control circuits for CRT indicators)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はアナログ入力信号の高速取込・一時記
憶に適した電荷転送装置に関する。
憶に適した電荷転送装置に関する。
近年のシリコンプレーナ技術の進歩により、デ
ジタル及びアナログ信号処理の分野において、性
能及び費用の面で革命ともいうべき状態が起き
た。この進歩における重要な1ステツプは、入力
信号の多数のサンプルを記憶することのできる電
荷転送構造の開発であつた。信号処理装置におけ
る電荷転送素子の利点は、信号を記憶できること
に加えて、実時間で動作する必要がないことであ
る。即ち、相の歩進は、その素子に関連した物理
現象によつてではなく、外部から印加するクロツ
ク信号列によつて行われることである。このた
め、この素子は、タスク分割コンピユータ(task
−sharedcomputer)による信号処理を可能にす
る。直列電荷転送構造は、その長さが長くなると
転送効率が悪くなり、入力信号を表わす電荷の位
置誤差が累積されるので、転送長が制限される。
また、高周波数で作動される長い直列レジスタに
おいては転送ゲート容量が増加する。このような
問題は、直列−並列−直列SPS構造を用いたり電
荷転送アレイを切替えたりすることにより軽減で
きた。
ジタル及びアナログ信号処理の分野において、性
能及び費用の面で革命ともいうべき状態が起き
た。この進歩における重要な1ステツプは、入力
信号の多数のサンプルを記憶することのできる電
荷転送構造の開発であつた。信号処理装置におけ
る電荷転送素子の利点は、信号を記憶できること
に加えて、実時間で動作する必要がないことであ
る。即ち、相の歩進は、その素子に関連した物理
現象によつてではなく、外部から印加するクロツ
ク信号列によつて行われることである。このた
め、この素子は、タスク分割コンピユータ(task
−sharedcomputer)による信号処理を可能にす
る。直列電荷転送構造は、その長さが長くなると
転送効率が悪くなり、入力信号を表わす電荷の位
置誤差が累積されるので、転送長が制限される。
また、高周波数で作動される長い直列レジスタに
おいては転送ゲート容量が増加する。このような
問題は、直列−並列−直列SPS構造を用いたり電
荷転送アレイを切替えたりすることにより軽減で
きた。
しかしながら、入力回路、出力増幅器、及び特
にクロツク信号の発生・分配のための回路のよう
な周辺回路によつて素子の最高クロツク周波数が
制限された。
にクロツク信号の発生・分配のための回路のよう
な周辺回路によつて素子の最高クロツク周波数が
制限された。
したがつて、本発明の目的は、改良された電荷
転送装置を提供することである。
転送装置を提供することである。
本発明の他の目的は、アナログ入力信号がサン
プリングされる速度を高めるために切替データ記
憶を行う改良された電荷転送装置を提供すること
である。
プリングされる速度を高めるために切替データ記
憶を行う改良された電荷転送装置を提供すること
である。
本発明の他の目的は、切替入力される複数の遅
延線内の信号伝播用に共通のクロツク信号を用い
る信号取込回路用多重アナログ遅延線記憶素子を
提供することである。
延線内の信号伝播用に共通のクロツク信号を用い
る信号取込回路用多重アナログ遅延線記憶素子を
提供することである。
本発明の他の目的は、共通のクロツク駆動回路
を有する多重電荷接合素子CCD遅延線を用いた
アナログ信号取込装置を提供することである。
を有する多重電荷接合素子CCD遅延線を用いた
アナログ信号取込装置を提供することである。
本発明の電荷転送装置は、複数の直列電荷転送
セルを含み、入力信号の第1の選択された電荷サ
ンプル群を順次転送する第1電荷転送手段と、複
数の直列電荷転送セルを含み、上記入力信号の第
2の選択された電荷サンプル群を順次転送する第
2電荷転送手段と、上記第2及び第1電荷転送手
段に共通接続され、上記第1及び第2直列電荷転
送手段の電荷サンプル群を順次転送させる駆動手
段と、上記入力信号を交互に切り替えて上記第1
及び第2の選択された電荷サンプル群を夫々上記
第1及び第2電荷転送手段に注入する入力手段
と、この入力手段と上記第1及び第2電荷転送手
段の出力端との間に設けられ、上記第1及び第2
電荷転送手段の出力電荷サンプルの出力時点を一
致させる電荷転送調整手段と、上記第1及び第2
直列電荷転送手段の出力信号を同時に検出する出
力検出手段とで構成されている。
セルを含み、入力信号の第1の選択された電荷サ
ンプル群を順次転送する第1電荷転送手段と、複
数の直列電荷転送セルを含み、上記入力信号の第
2の選択された電荷サンプル群を順次転送する第
2電荷転送手段と、上記第2及び第1電荷転送手
段に共通接続され、上記第1及び第2直列電荷転
送手段の電荷サンプル群を順次転送させる駆動手
段と、上記入力信号を交互に切り替えて上記第1
及び第2の選択された電荷サンプル群を夫々上記
