JPH0350008B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0350008B2 JPH0350008B2 JP59149223A JP14922384A JPH0350008B2 JP H0350008 B2 JPH0350008 B2 JP H0350008B2 JP 59149223 A JP59149223 A JP 59149223A JP 14922384 A JP14922384 A JP 14922384A JP H0350008 B2 JPH0350008 B2 JP H0350008B2
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- JP
- Japan
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- package
- signal
- level
- winding
- reflected light
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- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H63/00—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package
- B65H63/006—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package quality control of the package
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H2701/00—Handled material; Storage means
- B65H2701/30—Handled filamentary material
- B65H2701/31—Textiles threads or artificial strands of filaments
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Spinning Or Twisting Of Yarns (AREA)
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
- Filamentary Materials, Packages, And Safety Devices Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は巻糸機によつて生産される巻糸パツケ
ージの巻形を検査する方法に関する。
ージの巻形を検査する方法に関する。
従来技術
繊維機械、例えば精紡管糸を巻返し所定の大き
さ、形状のパツケージを生産する自動ワインダに
おいて、巻上げられたパツケージには種々の原因
によつて、巻形不良のパツケージが混在してい
る。例えば代表的なものとして第８図イ，ロ，ハ
に示すような、糸端Y1が糸層端面Ｆから落ちて
巻取管Ｋに巻付いたり糸層の中に入つた端面落ち
パツケージＰ１、テンシヨン変動により糸層に段
Ｔが生じた段巻パツケージＰ２、あるいは、テン
シヨン、接圧の不適、巻取管の偏心等によつて生
じる菊巻きＧと称する端面表面が凸凹になつたパ
ツケージＰ３等、種々の巻形不良のパツケージが
ある。このような巻形不良パツケージはそのまま
編機、織機において使用するとスムーズな解じよ
が行われず、糸切れを生じる原因となるため、一
般にパツケージの玉場後、編織工程へ搬送するの
に先立つて巻形の検査が作業者の目視により行わ
れている。
さ、形状のパツケージを生産する自動ワインダに
おいて、巻上げられたパツケージには種々の原因
によつて、巻形不良のパツケージが混在してい
る。例えば代表的なものとして第８図イ，ロ，ハ
に示すような、糸端Y1が糸層端面Ｆから落ちて
巻取管Ｋに巻付いたり糸層の中に入つた端面落ち
パツケージＰ１、テンシヨン変動により糸層に段
Ｔが生じた段巻パツケージＰ２、あるいは、テン
シヨン、接圧の不適、巻取管の偏心等によつて生
じる菊巻きＧと称する端面表面が凸凹になつたパ
ツケージＰ３等、種々の巻形不良のパツケージが
ある。このような巻形不良パツケージはそのまま
編機、織機において使用するとスムーズな解じよ
が行われず、糸切れを生じる原因となるため、一
般にパツケージの玉場後、編織工程へ搬送するの
に先立つて巻形の検査が作業者の目視により行わ
