JPH0351738Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0351738Y2 JPH0351738Y2 JP1985198671U JP19867185U JPH0351738Y2 JP H0351738 Y2 JPH0351738 Y2 JP H0351738Y2 JP 1985198671 U JP1985198671 U JP 1985198671U JP 19867185 U JP19867185 U JP 19867185U JP H0351738 Y2 JPH0351738 Y2 JP H0351738Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- reference material
- heat
- holes
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本考案は、試料と基準物質を同一温度で上昇さ
せるための機構に特徴を有する示差熱分析装置に
関する。
せるための機構に特徴を有する示差熱分析装置に
関する。
（従来技術）
示差熱分析装置は、巻線型抵抗炉や赤外線ラン
プ等を用いて試料と基準物質を一定の速度で加熱
昇温させるように構成されているが、さらに試料
と基準物質を同一温度で昇温させるため、熱源と
これらとの間に均熱板を配設し、均熱板を回転さ
せることによつてその肉厚の違いや偏心量等から
内部の温度分布を変化させたり、あるいは赤外線
ランプの位置をズラすなどして、試料と基準物質
の位置する部分が同じ温度分布をなすように調整
している。
プ等を用いて試料と基準物質を一定の速度で加熱
昇温させるように構成されているが、さらに試料
と基準物質を同一温度で昇温させるため、熱源と
これらとの間に均熱板を配設し、均熱板を回転さ
せることによつてその肉厚の違いや偏心量等から
内部の温度分布を変化させたり、あるいは赤外線
ランプの位置をズラすなどして、試料と基準物質
の位置する部分が同じ温度分布をなすように調整
している。
ところが、使用温度が1500℃から2000℃程度の
超高温用の示差熱分析装置になると均熱板にセラ
ミツク材を使用することができず、より高温の耐
熱材であるタングステンやモリブデンあるいは結
晶性のセラミツクを使用しなければならなくなる
が、これらの素材を用いた均熱板は炉の温度分布
に似た温度となるため、これを回転させても肉厚
の違いによつて温度差をなくすことができず、ま
た、均熱板を偏心させても超高温のもとでは輻射
効果が大きいため、試料と基準物質の温度分布を
変えることができないといつた問題を有する。
超高温用の示差熱分析装置になると均熱板にセラ
ミツク材を使用することができず、より高温の耐
熱材であるタングステンやモリブデンあるいは結
晶性のセラミツクを使用しなければならなくなる
が、これらの素材を用いた均熱板は炉の温度分布
に似た温度となるため、これを回転させても肉厚
の違いによつて温度差をなくすことができず、ま
た、均熱板を偏心させても超高温のもとでは輻射
効果が大きいため、試料と基準物質の温度分布を
変えることができないといつた問題を有する。
（目的）
本考案はかかる問題に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、超高温領域でも試料と
基準物質を効果的に均熱化させることのできる構
造簡単な装置を提供することにある。
その目的とするところは、超高温領域でも試料と
基準物質を効果的に均熱化させることのできる構
造簡単な装置を提供することにある。
（目的を達成するための手段）
すなわち本考案はかかる目的を達成するため
に、筒状をなす加熱源の内方に、基準物質と試料
を囲繞するようにして円筒状の均熱部材を回動可
能に配設するとともに、該均熱部材の相対向する
面に、表面積を異ならしめる多数の通孔を設けた
示差熱分析装置にある。
に、筒状をなす加熱源の内方に、基準物質と試料
を囲繞するようにして円筒状の均熱部材を回動可
能に配設するとともに、該均熱部材の相対向する
面に、表面積を異ならしめる多数の通孔を設けた
示差熱分析装置にある。
（実施例）
そこで以下に本考案の詳細を図示した実施例に
基づいて説明する。
基づいて説明する。
図面は本考案の一実施例を示したもので、図中
符号１は、超高温領域で耐熱性を有する例えばタ
ングステンやモリブデンあるいは結晶性のセラミ
ツク等の素材によつて形成された円筒状の均熱板
で、この均熱板１は、試料Ｓ及び基準物質Ｒを収
容した各試料容器４Ｓ，４Ｒを囲繞するようにし
て、これらとヒータ５との間に回動調整可能に配
設されており、さらにこの均熱板１の表面には、
互いに180°の間隔をおいて一方には孔径の小さな
多数の孔２…が対側には孔径の大きな多数の孔３
…が等しいピツチ間隔のもとに穿たれていて、部
分的に異なる均熱板１の表面積により試料Ｓもし
くは基準物質Ｒへ放射するエネルギ量に変化を持
たせるように構成されている。
符号１は、超高温領域で耐熱性を有する例えばタ
ングステンやモリブデンあるいは結晶性のセラミ
ツク等の素材によつて形成された円筒状の均熱板
で、この均熱板１は、試料Ｓ及び基準物質Ｒを収
容した各試料容器４Ｓ，４Ｒを囲繞するようにし
て、これらとヒータ５との間に回動調整可能に配
設されており、さらにこの均熱板１の表面には、
互いに180°の間隔をおいて一方には孔径の小さな
多数の孔２…が対側には孔径の大きな多数の孔３
…が等しいピツチ間隔のもとに穿たれていて、部
分的に異なる均熱板１の表面積により試料Ｓもし
くは基準物質Ｒへ放射するエネルギ量に変化を持
たせるように構成されている。
なお図中符号６は、基準物質側TRと試料側