第1及び第2電荷転送手段に注入する入力手段
と、この入力手段と上記第1及び第2電荷転送手
段の出力端との間に設けられ、上記第1及び第2
電荷転送手段の出力電荷サンプルの出力時点を一
致させる電荷転送調整手段と、上記第1及び第2
直列電荷転送手段の出力信号を同時に検出する出
力検出手段とで構成されている。
本発明の電荷転送装置では、入力手段により入
力信号を交互に切り替え、2つの電荷転送手段に
電荷サンプルを交互に分割注入し、これら2つの
電荷転送手段に共通の駆動手段を接続して電荷サ
ンプルを順次転送させ、これら2つの電荷転送手
段の出力電荷サンプルに出力時点を一致させるこ
とにより同時に検出するので、出力検出手段が電
荷サンプルを検出する周波数は、入力手段が入力
信号を分割注入する周波数の2分の1となり、実
効サンプリング周波数の半分の周波数で電荷サン
プルを検出することが可能になる。
力信号を交互に切り替え、2つの電荷転送手段に
電荷サンプルを交互に分割注入し、これら2つの
電荷転送手段に共通の駆動手段を接続して電荷サ
ンプルを順次転送させ、これら2つの電荷転送手
段の出力電荷サンプルに出力時点を一致させるこ
とにより同時に検出するので、出力検出手段が電
荷サンプルを検出する周波数は、入力手段が入力
信号を分割注入する周波数の2分の1となり、実
効サンプリング周波数の半分の周波数で電荷サン
プルを検出することが可能になる。
集積回路ICやマイクロプロセツサ技術の進歩
により、オシロスコープ、スペクトラムアナライ
ザ等の計測機器の様相が一変した。即ち、信号取
込・処理回路によつて、アナログ情報が取込まれ
デジタル化され、このデジタルデータは、記憶さ
れた後、この取込信号の特定の特徴を高めたり把
えたりするために入力信号の固有の周波数と異な
る選択可能な周波数でアクセスされ、この処理後
のデジタルデータは表示のために再びアナログ信
号に変換される。
により、オシロスコープ、スペクトラムアナライ
ザ等の計測機器の様相が一変した。即ち、信号取
込・処理回路によつて、アナログ情報が取込まれ
デジタル化され、このデジタルデータは、記憶さ
れた後、この取込信号の特定の特徴を高めたり把
えたりするために入力信号の固有の周波数と異な
る選択可能な周波数でアクセスされ、この処理後
のデジタルデータは表示のために再びアナログ信
号に変換される。
第1図を参照するに、信号取込回路10は、入
力回路14の入力端子12にアナログ入力信号を
受ける。入力回路14は、例えば前置増幅器、フ
イルタ等を含む。入力回路15の出力端から入力
信号は次に、信号線15を介して一時記憶用アナ
ログ信号遅延線16に入る。入力回路14と遅延
線16のクロツク駆動回路22とを制御するため
のタイミング信号及びクロツクパルスは、マスタ
ークロツク発生器18及びクロツクタイミング回
路20によつて発生される。外部ソース26か
ら、または信号バス28経由で内部機器マイクロ
プロセツサ(図示せず)からトリガ信号を受ける
トリガ回路24は、時間軸制御回路30に接続さ
れ、この制御回路30は、入力信号取込及び記憶
動作を制御するためタイミング回路20に接続さ
れる。
力回路14の入力端子12にアナログ入力信号を
受ける。入力回路14は、例えば前置増幅器、フ
イルタ等を含む。入力回路15の出力端から入力
信号は次に、信号線15を介して一時記憶用アナ
ログ信号遅延線16に入る。入力回路14と遅延
線16のクロツク駆動回路22とを制御するため
のタイミング信号及びクロツクパルスは、マスタ
ークロツク発生器18及びクロツクタイミング回
路20によつて発生される。外部ソース26か
ら、または信号バス28経由で内部機器マイクロ
プロセツサ(図示せず)からトリガ信号を受ける
トリガ回路24は、時間軸制御回路30に接続さ
れ、この制御回路30は、入力信号取込及び記憶
動作を制御するためタイミング回路20に接続さ
れる。
従来のオシロスコープでは、トリガ信号によつ
て表示掃引信号を起動し、入力信号の表示を開始
させるようにしていたが、デジタル処理技術にお
いては、トリガ信号発生以前に取込まれた入力信
号の重要な部分を表示することができる。デジタ
ル処理技術では、トリガ信号は入力データの取込
を停止し、取込まれたデータの出力処理を開始さ
せるために用いられることが多い。したがつて、
掃引信号の開始は従来ほど重要ではなくなり、ト
リガ信号は、プリトリガデータ及びポストトリガ
データの境界の点としての新たな重要性をもつよ
うになつた。
て表示掃引信号を起動し、入力信号の表示を開始
させるようにしていたが、デジタル処理技術にお
いては、トリガ信号発生以前に取込まれた入力信
号の重要な部分を表示することができる。デジタ
ル処理技術では、トリガ信号は入力データの取込
を停止し、取込まれたデータの出力処理を開始さ
せるために用いられることが多い。したがつて、
掃引信号の開始は従来ほど重要ではなくなり、ト
リガ信号は、プリトリガデータ及びポストトリガ
データの境界の点としての新たな重要性をもつよ
