JPS6128033A - 巻糸パツケ−ジの巻形検査装置 - Google Patents
巻糸パツケ−ジの巻形検査装置Info
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- JPS6128033A JPS6128033A JP14922384A JP14922384A JPS6128033A JP S6128033 A JPS6128033 A JP S6128033A JP 14922384 A JP14922384 A JP 14922384A JP 14922384 A JP14922384 A JP 14922384A JP S6128033 A JPS6128033 A JP S6128033A
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H63/00—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package
- B65H63/006—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package quality control of the package
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H2701/00—Handled material; Storage means
- B65H2701/30—Handled filamentary material
- B65H2701/31—Textiles threads or artificial strands of filaments
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
- Filamentary Materials, Packages, And Safety Devices Therefor (AREA)
- Spinning Or Twisting Of Yarns (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は巻糸機によって生産される巻糸パッケージの巻
形を検査する装置に関する。
形を検査する装置に関する。
従来技術
繊維機械、例えば精紡管糸を巻返し所定の大きさ、形状
のパッケージを生産する自動ワインダにおいて１巻上げ
られたパッケージには種々の原因１乙よって、巻形不良
のパッケージが混在している。例えば代表的なものとし
て第８図（イ）（ロ）ｅ→に示すような、糸端（Ｙｌ）
が糸層端面口から落ちて巻取管的に巻付いたり糸層の中
に入った端面落ちパッケージ（Ｐ溶ンション変動により
糸層に段■が生じた段巻パッケージ（、Ｐ２）、ある凸
凹になったパッケージ（Ｐ３）等、種々の巻形不良のパ
ッケージがある。このような巻形不良パッケージはその
まま編機、織機において使用するとスムーズな解じょが
行われず、糸切れを生じる原因となるため、一般にパッ
ケージの玉揚後１編織工程へ搬送するのに先立って巻形
の検査が作業者の目視により行われているう発明が解決
しようとする問題点 上記検査方法では徹少な不良部分は見逃すことがあり、
また、見る角度によっても巻形不良をチェックミスする
ことがあり、自動ワインダーから自動玉揚、搬送、ある
いは梱包出荷を自動搬送するシステムにおいて大きな問
題点となっている。
のパッケージを生産する自動ワインダにおいて１巻上げ
られたパッケージには種々の原因１乙よって、巻形不良
のパッケージが混在している。例えば代表的なものとし
て第８図（イ）（ロ）ｅ→に示すような、糸端（Ｙｌ）
が糸層端面口から落ちて巻取管的に巻付いたり糸層の中
に入った端面落ちパッケージ（Ｐ溶ンション変動により
糸層に段■が生じた段巻パッケージ（、Ｐ２）、ある凸
凹になったパッケージ（Ｐ３）等、種々の巻形不良のパ
ッケージがある。このような巻形不良パッケージはその
まま編機、織機において使用するとスムーズな解じょが
行われず、糸切れを生じる原因となるため、一般にパッ
ケージの玉揚後１編織工程へ搬送するのに先立って巻形
の検査が作業者の目視により行われているう発明が解決
しようとする問題点 上記検査方法では徹少な不良部分は見逃すことがあり、
また、見る角度によっても巻形不良をチェックミスする
ことがあり、自動ワインダーから自動玉揚、搬送、ある
