JPH0348471B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0348471B2
JPH0348471B2 JP63307979A JP30797988A JPH0348471B2 JP H0348471 B2 JPH0348471 B2 JP H0348471B2 JP 63307979 A JP63307979 A JP 63307979A JP 30797988 A JP30797988 A JP 30797988A JP H0348471 B2 JPH0348471 B2 JP H0348471B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
ionization chamber
msv
neutron
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP63307979A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH021584A (ja
Inventor
Hooru Neizeru Jon
Kento Guriin Warutaa
Daiaru Yogishuwaa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by General Electric Co filed Critical General Electric Co
Publication of JPH021584A publication Critical patent/JPH021584A/ja
Publication of JPH0348471B2 publication Critical patent/JPH0348471B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T3/00—Measuring neutron radiation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電離箱型中性子検出器の出力を監視す
る方法および装置に関するものである。
詳しく言えば、本発明は原子炉の炉心内におい
て中性子束を測定するために使用される電離箱型
中性子検出器およびそれを含む装置に関する。原
子炉の炉心内において中性子束を測定監視するた
めの炉心内検出装置はたとえばジー・アール・パ
ーコス（G.R.Parkos）等の米国特許第3565650号
明細書中に記載されているが、これは本発明を適
用し得る装置の一例を成すものである。
電離箱型中性子検出器は公知であつて、たとえ
ばエル・アール・ボンド（L.R.Boyd）等の米国
特許第3043954号明細書中に記載されている。か
かる電離箱は、通例、互いに離隔して配置されか
つ電気的に絶縁された１対の電極並びにそれらの
間に配置された中性子受感物質および電離性気体
から成る。たとえば核分裂電離箱すなわちフイツ
シヨンチエンバの場合、中性子受感物質は中性子
によつて核分裂可能なＵ−235のごとき物質であ
る。入射した中性子が電離箱内のウランの核分裂
を誘発したために生じた核分裂生成物は、電離箱
内における中性子束の大きさに比例して気体を電
離する。また、別の種類の中性子受感電離箱にお
いては気体状の三フツ化ホウ素のごとき中性子受
感物質が使用される。これらの電離箱の電極間に
直流電圧が印加された場合には、電離量従つて電
離箱内の中性子束に比例した出力電流が生じる。
ところで核分裂電離箱内の中性子束を求めるた
めには、公知のごとく、電離箱を通つて流れる平
均電流を測定することによ電離箱を通つて流れる
直流を表わす信号（通常はDC信号と呼ぶ）を得
るか、あるいは適当な周波数範囲内において電離
箱内の平均二乗交流を測定することにより電離箱
を通つて流れる交流を表わす信号（通常はAC信
号と呼ぶ）を得ればよい。いずれの方法によつて
得られた信号も電離箱内の中性子束の測度として
使用される。現在、沸騰水型原子炉においては、
原子炉の出力領域における中性子束の測度として
DC信号が使用され、またそれより低い出力レベ
ルにおける中性子束の測度としてAC信号が使用
されている。
中性子検出器としての核分裂電離箱は、感度が
良く、寿命が十分に長く、かつ中性子束の変化に
対する応答が早いという利点を有している。
しかしながら、その応答は非直線的であること
が多く、従つて中性子束に対する出力電流を個々
の電離箱について正確に予測することはできな
い。更にまた、中性子受感物質の燃焼あるいは電
離箱内の電離性気体の密度変化に原因する感度低
下のため、使用中の電離箱をかなり頻繁に較正し
直さなければならない。一般に、かかる核分裂電
離箱の動作は損われ易い上、色々な種類の機能低
下によつて感度変化の生じることがあるが、それ
の存在および程度は較正をやり直すまで検出され
ないままに終る可能性がある。
核分裂電離箱の最も弱い部分の１つは、電離箱
と接続ケーブルとの間の封止部である。この封止
部は気体を電離箱内に封じ込め、そして電離箱内
に一定の気体密度を維持するのに役立つ。この封
止部が破損した場合には、破損時における電離箱
内およびケーブル内の気体圧力に応じ、気体が電
離箱からケーブル内へ流れたり、あるいはケーブ
ルから電離箱内へ流れたりすることがある。いず
れの場合にせよ、電離箱の感度は変化するから、
電離箱から得られるAC信号およびDC信号は中性
子束の測度として誤つたものとなる。このような
気体密度の変化は破損の程度に応じ数分間から数
日間にわたつて起り得るから、誤つた読みが気付
かれないこともある。その上、たとえ誤つた読み
に気付いたとしても、核分裂電離箱を較正し直す
以外に誤差の大きさを決定する方法はない。従つ
て、電離箱内における気体密度の変化を探知して
誤差の大きさを決定することにより電離箱の出力
を自動的に補正することのできる装置が要望され
ている。
核分裂電離箱型の中性子検出器に関して見られ
るもう１つの問題は、ガンマ線もまた電離箱内の
気体を電離し、それによつて電離箱内のガンマ線
に比例するDC信号を与えるという点である。電
離箱から得られたDC信号の中性子由来部分とガ
ンマ線由来部分とを識別する方法はない。そこ
で、沸騰水型原子炉の出力領域において現在使用
されているごとくにDC信号を中性子束の測度と
して使用する場合には、中性子由来電流が電離箱
の全電流中の所定比率を下回れば電離箱の寿命が
終了したと見なされる。しかしながら、原子炉の
炉心内の検出器付近におけるガンマ線照射率は未
知でありかつ正確な測定も下可能であるから、上
記の寿命終了を探知する方法は目下のところ存在
しない。それ故、DC信号が中性子束の測度とし
て使用される場合には、中性子照射によつて生じ
る部分の電流を測定することによつて電離箱の寿
命終了を予測することのできる装置が要望されて
いる。
核分裂電離箱型の中性子検出器に関して見られ
るもう１つの問題は、電離箱の応答が非直線性を
示すという点である。すなわち、検出器の出力電
流は電離箱内の中性子束に正しく比例しないので
ある。このような非直線性の原因は、原子炉の出
力に応じて検出器の温度が変動し、そのため検出
器の有効容積内の気体密度が出力に応じて変動す
ることにある。その結果、検出器の感度は出力に
依存し、従つて検出器の応答は非直線的となる。
原子炉の炉心内の検出器付近における中性子束を
正確に測定することは不可能であるから、電離箱
を使用すべき中性子束領域内において中性子束に