うになつた。
信号線15上の入力信号は、アナログ遅延線1
6の2個の記憶素子31,32に切替入力
(demultiplex)され、信号線33,34を介し
て同時にサンプル・ホールドS/H回路36及び
結合増幅器38,40に出力される。(S/H)
回路36及び結合増幅器38,40は、S/H−
MUXタイミング回路42を通してクロツクタイ
ミング回路20から導かれたタイミング信号によ
りイネーブルされ、再結合された入力信号は共通
信号線44を介して逐次比較型アナログデジタル
(A/D)変換器46に入力される。A/D変換
器46からのデジタルデータは、取込記憶装置4
8に記憶され、その後、更に信号処理を行つたり
表示したりする際にバス50を介して内部マイク
ロプロセツサの制御の下に読出される。
6の2個の記憶素子31,32に切替入力
(demultiplex)され、信号線33,34を介し
て同時にサンプル・ホールドS/H回路36及び
結合増幅器38,40に出力される。(S/H)
回路36及び結合増幅器38,40は、S/H−
MUXタイミング回路42を通してクロツクタイ
ミング回路20から導かれたタイミング信号によ
りイネーブルされ、再結合された入力信号は共通
信号線44を介して逐次比較型アナログデジタル
(A/D)変換器46に入力される。A/D変換
器46からのデジタルデータは、取込記憶装置4
8に記憶され、その後、更に信号処理を行つたり
表示したりする際にバス50を介して内部マイク
ロプロセツサの制御の下に読出される。
アナログ遅延線16は2個のCCD31,32
を有するNMOS・ICから成る。CCD31,32
は、高速サンプリングと、入力信号の1024サンプ
ルまでの一時的アナログ記憶とを行うアナログシ
フトレジスタとして働く。遅延線16のアナログ
サンプリング帯域幅は500MHz乃至600MHzであ
り、入力サンプリング速度は500Mサンプル/秒
に及ぶ。信号線15上の入力信号は、両CCD3
1,32に印加され、夫々信号線56,58のサ
プリング信号S1、S3に制御されてCCD31,
32に切替入力される。両CCD31,32には、
クロツク駆動回路22からバス60を介して共通
のクロツク信号が印加される。
を有するNMOS・ICから成る。CCD31,32
は、高速サンプリングと、入力信号の1024サンプ
ルまでの一時的アナログ記憶とを行うアナログシ
フトレジスタとして働く。遅延線16のアナログ
サンプリング帯域幅は500MHz乃至600MHzであ
り、入力サンプリング速度は500Mサンプル/秒
に及ぶ。信号線15上の入力信号は、両CCD3
1,32に印加され、夫々信号線56,58のサ
プリング信号S1、S3に制御されてCCD31,
32に切替入力される。両CCD31,32には、
クロツク駆動回路22からバス60を介して共通
のクロツク信号が印加される。
第2図は、第1図の遅延線16を詳細にしたも
のである。CCD31,32はいずれも、SPS構
造になつている。尚、以下の説明では、一方の
CCD32について述べることが多いが、この説
明は殆んど両CCD31,32に該当し、CCD3
1内の対応する構成要素は同じ参照符号の後に
“′”を付して第2図に示されている。CCD遅延
線素子32は、16個の電荷転送セルから成る直列
入力レジスタ62を有する。この各セルは4個の
電荷転送電極1,2,3,4を有し、この番号付
けされた各電極は、4相クロツク(これは当該分
野で周知の手法でCCD内の電荷のパケツト(か
たまり)を伝播させる)の1相に対応する。夫々
33個の電荷転送セルから成る16個の並列レジスタ
64によつて、直列入力レジスタ62は直列出力
レジスタ66に接続され、周知のSPS・CCD構
造が出来上がる。信号線15上の入力信号は、直
列入力レジスタ62,62′の各入力ダイオード
70,68に共通に入力される。チヤンネル1の
CCD31のサンプリング電極72には端子56
からサンプリング信号S1が印加され、チヤンネ
ル2のCCD32のサンプリング電極74には端
子58からサンプリング信号S3が印加される。
信号線76を介して並列レジスタ64,64′の
各転送電極T1に印加される共通タイミング信号
T1によつて、直列入力レジスタ62,62′の
データは夫々並列レジスタ64,64′に転送さ
れる。また、信号線77を介して並列レジスタ6
4,64′の転送電極T0に印加される共通タイ
ミング信号T0によつて、並列レジスタ64,6
4′のデータは夫々直列出力レジスタ66,6
6′に転送される。チヤンネル2のCCD32の直
列入力レジスタ62には、入力回路(入力ダイオ
ード及びサンプリング電極74と最初の4電極電
荷転送セルとの間に2つの付加転送電極78,7
9が設けられているが、チヤンネル1のCCD3
1にはそのような電極は設けられていない。両直
列入力レジスタ62,62′の転送電極1〜4に
は夫々クロツク信号φ1A〜φ4Aが添加され
る。CCD31,32の両並列レジスタ64,6
4′の転送電極1〜4には夫々クロツク信号φ1
