JPH0348435A - フリップチップ素子の実装構造 - Google Patents
フリップチップ素子の実装構造Info
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- JPH0348435A JPH0348435A JP1182613A JP18261389A JPH0348435A JP H0348435 A JPH0348435 A JP H0348435A JP 1182613 A JP1182613 A JP 1182613A JP 18261389 A JP18261389 A JP 18261389A JP H0348435 A JPH0348435 A JP H0348435A
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- Japan
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- bump
- flip chip
- chip element
- bumps
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
- H05K3/303—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors with surface mounted components
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/721—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors
- H10W90/724—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
Landscapes
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、絶縁性基板に形成した回路パターン上にフリ
ップチップ素子をフェイスダウンボンディングにより実
装するための構造に関するものである。
ップチップ素子をフェイスダウンボンディングにより実
装するための構造に関するものである。
〔従来の技術]
絶縁性基板に形成した導体による回路パターンに対する
ICチップ等のチップ素子の実装方式として、チップ素
子の電極部を1電極毎に微細なワイヤにより回路パター
ンに接続するワイヤボンディングと、チップ素子の電極
部を同時に回路パターン上に接続するワイヤレスボンデ
ィングの2種がある。
ICチップ等のチップ素子の実装方式として、チップ素
子の電極部を1電極毎に微細なワイヤにより回路パター
ンに接続するワイヤボンディングと、チップ素子の電極
部を同時に回路パターン上に接続するワイヤレスボンデ
ィングの2種がある。
このうちワイヤレスボンディングは、ワイヤボンディン
グと比較して、絶縁性基板上におけるチップ素子の実装
面積を小さく抑えることができると共に、接続の作業性
が良く、また接続強度も大きい等の長所を有している。
グと比較して、絶縁性基板上におけるチップ素子の実装
面積を小さく抑えることができると共に、接続の作業性
が良く、また接続強度も大きい等の長所を有している。
フリップチップボンディングは、このワイヤレスポンデ
ィングの代表的な方法で、フリップチップ素子をフエイ
スダウンボンディングによって回路パターンに接続する
ものであり、その実装構造の公知例としては、特開昭6
2−160248号公報,実開昭62−142849号
公報,及び実開昭62−74333号等に開示されるも
のがある。
ィングの代表的な方法で、フリップチップ素子をフエイ
スダウンボンディングによって回路パターンに接続する
ものであり、その実装構造の公知例としては、特開昭6
2−160248号公報,実開昭62−142849号
公報,及び実開昭62−74333号等に開示されるも
のがある。
第6図は従来のこの種のフリップチップ素子の実装構造
を示す側断面図で、図において1はセラミックまたはガ
ラスから成る絶縁性基板、2は該絶縁性基板1上に形成
した導体による回路パターン、3は該回路パターン2の
端部に設けた端子部である。
を示す側断面図で、図において1はセラミックまたはガ