TSで基準物質Ｒと試料Ｓとの温度差を、基準物
質側TRと冷温側Ｏで基準物質Ｒの温度を、また
試料側TSと冷温側Ｏで試料Ｓの温度をそれぞれ
測定できるようにされた熱電対を示している。
TSで基準物質Ｒと試料Ｓとの温度差を、基準物
質側TRと冷温側Ｏで基準物質Ｒの温度を、また
試料側TSと冷温側Ｏで試料Ｓの温度をそれぞれ
測定できるようにされた熱電対を示している。
このように構成された装置において、ヒータ５
の中心部に配置された基準物質Ｒと試料Ｓには、
ヒータ５からの輻射熱が均熱板１を経て主に均熱
板１からの輻射熱として伝わることになる。そし
てこの場合、均熱板１から基準物質Ｒ及び試料Ｓ
に向けて放出される輻射エネルギは、均熱板１内
面の黒度が等しく、かつ均熱板１から基準物質Ｒ
及び試料Ｓまでの距離が等しいとした場合、その
表面積の大きい部分、換言すれば径の小さな孔２
…を穿つた表面部分ほど多いことになる。
の中心部に配置された基準物質Ｒと試料Ｓには、
ヒータ５からの輻射熱が均熱板１を経て主に均熱
板１からの輻射熱として伝わることになる。そし
てこの場合、均熱板１から基準物質Ｒ及び試料Ｓ
に向けて放出される輻射エネルギは、均熱板１内
面の黒度が等しく、かつ均熱板１から基準物質Ｒ
及び試料Ｓまでの距離が等しいとした場合、その
表面積の大きい部分、換言すれば径の小さな孔２
…を穿つた表面部分ほど多いことになる。
したがつて、いま炉の温度分布が基準物質Ｒ側
で低く、試料Ｓ側で高い場合には、図に示したよ
うに径の小さな孔２…を穿つた表面部分が基準物
質Ｒ側に位置するように均熱板１を回転させれ
ば、基準物質Ｒ側には試料Ｓ側より大きな輻射熱
が伝えられて、両者を均一温度に調節することが
できる。
で低く、試料Ｓ側で高い場合には、図に示したよ
うに径の小さな孔２…を穿つた表面部分が基準物
質Ｒ側に位置するように均熱板１を回転させれ
ば、基準物質Ｒ側には試料Ｓ側より大きな輻射熱
が伝えられて、両者を均一温度に調節することが
できる。
なお上述した実施例では、均熱板１の相対向す
る面に小径の孔２…と大径の孔３…を等間隔に設
けたものであるが、対向する各面にピツチを異に
して同径の孔を設けてもよく、また、孔の代わり
に巾を異にしたスリツトあるいはピツチ間隔を異
にしたスリツトを設けて、各面の表面積を変える
ようにすることもできる。
る面に小径の孔２…と大径の孔３…を等間隔に設
けたものであるが、対向する各面にピツチを異に
して同径の孔を設けてもよく、また、孔の代わり
に巾を異にしたスリツトあるいはピツチ間隔を異
にしたスリツトを設けて、各面の表面積を変える
ようにすることもできる。
（効果）
以上、説明したように本願考案においては筒状
をなす加熱源の内方に、基準物質と試料を囲繞す
るようにして円筒状の均熱部材を回動可能に配設
するとともに、この均熱部材の相対向する面に開
口面積を異ならしめた多数の通孔を設けたので、
均熱部材の各部分に表面積の違いによる放射エネ
ルギの明確な差を生じさせて1500及至2000℃とい
う高温領域でも確実な均熱効果を得ることができ
る。
をなす加熱源の内方に、基準物質と試料を囲繞す
るようにして円筒状の均熱部材を回動可能に配設
するとともに、この均熱部材の相対向する面に開
口面積を異ならしめた多数の通孔を設けたので、
均熱部材の各部分に表面積の違いによる放射エネ
ルギの明確な差を生じさせて1500及至2000℃とい
う高温領域でも確実な均熱効果を得ることができ
る。
図面は本考案の一実施例を示す装置の斜視図で
ある。 １……均熱板、２……小径の孔、３……大径の
孔、４……試料容器、５……ヒータ。
ある。 １……均熱板、２……小径の孔、３……大径の
孔、４……試料容器、５……ヒータ。
Claims (1)
- 筒状をなす加熱源の内方に、基準物質と試料を
囲繞するようにして円筒状の均熱部材を回動可能
に配設するとともに、前記均熱部材の相対向する
面に開口面積を異ならしめた多数の通孔を設けた
ことを特徴とする示差熱分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985198671U JPH0351738Y2 (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985198671U JPH0351738Y2 (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62115155U JPS62115155U (ja) | 1987-07-22 |
| JPH0351738Y2 true JPH0351738Y2 (ja) | 1991-11-07 |
Family
ID=31159574
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985198671U Expired JPH0351738Y2 (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0351738Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2710852B2 (ja) * | 1990-03-28 | 1998-02-10 | ホーヤ株式会社 | ガラス成形体の製造装置及び製造方法 |
-
1985
- 1985-12-23 JP JP1985198671U patent/JPH0351738Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62115155U (ja) | 1987-07-22 |
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