B〜φ4Bが印加される。更にCCD31,32
の両直列出力レジスタ66,66′の転送電極1
〜4には夫々クロツク信号φ1C〜φ4Cが印加
され、両直列出力レジスタ66,66′の出力回
路内のリセツトゲート84,84′にはリセツト
クロツクRが印加される。
のである。CCD31,32はいずれも、SPS構
造になつている。尚、以下の説明では、一方の
CCD32について述べることが多いが、この説
明は殆んど両CCD31,32に該当し、CCD3
1内の対応する構成要素は同じ参照符号の後に
“′”を付して第2図に示されている。CCD遅延
線素子32は、16個の電荷転送セルから成る直列
入力レジスタ62を有する。この各セルは4個の
電荷転送電極1,2,3,4を有し、この番号付
けされた各電極は、4相クロツク(これは当該分
野で周知の手法でCCD内の電荷のパケツト(か
たまり)を伝播させる)の1相に対応する。夫々
33個の電荷転送セルから成る16個の並列レジスタ
64によつて、直列入力レジスタ62は直列出力
レジスタ66に接続され、周知のSPS・CCD構
造が出来上がる。信号線15上の入力信号は、直
列入力レジスタ62,62′の各入力ダイオード
70,68に共通に入力される。チヤンネル1の
CCD31のサンプリング電極72には端子56
からサンプリング信号S1が印加され、チヤンネ
ル2のCCD32のサンプリング電極74には端
子58からサンプリング信号S3が印加される。
信号線76を介して並列レジスタ64,64′の
各転送電極T1に印加される共通タイミング信号
T1によつて、直列入力レジスタ62,62′の
データは夫々並列レジスタ64,64′に転送さ
れる。また、信号線77を介して並列レジスタ6
4,64′の転送電極T0に印加される共通タイ
ミング信号T0によつて、並列レジスタ64,6
4′のデータは夫々直列出力レジスタ66,6
6′に転送される。チヤンネル2のCCD32の直
列入力レジスタ62には、入力回路(入力ダイオ
ード及びサンプリング電極74と最初の4電極電
荷転送セルとの間に2つの付加転送電極78,7
9が設けられているが、チヤンネル1のCCD3
1にはそのような電極は設けられていない。両直
列入力レジスタ62,62′の転送電極1〜4に
は夫々クロツク信号φ1A〜φ4Aが添加され
る。CCD31,32の両並列レジスタ64,6
4′の転送電極1〜4には夫々クロツク信号φ1
B〜φ4Bが印加される。更にCCD31,32
の両直列出力レジスタ66,66′の転送電極1
〜4には夫々クロツク信号φ1C〜φ4Cが印加
され、両直列出力レジスタ66,66′の出力回
路内のリセツトゲート84,84′にはリセツト
クロツクRが印加される。
要するに、第2図のアナログ遅延線はSPS構造
の2チヤンネルを構成する2個の記憶アレイから
成り、各アレイは、16段入力レジスタと、16×33
段記憶アレイと、16段出力レジスタとから成る。
この構成は、高速信号取込のためにフアーストイ
ン・スローアウト(FISO)モードで動作する。
第2図の構成以外に、作動入出力信号を有する2
つのチヤンネルを構成する4個の記憶アレイを単
一基板上に作るようにしてもよい。両チヤンネル
の駆動には共通のクロツク信号が用いられる。
の2チヤンネルを構成する2個の記憶アレイから
成り、各アレイは、16段入力レジスタと、16×33
段記憶アレイと、16段出力レジスタとから成る。
この構成は、高速信号取込のためにフアーストイ
ン・スローアウト(FISO)モードで動作する。
第2図の構成以外に、作動入出力信号を有する2
つのチヤンネルを構成する4個の記憶アレイを単
一基板上に作るようにしてもよい。両チヤンネル
の駆動には共通のクロツク信号が用いられる。
第3図は、第2図の遅延線回路のフアーストイ
ン動作モードを示すタイミング図である。このモ
ードの期間は、φ1C〜φ4Cクロツク及びリセ
ツトクロツクが高レベルに保持される。φ1A〜
φ4Aクロツク信号は、この実施例では、4相
CCD内で電荷パケツトを転送させる図示のよう
な周知の位相関係で、所望サンプリング周波数の
半分、約250MHzまでの周波数で働く。
ン動作モードを示すタイミング図である。このモ
ードの期間は、φ1C〜φ4Cクロツク及びリセ
ツトクロツクが高レベルに保持される。φ1A〜
φ4Aクロツク信号は、この実施例では、4相
CCD内で電荷パケツトを転送させる図示のよう
な周知の位相関係で、所望サンプリング周波数の
半分、約250MHzまでの周波数で働く。
信号線15上の入力信号は、両入力ダイオード
68,70に印加され、入力ゲート72がサンプ
リング信号S1のパルスで開かれる。すると、入
力信号電荷が入力ダイオード68で決まるレベル
までS1電極72及びその隣りのφ1電極73の
下の領域に流れ込む。そこで、入力ゲート72は
閉じて、φ1電極73下に信号電荷が残る。同様
に、直列入力レジスタ62の入力ゲート74が、
サンプリング信号S3のパルスによつて開かれる
と、入力信号電荷が、入力ダイオード70で決ま