れている。
発明が解決しようとする問題点
上記検査方法では微少な不良部分は見逃すこと
があり、また、見る角度によつても巻形不良をチ
エツクミスすることがあり、自動ワインダーから
自動玉場、搬送、あるいは梱包出荷を自動搬送す
るシステムにおいて大きな問題点となつている。
があり、また、見る角度によつても巻形不良をチ
エツクミスすることがあり、自動ワインダーから
自動玉場、搬送、あるいは梱包出荷を自動搬送す
るシステムにおいて大きな問題点となつている。
本発明は、上記問題点を解消し、巻形不良パツ
ケージの検査を正確に行い得る方法を提供するも
のである。
ケージの検査を正確に行い得る方法を提供するも
のである。
問題点を解決するための手段
本発明は、パツケージ端面の半径または直径線
上に照射された光の反射光をイメージセンサで撮
像し光電変換されたレベル信号および基準レベル
信号とを比較処理すると共に、上記パツケージを
パツケージの軸心を中心として回転させつつ上記
イメージセンサで撮像した光情報に基いて、パツ
ケージ端面に表われる巻形不良を検査するように
したものである。
上に照射された光の反射光をイメージセンサで撮
像し光電変換されたレベル信号および基準レベル
信号とを比較処理すると共に、上記パツケージを
パツケージの軸心を中心として回転させつつ上記
イメージセンサで撮像した光情報に基いて、パツ
ケージ端面に表われる巻形不良を検査するように
したものである。
実施例
以下、本発明の実施例を図面に従つて説明す
る。
る。
第１図において、検査装置は検査対象となるパ
ツケージ１の糸層表面２に光を照射する光源３、
レンズ４等の投光部５と反射した光を受光するレ
ンズ６、イメージセンサ７等の受光部８と、受光
した情報を分析する分析装置９とから構成され
る。上記イメージセンサ７で得られた光信号は電
気信号に変換されて、雑音除去器１０を経て増巾
器１１により処理に適した大きさの信号とされ、
さらに、アナログ−デジタル変換器１２を介して
デジタル信号化される。該信号は設定レベルと比
較するのに適した信号とするため正規化回路１３
に入力され、場合によつてはメモリ１４に入力
し、一時待機させることも可能である。正規化さ
れた信号はレベル比較器１５に入力され、予め入
力されている設定レベルと演算装置１６により比
較演算され、比較した結果、不良パツケージある
いは正常パツケージである出力信号が出力され、
不良パツケージ信号であれば例えば赤ランプを点
灯させるとか、別の搬送路への搬送振分け装置を
駆動させる信号として出力される。
ツケージ１の糸層表面２に光を照射する光源３、
レンズ４等の投光部５と反射した光を受光するレ
ンズ６、イメージセンサ７等の受光部８と、受光
した情報を分析する分析装置９とから構成され
る。上記イメージセンサ７で得られた光信号は電
気信号に変換されて、雑音除去器１０を経て増巾
器１１により処理に適した大きさの信号とされ、
さらに、アナログ−デジタル変換器１２を介して
デジタル信号化される。該信号は設定レベルと比
較するのに適した信号とするため正規化回路１３
に入力され、場合によつてはメモリ１４に入力
し、一時待機させることも可能である。正規化さ
れた信号はレベル比較器１５に入力され、予め入
力されている設定レベルと演算装置１６により比
較演算され、比較した結果、不良パツケージある
いは正常パツケージである出力信号が出力され、
不良パツケージ信号であれば例えば赤ランプを点
灯させるとか、別の搬送路への搬送振分け装置を
駆動させる信号として出力される。
例えば、検査対象のパツケージ１の端面１ａが
第３図の如く、環状凹部１７を有する段巻状の不
良パツケージであるとして、検査方法を説明す
る。第１図のように、パツケージ端面に照射され
た光Ｘ１の反射光Ｘ２をイメージセンサ７で撮像
する際、パツケージ１の半径ｄ部分の反射光Ｘ２
を受光する場合は、光電変換された電気信号Ｌ１
は第２図の線Ｌ１となり、さらに雑音除去された
信号Ｌ２は第２図の線Ｌ２となる。ここで、高レ
ベル部分１８はパツケージ端面の平面部１ａに相
当し、低レベル部分１９は第３図のパツケージ１
の凹部１７に相当する。なお、信号Ｌ２の他の小
さい低レベル部分２０はパツケージ表面には表わ
れていないか、表われているとしても微少な凹部
であり、何らかの外乱によつて生じた低レベル部
分である。さらに上記信号Ｌ２は増巾器１１、
Ａ／Ｄ変換器１２を経て正規化回路１３に入力さ
れて、信号レベル強度を比較するのに適した０〜
１の信号Ｌ３とされる。このように正規化された
信号レベルＬ３と予め設定されている基準レベル