いは梱包出荷を自動搬送するシステムにおいて大きな問
題点となっている。
本発明は、上記問題点を解決し１巻形不良パッケージの
検査を正確に行い得る装置を提供するものである。
検査を正確に行い得る装置を提供するものである。
問題点を解決するための手段
本発明は、巻糸パッケージの糸層表面を照射する光源と
、糸層表面で反射した光情報を撮像するイメージセンサ
と、該イメージセンサによって得られた光情報を分析す
る分析装置とからなる検査装置によって１巻糸パツケー
ジ表面の形状不良を検査するものである。
、糸層表面で反射した光情報を撮像するイメージセンサ
と、該イメージセンサによって得られた光情報を分析す
る分析装置とからなる検査装置によって１巻糸パツケー
ジ表面の形状不良を検査するものである。
実施例
以下、本発明の実施例を図面に従って説明する。
（３）ルンズ（４）等の投光部（５）と反射した光を受
光するレンズ（６）、イメージセンサ（力等の受光部（
８）と、受光した情報を分析する分析装置（９）とから
構成される。上記イメ一ジセンサ（力で得られた光信号
は電気信号に変換されて、雑音除去器（１０）を経て増
巾器（１１）により処理に適した大きさの信号とされ、
さらに、アナログ−デジタル変換器（１２）を介してデ
ジタル信号化される。該信号は設定レベルと比較するの
に適した信号とするため正規化回路（１３）に入力され
、場合によってはメモリ（１４）に入力し、一時待機さ
せることも可能である。正規化された信号はレベル比較
器（１５）に入力され、予め入力されている設定レベル
と演算装置（１６）により比較演算され、比較した結果
、不良パッケージあるいは正常パッケージである出力信
号が出力され、不良パッケージ信号であれば例えば赤ラ
ンプを点灯させるとか、別の搬送路への搬送振分は装置
を駆動させる信号として出力される。
光するレンズ（６）、イメージセンサ（力等の受光部（
８）と、受光した情報を分析する分析装置（９）とから
構成される。上記イメ一ジセンサ（力で得られた光信号
は電気信号に変換されて、雑音除去器（１０）を経て増
巾器（１１）により処理に適した大きさの信号とされ、
さらに、アナログ−デジタル変換器（１２）を介してデ
ジタル信号化される。該信号は設定レベルと比較するの
に適した信号とするため正規化回路（１３）に入力され
、場合によってはメモリ（１４）に入力し、一時待機さ
せることも可能である。正規化された信号はレベル比較
器（１５）に入力され、予め入力されている設定レベル
と演算装置（１６）により比較演算され、比較した結果
、不良パッケージあるいは正常パッケージである出力信
号が出力され、不良パッケージ信号であれば例えば赤ラ
ンプを点灯させるとか、別の搬送路への搬送振分は装置
を駆動させる信号として出力される。
例えば、１検査対象のパッケージ（１）の端面（１ａ）
が第３図の如く、環状凹部Ｃ１７）を有する段巻状の不
良パブケージであるとして、検査方法を説明する。第１
図のように、パブケージ端面に照射された光（ＸＩ）の
反射光（Ｘ２）をイメージセンサ（力で撮像する際、パ
ッケージ（１）の半組（ｄ）部分の反射）２（Ｘ２）を
受光する場合は、光電変換された電気信号（Ｌｌ）は第
２図の線（Ｌｌ）となり、さらに雑音除去された信号（
Ｌ２）は第２図の線（Ｌ２）となる。ここで、高レベル
部分（１８）はパブケージ端面の平面部（１ａ）に相当
し、低レベル部分（１９）は第３図のパッケージ（１）
の凹部（エフ）に相当する。
が第３図の如く、環状凹部Ｃ１７）を有する段巻状の不
良パブケージであるとして、検査方法を説明する。第１
図のように、パブケージ端面に照射された光（ＸＩ）の
反射光（Ｘ２）をイメージセンサ（力で撮像する際、パ
ッケージ（１）の半組（ｄ）部分の反射）２（Ｘ２）を
受光する場合は、光電変換された電気信号（Ｌｌ）は第
２図の線（Ｌｌ）となり、さらに雑音除去された信号（
Ｌ２）は第２図の線（Ｌ２）となる。ここで、高レベル
部分（１８）はパブケージ端面の平面部（１ａ）に相当
し、低レベル部分（１９）は第３図のパッケージ（１）
の凹部（エフ）に相当する。
なお、信号〔Ｌ２）の他の小さい低レベル部分（２０）
はパッケージ表面には表われていないか１表われている
としても微少な凹部であり、何らかの外乱１こよって生
じた低レベル部分である。さらに上記信号（Ｌ２）は増
巾器（１１）、Ａ／Ｄ変換器（１２）を経て正規化回路
（工３）に入力されて、信号レベル強度を比較するのに