るレベルまでS3電極74及びその隣りのφ3電
極78の下に流入する。そこで、入力ゲート74
が閉じて、φ3電極78の下に信号電荷が残る。
チヤンネル2CCD32とサンプリングクロツクS
3の位相をチヤンネル1CCD31のサンプリング
クロツクS1の位相と180°ずらしておくことによ
り、各転送クロツクサイクルにつき連続した2つ
(各チヤンネルに1つ)の入力信号サンプルを取
込むことができる。その後、全信号サンプルは配
列31,32内を同時にクロツク駆動され同時に
出力端に現われる。φ2Aクロツク信号の16番目
毎のパルス発生は禁止され、代りに、T1転送信
号が発生して直列入力レジスタ62,62′から
夫々並列レジスタ64,64′にデータが転送さ
れる。並列レジスタ64,64′内の電荷パケツ
トは、φ1A〜φ4Aの周波数の1/16の周波数を有す
るφ1B〜φ4B信号で転送される。T1信号の33サ
イクル後、両遅延線にはデータが満たされ、遅延
線の動作はフアーストインモードからスローアウ
トモードに切替えられる。そこで、次に第4図の
タイミング図を参照する。スローアウトモードで
は、この実施例のφ1A〜φ4Aクロツク及びφ1C〜
φ4Cクロツクの周波数は500KHzにされ、φ1B〜
φ4Bクロツク及びT0クロツクは31.25KHzにさ
れる。各CCD遅延線31,32の出力は従来の
周知手法で同時に検出される。例えば各直列出力
レジスタ66,66′の出力回路にあるリセツト
MOSトランジスタ84,84′に共通のリセツト
信号が印加される。ソースフオロアとして働く出
力増幅器82,82′のソースで出力端80,8
0の電圧変化が検出される。
68,70に印加され、入力ゲート72がサンプ
リング信号S1のパルスで開かれる。すると、入
力信号電荷が入力ダイオード68で決まるレベル
までS1電極72及びその隣りのφ1電極73の
下の領域に流れ込む。そこで、入力ゲート72は
閉じて、φ1電極73下に信号電荷が残る。同様
に、直列入力レジスタ62の入力ゲート74が、
サンプリング信号S3のパルスによつて開かれる
と、入力信号電荷が、入力ダイオード70で決ま
るレベルまでS3電極74及びその隣りのφ3電
極78の下に流入する。そこで、入力ゲート74
が閉じて、φ3電極78の下に信号電荷が残る。
チヤンネル2CCD32とサンプリングクロツクS
3の位相をチヤンネル1CCD31のサンプリング
クロツクS1の位相と180°ずらしておくことによ
り、各転送クロツクサイクルにつき連続した2つ
(各チヤンネルに1つ)の入力信号サンプルを取
込むことができる。その後、全信号サンプルは配
列31,32内を同時にクロツク駆動され同時に
出力端に現われる。φ2Aクロツク信号の16番目
毎のパルス発生は禁止され、代りに、T1転送信
号が発生して直列入力レジスタ62,62′から
夫々並列レジスタ64,64′にデータが転送さ
れる。並列レジスタ64,64′内の電荷パケツ
トは、φ1A〜φ4Aの周波数の1/16の周波数を有す
るφ1B〜φ4B信号で転送される。T1信号の33サ
イクル後、両遅延線にはデータが満たされ、遅延
線の動作はフアーストインモードからスローアウ
トモードに切替えられる。そこで、次に第4図の
タイミング図を参照する。スローアウトモードで
は、この実施例のφ1A〜φ4Aクロツク及びφ1C〜
φ4Cクロツクの周波数は500KHzにされ、φ1B〜
φ4Bクロツク及びT0クロツクは31.25KHzにさ
れる。各CCD遅延線31,32の出力は従来の
周知手法で同時に検出される。例えば各直列出力
レジスタ66,66′の出力回路にあるリセツト
MOSトランジスタ84,84′に共通のリセツト
信号が印加される。ソースフオロアとして働く出
力増幅器82,82′のソースで出力端80,8
0の電圧変化が検出される。
第2A図は、直列出力レジスタ66,66′の
出力回路の他の構成を示す。この例では、出力レ
ジスタ66′の最後の電荷転送セル90と出力ゲ
ート80′との間に2個の付加転送電極86,8
8が設けられている。リセツトMOSトランジス
タ84′にはリセツトクロツクR2が印加され、
他方の直列出力レジスタ66の対応するリセツト
MOSトランジスタ84にはリセツトクロツクR
4が印加される。したがつて、第1図について説
明したS/H回路のような外部回路はなくてもよ
い。
出力回路の他の構成を示す。この例では、出力レ
ジスタ66′の最後の電荷転送セル90と出力ゲ
ート80′との間に2個の付加転送電極86,8
8が設けられている。リセツトMOSトランジス
タ84′にはリセツトクロツクR2が印加され、
他方の直列出力レジスタ66の対応するリセツト
MOSトランジスタ84にはリセツトクロツクR
4が印加される。したがつて、第1図について説
明したS/H回路のような外部回路はなくてもよ
い。
4相CCDを用いる遅延線では、入力信号を4
個のCCDレジスタに切替入力することもできる。
これは、第2図の2個のCCD構成について説明
