JPH0352761A - 半田材料の半田付性試験法 - Google Patents
半田材料の半田付性試験法Info
- Publication number
- JPH0352761A JPH0352761A JP1187824A JP18782489A JPH0352761A JP H0352761 A JPH0352761 A JP H0352761A JP 1187824 A JP1187824 A JP 1187824A JP 18782489 A JP18782489 A JP 18782489A JP H0352761 A JPH0352761 A JP H0352761A
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- JP
- Japan
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- solder
- mask
- solderability
- cream solder
- spacings
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- Pending
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-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/11—Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3465—Application of solder
- H05K3/3485—Application of solder paste, slurry or powder
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、半田付等が行われている回路装置に用いる半
田材料の半田付性試験法に関するものである。
田材料の半田付性試験法に関するものである。
従来の技術
従来の試験法について第3図,第4図を用いて説明する
。図において5が基板、6が電極、7がクリーム半田、
8が半田である。まず、第3図の様に、ある決められた
大きさの窓のマスクを用いて、クリーム半田7を電極6
上に印刷し、その後決められた熱量を一定時間加えてク
リーム半田7を溶融させる。そして、第4図の様に硬化
した半田8の大きさをaとbの積の値によって、半田材
料の半田付性を調べる方法である。
。図において5が基板、6が電極、7がクリーム半田、
8が半田である。まず、第3図の様に、ある決められた
大きさの窓のマスクを用いて、クリーム半田7を電極6
上に印刷し、その後決められた熱量を一定時間加えてク
リーム半田7を溶融させる。そして、第4図の様に硬化
した半田8の大きさをaとbの積の値によって、半田材
料の半田付性を調べる方法である。
発明が解決しようとする課題
このような、半田材料の半田付性の測定方法では、第4
図のaとbの積によって求めなくてはならなく、半田材
料の半田付性の優劣を一目で判別することができない。
図のaとbの積によって求めなくてはならなく、半田材
料の半田付性の優劣を一目で判別することができない。
本発明は、このような半田材料の半田付性の優劣を一目
で判別できるようにすることを目的とする。
で判別できるようにすることを目的とする。
課題を解決するための手段
この課題を解決するために本発明は、クリーム半田を塗
布するパターン窓の間隔を段階的に広げたマスクを用い
て、基板の電極上にクリーム半田を印刷し、その後決め
られた熱量を一定時間加えてクリーム半田を溶融させ、
そして、マスクのパターン窓のどの間隔で半田が接着し
ているか調べることによって、半田材料の半田付性の優
劣を判別する方法である。
布するパターン窓の間隔を段階的に広げたマスクを用い
て、基板の電極上にクリーム半田を印刷し、その後決め
られた熱量を一定時間加えてクリーム半田を溶融させ、
そして、マスクのパターン窓のどの間隔で半田が接着し
ているか調べることによって、半田材料の半田付性の優
劣を判別する方法である。
作用
この方法により、マスクのパターン窓の間隔が大きけれ
ば半田付性が良く、マスクのパターン窓の間隔が小さけ
れば半田付性が悪いと言う比較が一目で判別できるよう
になり、従来の測定時間をカットすることができ、時間
短縮することができる。また、従来使用してきた測定器
具を必要とせず、経費を節減することができる。
ば半田付性が良く、マスクのパターン窓の間隔が小さけ
れば半田付性が悪いと言う比較が一目で判別できるよう
になり、従来の測定時間をカットすることができ、時間
短縮することができる。また、従来使用してきた測定器
具を必要とせず、経費を節減することができる。
実施例
第1図,第2図は本発明の一実施例による試験法を示す
図である。1は基板であり、2は電極、3はクリーム半
田、4は半田である。
図である。1は基板であり、2は電極、3はクリーム半
田、4は半田である。
まず、第1図の様に、パターン窓の間隔を段階的に広げ
たマスクを用いて、クリーム半田3を電極2上に印刷す
る。この時、マスクのパターン窓の間隔の小さい方から
ランクA−B−Cとする。
たマスクを用いて、クリーム半田3を電極2上に印刷す
る。この時、マスクのパターン窓の間隔の小さい方から
ランクA−B−Cとする。
そして第1図の状態にある決められた熱量を一定時間加
え、クリーム半田3を溶融させて第2図の状態にする。
え、クリーム半田3を溶融させて第2図の状態にする。
ここで、第2図のランクA−Bは半田が接着されている
が、ランクCは、半田が接着されていなく、これにより
半田材料の半田付性を一目で判別することができる。
が、ランクCは、半田が接着されていなく、これにより
半田材料の半田付性を一目で判別することができる。
発明の効果
以上のように本発明によれば、クリーム半田をパターン
窓の間隔を段階的に広げたマスクを用いて、クリーム半
田を形威しある決められた熱量を一定時間加えることに
よって、半田が接着しているかどうかをマスクのパター
ン窓の間隔によって一目で判別することができる。また
、これによって、従来の測定時間を短縮することができ
る。
窓の間隔を段階的に広げたマスクを用いて、クリーム半
田を形威しある決められた熱量を一定時間加えることに
よって、半田が接着しているかどうかをマスクのパター
ン窓の間隔によって一目で判別することができる。また
、これによって、従来の測定時間を短縮することができ
る。
第1図,第2図は本発明の実施例による半田付性試験法
を示す説明図、第3図,第4図は従来の試験法を示す説
明構造図である。 1・・・・・・基板、2・・・・・・電極、3・・・・
・・クリーム半田、4・・・・・・半田。
を示す説明図、第3図,第4図は従来の試験法を示す説
明構造図である。 1・・・・・・基板、2・・・・・・電極、3・・・・
・・クリーム半田、4・・・・・・半田。
Claims (1)
- クリーム半田を塗布するパターン窓の間隔を段階的に広
げたマスクを用いて基板上に付着させ、その後クリーム
半田を溶融させることを特徴とする半田材料の半田付性
試験法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1187824A JPH0352761A (ja) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | 半田材料の半田付性試験法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1187824A JPH0352761A (ja) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | 半田材料の半田付性試験法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0352761A true JPH0352761A (ja) | 1991-03-06 |
Family
ID=16212881
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1187824A Pending JPH0352761A (ja) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | 半田材料の半田付性試験法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0352761A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0779774A1 (en) * | 1995-12-13 | 1997-06-18 | Nokia Mobile Phones Ltd. | Method for monitoring solder paste printing process |
-
1989
- 1989-07-20 JP JP1187824A patent/JPH0352761A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0779774A1 (en) * | 1995-12-13 | 1997-06-18 | Nokia Mobile Phones Ltd. | Method for monitoring solder paste printing process |
| US6342266B1 (en) | 1995-12-13 | 2002-01-29 | Nokia Mobile Phones Limited | Method for monitoring solder paste printing process |
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