対する電離箱の出力を測定するという従来方法の
場合には非直線度を決定して補正を行うことはで
きない。ところが、最新の高出力密度原子炉の運
転を可能にする最高出力レベルは炉心内検出器の
非直線度の関数であるから、検出器の非直線度を
決定することは重要である。従つて、様々な出力
レベルにおける電離箱型中性子検出器の非直線度
を決定するような装置も要望されている。
さて本発明に従つて簡潔に述べれば、核分裂電
離箱から得られたAC信号とDC信号との比を使用
することにより、電離箱内の気体密度の変化を探
知し、気体密度の変化を補正し、DC信号が中性
子束の測度として使用される場合には検出器の寿
命終了を予測するような中性子検出器用監視装置
が提供される。
詳しく言えば、電離箱内の平均二乗交流に比例
する電圧（通常はAC信号と呼ばれる）が作成さ
れ、電離箱内の直流に比例する電圧（通常はDC
信号と呼ばれる）が作成され、かかるAC信号と
DC信号との比が作成され、そしてその比が監視
される。この比の急速な変化は気体の漏れすなわ
ち電離箱内の気体密度の変化を表わす。この比で
DC信号を割れば、電離箱内の気体密度に関係な
く電離箱内の中性子束に比例する信号が得られ
る。また、この比を二乗した値でAC信号で割れ
ば、検出器から得られたAC信号が補正される。
DC信号が中性子束の測度として使用される場合、
電離箱の寿命終了はこの比が初期値のＭ／（Ｍ＋
１）倍に等しくなることによつて探知される。こ
こでは、電離箱の寿命終了は電離箱内の中性子束
由来電流がガンマ線由来電流のＭ倍（ただしＭは
所定の倍数である）になつた場合として定義され
ている。
以下、添付の図面を参照しながら本発明を一層
詳しく説明しよう。
先ず第１図を見れば、中性子束を監視するため
原子炉の炉心２内に配置された複数の検出器１が
示されている。公知の通り、かかる炉心は互いに
離隔して配置された多数の燃料集合体３から成つ
ていて、その各々にはＵ−235のごとき核分裂性
物質を含有する複数の燃料要素すなわち燃料棒が
含まれている。燃料集合体３同士の間隙には、検
出器１を収容するために保護管４が配置されてい
る。矢印５によつて示されるごとく、燃料集合体
中を通つて冷却材（通常は水）を循環させること
によつて熱が取出される。保護管４は密閉するこ
ともできし、また図示のごとくに開放して検出器
の周囲に冷却材を流すこともできる。実際には、
各保護管４内の相異なる水準に若干の検出器が配
置されることも含め、炉心内に一定数の検出器が
所定の方式で配置される結果、炉心内の中性子束
の大きさおよび分布が正確に表示される。なお、
その詳細は前述の米国特許第3565760号明細書中
に図示されかつ記載されている。
本発明と共に使用し得る種類の検出器を第２図
に略示する。電離箱型の検出器１は互いに離隔し
て配置された２個の導電性電極１１および１２を
有している。電極１１および１２間の空隙１３は
密封され、かつ貴ガス（たとえばアルゴン）のご
とき電離性気体で満たされている。電極１１およ
び１２の一方または両方の表面上には、中性子に
よる放射化の可能な物質（たとえば核分裂性ウラ
ン）の薄膜、薄層または被膜１４が設置されてい
る。中性子束の存在下では、被膜１４の物質が中
性子束に比例した速度で核分裂反応を受ける。そ
うして生じた核分裂生成物は、核分裂の数に比例
して、電極間の空隙１３に存在する気体の電離を
引起す。適当な電圧の電源が電極１１および１２
間に接続されれば、イオン対はそれらの電極によ
つて捕集される。その結果、電離箱を通つて交流
および直流が流されるが、これらはいずれも電離
箱内の中性子束の測度を成す。
本発明方法に従えば、電離箱内の平均二乗交流
に比例する信号VMSV（通常はAC信号と呼ぶ）が
作成され、また電離箱内の平均電流に比例する信
号VDC（通常はDC信号と呼ぶ）が作成される。こ
れらのDC信号およびAC信号はいずれも電離箱内
の中性子束に正比例する。そこで、AC信号とDC
信号との比Ｒが作成され、そしてこの比Ｒが監視
される。Ｒの急速な変化は気体の漏れすなわち電
離箱内の気体密度の変化を表わす。VDCを比Ｒで
割ればDC信号は電離箱内の気体密度の変化に対
して補正される。また、VMSVを比Ｒの二乗で割
ればAC信号は電離箱内の気体密度の変化に対し
て補正される。補正済みのDC信号およびAC信号
はいずれも電離箱内の気体密度に関係なく電離箱
内の中性子束を表わす。DC信号が中性子束の測
度として使用される場合、電離箱の寿命終了はＲ
が初期値のＭ／（Ｍ＋１）倍に等しくなることに
よつて探知される。ここでは、電離箱の寿命終了
は電離箱内の中性子由来電流がガンマ線由来電流
のＭ倍（ただしＭは所定の倍数である）になつた
場合として定義されている。DC信号が中性子束
の測度として使用される場合には、高出力レベル
におけるＲを低出力レベルにおけるＲで割つた商
を低出力レベルにおける既知のDC感度に掛けれ
ば、高出力レベルにおける電離箱のDC感度SDC、
従つて高出力レベルにおける電離箱の非直線度が
決定される。またAC信号が中性子束の測定とし
て使用される場合には、高出力レベルにおけるＲ
の二乗を低出力レベルにおけるＲの二乗で割つた
商を低出力レベルにおける既知のAC感度に掛け
れば、高出力レベルにおける電離箱のAC感度
SAC、従つて高出力レベルにおける電離箱の非直
線度が決定される。ところで、本発明方法は以下
のような数学的表現を用いれば最も良く記述され
る。
電離箱を通つて流れる平均中性子由来電流は次
式で表わされる。
o＝ro o (1) ただしo＝平均中性子由来電流。
ro＝核分裂電離箱の中性子受感被膜中にお
いて起る核分裂の時間速度。
o＝中性子受感被膜中における１回の核
分裂について核分裂電離箱の気体中に生じ
る１方の符号を持つた平均電荷。
同様に、電離箱を通つて流れる平均ガンマ線由
来電流は次式で表わされる。
〓＝r〓〓 (2) ただし〓＝平均ガンマ線由来電流。
r〓＝核分裂電離箱内において起るガンマ線
反応の時間速度。
〓＝１回のガンマ線反応について核分裂
電離箱の気体中に生じる１種の符号を持つ
た平均電荷。
従つて、電離箱を通つて流れる全平均電流は次
式の通りである。
＝ro o＋r〓〓 (3) 適当な標準増幅回路により、この電流が電離箱
内のDC電流に比例した電圧VDCに変換される。
かかる回路の出力は次式で表わされる。
VDC＝Ｇ（ro o＋r〓〓 (4) ただしVDC＝増幅されたDC信号、あるいは単
にDC信号。
Ｇ＝電子回路の抵周波数伝達インピーダン
ス。
式(4)は次のように書直すことができる。
VDC＝Ｇ（o＋〓） (5) 電離箱を通つて流れる単位周波数区間当りの平
均二乗交流は次式で表わされる。
2＝ｋ（ro 2 o＋rr 2〓） (6) ただし2＝単位周波数区間当りの平均二乗交
流。
ｋ＝周波数に依存する値を持つた定数。
2 o＝中性子受感被膜中における１回の核
分裂について核分裂電離箱の気体中に生じ
る１方の符号を持つた平均二乗電荷。
2〓＝１回のガンマ線反応について核分裂
電離箱の気体中に生じる１方の符号を持つ
た平均二乗電荷。
ところで、実際の核分裂電離箱は中性子由来平
均二乗交流がガンマ線由来平均二乗交流よりも遥
かに大きくなるように設計されている。すなわ
ち、実際の核分裂電離箱については次式が成立つ
ことが証明できる。
ro 2 o≫r〓2〓 (7) それ故、式(6)は次のように書直すことができ
る。
2＝kro 2 o (8) そこで、電離箱を通つて流れる平均二乗交流を
表わすものとしてはこの式(8)が使用される。増幅
器、帯域フイルタ、二乗回路および低域RCフイ