したように入力側に各CCD毎に順次付加転送電
極を設け、入力サンプリング電極に4つの順次異
なる位相のサンプリング信号を印加することによ
つて行える。
個のCCDレジスタに切替入力することもできる。
これは、第2図の2個のCCD構成について説明
したように入力側に各CCD毎に順次付加転送電
極を設け、入力サンプリング電極に4つの順次異
なる位相のサンプリング信号を印加することによ
つて行える。
以上、本発明の好適実施例について説明した
が、本発明の実施に用いられる構成、配置、比
率、素子、材料、部品等について本発明の要旨を
逸脱することなく種々の変更が行えること当業者
には明らかであろう。
が、本発明の実施に用いられる構成、配置、比
率、素子、材料、部品等について本発明の要旨を
逸脱することなく種々の変更が行えること当業者
には明らかであろう。
本発明の電荷転送装置によれば、入力信号を交
互に切り替え第1及び第2の選択された電荷サン
プル群を第1及び第2電荷転送手段に分割注入
し、共通の駆動手段により電荷サンプルを順次転
送させ、2つの電荷転送手段の出力電荷サンプル
の出力時点を一致させることにより同時に検出す
るようにしたので、入力手段における実効サンプ
リング周波数の2分の1の周波数で出力電荷サン
プルを検出することが可能となる。この結果、比
較的低速の出力検出手段を用いてその2倍の実効
周波数で入力信号をサンプリングすることが可能
になる。よつて、低速のアナログ・デジタル変換
器を用いてその2倍の実効周波数でアナログ・デ
ジタル変換を高速に行う場合等に極めて有益であ
る。
互に切り替え第1及び第2の選択された電荷サン
プル群を第1及び第2電荷転送手段に分割注入
し、共通の駆動手段により電荷サンプルを順次転
送させ、2つの電荷転送手段の出力電荷サンプル
の出力時点を一致させることにより同時に検出す
るようにしたので、入力手段における実効サンプ
リング周波数の2分の1の周波数で出力電荷サン
プルを検出することが可能となる。この結果、比
較的低速の出力検出手段を用いてその2倍の実効
周波数で入力信号をサンプリングすることが可能
になる。よつて、低速のアナログ・デジタル変換
器を用いてその2倍の実効周波数でアナログ・デ
ジタル変換を高速に行う場合等に極めて有益であ
る。
第1図は本発明による電荷転送装置の一実施例
のブロツク図、第2及び第2A図は第1図の遅延
線の略線図、第3及び第4図は第1図の装置の動
作を説明するためのタイミング図である。 図中、32,31は第1及び第2電荷転送手
段、22,60は駆動手段、14,15,68,
70,72,74は入力手段、78,79は電荷
転送調整手段、82,82′は出力検出手段であ
る。
のブロツク図、第2及び第2A図は第1図の遅延
線の略線図、第3及び第4図は第1図の装置の動
作を説明するためのタイミング図である。 図中、32,31は第1及び第2電荷転送手
段、22,60は駆動手段、14,15,68,
70,72,74は入力手段、78,79は電荷
転送調整手段、82,82′は出力検出手段であ
る。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 複数の直列電荷転送セルを含み、入力信号の
第1の選択された電荷サンプル群を順次転送する
第1電荷転送手段と、 複数の直列電荷転送セルを含み、上記入力信号
の第2の選択された電荷サンプル群を順次転送す
る第2電荷転送手段と、 上記第1及び第1電荷転送手段に共通接続さ
れ、上記第1及び第2直列電荷転送手段の電荷サ
ンプル群を順次転送させる駆動手段と、 上記入力信号を交互に切り替えて上記第1及び
第2の選択された電荷サンプル群を夫々上記第1
及び第2電荷転送手段に注入する入力手段と、 該入力手段と上記第1及び第2電荷転送手段の
出力端との間に設けられ、上記第1及び第2電荷
転送手段の出力電荷サンプルの出力時点を一致さ
せる電荷転送調整手段と、 上記第1及び第2直列電荷転送手段の出力信号
を同時に検出する出力検出手段とを具えることを
特徴とする電荷転送装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US730921 | 1985-05-06 | ||
| US06/730,921 US4648072A (en) | 1985-05-06 | 1985-05-06 | High speed data acquisition utilizing multiplex charge transfer devices |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61250899A JPS61250899A (ja) | 1986-11-07 |
| JPH0346919B2 true JPH0346919B2 (ja) | 1991-07-17 |
Family
ID=24937345