Ｖが比較されて、基準レベルＶを越えている信号
部分２１が存在する時は第２図の線Ｌ４の如き矩
形波２２を有する信号として出力され、不良パツ
ケージ信号が出力される。なお、基準レベルＶの
設定は糸の太さ、色、イメージセンサの精度等に
より設定値（α）を適宜変更することが可能であ
る。
第３図の如く、環状凹部１７を有する段巻状の不
良パツケージであるとして、検査方法を説明す
る。第１図のように、パツケージ端面に照射され
た光Ｘ１の反射光Ｘ２をイメージセンサ７で撮像
する際、パツケージ１の半径ｄ部分の反射光Ｘ２
を受光する場合は、光電変換された電気信号Ｌ１
は第２図の線Ｌ１となり、さらに雑音除去された
信号Ｌ２は第２図の線Ｌ２となる。ここで、高レ
ベル部分１８はパツケージ端面の平面部１ａに相
当し、低レベル部分１９は第３図のパツケージ１
の凹部１７に相当する。なお、信号Ｌ２の他の小
さい低レベル部分２０はパツケージ表面には表わ
れていないか、表われているとしても微少な凹部
であり、何らかの外乱によつて生じた低レベル部
分である。さらに上記信号Ｌ２は増巾器１１、
Ａ／Ｄ変換器１２を経て正規化回路１３に入力さ
れて、信号レベル強度を比較するのに適した０〜
１の信号Ｌ３とされる。このように正規化された
信号レベルＬ３と予め設定されている基準レベル
Ｖが比較されて、基準レベルＶを越えている信号
部分２１が存在する時は第２図の線Ｌ４の如き矩
形波２２を有する信号として出力され、不良パツ
ケージ信号が出力される。なお、基準レベルＶの
設定は糸の太さ、色、イメージセンサの精度等に
より設定値（α）を適宜変更することが可能であ
る。
上記の例では、線Ｌ３においてレベル２１が基
準レベルＶより小さい場合を示したが、糸層表面
の状態によつては第４図のように、反射光量が部
分的に他の部分より大きくなる信号部分２３が生
じることがあるが、このような場合に対応できる
ように基準レベルVHを前記基準レベルVLより大
きい値に設定しておくことにより、不良パツケー
ジを判別することができる。即ち、糸層表面の正
常部分の標準レベル１８よりも高い側に入力信号
レベルが変化する部分がある場合は基準レベル
VHと比較し、標準レベル１８よりも低い側に入
力信号レベルの変化する部分が表われる場合は前
記基準レベルVLと比較するように演算装置１６
により制御することができる。
準レベルＶより小さい場合を示したが、糸層表面
の状態によつては第４図のように、反射光量が部
分的に他の部分より大きくなる信号部分２３が生
じることがあるが、このような場合に対応できる
ように基準レベルVHを前記基準レベルVLより大
きい値に設定しておくことにより、不良パツケー
ジを判別することができる。即ち、糸層表面の正
常部分の標準レベル１８よりも高い側に入力信号
レベルが変化する部分がある場合は基準レベル
VHと比較し、標準レベル１８よりも低い側に入
力信号レベルの変化する部分が表われる場合は前
記基準レベルVLと比較するように演算装置１６
により制御することができる。
さらに、第５図のように、標準レベル１８の両
側にレベル変化部分２４，２５が表われる場合に
は上記二つの基準レベルVH，VLと比較すること
により、前記パツケージ１とは異つた状態の不良
巻形パツケージを判別できる。即ち、分析装置９
内における測定入力信号の処理および基準レベル
信号の組合わせにより、パツケージの巻形不良の
種類を判別することも可能である。
側にレベル変化部分２４，２５が表われる場合に
は上記二つの基準レベルVH，VLと比較すること
により、前記パツケージ１とは異つた状態の不良
巻形パツケージを判別できる。即ち、分析装置９
内における測定入力信号の処理および基準レベル
信号の組合わせにより、パツケージの巻形不良の
種類を判別することも可能である。
さらに、上記検査装置によつて、パツケージ径
を測定し、巻量の過不足による不良パツケージを
も判別可能である。即ち、第１図における光照射
範囲をパツケージの端面の直径巾（第３図Ｄ）以
上の巾Ｉに渡る範囲とし、イメージセンサ７の撮
像巾を正常な糸量のパツケージの直径以上の巾と
しておくことにより可能である。例えば得られる
光量レベル信号が正規化した段階で、例えば第６
図に示すレベル信号Ｌ５とする。ここで、範囲Ｉ
はイメージセンサ７の撮像範囲であり、範囲Ｉに
はイメージセンサの画素数（Ｎ）が等ピツチ
（μ）で分割されており、上記１ピツチ（μ）の
パツケージ上における実際の距離は検査対象のパ
ツケージとイメージセンサとの距離によつて決ま
る値である。また、第６図の信号線Ｌ５から、高
レベル部分２６，２６と最低レベル２７，２７と