ルタから成る適当な標準増幅回路により、この電
流が電圧VMSVに変換される。かかる回路の出力
は次式で表わされる。
VMSV＝ro 2 oA0∫∞ｋ〔Ｈ〕2d (9) ただしVMSV＝増幅されたMSV信号、あるいは
単にAC信号。
Ａ＝二乗回路の低周波数伝達関数。
〔Ｈ〕＝電子回路の線形部分の伝達関数の
絶対値。
＝周波数。
かかる回路の線形部分の通過帯域は、定数ｋの
値が通過帯域全体にわたつて一様でありかつ封止
部が破損しても変化しないように設定することが
できる。なお、式(9)は次のように書直すことがで
きる。
VMSV＝Fro 2 o (10) ただし Ｆ＝Ak0∫∞〔Ｈ〕2d (11) 従つて、AC信号とDC信号との比Ｒを次のよう
になる。
Ｒ＝FroQ2／o／Ｇ（roQo＋r〓Q〓） (12) さて、DC信号が中性子束の測度として使用さ
れる場合、比Ｒは電離箱の寿命終了を探知するた
めに使用される。かかる目的のためには、式(12)が
次のように書直される。
Ｒ＝FQ2／o／Ｇ（Qo＋r〓／roQ〓） (13) 電離箱が新しい時、中性子由来電流はガンマ線
由来電流よりも遥かに大きい。すなわち ro o≫r〓〓 (14) 式(14)は次のように書直すことができる。
o≫r〓／ro〓 (15) 従つて、式(13)は次のように書直すことができ
る。
R1＝FQ2／o／GQo (16) ただしR1＝電離箱が新しい時におけるAC信号
とDC信号との比。
電離箱が使用によつて古くなるにつれ、中性子
受感物質は消耗し、従つて中性子由来電流はガン
マ線由来電流に比べて減少する。結局、中性子由
来電流が電離箱の全出力中で占める比率がある程
度まで小さくなれば、電離箱の出力はもはや中性
子束の測度として役に立たなくなる。従つて、中
性子束由来電流がガンマ線由来電流のＭ倍（ただ
しＭは所定の倍数である）になつた時に電離箱の
寿命は終了したと見なされる。すなわち、その時
には次式が成立つ。
ro o＝Mr〓〓 (17) 式(17)は次のように書直すことができる。
r〓／ro〓＝１／Ｍo (18) 式(13)および(18)をまとめれば R2＝FQ2／o／Ｇ（Qo＋１／ＭQo） (19) ただしR2＝電離箱の寿命終了時におけるAC信
号とDC信号との比。
式(19)は次のように書直すことができる。
R2＝FQ2／o／GQo（１＋１／Ｍ） (20) そこで、式(16)および(20)をまとめると次式が
得られる。
R2＝Ｍ／Ｍ＋１R1 (21) 式(21)からわかる通り、DC信号が中性子束の
測度として使用される場合、電離箱の寿命終了は
AC信号とDC信号との比R2が初期値R1のＭ／
（Ｍ＋１）倍に等しくなることによつて探知され
ることになる。
次に、電離箱と接続ケーブルとの間の封止部が
破損し、そのため電離箱の有効容積内の気体密度
がＤからD′に変化した場合を考える（ただしＤ
およびD′は単位体積当りの原子数または分子数
である）。その場合、１回の中性子反応について
の平均電荷は次式によつて与えられる。
′o＝D′／Ｄo (26) なお、ダツシユ（′）は封止部の破損後におけ
る値を表わすために使用される。同様に、１回の
ガンマ線反応についての平均電荷は次式によつて
与えられる。
′〓＝D′／Ｄ〓 (23) また、１回の中性子反応についての平均二乗電
荷は次式によつて与えられる。
（Q′o）2 ＝（D′／Ｄ）2 2 o (24) ここで式(12)を使用すれば、封止部の破損後に
おけるAC信号とDC信号との比は次式によつて与
えられる。
R′＝Fro（Q′o）2／Ｇ（roQ′o＋r〓Q′〓） (25) 式(22)、(23)および(24)を式(25)中に代入すれば
次式が得られる。
R′＝Fro（D′／Ｄ）2QD′／Ｄ／Ｇ〔ro（D′／Ｄ）Qo
＋r〓（D′／Ｄ）Q〓〕(26) 式(12)および(26)をまとめると次のような結果
になる。
R′＝D′／ＤＲ (27) 式(27)からわかる通り、封止部の破損後におけ
るAC信号とDC信号との比R′は封止部の破損前後
における気体密度ＤおよびD′の比の一次関数で
ある。従つて、比Ｒが比較的急速に（すなわち数
分間から数日間にわたつて）変化した場合には、
封止部の破損が起つたことが探知される。
沸騰水型原子炉の出力領域において現在使用さ
れている方法に従い、DC信号が中性子束の測度
として使用される場合、封止部の破損後における
それの値は次式によつて与えられる。
V′DC＝Ｇ（ro′o＋r〓′〓） (28) 式(22)および(23)を使用すれば、この式は次の
ように書直すことができる。
V′DC＝ＧD′／Ｄ（ro o＋r〓〓 (29) 式(4)，(27)および(29)をまとめると次のような
結果になる。
VDC＝Ｒ／R′V′DC (30) 式(30)からわかる通り、DC信号を正しい値に
補正するためには、誤つた値にＲ／R′を掛ける
か、あるいは誤つた値をR′／Ｒで割ればよい。
さもなければ、式(30)を次のように書直すこと
ができる。
VDC／Ｒ＝V′DC／R′ (31) 式(31)からわかる通り、封止部の破損後におけ
るDC信号を封止部の破損後におけるAC信号と
DC信号との比で割つた値は、封止部の破損前に
おけるDC信号を封止部の破損前におけるAC信号
とDC信号との比で割つた値に等しい。それ故、
DC信号をAC信号とDC信号との比で常に割り、
そしてその値を電離箱内の気体密度に関係しない
中性子束の測度として使用することが好ましい場
合もある。
他方、AC信号が中性子束の測度として使用さ
れる場合、封止部の破損後におけるそれの値は次
式によつて与えられる。
V′MSV＝Fro（′o）2 (32) 式(24)を使用すれば、この式は次のように書直
すことができる。
V′MSV＝Ｆ（D′／Ｄ）2roQ2 o (33) 式(10)および(27)を式(33)中に代入すれば次式が
得られる。
VMSV＝（Ｒ／R′）2V′MSV (34) それ故、増幅されたAC信号を正しい値に補正
するためには、誤つた値に（Ｒ／R′）2を掛ける
か、あるいは誤つた値を（R′／Ｒ）2で割ればよ
い。
さもなければ、式(34)を次のように書直すこと
ができる。
VMSV／R2＝V′MSV／（R′）2 (35) 式(35)からわかる通り、封止部の破損後におけ
るAC信号を封止部の破損後におけるAC信号と
DC信号との比の二乗で割つた値は、封止部の破
損前におけるAC信号を封止部の破損前における
AC信号とDC信号との比の二乗で割つた値に等し
い。それ故、AC信号をAC信号とDC信号との比
で常に割ることにより、電離箱内の気体密度に関
係なく中性子束に比例する信号を得ることが好ま
しい場合もある。
核分裂電離箱の有効容積内の気体密度の変化が
小さい場合、中性子受感被膜中における１回の核
分裂または１回のガンマ線反応について気体中に
生じる１方の符号を持つた平均電荷は気体密度に
比例する。すなわちo ＝k1ρ (36) 〓＝k2ρ (37) ただし、k1およびk2は比例定数、そしてρは電
離箱の有効容積内の気体密度である。同様に、１
回の中性子反応について気体中に生じる１方の符
号を持つた平均二乗電荷は気体密度の二乗に比例
する。すなわち 2 o＝k3ρ2 (38) ただし、k3は比例定数である。式(36)，(37)お
よび(38)を式(13)と共にまとめると次式が得られ
る。
Ｒ＝Fk3ρ2／Ｇ（k1＋r〓k2／ro）ρ (39) この式は次のように書直すことができる。
Ｒ＝k4ρ (40) ただし、k4＝Fk3／Ｇ（k1＋r〓／rok2） (41) この最後の量k4は、r〓／roがほとんど変化しな
い期間内においては一定である。それ故、このよ