ラスから成る絶縁性基板、2は該絶縁性基板1上に形成
した導体による回路パターン、3は該回路パターン2の
端部に設けた端子部である。
前記回路パターン2は一層もしくは複数層の金属層ある
いは金属層と樹脂コーティング層等から成るが、ここで
は2a,2bの二層の金属層とすることで端子部3との
境に段差を設け、この段差により後述するバンプ溶着時
の溶融バンプの流出を防止するようにしている。
いは金属層と樹脂コーティング層等から成るが、ここで
は2a,2bの二層の金属層とすることで端子部3との
境に段差を設け、この段差により後述するバンプ溶着時
の溶融バンプの流出を防止するようにしている。
尚、前記金属層2a,2bは単一種類または複数種類の
金属膜により構威される。
金属膜により構威される。
4は例えばガラス膜やS i s N 4膜で保護され
たフリップチップ素子で、このフリップチップ素子4の
片面には図示しない電極部が設けられ、各電極部に例え
ば50〜100μの高さの半田や金等の組成によるバン
プ5が形成されている。
たフリップチップ素子で、このフリップチップ素子4の
片面には図示しない電極部が設けられ、各電極部に例え
ば50〜100μの高さの半田や金等の組成によるバン
プ5が形成されている。
以上の構或においてフリップチップ素子4を絶縁性基板
lの回路パターン2上に実装する場合、まず回路パター
ン2の端子部3に予備半田を施しておく。
lの回路パターン2上に実装する場合、まず回路パター
ン2の端子部3に予備半田を施しておく。
そして、フリップチップ素子4の電極面つまりバンプ5
を形或した面を下にして、このバンプ5を前記予備半田
された端子部3に載せて位置合わせし、端子部3にバン
プ5を押しつけたまま熱を加えてバンプ5を溶着するこ
とにより、フリップチップ素子4を回路パターン2に電
気的に接続する。
を形或した面を下にして、このバンプ5を前記予備半田
された端子部3に載せて位置合わせし、端子部3にバン
プ5を押しつけたまま熱を加えてバンプ5を溶着するこ
とにより、フリップチップ素子4を回路パターン2に電
気的に接続する。
しかしながら、上述した従来の実装構造では、バンプを
溶着するときにその溶融バンプの流出を防止するための
段差を回路パターンに形或するため、回路パターンを多
層に形成したり樹脂でコーティングする等の製造工程を
必要とし、その分製造コストがかかるという問題があっ
た。
溶着するときにその溶融バンプの流出を防止するための
段差を回路パターンに形或するため、回路パターンを多
層に形成したり樹脂でコーティングする等の製造工程を
必要とし、その分製造コストがかかるという問題があっ
た。
また、端子部に形成された段差は回路パターンの延在方
向への溶融バンプの流出は阻止できるものの、隣接して
いる回路パターン方向への流出は阻止できないため、微
細なピッチで形成されている回路パターンの濡れ性によ
り溶融バンプが広がり、その結果フリップチップ素子が
傾いて実装される等の現象が生じて信頼性の低下を招く
だけでなく、回路パターンのショートを発生するという
問題もあった。
向への溶融バンプの流出は阻止できるものの、隣接して
いる回路パターン方向への流出は阻止できないため、微
細なピッチで形成されている回路パターンの濡れ性によ
り溶融バンプが広がり、その結果フリップチップ素子が
傾いて実装される等の現象が生じて信頼性の低下を招く
だけでなく、回路パターンのショートを発生するという
問題もあった。
更に、上述した従来技術では、回路パターンに対するフ
リップチップ素子の位置決めを各回路パターン上に直接
ハンブを載せることで行っているため、バンプ間のピッ
チが狭くなると回路パターン上にバンブが正確に載って
いるかどうかの判断が難しく、そのため位置決めに時間
がかかるという問題もあった。
リップチップ素子の位置決めを各回路パターン上に直接
ハンブを載せることで行っているため、バンプ間のピッ
チが狭くなると回路パターン上にバンブが正確に載って
いるかどうかの判断が難しく、そのため位置決めに時間
がかかるという問題もあった。
本発明はこれらの問題を解決するためになされたもので
、製造コストの低減,フリップチップ素子実装の信頼性
の向上.及びショートの発生防止を図ることができると
共に、回路パターンに対するフリップチップ素子の位置
決めを短時間で正確に行うことが可能なフリップチップ