適したＯ〜１の信号（Ｌ３）とされろうこのように正規
化された信号レベル（Ｌ３）と予め設定されている基準
レベル（Ｖ）が比較されて、基準レベル（Ｖ）を越えで
いる信号部分Ｃ２１）が存在する時は第２図の線（Ｌ４
）の如き矩形波（２２）を有する信号として出力され、
不良パッケージ信号が出力される。なお、基準レベル（
Ｖ）の設定は糸の太さ１色、イメージセンサの精度等に
より設定値（α）を適宜変更することが可能である。
はパッケージ表面には表われていないか１表われている
としても微少な凹部であり、何らかの外乱１こよって生
じた低レベル部分である。さらに上記信号（Ｌ２）は増
巾器（１１）、Ａ／Ｄ変換器（１２）を経て正規化回路
（工３）に入力されて、信号レベル強度を比較するのに
適したＯ〜１の信号（Ｌ３）とされろうこのように正規
化された信号レベル（Ｌ３）と予め設定されている基準
レベル（Ｖ）が比較されて、基準レベル（Ｖ）を越えで
いる信号部分Ｃ２１）が存在する時は第２図の線（Ｌ４
）の如き矩形波（２２）を有する信号として出力され、
不良パッケージ信号が出力される。なお、基準レベル（
Ｖ）の設定は糸の太さ１色、イメージセンサの精度等に
より設定値（α）を適宜変更することが可能である。
上記の例では、線（Ｌ３）においてレベル（２１）が基
準レベル（Ｖ）より小さい場合を示したが、糸層表面の
状態によっては第４図のように、反射光量が部分的に他
の部分より大きくなる信号部分Ｃ２３）が生じることが
あるが、このような場合に対応できるように基準レベル
（ＶＨ）を前記基準レベル（ＶＬ）より大きい値に設定
しておくことにより、不良パッケージを判別することが
できる。
準レベル（Ｖ）より小さい場合を示したが、糸層表面の
状態によっては第４図のように、反射光量が部分的に他
の部分より大きくなる信号部分Ｃ２３）が生じることが
あるが、このような場合に対応できるように基準レベル
（ＶＨ）を前記基準レベル（ＶＬ）より大きい値に設定
しておくことにより、不良パッケージを判別することが
できる。
即ち、糸層表面の正常部分の標準レベルＣｌ８）よりも
高い側に入力信号レベルが変化する部分がある場合は基
準レベル（ＹＨ）と比較し、標準レベルＣｌ８）よりも
低い側に入力信号レベルの変化する部分が表われる場合
は前記基準レベル（ＶＬ）と比較するように演算装置（
１６）により制御することができる。
高い側に入力信号レベルが変化する部分がある場合は基
準レベル（ＹＨ）と比較し、標準レベルＣｌ８）よりも
低い側に入力信号レベルの変化する部分が表われる場合
は前記基準レベル（ＶＬ）と比較するように演算装置（
１６）により制御することができる。
さらに、第５図のように、標準レベル（１８）の両側に
レベル変化部分（２４）（２５）が表われる場合には上
記二つの基準レベル（Ｖｌ（ｙｒ）と比較することによ
り、前記パッケージ（１）とは異った状態の不良巻形パ
ッケージを判別できる。即ち５分析装置（９）内におけ
る測定入力信号の処理および基準レベル信号の組合わせ
により、パッケージの巻形不良の種類を判別することも
可能である。
レベル変化部分（２４）（２５）が表われる場合には上
記二つの基準レベル（Ｖｌ（ｙｒ）と比較することによ
り、前記パッケージ（１）とは異った状態の不良巻形パ
ッケージを判別できる。即ち５分析装置（９）内におけ
る測定入力信号の処理および基準レベル信号の組合わせ
により、パッケージの巻形不良の種類を判別することも
可能である。
さらに、上記検査装置によって、パッケージ径を測定し
、巻量の過不足による不良パブケージをも判別可能であ
る。即ち、第１図における光照射範囲をパッケージの端
面の直径巾（第３図（２））以上の巾（Ｉ）に渡る範囲
とし、イメージセンサ（７）の撮像中を正常な糸量のパ
ッケージの直＼径以上の巾としておくことにより可能で
ある。
、巻量の過不足による不良パブケージをも判別可能であ
る。即ち、第１図における光照射範囲をパッケージの端
面の直径巾（第３図（２））以上の巾（Ｉ）に渡る範囲
とし、イメージセンサ（７）の撮像中を正常な糸量のパ
ッケージの直＼径以上の巾としておくことにより可能で
ある。
例えば得られる光量レベル信号が正規化した段階で、例
えば第６図に示すレベル信号（Ｌ５）とする。ここで、
範囲ＣＩ）はイメージセンサ（力の撮像範囲であり、範
囲（Ｉ）にはイメージセンサの画素数（へ）が等ピッチ
Ｃμ）で分割されており、上記１ピツチ（μ）のパッケ