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61096604A Granted JPS61250899A (ja) | 1985-05-06 | 1986-04-25 | 電荷転送装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4648072A (ja) |
| EP (1) | EP0212766B1 (ja) |
| JP (1) | JPS61250899A (ja) |
| CA (1) | CA1243404A (ja) |
| DE (1) | DE3689247T2 (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4809222A (en) * | 1986-06-20 | 1989-02-28 | Den Heuvel Raymond C Van | Associative and organic memory circuits and methods |
| FR2608816B1 (fr) * | 1986-12-19 | 1989-03-31 | Thomson Csf | Dispositif de multiplexage analogique par dispositifs a transfert de charge et son application a la lecture de signaux issus d'une structure matricielle de photodetecteurs |
| US4922452A (en) * | 1987-11-16 | 1990-05-01 | Analytek, Ltd. | 10 Gigasample/sec two-stage analog storage integrated circuit for transient digitizing and imaging oscillography |
| US4951302A (en) * | 1988-06-30 | 1990-08-21 | Tektronix, Inc. | Charge-coupled device shift register |
| JP2821194B2 (ja) * | 1989-09-25 | 1998-11-05 | オリンパス光学工業株式会社 | 電荷転送素子とその駆動方法 |
| JP2760655B2 (ja) * | 1990-11-22 | 1998-06-04 | 株式会社東芝 | 電荷転送装置の駆動回路 |
| EP0540105A3 (en) * | 1991-10-31 | 1993-09-08 | N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken | Sampling device for sampling analog signals and digital measuring instrument provided with such a sampling device |
| US5420534A (en) * | 1993-10-27 | 1995-05-30 | Loral Fairchild Corporation | Programmable NxM switching system with charge-coupled device multiplexer |
| JP3773209B2 (ja) * | 1995-11-30 | 2006-05-10 | マイクロン・テクノロジー・インコーポレーテッド | 高速データ・サンプリング・システム |
| US6091619A (en) * | 1999-04-23 | 2000-07-18 | Tektronix, Inc. | Array architecture for long record length fast-in slow-out (FISO) analog memory |
| US20050219659A1 (en) * | 2004-03-31 | 2005-10-06 | Shuxue Quan | Reproduction of alternative forms of light from an object using digital imaging system |
| US9036088B2 (en) * | 2013-07-09 | 2015-05-19 | Archibald Doty | System and methods for increasing perceived signal strength based on persistence of perception |