素子の実装構造を実現することを目的とするものである
。
、製造コストの低減,フリップチップ素子実装の信頼性
の向上.及びショートの発生防止を図ることができると
共に、回路パターンに対するフリップチップ素子の位置
決めを短時間で正確に行うことが可能なフリップチップ
素子の実装構造を実現することを目的とするものである
。
この目的を達或するため、本発明はフリップチップ素子
に設けたバンプを絶縁性基板上に形成した回路パターン
に溶着して電気的接続を得るフリップチップ素子の実装
構造において、耐熱性と電気的絶縁性を有するシート状
の熱応力緩和部材を絶縁性基板の回路パターン上に配置
すると共に、この熱応力緩和部材にバンプ規制孔を設け
たものである。
に設けたバンプを絶縁性基板上に形成した回路パターン
に溶着して電気的接続を得るフリップチップ素子の実装
構造において、耐熱性と電気的絶縁性を有するシート状
の熱応力緩和部材を絶縁性基板の回路パターン上に配置
すると共に、この熱応力緩和部材にバンプ規制孔を設け
たものである。
(作用〕
上述した構成を有する本発明は、フリップチップ素子に
設けたパンプの位置をバンプ規制孔でガイドして絶縁性
基板の回路パターンに対するフリップチップ素子の位置
決めを行うと共に、このバンプを回路パターンに溶着す
る際、溶融したバンプの流出を熱応力緩和部材のバンプ
規制孔により防止し、各バンブを対応する回路パターン
に溶着してフリップチップ素子を実装する。
設けたパンプの位置をバンプ規制孔でガイドして絶縁性
基板の回路パターンに対するフリップチップ素子の位置
決めを行うと共に、このバンプを回路パターンに溶着す
る際、溶融したバンプの流出を熱応力緩和部材のバンプ
規制孔により防止し、各バンブを対応する回路パターン
に溶着してフリップチップ素子を実装する。
従ってこれによれば、従来のように絶縁性基板の回路パ
ターンに段差を形或する必要がなくなるので、回路バタ
・−ンを多層に形成したり樹脂でコーティングする等の
製造工程が不要になり、そして熱応力緩和部材は回路パ
ターンを多層に形成したり樹脂でコーティングする等の
場合に較べて容易かつ安価に形成できるので、製造コス
トの低減が可能となる. また、前記熱応力緩和部材のバンプ規制孔は回路パター
ンの延在方向のみでなく隣接している回路パターン方向
への溶融バンプの流出を確実に阻止できるため、フリッ
プチップ素子が傾いて実装されることがなくなり、実装
の信頼性を向上できると共に、回路パターンのショート
の発生も防止することができる。
ターンに段差を形或する必要がなくなるので、回路バタ
・−ンを多層に形成したり樹脂でコーティングする等の
製造工程が不要になり、そして熱応力緩和部材は回路パ
ターンを多層に形成したり樹脂でコーティングする等の
場合に較べて容易かつ安価に形成できるので、製造コス
トの低減が可能となる. また、前記熱応力緩和部材のバンプ規制孔は回路パター
ンの延在方向のみでなく隣接している回路パターン方向
への溶融バンプの流出を確実に阻止できるため、フリッ
プチップ素子が傾いて実装されることがなくなり、実装
の信頼性を向上できると共に、回路パターンのショート
の発生も防止することができる。
更に、フリップチップ素子のバンブを熱応力緩和部材の
バンブ規制孔にガイドすることができるため、回路パタ
ーンに対するフリップチップ素子の位置決めを容易かつ
短時間で正確に行うことも可能になる。
バンブ規制孔にガイドすることができるため、回路パタ
ーンに対するフリップチップ素子の位置決めを容易かつ
短時間で正確に行うことも可能になる。
以下図面を参照して実施例を説明する。
第l図は本発明によるフリップチップ素子の実装構造の
第1の実施例を示す斜視図、第2図は第1図のA−A線
断面図、第3図(a)〜(C)は各構威要素の詳細を示
す斜視図である。
第1の実施例を示す斜視図、第2図は第1図のA−A線
断面図、第3図(a)〜(C)は各構威要素の詳細を示
す斜視図である。
第1図及び第2図において6はセラミックまたはガラス
から或る絶縁性基板、7は例えばガラス膜やS i 3
N 4膜で保護されたフリップチップ素子、8は少な
くともバンプの溶融温度に耐えられるだけの耐熱性を有
すると共に電気的絶縁性を有する薄いテープあるいはフ
ィルム等から或るシート状の熱応力緩和部材である。
