JPH0351722Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 本考案は半導体レーザの横モード測定装置に関
する。

(ロ) 従来の技術 現在、CD（コンパクトデイスク）、VD（ビデオ
デイスク）等の光源として広く普及しつつある半
導体レーザは低しきい値電流、高出力の他に単一
横モード発振が望まれている。

従来半導体レーザの横モード発振を測定する装
置としてはアルフアツクス電算システム有限会社
より昭和58年２月１日付で発行された「レーザダ
イオードテスターModel CM−800Hの説明書」
において解説された装置がある。

第２図は斯る装置を模式的に示したものであ
り、斯る装置では図中矢印方向に回転する回転台
１上に載置された半導体レーザ２の出力光を固定
のスリツト３を介して光検出器４に入射せしめ、
斯る検出器４において入射光の強度を検出して記
録計５で記録する。

従つて、上記回転台１の回動に伴なつて順次に
上記半導体レーザ２の出力強度を記録することに
より光軸及びこれからずれた位置での強度を測定
できるため、光軸以外の位置で上記強度が高まつ
た場合、多重横モード発振が生じていることがわ
かる。

(ハ) 考案が解決しようとする問題点 然るに上記装置では半導体レーザを回転して光
出力の変化を記録しているため装置自体が大型化
し、またその測定に時間がかかつていた。

(ニ) 問題点を解決するための手段 本考案は斯る問題点に鑑みてなされたもので、
装置が小型でかつ測定時間が短かい半導体レーザ
の横モード測定装置を提供せんとするものであ
る。

一般に単一の横モード発振の半導体レーザでは
第３図ａに示す如くその水平方向の放射角（θ_N1）
特性は動作電流をI¹、I²、I³（I¹＜I²＜I³）と変化
させても光軸Ａを頂点としてなめらかに減少し、
その半値角は一定となる。また、横モードが不安
定な半導体レーザでは第３図ｂに示す如くその水
平方向の放射角（θ_N1）特性は光軸Ａ以外にピー
クが発生し、かつ動作電流をI¹、I²、I³と増加せ
しめるとそのピークも増大する。

本考案は斯る知見に基づいてなされたものであ
り、その特徴は半導体レーザ、該半導体レーザの
出力レーザ光の光軸上において上記レーザ光の出
力面と受光面とが光学的に対向してなる第１の光
電変換素子、上記レーザ光の水平拡がり方向と平
行となるように上記第１の光電変換素子の両側に
配され各受光面が上記出力面と光学的に対向する
第２、第３の光電変換素子、上記第２、第３の光
電変換素子の出力を加算する加算器、該加算器の
出力と上記第１の光電変換素子の出力とを比較す
る比較器を備えたことにある。

(ホ) 作用 上記半導体レーザが単一横モード発振を行なう
場合、半導体レーザの駆動電流を変化させたとし
ても上記比較器の出力は一定であり、またそうで
ない場合、上記比較器の出力は上記電流の変化と
共に変化することとなる。

(ヘ) 実施例 第１図は本考案の一実施例を示し、１１は半導
体レーザ、１２〜１４はその受光面が上記半導体
レーザ１１の出力面と光学的に対向する第１〜第
３の光電変換素子であり、該素子は例えば５mm角
のフオトダイオードチツプからなる。また上記第
１の光電変換素子１２は上記半導体レーザ１１の
光軸Ｘ上に配され、かつ上記第２、第３の光電変
換素子１３，１４は上記第１の光電変換素子１２
の両側に配されると共に第１〜第３の光電変換素
子の配列方向は上記半導体レーザ１１の出力光の
水平拡がり方向と一致している。１５は上記第
２、第３の光電変換素子１３，１４の出力値を加
算する第１の加算器、１６は該加算器の加算結果
と上記第１の光電変換素子１２の出力値とを比較
する比較器、１７は第１〜第３の光電変換素子１
２〜１４の出力値の総計を演算出力する第２の加
算器である。

斯る本実施例装置において上記半導体レーザ１
１の駆動電流を変化させながら上記比較器１６の
比較出力の変化を測定すると、上記半導体レーザ
が単一横モード発振を行なう場合、上記比較出力
は変化せず、また単一横モード発振をしない場
合、上記比較出力は駆動電流の変化と共に変化す
る。従つて、上記比較器１６の出力変化を測定す
るだけで単一横モード発振の半導体レーザである
か否かが判定できる。

また、上記第２の加算器１７の出力結果を見る
ことにより半導体レーザの総出力強度が判る。

(ト) 考案の効果 本考案の半導体レーザの横モード測定装置は半
導体レーザ、該半導体レーザの出力レーザ光の光
軸上において上記レーザ光の出力面と受光面とが
光学的に対向してなる第１の光電変換素子、上記
レーザ光の水平拡がり方向と平行となるように上
記第１の光電変換素子の両側に配され各受光面が
上記出力面と光学的に対向する第２、第３の光電
変換素子、上記第２、第３の光電変換素子の出力
を加算する加算器、該加算器の出力と上記第１の
光電変換素子の出力とを比較する比較器からなる
ため装置自体が小型でき、かつ測定も短時間で行
える。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例を模式的に示すブロ
ツク図、第２図は従来例を示す模式図、第３図
ａ，ｂは水平方向の放射角特性を示す模式図であ
る。 １……半導体レーザ、１２〜１４……第１〜第
３の光電変換素子、１５……（第１の）加算器、
１６……比較器。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 半導体レーザ、該半導体レーザの出力レーザ光
   の光軸上において上記レーザ光の出力面と受光面
   とが光学的に対向してなる第１の光電変換素子、
   上記レーザ光の水平拡がり方向と平行となるよう
   に上記第１の光電変換素子の両側に配され各受光
   面が上記出力面と光学的に対向する第２、第３の
   光電変換素子、上記第２、第３の光電変換素子の
   出力を加算する加算器、該加算器の出力と上記第
   １の光電変換素子の出力とを比較する比較器を備
   えたことを特徴とする半導体レーザの横モード測
   定装置。