うな期間においてＲが変化したとすれば、それは
電離箱の有効容積内の気体密度に変化に原因する
ものである。従つて、Ｒの値は電離箱の有効容積
内の気体密度の変化に原因する検出器の非直線性
の測度として使用することができる。第１の出力
レベルにおける検出器のDC感度をSDC(i)、電離箱
の有効容積内の気体密度をρ(i)、かつAC信号と
DC信号との比をＲ(i)とし、また第２の出力レベ
ルにおける検出器のDC感度をSDC(J)、電離箱の有
効容積内の気体密度をρ(j)、かつAC信号とDC信
号との比をＲ（ｊ）とすれば、r〓／roが一定であ
る期間内においては、これらのDC感度、気体密
度および比の間に次のような関係が成立つ。
SDC(i)／SDC(j)＝ρ(i)／ρ(J)＝Ｒ(i)／Ｒ(j)(42) 式(42)を用いれば、様々な出力レベルにおける
DC感度、従つて様々な出力レベルにおける検出
器の非直線度を決定する方法が得られることにな
る。
同様に、第１の出力レベルにおける検出器AC
感度をSAC(i)とし、また第２の出力レベルにおけ
る検出器のAC感度をSAC(j)とすれば、r〓／roが一
定である期間内においては、これらのAC感度、
気体密度および比の間に次のような関係が成立
つ。
SAC(i)／SAC(j)＝（ρ(i)／ρ(j)）2＝（Ｒ(i)／Ｒ
(j)）(43) 式(43)を用いれば、様々な出力レベルにおける
AC感度、従つて様々な出力レベルにおける検出
器の非直線度を決定する方法が得られることにな
る。
非直線度を決定するためには、ＲをDC信号ま
たはAC信号の関数として第一近似でプロツトす
ればよい。この結果、中性子束の直接の測度とし
て見た場合、DC信号およびAC信号は検出器の非
直線性の程度に応じて不正確であることがわかろ
う。そそこで、式(42)または(43)を用いながら検
出器の非直線度に対してDC信号またはAC信号を
繰返し補正すれば、直線性を持つた正確な推定量
を得ることができる。この方法は小さな系統的非
直線性を持つた検出器に良く適合するものであ
り、しかも従来の非直線度決定方法における主要
な難点であつた中性子束の測定を必要としない。
かかる方法は、r〓／roがほとんど変化しない期
間内に原子炉を様々な出力レベルで運転する場合
に実施するのがよい。このような期間は原子炉の
正常な運転開始時に実現される。ところで、式(4
２）は次のように書直すことができる。
SDC(j)＝SDC(i)Ｒ(j)／Ｒ(i) (44) 従つて、高出力レベルにおける検出器のDC感
度を決定するためには、各出力レベルにおける
AC信号とDC信号との比が記録される。次いで、
標準較正技術によつて得られた初期出力レベルに
おける既知のDC感度を使用しながら、以後の各
出力レベルにおけるDC感度を(44)に従つて繰返
し計算すればよい。
また、式(43)は次のように書直すことができ
る。
SAC(j)＝SAC(i)（Ｒ(j)／Ｒ(i)）2 (45) 従つて、高出力レベルにおるけ検出器のAC感
度を決定するためには、各出力レベルにおける
AC信号とDC信号との比が記録される。次いで、
標準較正技術によつて得られた初期出力レベルに
おける既知のAC感度を使用しながら、以後の各
出力レベルにおけるAC感度を式(45)に従つて計
算すればよい。
次に、本発明方法を実施するための電気回路の
ブロツク図を第２図に示す。検出器１の電極１１
および１２は、線路２０および２１により、電源
兼信号調節回路１９の端子１７および１８にそれ
ぞれ接続されている。線路２１はまた大地にも接
続されている。電源兼信号調節回路１９には、検
出器１に所要電圧を供給するための直流電圧源、
中性子束によつて検出器１内に生じたAC信号と
DC信号とを分離するための回路、並びにAC信号
およびDC信号用の適当な増幅調節回路が含まれ
ている。分離されかつ増幅されたAC信号および
DC信号は電源兼信号調節回路１９の出力端子２
２および２３にそれぞれ現われる。
端子２２の出力は、検出器１の電離箱を通つて
流れる平均二乗交流に比例するVMSVである。ま
た、端子２３の出力は電離箱を通つて流れる直流
に比例するVDCである。VMSVおよびVDCの視覚表
示（または記録）を得るためには、電圧計（また
は自動記録計など）２４および２５を端子２２お
よび２３にそれぞれ接続すればよい。
端子２２および２３はまた、演算回路２９の端
子２６および２７にもそれぞれ接続されている。
演算回路２９は、本発明方法の演算を実行し得る
ものであれば、アナログかデイジタルかを問わず
任意適宜の演算回路であつてもよい。演算回路２
９は、AC信号およびDC信号を受信し、AC信号
とDC信号との比Ｒを計算し、比の二乗R2を計算
し、そして補正済みのAC信号VMSV／R2および
DC信号VDC／Ｒを計算する。演算回路２９の出
力は端子３０，３１および３２に現われる。端子
３０の出力はVMSVR2、端子３１の出力は１／Ｒ、
そして端子３２の出力はVDC／Ｒである。それぞ
れの出力を表示（または記録）するため、電圧計
（または自動記録計など）３３，３４および３５
が端子３０，３１および３２にそれぞれ接続され
ている。なお、電圧計２４および２５上に現われ
る信号はそれぞれ未補正のAC信号およびDC信号
を表わす。これらの電圧計はもつぱら情報収集用
であるから、本発明の一部の実施例では削除され
ることもある。電圧計３４上に現われる信号は
AC信号とDC信号との比Ｒを表わすもので、この
信号の使用によつて電離箱の漏れが示知され、
DC信号が中性子束の測度として使用される場合
には検出器の寿命終了が予測され、かつ検出器の
非直線度が決定される。電圧計３３および３５上
に現われる信号はそれぞれ補正済みのAC信号お
よびDC信号を表わす。これらの信号は電離箱内
の気体密度に関係せず、従つて通常は検出器内の
中性子束の測度として使用される。
次に第３図を見ると、本発明方法を実施するた
めの回路の実例が略示されている。点線１９によ
つて囲まれた回路は、第２図中にブロツクとして
示された電源兼信号調節回路１９の機能を果すも
のである。また、点線２９によつて囲まれた回路
は、第２図中にブロツクとして示された演算回路
２９の機能を果すアナログ演算回路である。な
お、第２および３図区に示された同一要素には同
じ参照番号が付けられている。
第３図中に示された信号調節回路には、検出器
への印加電圧を供給する電源４０が含まれてい
る。かかる電源はここでは電池として図示されて
いるが、一般には非接地方式で動作し得る通常の
電源装置が使用される。AC信号調節回路の第１
の増幅段は差動増幅器４１から成り、またDC信
号調節回路の第１の増幅段は電流増幅器４２から
成る。差動増幅器４１の入力は検出器１の接地電
極と非接地電極との間に接続されている。
印加電圧供給源すなわち電源４０は検出器１の
非接地電極と電流増幅器４２の入力との間に接続
されている。電源４０と検出器１の非接地電極と
の間には適当な値の安定抵抗４３が接続されてい
る。DC信号調節回路をAC信号調節回路から分離
するため、差動増幅器４１の入力側には適当な値
のコンデンサ４４および４５がフイルタとして使
用される。適当な値のコンデンサ４６はAC信号
を電源４０およびDC信号調節回路に流さないた
めに役立つ。なお、差動増幅器４１として使用す
るのに適した増幅器はたとえばフエアチヤイルド
（Eairchild）UA749C型増幅器であり、また電流
増幅器４２として使用するのに適した増幅器はた
とえばアナログ・デバイシズ社（Analogue
Devices，Inc.）製の506L型増幅器である。
AC信号調節回路にはまた、帯域フイルタ５０