から或る絶縁性基板、7は例えばガラス膜やS i 3
N 4膜で保護されたフリップチップ素子、8は少な
くともバンプの溶融温度に耐えられるだけの耐熱性を有
すると共に電気的絶縁性を有する薄いテープあるいはフ
ィルム等から或るシート状の熱応力緩和部材である。
前記絶縁性基板6上には第3図(C)に明示したように
単一の金属層により所定形状の回路パターン9が形成さ
れており、各々の回路パターン9の端部(破線で囲んだ
部分)はフリップチップ素子7を実装するための端子部
9aとなっている。
単一の金属層により所定形状の回路パターン9が形成さ
れており、各々の回路パターン9の端部(破線で囲んだ
部分)はフリップチップ素子7を実装するための端子部
9aとなっている。
また、第3図(a)に示したようにフリップチップ素子
7の片面にはその電極上に略半球形のバンプlOが前記
端子部9aに対応するように形成されており、更に熱応
力緩和部材8には第3図(b)に示したように前記バン
プ9と対応する位置にテーパ状のバンブ規制孔l1が設
けられ、かつ四隅には位置決めマーク12が設けてあっ
て、この位置決めマーク12上にフリップチップ素子7
の各角部を一致させることにより回路パターン9に対す
る位置決めが行えるようになっている. 尚、前記バンブ規制孔11はレーザ加工,放電加工,錐
状のドリルによる孔あけ加工,またはモールド威形加工
等により設けられ、その回路パターン9側となる部分の
径は、回路パターン9の端子部9aの幅以下となるよう
に設定されている。
7の片面にはその電極上に略半球形のバンプlOが前記
端子部9aに対応するように形成されており、更に熱応
力緩和部材8には第3図(b)に示したように前記バン
プ9と対応する位置にテーパ状のバンブ規制孔l1が設
けられ、かつ四隅には位置決めマーク12が設けてあっ
て、この位置決めマーク12上にフリップチップ素子7
の各角部を一致させることにより回路パターン9に対す
る位置決めが行えるようになっている. 尚、前記バンブ規制孔11はレーザ加工,放電加工,錐
状のドリルによる孔あけ加工,またはモールド威形加工
等により設けられ、その回路パターン9側となる部分の
径は、回路パターン9の端子部9aの幅以下となるよう
に設定されている。
以上の構或においてフリップチップ素子7を絶縁性基板
6の回路パターン9上に実装する場合、まず回路パター
ン9の端子部9aに予備半田を施しておき、そして熱応
力緩和部材8を第3図(C)の破線で囲んだ部分に載せ
て、各バンプ規制孔11が回路パターン9の端子部9a
の直上に載るように目視により位置決めする。
6の回路パターン9上に実装する場合、まず回路パター
ン9の端子部9aに予備半田を施しておき、そして熱応
力緩和部材8を第3図(C)の破線で囲んだ部分に載せ
て、各バンプ規制孔11が回路パターン9の端子部9a
の直上に載るように目視により位置決めする。
次に、フリップチップ素子7の電極面つまりバンプ10
を形成した面を下にして熱応力緩和部材8上に載せ、こ
のときフリップチップ素子7の各角部を位置決めマーク
12上に一致させるようにする。
を形成した面を下にして熱応力緩和部材8上に載せ、こ
のときフリップチップ素子7の各角部を位置決めマーク
12上に一致させるようにする。
これにより各バンプ規制孔l1にそれぞれ対応するバン
ブ10が位置決めされ、しかもバンプ規制孔11は前記
の如くテーバ状に形成されているため、バンプ10の下
部はこのテーパによりガイドされてパンプ規制孔11に
スムーズに入り込み、これによりフリップチップ素子7
の位置決めが容易かつ正確に行われる。
ブ10が位置決めされ、しかもバンプ規制孔11は前記
の如くテーバ状に形成されているため、バンプ10の下
部はこのテーパによりガイドされてパンプ規制孔11に
スムーズに入り込み、これによりフリップチップ素子7
の位置決めが容易かつ正確に行われる。
この状態で熱を加えてバンプ10を溶融すると、溶融バ
ンプがバンプ規制孔ll内を満たし、端子部9aに溶着
してフリップチップ素子7が回路パターン9に電気的に
接続される。
ンプがバンプ規制孔ll内を満たし、端子部9aに溶着
してフリップチップ素子7が回路パターン9に電気的に
接続される。
尚、このフリップチップ素子7の実装の際、放熱性の面
から熱応力緩和部材8とフリップチップ素子7との間に