| US9553679B2 (en) * | 2013-07-24 | 2017-01-24 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integrations Inc. | Analog radio frequency memory for signal replication |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3602826A (en) * | 1969-12-24 | 1971-08-31 | Westinghouse Electric Corp | Adaptive signal detection system |
| US3653027A (en) * | 1970-06-15 | 1972-03-28 | Honeywell Inc | Precessing analog trace display |
| US3819953A (en) * | 1972-11-22 | 1974-06-25 | Gen Electric | Differential bucket-brigade circuit |
| US3810126A (en) * | 1972-12-29 | 1974-05-07 | Gen Electric | Recirculation mode analog bucket-brigade memory system |
| US4134028A (en) * | 1977-03-07 | 1979-01-09 | Rca Corporation | Charge transfer circuits with compensation for transfer losses |
| US4223233A (en) * | 1977-05-26 | 1980-09-16 | Raytheon Company | Charge transfer device input circuitry |
| FR2428945A1 (fr) * | 1978-06-13 | 1980-01-11 | Thomson Csf | Dispositif de numerisation de signaux transitoires |
| JPS5517865A (en) * | 1978-07-26 | 1980-02-07 | Toshiba Corp | Delay time variable delay line and its driving method |
| US4280066A (en) * | 1978-11-16 | 1981-07-21 | General Electric Company | Charge transfer apparatus |
| US4251754A (en) * | 1979-09-04 | 1981-02-17 | Tektronix, Inc. | Digital oscilloscope with reduced jitter due to sample uncertainty |
| JPS5741106A (en) * | 1980-08-20 | 1982-03-08 | Smt Machine Co Ab | Tool turret |
| US4573033A (en) * | 1983-07-18 | 1986-02-25 | Rca Corporation | Filter circuit for digital-to-analog converter |
-
1985
- 1985-05-06 US US06/730,921 patent/US4648072A/en not_active Expired - Fee Related
-
1986
- 1986-02-19 DE DE3689247T patent/DE3689247T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-02-19 EP EP86301141A patent/EP0212766B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-02-27 CA CA000502859A patent/CA1243404A/en not_active Expired
- 1986-04-25 JP JP61096604A patent/JPS61250899A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CA1243404A (en) | 1988-10-18 |
| EP0212766B1 (en) | 1993-11-03 |
| EP0212766A2 (en) | 1987-03-04 |
| DE3689247D1 (de) | 1993-12-09 |
| US4648072A (en) | 1987-03-03 |
| JPS61250899A (ja) | 1986-11-07 |
| DE3689247T2 (de) | 1994-05-26 |
| EP0212766A3 (en) | 1989-06-07 |
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