ージ上における実際の距離は検査対象のパッケージとイ
メージセンサとの距離によって決まる値である。また、
第６図の信号線（Ｌ５）から、高レベル部分（２６）（
２６）と最低レベル（２７） （２７）との境界位置（
Ａ）ＣＢ）がパッケージすレベル（，１９）（１９）が
対称に表われている。低萌ベル部分（２９）は巻取管（
へ）の部分である。なお該部分的は光の照射角度によっ
て、レベル位置は変化し、他の部分（２６）（２６）よ
り上方へ突出する場合もある。従って、上記位置（５）
ＣＢ＞間の距離（Ｓ）内にある画素数をカウントし、該
カウント数に、上記画素間のピンチ（μ）を掛は合わせ
、さらに、実際上の寸法に補正するための定数を乗算す
れば、距Ｊｉｍ （Ｓ）の実寸法が算出される。この値
を予め設定される満巻パッケージの外径寸法と比較する
ことにより、糸巻量の良否が判別できるの表われる巻形
不良を検査する際、さらに検査へ、、、スを防止するた
めには、パッケージ（１１を巻取管（へ）の軸心を中心
として一回転させつつ、イメージセンサ（力で読取るよ
うにすれば、円周方向全域に渡る巻形不良部分をチェッ
クできるほか、部分的に表われる巻形不良部分をもチェ
ックすることができろう さらに、第８図（ロ）で示すようなパッケージ外周面に
巻形不良部分がある場合は、第７図に示すように、パッ
ケージ（Ｐ２）の外周面の母線方向全域□に渡って光を
照射し、イメージセンサ（力の撮像範囲を上記範囲口と
することにより、パッケージ外周面の巻形不良部分■を
チェックすることが可能であり、この場合も第１図の分
析装置（９）から出力される反射光のレベル信号を処理
した出力信号は第２図の線（Ｌ４）の如き、パッケージ
の表面部分のレベル（１８）よりも小さい低レベル信号
域（２２）を含んでおり、不良パッケ７ジ信号として出
力される。なお、第７図のようにパッケージの外周表面
の不良部分を検査する場合も、巻取管（５）の軸心の回
りにパッケージを１回転させれば、局面に連続していな
い部分的な不良部分をチェックすることができる。
えば第６図に示すレベル信号（Ｌ５）とする。ここで、
範囲ＣＩ）はイメージセンサ（力の撮像範囲であり、範
囲（Ｉ）にはイメージセンサの画素数（へ）が等ピッチ
Ｃμ）で分割されており、上記１ピツチ（μ）のパッケ
ージ上における実際の距離は検査対象のパッケージとイ
メージセンサとの距離によって決まる値である。また、
第６図の信号線（Ｌ５）から、高レベル部分（２６）（
２６）と最低レベル（２７） （２７）との境界位置（
Ａ）ＣＢ）がパッケージすレベル（，１９）（１９）が
対称に表われている。低萌ベル部分（２９）は巻取管（
へ）の部分である。なお該部分的は光の照射角度によっ
て、レベル位置は変化し、他の部分（２６）（２６）よ
り上方へ突出する場合もある。従って、上記位置（５）
ＣＢ＞間の距離（Ｓ）内にある画素数をカウントし、該
カウント数に、上記画素間のピンチ（μ）を掛は合わせ
、さらに、実際上の寸法に補正するための定数を乗算す
れば、距Ｊｉｍ （Ｓ）の実寸法が算出される。この値
を予め設定される満巻パッケージの外径寸法と比較する
ことにより、糸巻量の良否が判別できるの表われる巻形
不良を検査する際、さらに検査へ、、、スを防止するた
めには、パッケージ（１１を巻取管（へ）の軸心を中心
として一回転させつつ、イメージセンサ（力で読取るよ
うにすれば、円周方向全域に渡る巻形不良部分をチェッ
クできるほか、部分的に表われる巻形不良部分をもチェ
ックすることができろう さらに、第８図（ロ）で示すようなパッケージ外周面に
巻形不良部分がある場合は、第７図に示すように、パッ
ケージ（Ｐ２）の外周面の母線方向全域□に渡って光を
照射し、イメージセンサ（力の撮像範囲を上記範囲口と
することにより、パッケージ外周面の巻形不良部分■を
チェックすることが可能であり、この場合も第１図の分
析装置（９）から出力される反射光のレベル信号を処理
した出力信号は第２図の線（Ｌ４）の如き、パッケージ
の表面部分のレベル（１８）よりも小さい低レベル信号
域（２２）を含んでおり、不良パッケ７ジ信号として出
力される。なお、第７図のようにパッケージの外周表面
の不良部分を検査する場合も、巻取管（５）の軸心の回
りにパッケージを１回転させれば、局面に連続していな
い部分的な不良部分をチェックすることができる。
発明の効果
以上のように本発明では、糸を巻取ったパッケージ径
ジセンサで撮像し、得られる反射光量のレベル信号によ