第2図に示すギャップΔ・Xが得られるようにすること
が望ましく、そのため予めバンプlOの高さをこのギャ
ップΔXが得られるように考慮して設定する。
から熱応力緩和部材8とフリップチップ素子7との間に
第2図に示すギャップΔ・Xが得られるようにすること
が望ましく、そのため予めバンプlOの高さをこのギャ
ップΔXが得られるように考慮して設定する。
第4図は本発明の第2の実施例を示す側断面図で、この
実施例は同図(a)に示すように熱応力緩和部材8に設
けられるバンプ規制孔l1の形状を鼓形するこにより、
同図(b)に示したようにバンプlOを溶融してフリッ
プチップ素子7を回路パターン9の端子部9aに電気的
に接続した後にバンプの剥離等が発生しにくい構造とな
るようにしたものである. また、この実施例ではフリップチップ素子7の電極部9
aに予め所定の厚みを持たせ、これにより熱応力緩和部
材8とフリップチップ素子7との間に常に安定した前記
ギャップΔXを得られるようにしている。
実施例は同図(a)に示すように熱応力緩和部材8に設
けられるバンプ規制孔l1の形状を鼓形するこにより、
同図(b)に示したようにバンプlOを溶融してフリッ
プチップ素子7を回路パターン9の端子部9aに電気的
に接続した後にバンプの剥離等が発生しにくい構造とな
るようにしたものである. また、この実施例ではフリップチップ素子7の電極部9
aに予め所定の厚みを持たせ、これにより熱応力緩和部
材8とフリップチップ素子7との間に常に安定した前記
ギャップΔXを得られるようにしている。
第5図は本発明の第3の実施例を示す側断面図で、この
実施例はフリップチップ素子7の電極部9aに予め所定
の厚みを持たせると共に、熱応力緩和部材8のバンプ規
制孔11の形状を円柱形としたもので、第2の実施例と
同様の結果が得られるものである。
実施例はフリップチップ素子7の電極部9aに予め所定
の厚みを持たせると共に、熱応力緩和部材8のバンプ規
制孔11の形状を円柱形としたもので、第2の実施例と
同様の結果が得られるものである。
尚、上述した実施例において、熱応力緩和部材8の位置
決めマークは必ずしも必要なものではなく、バンプ規制
孔1lによりバンプlOをガイドするだけで回路パター
ン9に対するフリップチップ素子7の位置決めを行うこ
とも可能である。
決めマークは必ずしも必要なものではなく、バンプ規制
孔1lによりバンプlOをガイドするだけで回路パター
ン9に対するフリップチップ素子7の位置決めを行うこ
とも可能である。
以上説明したように本発明は、フリップチップ素子に設
けたバンプを絶縁性基板上に形成した回路パターンに溶
着して電気的接続を得るフリップチップ素子の実装構造
において、耐熱性と電気的絶縁性を有するシート状の熱
応力緩和部材を絶縁性基板の回路パターン上に配置する
と共に、この熱応力緩和部材にバンブ規制孔を設けて、
このパンプ規制孔によりバンプの位置をガイドすること
で絶縁性基板の回路パターンに対するフリップチップ素
子の位置決めを行うと共に、このバンプを回路パターン
に溶着する際、溶融したバンプの流出を熱応力緩和部材
のバンプ規制孔により防止するようにしている. 従ってこれによれば、従来のように絶縁性基板の回路パ
ターンに段差を形成する必要がなくなるので、回路パタ
ーンを多層に形成したり樹脂でコーティングする等の製
造工程が不要になり、そして熱応力緩和部材は回路パタ
ーンを多層に形成したり樹脂でコーティングする等の場
合に較べて容易且つ安価に形或できるので、製造コスト
の低減を計れるという効果が得られる。
けたバンプを絶縁性基板上に形成した回路パターンに溶
着して電気的接続を得るフリップチップ素子の実装構造
において、耐熱性と電気的絶縁性を有するシート状の熱
応力緩和部材を絶縁性基板の回路パターン上に配置する
と共に、この熱応力緩和部材にバンブ規制孔を設けて、
このパンプ規制孔によりバンプの位置をガイドすること
で絶縁性基板の回路パターンに対するフリップチップ素
子の位置決めを行うと共に、このバンプを回路パターン
に溶着する際、溶融したバンプの流出を熱応力緩和部材
のバンプ規制孔により防止するようにしている. 従ってこれによれば、従来のように絶縁性基板の回路パ
ターンに段差を形成する必要がなくなるので、回路パタ
ーンを多層に形成したり樹脂でコーティングする等の製
造工程が不要になり、そして熱応力緩和部材は回路パタ
ーンを多層に形成したり樹脂でコーティングする等の場
合に較べて容易且つ安価に形或できるので、製造コスト
の低減を計れるという効果が得られる。
また、前記熱応力緩和部材のバンブ規制孔は回路パター
ンの延在方向のみでなく隣接している回路パターン方向
への溶融バンプの流出も確実に阻止できるため、フリッ
プチップ素子が傾いて実装されることがなくなり、実装
の信頼性を向上できると共に、回路パターンのショート
を発生も防止することができるという効果も得られる.
更に、フリップチップ素子のバンプを熱応力緩和部材の
バンプ規制孔によりガイドすることができるため、回路
パターンに対するフリンプチップ素子の位置決めを容易
かつ短時間で正確に行うことも可能になるという効果も
得られる.
ンの延在方向のみでなく隣接している回路パターン方向
への溶融バンプの流出も確実に阻止できるため、フリッ
プチップ素子が傾いて実装されることがなくなり、実装
の信頼性を向上できると共に、回路パターンのショート
を発生も防止することができるという効果も得られる.
更に、フリップチップ素子のバンプを熱応力緩和部材の
バンプ規制孔によりガイドすることができるため、回路
パターンに対するフリンプチップ素子の位置決めを容易
かつ短時間で正確に行うことも可能になるという効果も
得られる.
第1図は本発明によるフリップチップ素子の実装構造の
第lの実施例を示す斜視図、第2図は第1図のA−A線
断面図、第3図は第1の実施例における各構成要素の詳
細を示す斜視図、第4図は第2の実施例を示す側断面図
、第5図は第3の実施例を示す側断面図、第6図は従来
例を示す側断面図である。 6:絶縁性基板 7:フリップチップ素子 8:熱応力緩和部材 9:回路パターン 9a:端子部 10:バンプ 11:バンプ規制孔 12:位置決めマーク
第lの実施例を示す斜視図、第2図は第1図のA−A線
断面図、第3図は第1の実施例における各構成要素の詳
細を示す斜視図、第4図は第2の実施例を示す側断面図
、第5図は第3の実施例を示す側断面図、第6図は従来
例を示す側断面図である。 6:絶縁性基板 7:フリップチップ素子 8:熱応力緩和部材 9:回路パターン 9a:端子部 10:バンプ 11:バンプ規制孔 12:位置決めマーク
Claims (1)
- (1)フリップチップ素子に設けたバンプを絶縁性基板
上に形成した回路パターンに溶着して電気的接続を得る
フリップチップ素子の実装構造において、 耐熱性と電気的絶縁性を有するシート状の熱応力緩和部
材を絶縁性基板の回路パターン上に配置すると共に、こ
の熱応力緩和部材に前記バンプのガイドと溶融したバン
プの流出を防止するためのバンプ規制孔を設けたことを
特徴とするフリップチップ素子の実装構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1182613A JPH0348435A (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | フリップチップ素子の実装構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1182613A JPH0348435A (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | フリップチップ素子の実装構造 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0348435A true JPH0348435A (ja) | 1991-03-01 |
Family
ID=16121352
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1182613A Pending JPH0348435A (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | フリップチップ素子の実装構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0348435A (ja) |
Cited By (8)
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