電圧増幅器５１、二乗回路５２、並びに抵抗５
３、５４およびコンデンサ５５から成るRC回路
が含まれている。帯域フイルタ５０は差動増幅器
４１の出力と電圧増幅器５１の入力との間に直列
接続されている。この帯域フイルタ５０は所定の
周波数範囲内の信号を通すように選ばれる。ある
周波数範囲内のAC信号が最高の信頼度を与える
ことは公知であるから、通過周波数周囲は適宜に
選べばよい。帯域フイルタ５０の出力は電圧増幅
器５１に送られるが、これは電圧増幅器として接
続されている点を別にすれば差動増幅器４１と同
種の増幅器である。電圧増幅器５１の出力は二乗
回路５２に送られる。二乗回路５２の出力はRC
回路に送らられるが、これは信号を安定化しかつ
平滑化するのに役立つ。かかるRC回路が使用さ
れる理由は、中性子束測定用の回路は雑音が多く
かつ変動を受け易いことにある。RC回路の時定
数は監視装置の使用目的に応じて選ばれる。監視
装置が主として検出器の非直線度を決定するため
に使用され、従つて読みの正確さが特に重要であ
る場合には、時定数の大きいRC回路が選ばれる。
監視装置が原子炉出力計算するために使用され、
従つて中性子束の迅速な表示が所望される場合に
は、それよりも時定数の小さいRC回路が望まし
い。なお、５０として使用するのに適した全帯域
フイルタはたとえば、テイー・テイー・エレクト
ロニクス社（T.T.Electronics，Inc.）製のK8777
−Ｂ型帯域フイルタであり、また５２として使用
するのに適した二乗回路はたとえばアナログ・デ
バイシズ社製の429B型乗算回路である。
DC信号調節回路には、電流増幅器４２並びに
抵抗６０，６１およびコンデンサ６２から成る
RC回路が含まれている。電流増幅器４２の入力
は電源４０および大地に接続されている。電流増
幅器４２の出力はDC信号調節回路中のRC回路に
接続されている。DC信号調節回路中のRC回路の
時定数は上記の場合と同様にして選ばれる。とは
言え、ひとたび時定数を選んだならば、いずれの
RC回路にも同じ時定数が与えられる。なぜなら、
AC信号およびDC信号は同一時点における検出器
内の中性子束を表わすことが必要だからである。
信号調節回路１９の端子２２および２３は演算
回路２９の端子２６および２７にそれぞれ接続さ
れている。従つて、AC信号およびDC信号は抵抗
６４および６５を通つて除算回路６６のＸおよび
Ｚ端子へ同時に送られる。抵抗６４および６５は
もつぱらAC信号およびDC信号を除算回路６６の
入力レベルに整合させるためのものである。除算
回路６６は、Ｙ端子の電圧がＺ端子の電圧をＸ端
子の電圧で割つた商に比例するようなものであれ
ば任意適宜の回路であり得る。従つて、Ｙ端子に
接続された線路６７上に現われる電圧は１／Ｒ
（ただしＲは検出器１から得られるAC信号とDC
信号との比である）に等しくなる。
この１／Ｒ信号を表示するため、DC電圧計
（または自動記録計など）３４が端子２９を通し
て線路６７に接続されている。DC信号が中性子
束の測度として使用される場合、電圧計３４の読
みが徐々に増大して初期値の（Ｍ＋１）Ｍ倍にな
れば、検出器の寿命が終了したことが示される。
また、電圧計３４の表示する信号が急激に変化し
た場合には、通例は封止部に漏れに原因する電離
箱内の気体密度の変化が示される。低出力レベル
における検出器のDC感度およびAC感度が既知で
あれば、電圧計３４の表示する信号の使用によつ
て高出力レベルにおけるDC感度およびAC感度が
計算され、従つて高出力レベルにおける検出器の
非直線度が決定される。
端子２７からのDC信号および線路６７からの
１／Ｒ信号は、抵抗７０および７１を通して乗算
回路７２のＹおよびＸ端子にそれぞれ送られる。
抵抗７０および７１はもつぱら信号を乗算回路の
入力レベルに整合させるためのものである。乗算
回路７２は、Ｚ端子の電圧がＸおよびＹ端子の電
圧の積に比例するようなものであれば任意適宜の
回路であり得る。従つて、Ｚ端子の電圧はVDC／
Ｒとなる。VDC／ＲはDC電圧計（または自動記
録計など）３５によつて表示される。の信号は電
離箱内の気体密度に関係なく電離箱内の中性子束
を表わすものである。
線路６７からの１／Ｒ信号はまた、抵抗８２を
通して二乗回路８１のＸ端子にも送られる。抵抗
８２はもつぱ１／Ｒ信号を二乗回路８１の入力レ
ベルに整合させるためのものである。二乗回路８
１は、Ｚ端子の電圧がＸ端子の電圧の二乗に比例
するようなものであれば任意適宜の回路であり得
る。従つて、Ｚ端子の電圧は１／R2に比例する。
二乗回路８１から１／R2信号および端子２６か
らのAC信号は乗算回路８３に送られる。二乗回
路８１のＺ端子は乗算回路８３のＸ端子に接続さ
れている。端子２６からのAC信号は、それを乗
算回路８３の入力レベルに整合させるように選ば
れた抵抗８４を通して乗算回路のＹ端子に送られ
る。乗算回路８３は、Ｚ端子の電圧がＸおよびＹ
端子の電圧の積に比例するようなものであれば任
意適宜の回路であり得る。従つて、DC電圧計
（または自動記録計など）３３上に表示されるＺ
端子の電圧はVMSV／R2となる。このVMSV／R2信
号は電離箱内の気体密度に関係なく電離箱内の中
性子束を表わすものである。
除算回路６６として使用するのに適した回路は
たとえばアナログ・デバイシズ社製の436B型除
算器であり、また乗算回路７２、二乗回路８１お
よび除算回路８３として使用するのに適した回路
はたとえばアナログ・デバイシズ社製の435K型
乗算器である。
次に第４図を見れば、変形された信号調節回路
および（アナログ演算回路ではなく）デイジタル
演算回路を使用した本発明の別の実施例が示され
ている。なお、第３および４図中に示された同一
要素には同じ参照番号が付けられている。信号調
節回路は点線１９′によつて囲まれ、またデイジ
タル演算回路は点線２９′によつて囲まれている。
第４図の信号調節回路が第３図のものと異なるの
は、検出器１の非接地電極と電源４０との間に接
続された非接地増幅器９０が第３図の増幅器４２
の代りに使用されている点である。この場合には
電源４０が接地されている。このような構成は監
視装置を複数の検出器の間で切換えて使用する場
合に特に適している。なお、第３図の信号調節回
路は監視装置をただ１つの検出器に対して使用す
る場合に好適である。第３および４図に示された
信号調節回路は互いに交換可能であつて、第３お
よび４図に示されたアナログおよびデイジタル演
算回路と自由に組合わせて使用できる。
第４図に示されたデイジタル演算回路２９′に
は、アナログ−デイジタル交換器９５および９６
並びにプログラム制御可能なデイジタル計算機９
７が含まれている。アナログ−デイジタル変換器
９５は端子２６からのAC信号を受信し、またア
ナログ−デイジタル変換器９６は端子２７からの
DC信号を受信する。アナログ−デイジタル変換
器９５および９６は、デイジタル計算器９７への
入力を可能にするため、それぞれAC信号および
DC信号をデイジタル表現に変換する。デイジタ
ル計算器９７は、本発明方法の演算を実行できる
ものであれば任意意適宜のデイジタル計算機であ
り得る。端子２８，２９および３０にはそれぞれ
VMSV／R2、１／ＲおよびVDC／Ｒが現われる。デ
イジタル計器３３，３４および３５を使用すれ
ば、それぞれVMSV／R2、１／ＲおよびVDC／Ｒの
視覚表示が得られる。これらの値のいずれか１つ
を永久的に記録することが所望されるならば、１
００として示されたような自動記録計が接続され
る。その場合には、自動記録計１００の入力条件
に合わせ計算機９７のデイジタル出力を変換する
ためのデイジタル−アナログ変換器１０１が併用
される。なお、９５および９６として使用するの
に適したアナログ−デイジタル変換器はたとえば
アナログ・デバイシズ社製のADC−12QZ型アナ
ログ−デイジタル変換器であり、９７として使用
するのに適したプログラム制御可能なデイジタル
計算機はたとえばインテル社（Intel，Inc.）製の
SBC80／10型デイジタル計算機であり、また１
０１として使用するのに適したデイジタル−アナ
ログ変換器はたとえばアナログ・デバイシズ社製
のDAC−12QM型デイジタル−アナログ変換器
である。
第３および４図に示された実施例のいずれにお
いても、封止部の破損が起つた場合には、AC信
号とDC信号との比がかなり急速に変化する。こ
のような変化はVDC／VMSVすなわち１／Ｒを表示
する計器３４によつて示される。ひとたび封止部
の破損が起れば、検出器の感度が変化するため計
器２４および２５の読みは誤つたものとなる。と
ころが、計器３３および３５上に表示される電圧
は変化しない。なぜなら、それらの値は電離箱内
の気体密度に関係なくVMSV／R2およびVDC／Ｒに
それぞれ比例するからである。計器３４はまた、
DC信号が中性子束の測度として使用される場合
に検出器の寿命終了を探知するためにも使用され
る。検出器の寿命終了は、計器３４の読みが初期
値の（Ｍ＋１）／Ｍ倍に等しくなることによつて
探知される。低出力レベルにおける検出器のAC
感度およびDC感度が既知である場合にはr〓／ro
が比較的一定である期間内ならば、式(44)および
（４５）の使用によつて高出力レベルにおける感度を
計算し、従つて検出器の非直線度を決定すること
ができる。通常、計器３３および３５に表示され
る値は電離箱内の気体密度に関係しない電離箱内
の中性子束の測度として使用される。その際、計
器３３上の補正されたAC信号は原子炉の低出力
レベルにおいて使用され、また計器３５上の補正
されたDC信号は原子炉の出力領域において使用
されるのが普通である。なお、計器２４および２
５は一般的な情報収集用として役立つものであ
る。
上記のごとき演算に当つては、AC信号とDC信
号との比の代りにDC信号とAC信号との比を使用
してもよいことに注意すべきである。その場合、
結果の数学的表現は異なるが原理は全く同じであ
る。
【図面の簡単な説明】
第１図は内部に中性子検出器の装備された原子
炉の炉心を示す略図、第２図は本発明に基づく電
気回路のブロツク図、第３図は本発明の一実施例
を示す略回路図、そして第４図は本発明の別の実
施例を示す略回路図である。 図中、１は中性子検出器、１１および１２は電
極、１３は空隙、１４は中性子受感物質の被膜、
１９は電源兼信号調節回路、そして２９は演算回
路を表わす。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １ 電離箱内の中性子束を共に表わす交流および
    直流並びに電離箱内のガンマ線を表わす直流を発
    生する電離性気体入りの電離箱を含むような中性
    子検出器の寿命終了を予測する方法において、前
    記電離箱内の平均二乗交流に比例するAC信号を
    作成し、前記電離箱内の直流に比例するDC信号
    を作成し、前記AC信号と前記DC信号との初期比
    R1を作成し、その後の時点における前記AC信号
    と前記DC信号との第２の比R2を作成し、そして
    前記DC信号が中性子束の測度として使用される
    場合には関係式 R2＝R1（Ｍ／Ｍ＋１） （ただし、Ｍは寿命終了時における前記電離箱
    内の中性子由来電流とガンマ線由来電流との比を
    表わす所定の倍数である）が成立つことによつて
    前記電離箱の寿命終了を探知する諸工程から成る
    方法。 ２ 電離箱内の中性子束を共に表わす交流および
    直流並びに電離箱内のガンマ線を表わす電流を発
    生する電離性気体入りの電離箱を含むような中性
    子検出器用の監視装置において、交流と直流とを
    分離することによつて前記電離箱内の平均二乗交
    流に比例する信号VMSVおよび前記電離箱内の直
    流に比例する信号VDCを発生するため前記検出器
    に接続された手段、前記VMSV信号および前記VDC
    信号を受信しかつ両者間で除算を行つて出力信号
    １／Ｒ（ただしＲは前記VMSV信号と前記VDC信号
    との比である）を与える手段並びに前記１／Ｒ信
    号に応答して前記１／Ｒ信号の急速な変化時には
    前記箱内の気体密度の変化を示しかつ前記１／Ｒ
    信号がその初期値の（Ｍ＋１）／Ｍ倍（ただし、
    Ｍは寿命終了時における前記電離箱内の中性子由
    来電流とガンマ線由来電流との比を表わす所定の
    倍数である）に等しい時には前記電離箱の寿命終
    了を示す手段を有する監視装置。 ３ 前記VMSV信号および前記VDC信号を受信する
    前記手段が、第１および第２の入力線路と出力線
    路を有していて前記第１の入力線路には前記VDC
    信号を供給する手段が接続されかつ前記第２の入
    力線路には前記VMSV信号を供給する手段が接続
    される結果として前記出力線路に信号１／Ｒ（た
    だしＲは前記VMSV信号と前記VDC信号との比であ
    る）を与えるような除算回路である、特許請求の
    範囲第２項記載の監視装置。 ４ 電離箱内の中性子束を共に表わす交流および
    直流並びに電離箱内のガンマ線を表わす直流を発
    生する電離性気体入りの電離箱を含むような中性
    子検出器用の監視装置において、交流と直流とを
    分離することによつて前記電離箱内の平均二乗交
    流に比例する信号VMSVおよび前記電離箱内の直
    流に比例する信号VDCを発生するため前記検出器
    に接続された手段、前記VMSV信号および前記VDC
    信号を受信しかつ両者間で除算を行つて出力信号
    １／Ｒ（ただしＲは前記VMSV信号と前記VDC信号
    との比である）を与える手段並びに前記１／Ｒ信
    号に応答して前記１／Ｒ信号の急速な変化時には
    前記箱内の気体密度の変化を示しかつ前記１／Ｒ
    信号がその初期値の（Ｍ＋１）／Ｍ倍（ただし、
    Ｍは寿命終了時における前記電離箱内の中性子由
    来電流とガンマ線由来電流との比を表わす所定の
    倍数である）に等しい時には前記電離箱の寿命終
    了を示す手段、第１および第２の入力線路と出力
    線路とを有していて前記第１の入力線路には前記
    VDC信号を供給する手段が接続されかつ前記第２
    の入力線路には前記１／Ｒ信号を供給する手段が
    接続される結果として前記電離箱内の気体密度に
    関係なく前記電離箱内の中性子束を表わす信号
    VDC／Ｒを前記出力線路に与えるような第１の乗
    算回路を有する監視装置。 ５ 電離箱内の中性子束を共に表わす交流および
    直流並びに電離箱内のガンマ線を表わす直流を発
    生する電離性気体入りの電離箱を含むような中性
    子検出器用の監視装置において、交流と直流とを
    分離することによつて前記電離箱内の平均二乗交
    流に比例する信号VMSVおよび前記電離箱内の直
    流に比例する信号VDCを発生するため前記検出器
    に接続された手段、前記VMSV信号および前記VDC
    信号を受信しかつ両者間で除算を行つて出力信号
    １／Ｒ（ただしＲは前記VMSV信号と前記VDC信号
    との比である）を与える手段、並びに前記１／Ｒ
    信号に応答して前記１／Ｒ信号の急速な変化時に
    は前記箱内の気体密度の変化を示しかつ前記１／
    Ｒ信号がその初期値の（Ｍ＋１）／Ｍ倍（ただ
    し、Ｍは寿命終了時における前記電離箱内の中性
    子由来電流とガンマ線由来電流との比を表わす所
    定の倍数である）に等しい時には前記電離箱の寿
    命終了を示す手段、第１および第２の入力線路と
    出力線路とを有していて前記第１の入力線路には
    前記VDC信号を供給する手段が接続されかつ前記
    第２の入力線路には前記１／Ｒ信号を供給する手
    段が接続される結果として前記電離箱内の気体密
    度に関係なく前記電離箱内の中性子束を表わす信
    号VDC／Ｒを前記出力線路に与えるような第１の
    乗算回路、入力線路および出力線路を有していて
    前記入力線路には前記１／Ｒ信号を供給する手段
    が接続される結果として前記出力線路に信号１／
    R2を与えるような二乗回路、並びに第１および
    第２の入力線路と出力線路とを有していて前記第
    １の入力線路には前記VMSV信号を供給する手段
    が接続されかつ前記第２入力線路には前記１／
    R2信号を供給する手段が接続される結果として
    前記電離箱内の気体密度に関係なく前記電離箱内
    の中性子束を表わす信号VMSV／R2を前記出力線
    路に与えるような第２の乗算回路を有する監視装
    置。
JP63307979A 1977-02-14 1988-12-07 中性子検出器出力の監視法と装置 Granted JPH021584A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US768551 1977-02-14
US05/768,551 US4103166A (en) 1977-02-14 1977-02-14 Method and apparatus for monitoring the output of a neutron detector

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1506478A Division JPS53112788A (en) 1977-02-14 1978-02-14 Method of and apparatus for monitoring neutron detector output

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3069363A Division JPH04218792A (ja) 1977-02-14 1991-03-11 中性子検出器の監視法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH021584A JPH021584A (ja) 1990-01-05
JPH0348471B2 true JPH0348471B2 (ja) 1991-07-24

Family

ID=25082822

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1506478A Granted JPS53112788A (en) 1977-02-14 1978-02-14 Method of and apparatus for monitoring neutron detector output
JP63307979A Granted JPH021584A (ja) 1977-02-14 1988-12-07 中性子検出器出力の監視法と装置
JP3069363A Granted JPH04218792A (ja) 1977-02-14 1991-03-11 中性子検出器の監視法

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1506478A Granted JPS53112788A (en) 1977-02-14 1978-02-14 Method of and apparatus for monitoring neutron detector output

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3069363A Granted JPH04218792A (ja) 1977-02-14 1991-03-11 中性子検出器の監視法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4103166A (ja)
JP (3) JPS53112788A (ja)
DE (1) DE2805568A1 (ja)
ES (1) ES466383A1 (ja)
IT (1) IT1092691B (ja)
SE (1) SE426525B (ja)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4373375A (en) * 1980-12-19 1983-02-15 General Electric Company Hydrogen sensor
JPS58100767A (ja) * 1981-12-10 1983-06-15 Toshiba Corp 中性子検出器の寿命評価装置
US4582673A (en) * 1983-09-12 1986-04-15 General Electric Company Fission-chamber-compensated self-powered detector for in-core flux measurement and reactor control
FR2553225B1 (fr) * 1983-10-07 1989-05-19 Electricite De France Procede et dispositif de controle de capteurs neutroniques en fonctionnement
US4634568A (en) * 1983-10-19 1987-01-06 General Electric Company Fixed incore wide range neutron sensor
NO306358B1 (no) * 1991-08-08 1999-10-25 Schlumberger Technology Bv Verifisering- og stabiliseringsanordning for nöytronstrÕlingsdetektor av proporsjonaltellertypen tilpasset en brönnloggesonde
JP4299927B2 (ja) * 1998-08-31 2009-07-22 株式会社東芝 中性子束計測装置
JP3936107B2 (ja) 1998-09-21 2007-06-27 株式会社東芝 原子炉起動監視装置および炉内出力監視方法
RU2154288C2 (ru) * 1998-10-01 2000-08-10 Научно-исследовательский технологический институт им. А.П. Александрова Способ диагностирования ионизационной камеры системы управления и защиты ядерного реактора
JP4098469B2 (ja) * 2000-11-14 2008-06-11 株式会社東芝 核融合炉出力モニタ装置
US8223913B2 (en) * 2004-03-31 2012-07-17 Thermo Fisher Scientific Inc. Method and apparatus for detecting high-energy radiation using a pulse mode ion chamber
US7368726B2 (en) * 2004-03-31 2008-05-06 Thermo Fisher Scientific Inc. Method and apparatus for detecting high-energy radiation using a pulse mode ion chamber
JP4509831B2 (ja) * 2005-03-11 2010-07-21 株式会社東芝 出力分布監視装置及びその監視方法
JP4881033B2 (ja) * 2006-02-21 2012-02-22 株式会社東芝 中性子検出器の寿命判定装置およびその寿命判定方法ならびに原子炉炉心監視装置
FR3005196A1 (fr) * 2013-04-25 2014-10-31 Commissariat Energie Atomique Systeme de controle commande de cœur de reacteur nucleaire
CN113421669B (zh) * 2021-06-17 2022-04-01 中国核动力研究设计院 基于局部非线性修正的堆芯功率分布在线重构方法及系统
US20250297912A1 (en) * 2024-03-25 2025-09-25 Halliburton Energy Services, Inc. Early Leakage Detection For A Neutron Generator

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB853175A (en) * 1957-11-19 1960-11-02 Atomic Energy Authority Uk Improvements in or relating to radiation measuring equipment
US3043954A (en) * 1959-10-12 1962-07-10 Gen Electric Fission chamber assembly
US3565760A (en) * 1967-10-23 1971-02-23 Gen Electric Nuclear reactor power monitor system
US3916193A (en) * 1973-08-31 1975-10-28 Gen Atomic Co Radiation flux measuring device

Also Published As

Publication number Publication date
IT7820217A0 (it) 1978-02-13
IT1092691B (it) 1985-07-12
DE2805568C2 (ja) 1992-10-08
JPS53112788A (en) 1978-10-02
US4103166A (en) 1978-07-25
JPH0151790B2 (ja) 1989-11-06
JPH0524470B2 (ja) 1993-04-07
SE7801723L (sv) 1978-08-15
ES466383A1 (es) 1979-10-01
JPH021584A (ja) 1990-01-05
JPH04218792A (ja) 1992-08-10
DE2805568A1 (de) 1978-08-17
SE426525B (sv) 1983-01-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0524470B2 (ja)
KR19990064027A (ko) 자체 동력형 고정 인코어 검출기
US5475727A (en) Intelligent automatic gain stabilization for radiation detection instrument
CN114740520B (zh) 一种放射性惰性气体活度测量装置及方法
US4441024A (en) Wide range radioactive gas concentration detector
EP1586918B1 (en) Method and apparatus for detecting high-energy radiation using an ion chamber with an alternating polarity voltage
JP4455279B2 (ja) 放射性ダストモニタ
US4551298A (en) Radiation monitoring apparatus
Loysen Errors in measurement of working level
Evans et al. Improved counting rate meter
KR101918241B1 (ko) 플라스틱 섬광 검출기용 감마핵종 측정분석프로그램을 기록한 매체 및 그 프로그램을 이용한 감마핵종 측정분석방법
JP4881033B2 (ja) 中性子検出器の寿命判定装置およびその寿命判定方法ならびに原子炉炉心監視装置
RU226827U1 (ru) Широкодиапазонный блок детектирования гамма-излучения
JPH0426073B2 (ja)
Evans et al. A Direct‐Reading Counting Rate Ratio Meter
Jones et al. Application of Geiger-Müller counters over a wide range of counting rates
Bayer et al. Alternating Current Polarography: Evaluation of the Accuracy of the Data and Calculation Procedures
Sheng et al. Design of data acquisition system for 12-electrode electrical capacitance tomography
Franz III Instrumentation use in the uranium mill tailings program in Colorado
US2931907A (en) Radiation detector and method for checking the calibration thereof
Macrae The instrumentation of reactors
BR102024011326A2 (pt) Sistema eletrónico de análise e contagem de pulsos de detector de nêutronseseumétododeuso
Tamiya Nonlinear Effect upon the Equivalent Circuit of Interface Impedance in Pulse Methods
JPS6158790B2 (ja)
JPH0527020Y2 (ja)