の境界位置Ａ，Ｂがパツケージ１端面の最外層で
あり、中心線２８の両側に第３図のパツケージ１
の巻形不良部分１７，１７を示すレベル１９，１
９が対称に表われている。低レベル部分２９は巻
取管Ｋの部分である。なお該部分Ｋは光の照射角
度によつて、レベル位置は変化し、他の部分２
６，２６より上方へ突出する場合もある。従つ
て、上記位置Ａ，Ｂ間の距離Ｓ内にある画素数を
カウントし、該カウント数に、上記画素間のピツ
チ（μ）を掛け合わせ、さらに、実際上の寸法に
補正するための定数を乗算すれば、距離Ｓの実寸
法が算出される。この値を予め設定される満巻パ
ツケージの外径寸法と比較することにより、糸巻
量の良否が判別できるのである。
を測定し、巻量の過不足による不良パツケージを
も判別可能である。即ち、第１図における光照射
範囲をパツケージの端面の直径巾（第３図Ｄ）以
上の巾Ｉに渡る範囲とし、イメージセンサ７の撮
像巾を正常な糸量のパツケージの直径以上の巾と
しておくことにより可能である。例えば得られる
光量レベル信号が正規化した段階で、例えば第６
図に示すレベル信号Ｌ５とする。ここで、範囲Ｉ
はイメージセンサ７の撮像範囲であり、範囲Ｉに
はイメージセンサの画素数（Ｎ）が等ピツチ
（μ）で分割されており、上記１ピツチ（μ）の
パツケージ上における実際の距離は検査対象のパ
ツケージとイメージセンサとの距離によつて決ま
る値である。また、第６図の信号線Ｌ５から、高
レベル部分２６，２６と最低レベル２７，２７と
の境界位置Ａ，Ｂがパツケージ１端面の最外層で
あり、中心線２８の両側に第３図のパツケージ１
の巻形不良部分１７，１７を示すレベル１９，１
９が対称に表われている。低レベル部分２９は巻
取管Ｋの部分である。なお該部分Ｋは光の照射角
度によつて、レベル位置は変化し、他の部分２
６，２６より上方へ突出する場合もある。従つ
て、上記位置Ａ，Ｂ間の距離Ｓ内にある画素数を
カウントし、該カウント数に、上記画素間のピツ
チ（μ）を掛け合わせ、さらに、実際上の寸法に
補正するための定数を乗算すれば、距離Ｓの実寸
法が算出される。この値を予め設定される満巻パ
ツケージの外径寸法と比較することにより、糸巻
量の良否が判別できるのである。
なお、第１図におけるパツケージ端面１ａに表
わされる巻形不良を検査する際、さらに検査ミス
を防止するためには、パツケージ１を巻取管Ｋの
軸心を中心として一回転させつつ、イメージセン
サ７で読取るようにすれば、円周方向全域に渡る
巻形不良部分をチエツクできるほか、部分的に表
われる巻形不良部分をもチエツクすることができ
る。
わされる巻形不良を検査する際、さらに検査ミス
を防止するためには、パツケージ１を巻取管Ｋの
軸心を中心として一回転させつつ、イメージセン
サ７で読取るようにすれば、円周方向全域に渡る
巻形不良部分をチエツクできるほか、部分的に表
われる巻形不良部分をもチエツクすることができ
る。
さらに、第８図ロで示すようなパツケージ外周
面に巻形不良部分がある場合は、第７図に示すよ
うに、パツケージＰ２の外周面の母線方向全域Ｈ
に渡つて光を照射し、イメージセンサ７の撮像範
囲を上記範囲Ｈとすることにより、パツケージ外
周面の巻形不良部分Ｔをチエツクすることが可能
であり、この場合も第１図の分析装置９から出力
される反射光のレベル信号を処理した出力信号は
第２図の線Ｌ４の如き、パツケージの表面部分の
レベル１８よりも小さい低レベル信号域２２を含
んでおり、不良パツケージ信号として出力され
る。なお、第７図のようにパツケージの外周表面
の不良部分を検査する場合も、巻取管Ｋの軸心の
回りにパツケージを１回転させれば、周面に連続
していない部分的な不良部分をチエツクすること
ができる。
面に巻形不良部分がある場合は、第７図に示すよ
うに、パツケージＰ２の外周面の母線方向全域Ｈ
に渡つて光を照射し、イメージセンサ７の撮像範
囲を上記範囲Ｈとすることにより、パツケージ外
周面の巻形不良部分Ｔをチエツクすることが可能
であり、この場合も第１図の分析装置９から出力
される反射光のレベル信号を処理した出力信号は
第２図の線Ｌ４の如き、パツケージの表面部分の
レベル１８よりも小さい低レベル信号域２２を含
んでおり、不良パツケージ信号として出力され
る。なお、第７図のようにパツケージの外周表面
の不良部分を検査する場合も、巻取管Ｋの軸心の
回りにパツケージを１回転させれば、周面に連続
していない部分的な不良部分をチエツクすること
ができる。
発明の効果
以上のように、本発明では、パツケージの端面
の半径または直径線上に光を照射し、パツケージ
の軸心回りに回転させつつ、イメージセンサによ