って、糸層表面の巻形不良部分を検査するので、作業者
の目視に比へて小さな不良部分をも正確にチェックでき
、パッケージの巻形状の良否判別作業に極めて効果的で
ある９
って、糸層表面の巻形不良部分を検査するので、作業者
の目視に比へて小さな不良部分をも正確にチェックでき
、パッケージの巻形状の良否判別作業に極めて効果的で
ある９
第１図は本発明装置の実施例を示すブＯ、Ｊり第５図は
巻形不良を示す信号線図の例を示す間第６図はパッケー
ジの巻径を検査する際の信号線図、第７図はパッケージ
の外周表面の不良部分を検査する際の光の照射・反射方
向を示す図、第８図（イ）呻）（ハ）は巻糸パッケージ
の巻形不良のパターンを示す斜視図である。 （１）・・・・・巻糸パッケージ （２）・・・・・
糸層表面（３）・・・・・・光源（７）・・・・・・イ
メージセンサ（９）・・・・・分析装置 （Ｌｌ）〜（Ｌ５）・・・・・・反射光レベル信号。 第３図 第７図 θ 第８図
巻形不良を示す信号線図の例を示す間第６図はパッケー
ジの巻径を検査する際の信号線図、第７図はパッケージ
の外周表面の不良部分を検査する際の光の照射・反射方
向を示す図、第８図（イ）呻）（ハ）は巻糸パッケージ
の巻形不良のパターンを示す斜視図である。 （１）・・・・・巻糸パッケージ （２）・・・・・
糸層表面（３）・・・・・・光源（７）・・・・・・イ
メージセンサ（９）・・・・・分析装置 （Ｌｌ）〜（Ｌ５）・・・・・・反射光レベル信号。 第３図 第７図 θ 第８図
Claims (1)
- 巻糸パッケージの糸層表面を照射する光源と、糸層表面
で反射した光を撮像するイメージセンサと、該イメージ
センサによって得られた光情報を分析し巻形の良否判別
信号を出力する分析装置とからなることを特徴とする巻
糸パッケージの巻形検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14922384A JPS6128033A (ja) | 1984-07-17 | 1984-07-17 | 巻糸パツケ−ジの巻形検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14922384A JPS6128033A (ja) | 1984-07-17 | 1984-07-17 | 巻糸パツケ−ジの巻形検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6128033A true JPS6128033A (ja) | 1986-02-07 |
| JPH0350008B2 JPH0350008B2 (ja) | 1991-07-31 |
Family
ID=15470549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14922384A Granted JPS6128033A (ja) | 1984-07-17 | 1984-07-17 | 巻糸パツケ−ジの巻形検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6128033A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0481980U (ja) * | 1990-11-29 | 1992-07-16 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS478581U (ja) * | 1971-02-26 | 1972-10-02 |
-
1984
- 1984-07-17 JP JP14922384A patent/JPS6128033A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS478581U (ja) * | 1971-02-26 | 1972-10-02 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0481980U (ja) * | 1990-11-29 | 1992-07-16 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0350008B2 (ja) | 1991-07-31 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |