JPH0352828B2 - - Google Patents
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- JPH0352828B2 JPH0352828B2 JP58033694A JP3369483A JPH0352828B2 JP H0352828 B2 JPH0352828 B2 JP H0352828B2 JP 58033694 A JP58033694 A JP 58033694A JP 3369483 A JP3369483 A JP 3369483A JP H0352828 B2 JPH0352828 B2 JP H0352828B2
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- JP
- Japan
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- test element
- incubator
- test
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00029—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00029—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
- G01N2035/00039—Transport arrangements specific to flat sample substrates, e.g. pusher blade
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N35/00029—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
- G01N2035/00089—Magazines
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N2035/00346—Heating or cooling arrangements
- G01N2035/00356—Holding samples at elevated temperature (incubation)
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
発明の分野
本発明は、液中のアナライト（analyte）とし
て知られている物質の化学分析のためのアナライ
ザに関する。より具体的には、本発明は、テスト
エレメントをそのようなアナライザを通して自動
的に進めるための装置を備えたアナライザに関す
る。
て知られている物質の化学分析のためのアナライ
ザに関する。より具体的には、本発明は、テスト
エレメントをそのようなアナライザを通して自動
的に進めるための装置を備えたアナライザに関す
る。
発明の背景
米国特許第4303611号には、培養器を備え、該
培養器がほぼ平らなテストエレメントをそれらが
相互に当接するようにして垂直に積み重ねた状態
で収納するようにしたアナライザが開示されてい
る。そのような構造は、培養中のテストエレメン
トから生じるガス損失をかなり減少させた非常に
簡易なアナライザを作れるようにしている。
培養器がほぼ平らなテストエレメントをそれらが
相互に当接するようにして垂直に積み重ねた状態
で収納するようにしたアナライザが開示されてい
る。そのような構造は、培養中のテストエレメン
トから生じるガス損失をかなり減少させた非常に
簡易なアナライザを作れるようにしている。
上記米国特許のアナライザは顕著な利点を有し
ているが、培養器内の積重ねたテストエレメント
の頂部にテストエレメントを供給するための１つ
の機構を必要とし、更に、培養サイクルに従つ
て、積重ねられたテストエレメントの底部からテ
ストエレメントを取り出すための別の駆動される
機構を必要とするという問題を有している。アナ
ライザ内の２つの機構を収納するために、テスト
エレメントを取り出すための機構は供給するため
の機構に対して角度を付けて配置されており、そ
のような配置のためテストエレメントが培養器の
中に供給される通路に対して測定ステーシヨンを
角度を付けて設けることを必要としていた。従つ
て、供給及び取出機構は比較的複雑でアナライザ
内でのかなりの設定空間を必要としていた。
ているが、培養器内の積重ねたテストエレメント
の頂部にテストエレメントを供給するための１つ
の機構を必要とし、更に、培養サイクルに従つ
て、積重ねられたテストエレメントの底部からテ
ストエレメントを取り出すための別の駆動される
機構を必要とするという問題を有している。アナ
ライザ内の２つの機構を収納するために、テスト
エレメントを取り出すための機構は供給するため
の機構に対して角度を付けて配置されており、そ
のような配置のためテストエレメントが培養器の
中に供給される通路に対して測定ステーシヨンを
角度を付けて設けることを必要としていた。従つ
て、供給及び取出機構は比較的複雑でアナライザ
内でのかなりの設定空間を必要としていた。
本発明の説明
本発明は上記のような問題を解決するものであ
る。供給及び取出機構は、テストエレメントがア
ナライザ内をほぼ直線状の通路を通して動かされ
るように配置され、両機構とも単一の駆動手段に
連続的に連結される。この連続的連結は、一方の
部材がテストエレメントを前進させるときに、他
方の部材が不作動位置に動くようにすることによ
り行われる。
る。供給及び取出機構は、テストエレメントがア
ナライザ内をほぼ直線状の通路を通して動かされ
るように配置され、両機構とも単一の駆動手段に
連続的に連結される。この連続的連結は、一方の
部材がテストエレメントを前進させるときに、他
方の部材が不作動位置に動くようにすることによ
り行われる。
すなわち、本発明に係るアナライザは、テスト
エレメントの移送方向を基準として上流側から下
流側に向けて、 テストエレメントに液体を供給するための計量
供給ステーシヨンと、 １以上のテストエレメントを培養するための培
養器であつて、当該培養器内にテストエレメント
を装填するための入口と該培養器に装填されてい
たテストエレメントを取り出すための出口とを有
する培養器と、 取り出されたテストエレメント内の変化を測定
するためのデイテクタを備える測定ステーシヨン
とを有し、更に、 テストエレメントを培養器内へ移送するととも
に、該培養器からテストエレメントを測定ステー
シヨンへ排出するための移送手段を有し、該移送
手段が、 上記計量供給ステーシヨンの上流側における不
作動位置と上記培養器にテストエレメントを装填
するための装填位置との間に延びる第１の通路に
沿つて可動でテストエレメントを上記装填位置に
向けて押して移送するための第１部材、 培養器よりも上流側における不作動状態位置と
上記デイテクタにテストエレメントを装填するた
めの装填位置との間に延びる第２の通路に沿つて
可動で、培養器からテストエレメントを装填位置
に向けて押して移送するための第２部材、 単一の駆動手段、及び、 第１部材と第２部材とを上記単一の駆動手段に
同時に係合接続する手段であつて、上記第１及び
第２部材が相互に反対の方向に動くように駆動さ
れ、一方の部材がその不作動位置に入るときに他
方の部材がその装填位置に入るようにする接続手
段とを有していることを特徴とする。
エレメントの移送方向を基準として上流側から下
流側に向けて、 テストエレメントに液体を供給するための計量
供給ステーシヨンと、 １以上のテストエレメントを培養するための培
養器であつて、当該培養器内にテストエレメント
を装填するための入口と該培養器に装填されてい
たテストエレメントを取り出すための出口とを有
する培養器と、 取り出されたテストエレメント内の変化を測定
するためのデイテクタを備える測定ステーシヨン
とを有し、更に、 テストエレメントを培養器内へ移送するととも
に、該培養器からテストエレメントを測定ステー
シヨンへ排出するための移送手段を有し、該移送
手段が、 上記計量供給ステーシヨンの上流側における不
作動位置と上記培養器にテストエレメントを装填
するための装填位置との間に延びる第１の通路に
沿つて可動でテストエレメントを上記装填位置に
向けて押して移送するための第１部材、 培養器よりも上流側における不作動状態位置と
上記デイテクタにテストエレメントを装填するた
めの装填位置との間に延びる第２の通路に沿つて
可動で、培養器からテストエレメントを装填位置
に向けて押して移送するための第２部材、 単一の駆動手段、及び、 第１部材と第２部材とを上記単一の駆動手段に
同時に係合接続する手段であつて、上記第１及び
第２部材が相互に反対の方向に動くように駆動さ
れ、一方の部材がその不作動位置に入るときに他
方の部材がその装填位置に入るようにする接続手
段とを有していることを特徴とする。
以下に述べる具体的実施例に係るアナライザに
おいては、テストエレメントを積重ねて収納する
培養器と、光フアイバ反射計を含むデイテクタと
が設けられている。本発明は一以上のテストエレ
メントを収納するどのような種類の貯蔵室（培養
器）を使用するアナライザにも応用することがで
きる。更に、光学的濃度の変化を測定する反射計
やテストエレメント内の螢光すなわち隣光を測定
する螢光計などのテストエレメントの特性を測定
するどのような測定手段を用いるアナライザにも
適用できる。
おいては、テストエレメントを積重ねて収納する
培養器と、光フアイバ反射計を含むデイテクタと
が設けられている。本発明は一以上のテストエレ
メントを収納するどのような種類の貯蔵室（培養
器）を使用するアナライザにも応用することがで
きる。更に、光学的濃度の変化を測定する反射計
やテストエレメント内の螢光すなわち隣光を測定
する螢光計などのテストエレメントの特性を測定
するどのような測定手段を用いるアナライザにも
適用できる。
実施例の説明
以下、本発明を添付図面に示した実施例に基づ
き詳細に説明する。以下の実施例での分析される
好ましい流体としては血清があるが、本発明は非
生物アナライトを含む工業液体等の他のアナライ
ト含有液体の分析にも適用できる。
き詳細に説明する。以下の実施例での分析される
好ましい流体としては血清があるが、本発明は非
生物アナライトを含む工業液体等の他のアナライ
ト含有液体の分析にも適用できる。
第１図及び第２図には本発明に係るアナライザ
が示されている。このアナライザはテストエレメ
ント装填ステーシヨン１９、計量供給ステーシヨ
ン２０、貯蔵室すなわち培養器５０が設けられた
貯蔵ステーシヨン４９、装填ステーシヨン１９か
ら計量供給ステーシヨン２０へテストエレメント
Ｅを動かすためのプツシユ機構４０及びデイテク
タ１１０が設けられている測定ステーシヨン１０
９を有している。移送手段５７はテストエレメン
トＥを培養器５０内へ装填するための装填部材６
０、培養器５０からテストエレメントを取り出す
ための取出部材８０、及び、装填部材６０と取出
部材８０とを往復動するための駆動機構１００を
有している。枢動カバー１２０がブラケツト１２
４に１２２のところでヒンジ止めされている。
が示されている。このアナライザはテストエレメ
ント装填ステーシヨン１９、計量供給ステーシヨ
ン２０、貯蔵室すなわち培養器５０が設けられた
貯蔵ステーシヨン４９、装填ステーシヨン１９か
ら計量供給ステーシヨン２０へテストエレメント
Ｅを動かすためのプツシユ機構４０及びデイテク
タ１１０が設けられている測定ステーシヨン１０
９を有している。移送手段５７はテストエレメン
トＥを培養器５０内へ装填するための装填部材６
０、培養器５０からテストエレメントを取り出す
ための取出部材８０、及び、装填部材６０と取出
部材８０とを往復動するための駆動機構１００を
有している。枢動カバー１２０がブラケツト１２
４に１２２のところでヒンジ止めされている。
アナライザ１０は種々のアナライト液、特に生
物液（biological liqid）の測定を行うことがで
きる。この測定は、プラスチツク製フレーム部材
１５内で透明の不透液性支持体（図示せず）の上
に取り付けられた（図示しない）１若しくはそれ
以上の液含有部分を有するほぼ平らなテストエレ
メントＥを使用して行われる。液は、例えば滴状
にした一定量をテストエレメントＥ上に供給され
る。テストエレメントＥの縁１６，１７はアナラ
イザ内を通されるときの前縁及び後縁となる。テ
ストエレメントは好ましくは、例えば米国特許第
3992158号及び米国再発行特許Re30267号に開示
されたように構成される。テストエレメントに加
えられた液は同エレメントの（図示しない）層内
で広がり、そこで検知可能な変化を起す反応を行
う。
物液（biological liqid）の測定を行うことがで
きる。この測定は、プラスチツク製フレーム部材
１５内で透明の不透液性支持体（図示せず）の上
に取り付けられた（図示しない）１若しくはそれ
以上の液含有部分を有するほぼ平らなテストエレ
メントＥを使用して行われる。液は、例えば滴状
にした一定量をテストエレメントＥ上に供給され
る。テストエレメントＥの縁１６，１７はアナラ
イザ内を通されるときの前縁及び後縁となる。テ
ストエレメントは好ましくは、例えば米国特許第
3992158号及び米国再発行特許Re30267号に開示
されたように構成される。テストエレメントに加
えられた液は同エレメントの（図示しない）層内
で広がり、そこで検知可能な変化を起す反応を行
う。
第２図に示すように、カバー１２０のモールド
された部分２２は通常の（図示しない）ピペツト
を受け入れるような形状とされている。該部分２
２はカバー１２０の外面２４から内方に伸び、肩
部２１と開口２８で終つている截頭円錐形部２６
とを含んでいる。円錐形部２６及び開口２８はピ
ペツトの先端部２９（点線で示す）を整合して支
持し、所定量の液がテストエレメントＥ上に供給
できるようにする。
された部分２２は通常の（図示しない）ピペツト
を受け入れるような形状とされている。該部分２
２はカバー１２０の外面２４から内方に伸び、肩
部２１と開口２８で終つている截頭円錐形部２６
とを含んでいる。円錐形部２６及び開口２８はピ
ペツトの先端部２９（点線で示す）を整合して支
持し、所定量の液がテストエレメントＥ上に供給
できるようにする。
カバー１２０はその前方部分３０のところにス
ロツト３２を有しており、該スロツトはテストエ
レメントＥを通せるようなサイズとされている。
テストエレメントＥは、カバープレート４１と支
持プレート４２との間で手動で動かされるように
取り付けられた機構４０によつてスロツト３２を
通して動かされる。カバープレートの縁面４３
は、該機構４０がそれら縁面の間で往復動できる
ように十分な間隔で離されている。支持プレート
４２は２つの直線状で平行な肩部４４間に取り付
けられている。カバー１２０の前方部分３０の下
で伸びているプレート４２の部分は肩部４４にほ
ぼ平行に伸びるスロツト４６を含んでいる。スロ
ツト４６は以下に述べる装填部材６０が計量供給
ステーシヨン２０のところに位置決めされたテス
トエレメントＥと係合できるようにする。
ロツト３２を有しており、該スロツトはテストエ
レメントＥを通せるようなサイズとされている。
テストエレメントＥは、カバープレート４１と支
持プレート４２との間で手動で動かされるように
取り付けられた機構４０によつてスロツト３２を
通して動かされる。カバープレートの縁面４３
は、該機構４０がそれら縁面の間で往復動できる
ように十分な間隔で離されている。支持プレート
４２は２つの直線状で平行な肩部４４間に取り付
けられている。カバー１２０の前方部分３０の下
で伸びているプレート４２の部分は肩部４４にほ
ぼ平行に伸びるスロツト４６を含んでいる。スロ
ツト４６は以下に述べる装填部材６０が計量供給
ステーシヨン２０のところに位置決めされたテス
トエレメントＥと係合できるようにする。
培養器５０は好ましくは、縁面４３間で動く機
構４０の通路に同一直線上にされ、米国特許第
4303611号に開示されたように構成される。培養
器５０は第１の対の壁５２、該壁に連結された第
２の対の壁５４、重いカバー５６、カム手段５８
を有しており、該カム手段はテストエレメントＥ
が培養器５０内に進められるときカバー５６を持
ち上げるようになつている。ステーシヨン２０に
隣接した壁５２にはスロツト５９が設けられてお
り、該スロツトは装填部材６０がその最も前進し
た位置（第２図に実線で示す）に達したときに装
填部材６０のフインガを受け入れるようになつて
いる。壁５２，５４は最上部のエレメントＥを除
く各エレメントＥが隣接する下のエレメントと接
触するようにされたテストエレメントＥの積重ね
体Ｓを受け入れるようになつている。最上部のエ
レメントＥはカバー５６によつてカバーされる。
好ましくは、（図示しない）汎用の加熱エレメン
トが壁５２，５４内に設けられ、培養器５０の温
度を所望のレベルに保つ。
構４０の通路に同一直線上にされ、米国特許第
4303611号に開示されたように構成される。培養
器５０は第１の対の壁５２、該壁に連結された第
２の対の壁５４、重いカバー５６、カム手段５８
を有しており、該カム手段はテストエレメントＥ
が培養器５０内に進められるときカバー５６を持
ち上げるようになつている。ステーシヨン２０に
隣接した壁５２にはスロツト５９が設けられてお
り、該スロツトは装填部材６０がその最も前進し
た位置（第２図に実線で示す）に達したときに装
填部材６０のフインガを受け入れるようになつて
いる。壁５２，５４は最上部のエレメントＥを除
く各エレメントＥが隣接する下のエレメントと接
触するようにされたテストエレメントＥの積重ね
体Ｓを受け入れるようになつている。最上部のエ
レメントＥはカバー５６によつてカバーされる。
好ましくは、（図示しない）汎用の加熱エレメン
トが壁５２，５４内に設けられ、培養器５０の温
度を所望のレベルに保つ。
部材６０は、対向する面６６及び支持肩部６８
（第３図）によつて画定される通路内で支持面４
２の下を往復運動可能に取り付けられている。部
材６０はノツチ６２（第３図）を有しており、該
ノツチはその長さ方向に沿つてラツク６４を受け
入れている。第５ａ図に示すように、部材６０は
以下に詳細に説明するように、位置Ａ、Ｂ及びＣ
を通して動かされる。
（第３図）によつて画定される通路内で支持面４
２の下を往復運動可能に取り付けられている。部
材６０はノツチ６２（第３図）を有しており、該
ノツチはその長さ方向に沿つてラツク６４を受け
入れている。第５ａ図に示すように、部材６０は
以下に詳細に説明するように、位置Ａ、Ｂ及びＣ
を通して動かされる。
部材６０上のフインガ７０（第２図）は可撓性
を有し上方に伸びており、計量供給ステーシヨン
２０を通して動かされるテストエレメントＥの通
路内に入つている。スロツト４６，５９はこのフ
インガ７０を受け入れるために設けられている。
フインガ７０の先端７２は彎曲され、当該部材６
０が最も後方の、すなわち不作動（アイドル）位
置Ｃ（第５ａ図に点線で示す）に引き込められた
ときに支持プレート４２と係合するカム面を形成
している。フインガ７０は可撓性を有しているの
で、当該フインガがプレート４２の下で曲げら
れ、また、部材６０が位置Ａにあるときに、テス
トエレメントＥがフインガ７０上を通つて計量供
給ステーシヨン２０に入れるようにする。
を有し上方に伸びており、計量供給ステーシヨン
２０を通して動かされるテストエレメントＥの通
路内に入つている。スロツト４６，５９はこのフ
インガ７０を受け入れるために設けられている。
フインガ７０の先端７２は彎曲され、当該部材６
０が最も後方の、すなわち不作動（アイドル）位
置Ｃ（第５ａ図に点線で示す）に引き込められた
ときに支持プレート４２と係合するカム面を形成
している。フインガ７０は可撓性を有しているの
で、当該フインガがプレート４２の下で曲げら
れ、また、部材６０が位置Ａにあるときに、テス
トエレメントＥがフインガ７０上を通つて計量供
給ステーシヨン２０に入れるようにする。
部材８０は積重ね体ＳからエレメントＥを取り
出すために設けられている。エレメントＥは早く
装填されたものから取り出されるようになつてい
る。部材８０は、第５ｂ図に示すような位置A′、
B′及びC′を通して往復動できるように部材６０
（第２図）の下に取り付けられる。部材８０はラ
ツク８４を受け入れるノツチ８２を有している。
ラツク８４はラツク６４に向い合せて設けられ、
部材６０及び８０がピニオン１０６によつて反対
方向に動かされるようになつている。部材８０は
肩部８６上に支持され、部材６０，８０は相互に
上下にされてテストエレメントＥの通路にほぼ平
行な通路に沿つて動かされるようにされている。
出すために設けられている。エレメントＥは早く
装填されたものから取り出されるようになつてい
る。部材８０は、第５ｂ図に示すような位置A′、
B′及びC′を通して往復動できるように部材６０
（第２図）の下に取り付けられる。部材８０はラ
ツク８４を受け入れるノツチ８２を有している。
ラツク８４はラツク６４に向い合せて設けられ、
部材６０及び８０がピニオン１０６によつて反対
方向に動かされるようになつている。部材８０は
肩部８６上に支持され、部材６０，８０は相互に
上下にされてテストエレメントＥの通路にほぼ平
行な通路に沿つて動かされるようにされている。
部材８０は、培養器５０内のテストエレメント
の積重ね体の最下位のテストエレメントを取り出
すようにされている。端部８８はアーム９０と特
上肩部９２とを有しており、それらは米国特許第
4302420号に開示された如き態様で最下位のテス
トエレメントＥと係合する。スロツト９３がステ
ーシヨン２０に隣接した壁５２内に設けられてお
り、アーム９０及び肩部９２がそこを通れるよう
にしてある。ただし、テストエレメントは通れな
い（第５ｂ図参照）。対向する壁５２はスロツト
９５を有しており、該スロツトはアーム９０及び
テストエレメントＥが通るのに十分な大きさとさ
れている。部材８０によつて運ばれるテストエレ
メントによつて占められる位置の下を伸びる部材
８０上の面９７には、好ましくはデイテクタ１１
０のための白及び暗い色の基準コーテイングが設
けられる。
の積重ね体の最下位のテストエレメントを取り出
すようにされている。端部８８はアーム９０と特
上肩部９２とを有しており、それらは米国特許第
4302420号に開示された如き態様で最下位のテス
トエレメントＥと係合する。スロツト９３がステ
ーシヨン２０に隣接した壁５２内に設けられてお
り、アーム９０及び肩部９２がそこを通れるよう
にしてある。ただし、テストエレメントは通れな
い（第５ｂ図参照）。対向する壁５２はスロツト
９５を有しており、該スロツトはアーム９０及び
テストエレメントＥが通るのに十分な大きさとさ
れている。部材８０によつて運ばれるテストエレ
メントによつて占められる位置の下を伸びる部材
８０上の面９７には、好ましくはデイテクタ１１
０のための白及び暗い色の基準コーテイングが設
けられる。
デイテクタ１１０に向う肩部９２の前方への動
きにより、テストエレメントＥをデイテクタ１１
０のところの錘１１９の下へ動かす。肩部９２が
位置B′（第５ｂ図）へ戻る間、保持ばね（図示せ
ず）がデイテクタ１１０におけるテストエレメン
トＥの後方への動きを阻止する。アーム９０はカ
ム面９６を含む端部を有しており、米国特許第
4302402号に記載されているように、テストエレ
メントＥがデイテクタ１１０に相対的に摺動する
前に、テストエレメントをデイテクタ１１０から
持ち上げる。カム面９６によつて起されるこの動
きはデイテクタ１１０上の不必要な摩耗を防ぐ。
きにより、テストエレメントＥをデイテクタ１１
０のところの錘１１９の下へ動かす。肩部９２が
位置B′（第５ｂ図）へ戻る間、保持ばね（図示せ
ず）がデイテクタ１１０におけるテストエレメン
トＥの後方への動きを阻止する。アーム９０はカ
ム面９６を含む端部を有しており、米国特許第
4302402号に記載されているように、テストエレ
メントＥがデイテクタ１１０に相対的に摺動する
前に、テストエレメントをデイテクタ１１０から
持ち上げる。カム面９６によつて起されるこの動
きはデイテクタ１１０上の不必要な摩耗を防ぐ。
部材６０，８０は駆動手段１００（第２図）に
連続的に連結されている。ここで使用されてい
る。ように「連続的に連結」とは駆動手段１００
が作動されるときに常に両部材６０，８０が動か
されるように連結されていることを意味する。図
示の実施例においては、部材６０，８０の一方が
テストエレメントＥをその通路に沿つて動かして
いないときに、連結を解くための手段を必要とし
ない。駆動手段１００はモータ１０２、回転駆動
シヤフト１０４及びシヤフト１０４に取り付けら
れたピニオン１０６を有している（第２図）。ピ
ニオン１０６は両ラツク６４，８４に連続的に連
結されている（第３図）。駆動手段としては、例
えばAirpex Co.によつて製造されているモータ
のようなステツピングモータ等のどのような可逆
モータ１０２も使用することができる。
連続的に連結されている。ここで使用されてい
る。ように「連続的に連結」とは駆動手段１００
が作動されるときに常に両部材６０，８０が動か
されるように連結されていることを意味する。図
示の実施例においては、部材６０，８０の一方が
テストエレメントＥをその通路に沿つて動かして
いないときに、連結を解くための手段を必要とし
ない。駆動手段１００はモータ１０２、回転駆動
シヤフト１０４及びシヤフト１０４に取り付けら
れたピニオン１０６を有している（第２図）。ピ
ニオン１０６は両ラツク６４，８４に連続的に連
結されている（第３図）。駆動手段としては、例
えばAirpex Co.によつて製造されているモータ
のようなステツピングモータ等のどのような可逆
モータ１０２も使用することができる。
好ましくは、デイテクタ１１０は培養器５０及
び計量供給ステーシヨン２０と整合され、例えば
米国特許第4302420号に示された如き態様に構成
された光フアイバー反射計とすることができる。
デイテクタ１１０において、光フアイバヘツド１
１２には少くとも１つの汎用の発光フアイバ１１
４が設けられる。複数の汎用の集光フアイバ１１
６が並行フアイバ束として一緒に結合され、発光
及び集光を行う面１１８を作つている。面１１８
は第２図に示すように平らか、わずから凸状にさ
れる。錘り１１９は適正に位置決めされたテスト
エレメントＥを面１１８に接触するように押圧す
る。デイテクタ１１０は好ましくは、フアイバ１
１４に接続された少くとも１つの（図示しない））
発光ダイオードと、フアイバ１１６に接続された
（図示しない）フオトデイテクタとを有している。
び計量供給ステーシヨン２０と整合され、例えば
米国特許第4302420号に示された如き態様に構成
された光フアイバー反射計とすることができる。
デイテクタ１１０において、光フアイバヘツド１
１２には少くとも１つの汎用の発光フアイバ１１
４が設けられる。複数の汎用の集光フアイバ１１
６が並行フアイバ束として一緒に結合され、発光
及び集光を行う面１１８を作つている。面１１８
は第２図に示すように平らか、わずから凸状にさ
れる。錘り１１９は適正に位置決めされたテスト
エレメントＥを面１１８に接触するように押圧す
る。デイテクタ１１０は好ましくは、フアイバ１
１４に接続された少くとも１つの（図示しない））
発光ダイオードと、フアイバ１１６に接続された
（図示しない）フオトデイテクタとを有している。
テストエレメントＥは、ステーシヨン２０にお
ける液の計量供給に続いて、ステーシヨン２０，
４９，１０９を通して自動的に進められる。その
ような自動操作に有効な装置として、汎用のセン
サ、スイツチ、マイクロプロセツサ等がある。ア
ナライト液濃度は、例えば液晶、デイスプレー装
置１６０やサーマルプリンタ１７０などによつて
表示される。（第１図）。
ける液の計量供給に続いて、ステーシヨン２０，
４９，１０９を通して自動的に進められる。その
ような自動操作に有効な装置として、汎用のセン
サ、スイツチ、マイクロプロセツサ等がある。ア
ナライト液濃度は、例えば液晶、デイスプレー装
置１６０やサーマルプリンタ１７０などによつて
表示される。（第１図）。
アナライザ１０の操作は上述の記載から明らか
であろう。第２図に示すように、テストエレメン
トＥをプレート４２上の装填ステーシヨン１９内
に置く。機構４０を手動操作してテストエレメン
トＥをステーシヨン２０のところのピペツト２９
の下に押し込む。テストエレメントＥに加えられ
るアナライトはキーボード１５０（第１図）のコ
マンドキー１５５を使用して（図示しない）マイ
クロプロセツサに入れられるか、または、テスト
エレメントＥ上の（図示しない）適当なコードマ
ークを自動的に検知し、（図示しない）マイクロ
プロセツサに記録される。液体サンプルはステー
シヨン２０においてテストエレメントＥに計量供
給され、この供給が終ると別の命令が（図示しな
い）マイクロプロセツサに入れられるか、また
は、（図示しない）センサが上記命令を自動的に
発生する。部材６０，８０の順次の動きが第５ａ
図及び第５ｂ図に最も良く示されている。テスト
エレメントＥを計量供給ステーシヨン２０から貯
蔵ステーシヨン４９に動かすには、モータ１０２
を自動的に動かして部材６０及びフインガ７０を
位置Ａ（第５ａ図）に動かす。部材６０及びフイ
ンガ７０が位置Ａにあるとき、フインガ７０はテ
ストエレメントＥの後縁１７に係合する。部材６
０がこの状態になると、モータ１０２もまた部材
８０を動かして肩部９２を位置A′（第５ｂ図）と
する。それからモータ１０２が動かされて部材６
０及びフインガ７０を（第５ａ図に点線で示す）
位置Ｂに進める。カム手段５８は、この間、カバ
ー５６を持ち上げ、テストエレメントＥが培養器
５０内に装填されるようにする。同時に、部材８
０はモータ１０２によつて位置B′（第５ｂ図）へ
動かされる。
であろう。第２図に示すように、テストエレメン
トＥをプレート４２上の装填ステーシヨン１９内
に置く。機構４０を手動操作してテストエレメン
トＥをステーシヨン２０のところのピペツト２９
の下に押し込む。テストエレメントＥに加えられ
るアナライトはキーボード１５０（第１図）のコ
マンドキー１５５を使用して（図示しない）マイ
クロプロセツサに入れられるか、または、テスト
エレメントＥ上の（図示しない）適当なコードマ
ークを自動的に検知し、（図示しない）マイクロ
プロセツサに記録される。液体サンプルはステー
シヨン２０においてテストエレメントＥに計量供
給され、この供給が終ると別の命令が（図示しな
い）マイクロプロセツサに入れられるか、また
は、（図示しない）センサが上記命令を自動的に
発生する。部材６０，８０の順次の動きが第５ａ
図及び第５ｂ図に最も良く示されている。テスト
エレメントＥを計量供給ステーシヨン２０から貯
蔵ステーシヨン４９に動かすには、モータ１０２
を自動的に動かして部材６０及びフインガ７０を
位置Ａ（第５ａ図）に動かす。部材６０及びフイ
ンガ７０が位置Ａにあるとき、フインガ７０はテ
ストエレメントＥの後縁１７に係合する。部材６
０がこの状態になると、モータ１０２もまた部材
８０を動かして肩部９２を位置A′（第５ｂ図）と
する。それからモータ１０２が動かされて部材６
０及びフインガ７０を（第５ａ図に点線で示す）
位置Ｂに進める。カム手段５８は、この間、カバ
ー５６を持ち上げ、テストエレメントＥが培養器
５０内に装填されるようにする。同時に、部材８
０はモータ１０２によつて位置B′（第５ｂ図）へ
動かされる。
（図示しない）マイクロプロセツサは培養器５
０内の全てのテストエレメントの位置を制御す
る。積重ね体Ｓの最下位のテストエレメントＥを
取り出すべきことを命令すると、モータ１０２は
逆転されて、部材６０及びフインガ７０を位置Ｂ
から戻す。フインガ７０は位置Ａを通り点線（第
５ａ図）で示す位置Ｃへ戻る。同じ時に、部材８
０は位置B′（第５ｂ図）から位置A′を通り、そこ
でテストエレメントＥに係合して同エレメントを
培養器５０から押し出し、（第５ｂ図に点線で示
す）位置C′へ動く。位置C′において、肩部９２は
テストエレメントＥをデイテクタ１１０内に移送
する。デイテクタ１１０内のテストエレメントＥ
はテストエレメントＥを前進させることにより押
し出される。最後のテストエレメントＥが測定さ
れた後、そのエレメントＥは新しいテストエレメ
ントＥが最後のエレメントを押し出すまでデイテ
クタ内にとどまる。
０内の全てのテストエレメントの位置を制御す
る。積重ね体Ｓの最下位のテストエレメントＥを
取り出すべきことを命令すると、モータ１０２は
逆転されて、部材６０及びフインガ７０を位置Ｂ
から戻す。フインガ７０は位置Ａを通り点線（第
５ａ図）で示す位置Ｃへ戻る。同じ時に、部材８
０は位置B′（第５ｂ図）から位置A′を通り、そこ
でテストエレメントＥに係合して同エレメントを
培養器５０から押し出し、（第５ｂ図に点線で示
す）位置C′へ動く。位置C′において、肩部９２は
テストエレメントＥをデイテクタ１１０内に移送
する。デイテクタ１１０内のテストエレメントＥ
はテストエレメントＥを前進させることにより押
し出される。最後のテストエレメントＥが測定さ
れた後、そのエレメントＥは新しいテストエレメ
ントＥが最後のエレメントを押し出すまでデイテ
クタ内にとどまる。
部材８０が位置A′に引き戻された後、デイテ
クタ内のテストエレメントＥは読まれる。また、
部材８０の位置A′への引き戻しによりフインガ
７０が位置Ｃから位置Ａへ進められる。そこでフ
インガは次のテストエレメントＥと係合し、計量
供給ステーシヨン２０へ進める。
クタ内のテストエレメントＥは読まれる。また、
部材８０の位置A′への引き戻しによりフインガ
７０が位置Ｃから位置Ａへ進められる。そこでフ
インガは次のテストエレメントＥと係合し、計量
供給ステーシヨン２０へ進める。
以上から、部材６０がエレメントＥを培養器５
０内へ進めるときに、部材８０は積重ね体Ｓ内の
テストエレメントを乱すことなしに引き戻され
る。部材８０が進められて積重ね体Ｓのエレメン
トを取り出すときは、部材６０が積重ね体Ｓ上に
装填する準備のされるエレメントを乱すことなく
引き戻される。一時には、部材６０，８０の一方
のみがエレメントを培養器５０内に装填するかま
たはそれから取り出すために同エレメントに係合
する位置を通つて動く。
０内へ進めるときに、部材８０は積重ね体Ｓ内の
テストエレメントを乱すことなしに引き戻され
る。部材８０が進められて積重ね体Ｓのエレメン
トを取り出すときは、部材６０が積重ね体Ｓ上に
装填する準備のされるエレメントを乱すことなく
引き戻される。一時には、部材６０，８０の一方
のみがエレメントを培養器５０内に装填するかま
たはそれから取り出すために同エレメントに係合
する位置を通つて動く。
デイテクタによつて得られた濃度（density）
表示は、（図示しない）マイクロプロセツサの適
当な汎用のプログラミングによつて液濃度
（concentration）表示に変換される。その読取り
は例えばデイスプレー装置１６０及びプリンタ１
７０によつて表示される。
表示は、（図示しない）マイクロプロセツサの適
当な汎用のプログラミングによつて液濃度
（concentration）表示に変換される。その読取り
は例えばデイスプレー装置１６０及びプリンタ１
７０によつて表示される。
上述した部品を作るために用いられる材料は重
要ではなく、金属やプラスチツク等が用いられ
る。壁５２，５４及びカバー５６のような熱を伝
える部品は好ましくは金属で作られる。
要ではなく、金属やプラスチツク等が用いられ
る。壁５２，５４及びカバー５６のような熱を伝
える部品は好ましくは金属で作られる。
上述した如く、本発明に係るアナライザにおい
ては、単一の駆動手段によりエレメント装填機構
及び取出機構を同時に駆動してテストエレメント
の装填及び取出操作を独立に行うことができると
いう利点を有する。このようにすることにより、
テストエレメントをほぼ直線状の通路に沿つて進
めるようにした非常に簡単なアナライザを得るこ
とができる。
ては、単一の駆動手段によりエレメント装填機構
及び取出機構を同時に駆動してテストエレメント
の装填及び取出操作を独立に行うことができると
いう利点を有する。このようにすることにより、
テストエレメントをほぼ直線状の通路に沿つて進
めるようにした非常に簡単なアナライザを得るこ
とができる。
第１図は、本発明に係るアナライザの斜視図；
第２図は、第１図の−線にほぼ沿つて見た部
分断面図；第３図は、第２図の−線断面図；
第４図は、光フアイバ反射計の端面図；第５ａ図
及び第５ｂ図は、アナライザの操作の工程を説明
するための一部拡大断面図；である。 Ｅ……テストエレメント；２０……計量供給ス
テーシヨン；５０……培養器；６０……第１の部
材；８０……第２の部材；６４，８４，１０６…
…接続手段；１００……駆動手段；１０９……測
定ステーシヨン；１１０……デイテクタ。
第２図は、第１図の−線にほぼ沿つて見た部
分断面図；第３図は、第２図の−線断面図；
第４図は、光フアイバ反射計の端面図；第５ａ図
及び第５ｂ図は、アナライザの操作の工程を説明
するための一部拡大断面図；である。 Ｅ……テストエレメント；２０……計量供給ス
テーシヨン；５０……培養器；６０……第１の部
材；８０……第２の部材；６４，８４，１０６…
…接続手段；１００……駆動手段；１０９……測
定ステーシヨン；１１０……デイテクタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ テストエレメントの移送方向を基準として上
流側から下流側に向けて、 テストエレメントに液体を供給するための計量
供給ステーシヨンと、 １以上のテストエレメントを培養するための培
養器であつて、当該培養器内にテストエレメント
を装填するための入口と該培養器に装填されてい
たテストエレメントを取り出すための出口とを有
する培養器と、 取り出されたテストエレメント内の変化を測定
するためのデイテクタを備える測定ステーシヨン
とを有し、更に、 テストエレメントを培養器内へ移送するととも
に、該培養器からテストエレメントを測定ステー
シヨンへ排出するための移送手段を有し、該移送
手段が、 上記計量供給ステーシヨンの上流側における不
作動位置と上記培養器にテストエレメントを装填
するための装填位置との間に延びる第１の通路に
沿つて可動でテストエレメントを上記装填位置に
向けて押して移送するための第１部材、 培養器よりも上流側における不作動状態位置と
上記デイテクタにテストエレメントを装填するた
めの装填位置との間に延びる第２の通路に沿つて
可動で、培養器からテストエレメントを装填位置
に向けて押して移送するための第２部材、 単一の駆動手段、及び、 第１部材と第２部材とを上記単一の駆動手段に
同時に係合接続する手段であつて、上記第１及び
第２部材が相互に反対の方向に動くように駆動さ
れ、一方の部材がその不作動位置に入るときに他
方の部材がその装填位置に入るようにする接続手
段とを有していることを特徴とするアナライザ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/354,859 US4424191A (en) | 1982-03-04 | 1982-03-04 | Analyzer featuring loading and unloading means for a storage chamber, and common drive means |
| US354859 | 1982-03-04 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58161867A JPS58161867A (ja) | 1983-09-26 |
| JPH0352828B2 true JPH0352828B2 (ja) | 1991-08-13 |
Family
ID=23395209
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58033694A Granted JPS58161867A (ja) | 1982-03-04 | 1983-03-01 | アナライザ |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4424191A (ja) |
| EP (1) | EP0088601B1 (ja) |
| JP (1) | JPS58161867A (ja) |
| CA (1) | CA1174872A (ja) |
| DE (1) | DE3371001D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09127120A (ja) * | 1995-10-26 | 1997-05-16 | Kdk Corp | 分析装置 |
Families Citing this family (48)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US4710352A (en) * | 1985-09-20 | 1987-12-01 | Eastman Kodak Company | Simplified test element advancing mechanism having positive engagement with element |
| US4695430A (en) * | 1985-10-31 | 1987-09-22 | Bio/Data Corporation | Analytical apparatus |
| US4798705A (en) * | 1985-12-24 | 1989-01-17 | Eastman Kodak Company | Compact analyzer |
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| IT201800005662A1 (it) | 2018-05-24 | 2019-11-24 | Metodo per la realizzazione di una parete, un solaio o simile formata da una pluralità di pannelli in legno fra loro intercollegati, parete attuata con questo metodo e un elemento di connessione per pannelli in legno in particolare pannelli in legno a strati incrociati incollati o giuntati meccanicamente per la realizzazione di una parete di questo tipo | |
| CN115836207B (zh) | 2020-07-10 | 2026-04-24 | Idexx实验室公司 | 护理点医学诊断分析仪、以及用于对样品进行医学诊断分析的装置、系统和方法 |
| WO2025070455A1 (ja) | 2023-09-26 | 2025-04-03 | 富士フイルム株式会社 | タンパク質測定用試験片及びタンパク質の測定方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
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| CA1174872A (en) | 1984-09-25 |
| EP0088601B1 (en) | 1987-04-15 |
| DE3371001D1 (en) | 1987-05-21 |
| US4424191A (en) | 1984-01-03 |
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