つて撮像するので、パツケージの端面に表われる
巻形不良、特に作業者の目視によつては見逃すよ
うな欠点をも確実に検査できると共に、半径線上
の反射光量の回転角度毎の変化が検出でき、巻形
不良のパターンを認識することも可能である。
の半径または直径線上に光を照射し、パツケージ
の軸心回りに回転させつつ、イメージセンサによ
つて撮像するので、パツケージの端面に表われる
巻形不良、特に作業者の目視によつては見逃すよ
うな欠点をも確実に検査できると共に、半径線上
の反射光量の回転角度毎の変化が検出でき、巻形
不良のパターンを認識することも可能である。
第１図は本発明を実施する装置の実施例を示す
ブロツク図、第２図は巻形不良の場合に得られる
信号線図、第３図はパツケージの一部断面図、第
４図、第５図は巻形不良を示す信号線図の例を示
す図、第６図はパツケージの巻径を検査する際の
信号線図、第７図はパツケージの外周表面の不良
部分を検査する際の光の照射・反射方向を示す
図、第８図イ，ロ，ハは巻糸パツケージの巻形不
良のパターンを示す斜視図である。 １……巻糸パツケージ、２……糸層表面、３…
…光源、７……イメージセンサ、９……分析装
置、Ｌ１〜Ｌ５……反射光レベル信号。
ブロツク図、第２図は巻形不良の場合に得られる
信号線図、第３図はパツケージの一部断面図、第
４図、第５図は巻形不良を示す信号線図の例を示
す図、第６図はパツケージの巻径を検査する際の
信号線図、第７図はパツケージの外周表面の不良
部分を検査する際の光の照射・反射方向を示す
図、第８図イ，ロ，ハは巻糸パツケージの巻形不
良のパターンを示す斜視図である。 １……巻糸パツケージ、２……糸層表面、３…
…光源、７……イメージセンサ、９……分析装
置、Ｌ１〜Ｌ５……反射光レベル信号。
Claims (1)
- １ 精紡管糸を巻返したパツケージの糸層端面の
巻形を検査する方法であり、パツケージ端面に照
射された光の反射光のうち、特にパツケージ端面
の半径線または直径線上の多数に分割された点の
反射光を、多数の画素数を有するイメージセンサ
で撮像し、かつ、上記パツケージをパツケージの
軸心を中心に回転させつつ、回転角度毎の半径ま
たは直径線上の上記反射光を撮像し、上記イメー
ジセンサで得られる回転角度毎の反射光量レベル
信号に基いてパツケージ端面に表われる糸層表面
の不良巻形状を検査することを特徴とする巻糸パ
ツケージの巻形検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14922384A JPS6128033A (ja) | 1984-07-17 | 1984-07-17 | 巻糸パツケ−ジの巻形検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14922384A JPS6128033A (ja) | 1984-07-17 | 1984-07-17 | 巻糸パツケ−ジの巻形検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6128033A JPS6128033A (ja) | 1986-02-07 |
| JPH0350008B2 true JPH0350008B2 (ja) | 1991-07-31 |
Family
ID=15470549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14922384A Granted JPS6128033A (ja) | 1984-07-17 | 1984-07-17 | 巻糸パツケ−ジの巻形検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6128033A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0481980U (ja) * | 1990-11-29 | 1992-07-16 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5113324Y2 (ja) * | 1971-02-26 | 1976-04-09 |
-
1984
- 1984-07-17 JP JP14922384A patent/JPS6128033A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6128033A (ja) | 1986-02-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |