JPH0353377B2 - - Google Patents

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JPH0353377B2
JPH0353377B2 JP59279895A JP27989584A JPH0353377B2 JP H0353377 B2 JPH0353377 B2 JP H0353377B2 JP 59279895 A JP59279895 A JP 59279895A JP 27989584 A JP27989584 A JP 27989584A JP H0353377 B2 JPH0353377 B2 JP H0353377B2
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JP
Japan
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less
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impurity
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Takahisa Kawamura
Atsushi Koike
Keiichi Murai
Kyosuke Ogawa
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Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPH0353377B2 publication Critical patent/JPH0353377B2/ja
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
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    • G03G5/00Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/10Bases for charge-receiving or other layers
    • G03G5/102Bases for charge-receiving or other layers consisting of or comprising metals

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

[産業上の利用分野] 本発明は改良されたアルミニウム合金から製作
されている、光導電部材用精密加工支持体及び光
導電部材に関する。 [従来の技術] アルミニウム合金は建材、自動車部品等各種構
造体に幅広く利用されているが、とりわけ光導電
部材の支持体等精密加工を要求される電気ないし
電子デバイスの構成部材として、その利用度が高
まりつつある。 しかしながら、例えば日本工業規格(JIS)に
より規格化された展伸材、鋳物用、ダイカスト等
の汎用のアルミニウム合金には、Ng、Cu、Mn、
Si、Zn等の積極的に添加される成分をはじめと
する各種組成成分と共に各種不純物成分が含有さ
れており、これらが介在物として組織中に析出し
たり、あるいは粒界段差を生起させ、特に表面近
傍に粒状析出物として存在すると、精密加工の際
の加工性を損ない、その結果としてアルミニウム
合金を構成部材とする電子部品等の特性を劣化さ
せることになる。 このような事情情を光導電部材についてさらに
詳しく説明すると、たとえば電子写真感光体は、
通常、アルミニウム合金はからなる円筒状等の支
持体表面上に光導電層を設けて構成される。光導
電層の材料としては有機ないし無機の各種光導電
物質が用いられており、例えば1価の元素でダン
グリングボンドが修飾されたアモルフアスシリコ
ン(以下a−Siという)は光導電性、耐擦性、耐
熱性に優れているので光導電層の材料としての応
用が期待されている。このa−Siを実用に供する
ためには、a−Siの光導電層に加えて支持体から
の電荷の注入を阻止する電荷注入阻止層、SiNx、
SiCx等の表面保護層等を用い、目的に応じた多
層構成とする必要がある。そしてこの際の光導電
部材の均一性は極めて重要であり、光導電的特性
の不均一やピンホール等の欠陥が存在すると、美
麗な画像が提供できないばかりでなく、実用に耐
えないものとなる。特にa−Siは膜の形態が支持
体の表面形状に大きく左右されることが知られて
いる。とりわけ、殆どの部分でほぼ均一な光導電
特性が必要となる大面積の電子写真感光体ドラム
においては、支持体の表面状態は極めて重要であ
り、支持体表面に欠陥が存在すると膜の均一性が
悪くなり、柱状構造や球状突起が形成されるた
め、光導電的不均一さの生じる原因となる。 [発明が解決しようとする課題] そこで、アルミニウム合金の管材シリンダー等
を支持体として使用する場合、その表面に鏡面仕
上げ、エンボス加工等精密な各種切削ないしは研
摩加工を施す過程において、粒界により区画され
た各種結晶粒が、結晶方位の違いによつて、加工
の際に受ける応力による変形、復元を異にするこ
とに起因するいわゆる粒界段差を生じる原因とな
り、例えばシリンダー表面に深さ100〜1000Å程
度の凹凸を生起させたり、あるいは粒界に沿つて
ひび割れ等の欠陥を生起させ、この粒界上に柱状
構造や円錐状の球状突起が多発し、光導電的不均
一や光導電特性の異常が増大する。さらに結晶粒
の大きなものは加工時に生ずる応力の分散が悪
く、このため粒界段差を大きく生ずる。そこで本
発明者らは、この結晶粒の特定の範囲にあれば前
述の従来の問題点が解消されることを見出し、本
発明を完成するに至つた。 本発明の目的は、主として粒界段差等の組織異
常が抑制されるとともに、さらに精密加工への適
応度が高められたアルミニウム合金から製作され
ている、光導電部材用精密加工支持体を提供する
ことにある。 本発明の他の目的は、支持体の表面欠陥が抑制
され、電気的、光学的、光導電的特性の均一性に
優れた光導電部材を提供することにある。 本発明のその上の目的は、画像欠陥が少なく、
高品質な画像を得ることができる光導電部材を提
供することにある。 [課題を解決するための手段] 本発明者等は上記目的を達成するために種々検
討した結果、前述したような主として粒界段差等
の組織異常をなくするための有効な手段として、
粒界により区画されたアルミニウムを基質とする
結晶粒の大きさ(最大長さで代表される粒径)を
最大300μm以下とすることを見出した。即ち結晶
粒の大きさが300μmを超えると、前述したように
切削加工時の応力の分散が悪く、1個の結晶粒に
大きな応力がかかり、1個の結晶粒の結晶方位の
影響をもろに受けることになり、粒界段差を大き
くすることとなるので好ましくない。また、結晶
粒の大きさの平均値(たとえば一定長で区切られ
た線分内に存在する結晶粒の数で線分の長さを割
つて計算される値で代表される)は100μm以下、
さらには50μm以下が好ましく、小さければ小さ
いほど良い。 結晶粒の大きさを本発明で規定している範囲内
に規制する具体的な方法として、例えば、通常、
押出しし次いで引抜加工することにより得られる
管については、引抜加工の際の絞り率、引抜率を
大きくし、加工度を適度に調節すること、またそ
の後工程のロール矯正での加工度の調整、及び最
終工程での熱処理における加工度の合せた条件の
設定などが挙げられる。 このように、本発明においてはアルミニウム合
金中に含有される結晶粒の大きさを規定したが、
基質アルミニウムを初めとするその他の合金成分
の種類、組成等については当該技術分野で一般に
採用されている範囲内で選択することができる。
本発明の光導電部材用精密加工支持体を製作する
のに用いるアルミニウム合金の実用的な組成を以
下に例示する。 [Al−Mg系] Mg 0.5〜10重量% Si 0.5重量%以下 Fe 2000ppm以下 Cu 0.2重量%以下 (例えば0.04〜0.2重量%) Mn 1.0重量%以下 (例えば0.01〜1.0重量%) Cr 0.5重量%以下 (例えば0.05〜0.5重量%) Zn 0.25重量%以下 (例えば0.03〜0.25重量%) Ti 0.2重量%以下 (例えば0.05〜0.2重量%) H2 Al100gに対して1.0c.c.以下 Al 実質的に残部 [Al−Mn系] Mn 0.3〜1.5重量% Si 0.5重量%以下 Fe 2000ppm以下 Cu 0.3重量%以下 (例えば0.05〜0.3重量%) Mg 1.3重量%以下 (例えば0.2〜1.3重量%) Cr 0.2重量%以下 (例えば0.1〜0.2重量%) Zn 0.4重量%以下 (例えば0.1〜0.4重量%) Ti 0.1重量%以下 H2 Al100gに対して1.0c.c.以下 Al 実質的に残部 [Al−Cu系] Cu 0.5〜10重量% Si 0.5重量%以下) Fe 2000ppm以下 Mn 1.2重量%以下 (例えば0.2〜1.2重量%) Mg 1.8重量%以下 (例えば0.2〜1.8重量%) Cr 0.1重量%以下 Zn 0.3重量%以下 (例えば0.2〜0.3重量%) Ti 0.2重量%以下 (例えば0.15〜0.2重量%) H2 Al100gに対して1.0c.c.以下 Al 実質的に残部 [Al−Mg−Si系] Mg 0.35〜1.5重量% Si 0.5〜7重量% Fe 2000ppm以下 Cu 0.4重量%以下 (例えば0.1〜0.4重量%) Mn 0.8重量%以下 (例えば0.03〜0.8重量%) Cr 0.35重量%以下 (例えば0.03〜0.35重量%) Zn 0.25重量%以下 (例えば0.1〜0.25重量%) Ti 0.15重量%以下 (例えば0.1〜0.15重量%) H2 Al100gに対して1.0c.c.以下 Al 実質的に残部 [純アルミニウム系] Mg 0.5重量%以下 (例えば0.02〜0.5重量%) Si 0.3重量%以下 Fe 2000ppm以下 Cu 0.1重量%以下 (例えば0.03〜0.1重量%) Mn 0.05重量%以下 (例えば0.02〜0.05重量%) Cr 痕跡量 Zn 0.1重量%以下 (例えば0.03〜0.1重量%) Ti 0.1重量%以下 (例えば0.03〜0.1重量%) H2 Al100gに対して1.0c.c.以下 Al 実質的に残部 本発明において、アルミニウム合金の組成を上
記の組成範囲から選択する際には、使用目的に応
じた特性として例えば機械的強度、耐食性、加工
性、耐熱性、寸法精度等を考慮して適宜に選択す
れば良い。また、汎用のアルミニウム合金には一
般に必要に応じて積極的に添加される合金成分や
精錬、溶製等の過程で止むを得ず混入する不純物
などに起因する析出物、介在物が存在し、粒界等
において異常成長したり、合金組織機内にハード
スポツトと呼ばれる固い部分を生じ、精密加工の
際の加工性を損じたり、精密加工により得られる
光導電部材用支持体の特性を劣化させる原因とな
る。 例えばケイ素はアルミニウムと固溶しにくく、
Si、SiO2、Al−Si化合物、Al−Fe−Si化合物、
Al−Si−Mg化合物として、またAl2O3としてア
ルミニウム組織中にたとえば島状等の形態で介在
する。また、Fe、Ti等も酸化物等として堅い粒
界析出物がハードスポツトとして現われる。そこ
で本発明で用いるアルミニウム合金においては、
前述した各種介在物の大きさ(介在物粒子の最大
長さで代表される粒径)を10μm以下、さらには
5μm以下とすることが好ましい。 アルミニウム合金中の介在物の大きさを10μm
以下に抑制する具体的な方法としては、例えばア
ルミニウム合金の溶解時に使用するセラミツクフ
イルターの開孔径の小さいものを用いるととも
に、十分な管理のもとにフイルターの効果を十分
活かす方法をとり、具体的にはフイルターがある
程度目詰りした時点でのロツトを使用する。さら
には溶解炉材の混入防止対策、スラグの面削厚み
の増加などの方法が挙げられる。 さらに、例えば精密加工に際して鏡面化切削加
工等を伴う場合には、アルミニウム合金中にマグ
ネシウム又は銅を共存させることによつてアルミ
ニウム合金の快削性が向上する。マグネシウム又
は銅の含量はそれぞれ0.5〜10重量%の範囲が好
ましく、特に1〜7重量%の範囲が望ましい。マ
グネシウム又は銅の含量が0.5重量%未満の場合
には添加効果が不十分であり、又余りにも高過ぎ
ると結晶粒界部分に粒界腐食が生じ易くなるた
め、10重量%を越えて添加することは望ましくな
い。 アルミニウム合金中に含有されるマンガンは耐
食性を高めるのに有効であり、その添加効果を達
成するためには0.3重量%以上添加することが望
ましい。しかし、1.5重量%を越えると析出物が
粗大化する傾向がある。従つて、耐食性向上添加
剤として用いるマンガンの添加量は0.3〜1.5重量
%の範囲であることが望ましい。 アルミニウム合金中にマグネシウム及びケイ素
の両元素が存在する場合には、ケイ素の添加量を
0.5〜7重量%とすることによつて良好な強度及
び耐食性が達成される。また良好な強度及び耐食
性を保持しつつ快削性をも達成しようとする場合
には、更にマグネシウムを0.35〜1.5重量%添加
することが望ましい。 また、アルミニウム合金中に含有される鉄は、
共存するアルミニウムやケイ素とFe−Al系やFe
−Al−Si系の金属間化合物を形成し、アルミニ
ウムマトリツクス中にハードスポツトとして現わ
れる。特にこのハードスポツトは鉄含量2000ppm
を境にして鉄が増加すると急激に増加し、たとえ
ば鏡面切削加工等の際に悪影響を及ぼす。従つて
本発明のアルミニウム合金における好ましい鉄含
量は、2000ppm以下、さらには1000ppm以下であ
る。 さらに、アルミニウム合金中に含有される水素
は空孔(Blister)等の組織異常を生起させ、精
密加工の際の加工性を損じて精密加工により得ら
れる光導電部材用支持体の特性を劣化させる原因
となる。このような不都合は、特にアルミニウム
合金中の水素量をアルミニウム100グラムに対し
て1.0c.c.以下、より好ましくは0.7c.c.以下に抑制す
ることにより解消することができる。 アルミニウム合金中に含有される鉄の含量を
2000ppm以下に抑える具体的な方法としては、原
料としてのAl地金の純度の高いもの、たとえば
電解精錬を繰り返し行なつたものを使用する。ま
た溶解、鋳込の各工程で十分管理を行なうなどの
方法が挙げられる。 アルミニウム合金中に含有される水素量をアル
ミニウム100グラムに対し1.0c.c.以下に抑える具体
的な方法としては、Al合金溶解時に脱ガス工程
として塩素ガスを溶湯中に吹き込み、合金組織中
に存在するH2ガスをHClとして除去する方法、
あるいは溶解したAl合金を真空炉中に一定時間
保持し、合金組織中に存在するH2ガスを真空中
へ拡散除去する方法などが挙げられる。 本発明で用いるアルミニウム合金は、圧延、押
出等の塑性加工を経た後、切削ないしは研摩等の
機械的方法、ないしは化学エツチング等化学的な
いし物理的方法を伴なう精密加工を施し、必要に
応じて熱処理、調質等を随時組合わせて、使用目
的に応じた適宜の形状に賦形される。たとえば電
子写真感光体ドラム等の厳密な寸法精度が要求さ
れる管状の構成部材に賦形する場合は、通常の押
出加工により得られるポートホール押出管あるい
はマンドレル押出管を、さらに冷間引抜加工して
得られる引抜管を使用するのが好ましい。このよ
うな管を用い、たとえば管表面に鏡面仕上げ、エ
ンボシング等のための切削ないしは研摩等の機械
的方法、ないしは化学エツチング等化学的ないし
物理的方法を伴なう精密加工を施した場合に、本
発明で用いるアルミニウム合金の特徴が特に顕著
に現われる。 本発明で用いるアルミニウム合金は、ダイヤバ
イトによる鏡面仕上げ、円筒研削仕上げ、ラツピ
ング仕上げ等の手段を用いてRnax=1μm以下の表
面粗さ、好ましくはRnax=0.05μm以下の平面度
に仕上げられる電子写真感光体等の光導電部材の
支持体として有用である。 以下、前記のアルミニウム合金から製作された
本発明の光導電部材用精密加工支持体を用い、光
導電物質としてa−Siを用いた電子写真用の光導
電部材の構成例を説明する。このような光導電部
材は、例えば支持体上に電荷注入阻止層、光導電
層(感光層)及び表面保護層を順次積層した構成
を有している。支持体の形状は所望によつて決定
されるが、たとえば電子写真用として使用するの
であれば、連続高速複写の場合は無端ベルト状又
は円筒状とするのが望ましい。支持体の厚みは所
望通りの光導電部材が形成されるように適宜決定
されるが、光導電部材としての可撓性が要求され
る場合には支持体としての機能が十分発揮される
範囲内であれば可能な限り薄くされる。しかしな
がら、このような場合にも支持体の製造上及び取
扱い上、さらには機械的強度等の点から通常は
10μm以上とされる。支持体表面は、光導電部材
の均一性を保つために例えば鏡面孔切削加工等に
より鏡面仕上げが施され、また感光体を、光源と
してレーザー光等の可干渉性単色光を使用するデ
ジタル画像情報記録に使用する場合に干渉縞模様
を防止する等のために、例えば旋盤、フライスス
盤等を用いたダイヤモンド切削等機械的精密加工
あるいは化学エツチング等他の精密加工により規
則的ないしは不規則のたとえば螺旋状の微細な凹
凸が付される。電荷注入阻止層は例えば水素原子
及び/又はハロゲン原子を含有するa−Siで構成
されるとともに、伝導性を支配する物質として通
常半導体の不純物として用いられる周期律第族
ないしは第族に属する元素の原子が含有され
る。電荷注入阻止層の層厚は好ましくは0.01〜
10μm、より好適には0.05〜8μm、最適には0.07〜
5μmとされる。電荷注入阻止層の代りにたとえば
Al2O3、SiO2、Si3N4、ポリカーボネート等の電
気絶縁材料からなる障壁層を設けてもよいし、あ
るいは電荷注入阻止層と障壁層とを併用すること
もできる。光導電層はたとえば水素原子及び/又
はハロゲン原子を含有するa−Siで構成され、所
望により電荷注入阻止層に用いるものとは別種の
伝導性を支配する物質が含有される。光導電層の
層厚は好ましくは1〜100μm、より好適には1〜
80μm、最適には2〜50μmとされる。表面保護層
はたとえばSiCx、SiNx等で構成され、層厚は好
ましくは0.01〜10μm、より好適には0.02〜5μm、
最適には0.04〜5μmとされる。 本発明においてa−Siで構成される光導電層等
を形成するには、たとえばグロー放電法、スパツ
タリング法あるいはイオンプレーテイング法等の
従来公知の種々の放電現象を利用する真空堆積法
が適用される。 次にグロー放電分解法による光導電部材の製造
法の一例について説明する。 第1図はグロー放電分解法による光導電部材の
製造装置を示す。堆積槽1はベースプレート2と
槽壁3とトツププレート4とから構成され、この
堆積槽1内にはカソード電極5が設けられてお
り、a−Si堆積膜が形成される特定の組成を有す
るアルミニウム合金製のドラム状支持体6はカソ
ード電極5の中央部に設置され、アノード電極と
しての役割りも兼ねている。この製造装置を使用
してa−Si堆積膜をドラム状支持体上に形成する
には、まず原料ガス流入バルブ7及びリークバル
ブ8を閉じ、排気バルブ9を開け、堆積層1内を
排気する。真空計10の読みが約5×10-6Torr
になつた時点で原料ガス流入バルブ7を開いて、
マスフローコントローラー11内で所定の混合比
に調整された、例えばSiH4ガス、SiH6ガス、
SiF4ガス等の原料混合ガスを堆積槽1内に流入さ
せる。このとき堆積層1内の圧力が所望の値にな
るように真空計10の読みを見ながら、排気バル
ブ9の開口度を調整する。そしてドラム状支持体
6の表面温度が加熱ヒーター12により所定の温
度に設定されていることを確認した後、高周波電
源13を所望の電力に設定して堆積槽1内にグロ
ー放電を生起させる。 また層形成を行なつている間は層形成の均一化
を図るためにドラム状支持体6をモータ14によ
り一定速度で回転させる。このようにしてドラム
状支持体6上にa−Si堆積膜を形成することがで
きる。 以下、本発明を実施例に基づき詳細に説明す
る。 実施例1〜6、比較例1〜7 第1表に示す組成(Feはppm、Hはアルミニ
ウム100g当りのc.c.、他は重量%)のアルミニウ
ム合金のビレツトを鋳造し、500℃の温度で熱間
押出しを行ない、次いで減面率30%となるように
冷間引抜きを実施し、その後第1表に示す温度、
時間で焼鈍を行ない、続いて空気中で自然放冷し
て光導電部材用支持体シリンダーを得た。 精密切削用のエアーダンパー付旋盤
(PNEUMO PRECISION INC製)に、先端部
曲率0.01(mm-1)のダイアモンドバイトをシリン
ダー中心角に対して5゜の負のすくい角を得るよう
にセツトした。次にこの旋盤の回転軸フランジに
第1表に示した結晶粒の大きさの異なる13種のア
ルミニウム合金製シリンダーを真空チヤツクし、
付設したノズルからの白燈油噴霧、同じく付設し
た真空ノズルからの切り粉の吸引を併用しつつ、
周速1000(m/min)、送り速度0.01(mm/R)の
条件で外径が80mmφとなるよう鏡面切削を施し
た。このようにして鏡面加工したシリンダーにつ
き鏡面加工後に生じている表面欠陥(エグレ状の
傷、ひび割れ、スジ状キズ)を目視及び金属顕微
鏡により検査し、その数を調べた。なお、シリン
ダーに含有される水素の量は作製したシリンダー
の一部を切りとり、これをサンプルとし、ラボラ
トリー・イクイツプメンツ・コーポレーシヨン製
RH−IE型を用い、その仕様書に従つて測定し
た。 次にこれらの鏡面加工したアルミニウム合金製
シリンダーのそれぞれの上に賃第1図に示した光
導電部材の製造装置を用い、先に詳述したグロー
放電分解法に従い、下記の条件により光導電部材
を作製した。
FIELD OF INDUSTRIAL APPLICATION This invention relates to precision machined supports for photoconductive members and photoconductive members made from improved aluminum alloys. [Prior Art] Aluminum alloys are widely used in various structures such as building materials and automobile parts, but their use is particularly important as components of electrical and electronic devices that require precision processing, such as supports for photoconductive members. is increasing. However, general-purpose aluminum alloys for wrought materials, castings, die castings, etc. standardized by the Japanese Industrial Standards (JIS) include Ng, Cu, Mn,
It contains various impurity components together with various compositional components such as actively added components such as Si and Zn, and these may precipitate in the structure as inclusions or cause grain boundary steps, especially If it exists in the form of granular precipitates near the surface, it impairs the workability during precision machining, and as a result, it deteriorates the characteristics of electronic parts and the like whose constituent members are aluminum alloys. To explain this situation in more detail regarding photoconductive members, for example, electrophotographic photoreceptors are
Usually, a photoconductive layer is provided on the surface of a cylindrical support made of aluminum alloy. Various organic or inorganic photoconductive substances are used as materials for the photoconductive layer. For example, amorphous silicon (hereinafter referred to as a-Si) whose dangling bonds are modified with a monovalent element has photoconductivity and durability. Because it has excellent scratch resistance and heat resistance, it is expected to be used as a material for photoconductive layers. In order to put this a-Si into practical use, in addition to the a-Si photoconductive layer, a charge injection blocking layer that blocks charge injection from the support, SiNx,
It is necessary to use a surface protective layer such as SiCx to create a multilayer structure depending on the purpose. In this case, the uniformity of the photoconductive member is extremely important, and if there are defects such as non-uniform photoconductive properties or pinholes, it will not only be impossible to provide a beautiful image, but also impractical. . In particular, it is known that the morphology of the film of a-Si is greatly influenced by the surface shape of the support. In particular, the surface condition of the support is extremely important for large-area electrophotographic photoreceptor drums that require almost uniform photoconductive properties in most parts, and the presence of defects on the support surface may affect the uniformity of the film. As a result, columnar structures and spherical protrusions are formed, which causes photoconductive non-uniformity. [Problems to be Solved by the Invention] Therefore, when an aluminum alloy tube cylinder or the like is used as a support, in the process of performing various precision cutting or polishing processes such as mirror finishing and embossing on the surface, it is difficult to divide the material by grain boundaries. Due to differences in crystal orientation, the various crystal grains deformed and restored by stress during machining are the cause of so-called grain boundary steps. It causes unevenness of about 1000 Å or defects such as cracks along the grain boundaries, and many columnar structures and conical spherical protrusions occur on the grain boundaries, resulting in photoconductive non-uniformity and poor photoconductive properties. Abnormalities increase. Furthermore, large crystal grains have poor dispersion of stress generated during processing, resulting in large grain boundary steps. The inventors of the present invention have discovered that the above-mentioned conventional problems can be solved if the crystal grains are within a specific range, and have completed the present invention. An object of the present invention is to provide a precision-machined support for a photoconductive member, which is manufactured from an aluminum alloy in which structural abnormalities such as grain boundary steps are mainly suppressed, and which is more adaptable to precision machining. There is a particular thing. Another object of the present invention is to provide a photoconductive member with suppressed surface defects on the support and excellent uniformity of electrical, optical, and photoconductive properties. A further object of the present invention is to have fewer image defects;
An object of the present invention is to provide a photoconductive member capable of obtaining high-quality images. [Means for Solving the Problems] As a result of various studies to achieve the above object, the present inventors have found that as an effective means for eliminating structural abnormalities such as grain boundary steps as described above,
It has been found that the size of aluminum-based crystal grains partitioned by grain boundaries (grain size represented by maximum length) is at most 300 μm or less. In other words, if the crystal grain size exceeds 300 μm, the stress distribution during cutting will be poor as described above, and a large stress will be applied to each crystal grain, which will overwhelm the effects of the crystal orientation of each crystal grain. This is not preferable because it increases the grain boundary step. In addition, the average size of crystal grains (represented by the value calculated by dividing the length of a line segment by the number of crystal grains existing within a line segment separated by a certain length) is 100 μm or less,
Furthermore, it is preferably 50 μm or less, and the smaller the better. As a specific method for regulating the size of crystal grains within the range specified in the present invention, for example, normally,
For tubes obtained by extrusion and then drawing, it is necessary to increase the drawing rate and drawing rate during the drawing process and adjust the degree of work appropriately, and also to adjust the degree of work in the roll straightening process in the subsequent process. and setting conditions for the degree of processing in the heat treatment in the final process. In this way, in the present invention, the size of the crystal grains contained in the aluminum alloy is specified, but
The types, compositions, etc. of other alloy components including the substrate aluminum can be selected within the range generally employed in the technical field.
Practical compositions of the aluminum alloy used for manufacturing the precision-machined support for photoconductive members of the present invention are illustrated below. [Al-Mg system] Mg 0.5 to 10 wt% Si 0.5 wt% or less Fe 2000 ppm or less Cu 0.2 wt% or less (e.g. 0.04 to 0.2 wt%) Mn 1.0 wt% or less (e.g. 0.01 to 1.0 wt%) Cr 0.5 wt% (e.g. 0.05 to 0.5 wt%) Zn 0.25 wt% or less (e.g. 0.03 to 0.25 wt%) Ti 0.2 wt% or less (e.g. 0.05 to 0.2 wt%) H 2 1.0 cc or less per 100 g of Al Al Substantially the remainder [ Al-Mn system] Mn 0.3 to 1.5 wt% Si 0.5 wt% or less Fe 2000 ppm or less Cu 0.3 wt% or less (e.g. 0.05 to 0.3 wt%) Mg 1.3 wt% or less (e.g. 0.2 to 1.3 wt%) Cr 0.2 wt% or less (e.g. 0.1 to 0.2 wt%) Zn 0.4 wt% or less (e.g. 0.1 to 0.4 wt%) Ti 0.1 wt% or less H 2 1.0 cc or less per 100 g of Al Al Substantially remainder [Al-Cu system] Cu 0.5 to 10 (wt% Si 0.5 wt% or less) Fe 2000 ppm or less Mn 1.2 wt% or less (e.g. 0.2 to 1.2 wt%) Mg 1.8 wt% or less (e.g. 0.2 to 1.8 wt%) Cr 0.1 wt% or less Zn 0.3 wt% or less (e.g. 0.2 ~0.3% by weight) Ti 0.2% by weight or less (e.g. 0.15-0.2% by weight) H 2 1.0cc or less per 100g of Al Substantially the balance [Al-Mg-Si system] Mg 0.35-1.5% by weight Si 0.5-7 Weight % Fe 2000 ppm or less Cu 0.4 weight % or less (e.g. 0.1 to 0.4 weight %) Mn 0.8 weight % or less (e.g. 0.03 to 0.8 weight %) Cr 0.35 weight % or less (e.g. 0.03 to 0.35 weight %) Zn 0.25 weight % or less ( (e.g. 0.1 to 0.25 wt%) Ti 0.15 wt% or less (e.g. 0.1 to 0.15 wt%) H 2 1.0 cc or less per 100 g of Al Al Substantially the balance [pure aluminum] Mg 0.5 wt% or less (e.g. 0.02 to 0.5 wt. %) Si 0.3wt% or less Fe 2000ppm or less Cu 0.1wt% or less (e.g. 0.03-0.1wt%) Mn 0.05wt% or less (e.g. 0.02-0.05wt%) Cr Trace amount Zn 0.1wt% or less (e.g. 0.03-0.1wt%) %) Ti 0.1% by weight or less (e.g. 0.03 to 0.1% by weight) H 2 1.0cc or less per 100g of Al Substantially the remainder In the present invention, when selecting the composition of the aluminum alloy from the above composition range, use The material may be appropriately selected in consideration of, for example, mechanical strength, corrosion resistance, workability, heat resistance, dimensional accuracy, etc., as characteristics depending on the purpose. In addition, general-purpose aluminum alloys generally contain precipitates and inclusions caused by alloying ingredients that are actively added as needed and impurities that are unavoidably mixed in during processes such as refining and melting. Abnormal growth occurs at grain boundaries, etc., and hard spots called hard spots occur within the alloy structure machine, which impairs workability during precision processing and causes deterioration of the characteristics of the support for photoconductive materials obtained through precision processing. becomes. For example, silicon is difficult to form a solid solution with aluminum;
Si, SiO 2 , Al-Si compounds, Al-Fe-Si compounds,
It is present in the aluminum structure as an Al-Si-Mg compound or as Al 2 O 3 in the form of islands, for example. In addition, hard grain boundary precipitates of Fe, Ti, etc. as oxides appear as hard spots. Therefore, in the aluminum alloy used in the present invention,
The size of the various inclusions mentioned above (particle size represented by the maximum length of inclusion particles) is 10 μm or less, and
The thickness is preferably 5 μm or less. Reduce the size of inclusions in aluminum alloy to 10μm
Specific methods for suppressing the following include, for example, using ceramic filters with small pore diameters used when melting aluminum alloys, and taking full advantage of the effects of the filters under thorough management. Use the lot when the filter is clogged to some extent. Other measures include measures to prevent melting furnace materials from getting mixed in, and increasing the thickness of the slag surface. Furthermore, for example, when precision machining involves mirror-finishing cutting, etc., the free machinability of the aluminum alloy is improved by coexisting magnesium or copper in the aluminum alloy. The content of magnesium or copper is preferably in the range of 0.5 to 10% by weight, particularly preferably in the range of 1 to 7% by weight. If the magnesium or copper content is less than 0.5% by weight, the addition effect will be insufficient, and if it is too high, intergranular corrosion will easily occur at the grain boundaries, so add more than 10% by weight. That is not desirable. Manganese contained in aluminum alloys is effective in increasing corrosion resistance, and in order to achieve the effect of its addition, it is desirable to add 0.3% by weight or more. However, if it exceeds 1.5% by weight, the precipitates tend to become coarse. Therefore, the amount of manganese used as a corrosion resistance improving additive is preferably in the range of 0.3 to 1.5% by weight. If both elements magnesium and silicon are present in the aluminum alloy, the amount of silicon added should be
Good strength and corrosion resistance can be achieved by setting the content to 0.5 to 7% by weight. Furthermore, in order to achieve free machinability while maintaining good strength and corrosion resistance, it is desirable to further add 0.35 to 1.5% by weight of magnesium. In addition, the iron contained in aluminum alloy is
Aluminum and silicon coexist with Fe-Al system and Fe.
-Al-Si based intermetallic compounds are formed and appear as hard spots in the aluminum matrix. In particular, this hard spot has an iron content of 2000ppm.
When the amount of iron increases beyond this point, the amount of iron increases rapidly, which has an adverse effect on, for example, mirror cutting. Therefore, the preferred iron content in the aluminum alloy of the present invention is 2000 ppm or less, more preferably 1000 ppm or less. Furthermore, hydrogen contained in aluminum alloys causes structural abnormalities such as pores (blisters), which impairs workability during precision processing and deteriorates the characteristics of the support for photoconductive members obtained through precision processing. Cause. Such inconveniences can be eliminated by particularly suppressing the amount of hydrogen in the aluminum alloy to 1.0 cc or less, more preferably 0.7 cc or less, per 100 grams of aluminum. Iron content in aluminum alloy
A specific method for suppressing the content to 2000 ppm or less is to use a highly pure Al metal as a raw material, for example, one that has been repeatedly electrolytically refined. Another method is to thoroughly control each process of melting and casting. A specific method for suppressing the amount of hydrogen contained in aluminum alloys to 1.0 cc or less per 100 grams of aluminum is to blow chlorine gas into the molten metal as a degassing step when melting Al alloys to remove the hydrogen present in the alloy structure. 2 How to remove gas as HCl,
Alternatively, a method may be used in which the melted Al alloy is held in a vacuum furnace for a certain period of time, and the H 2 gas present in the alloy structure is diffused and removed into the vacuum. After the aluminum alloy used in the present invention has been subjected to plastic working such as rolling and extrusion, it is subjected to precision processing that involves mechanical methods such as cutting or polishing, or chemical or physical methods such as chemical etching. The material is then formed into an appropriate shape depending on the purpose of use by combining heat treatment, thermal refining, etc. as needed. For example, when forming a tubular component that requires strict dimensional accuracy, such as an electrophotographic photoreceptor drum, a porthole extruded tube or a mandrel extruded tube obtained by ordinary extrusion processing is further cold-drawn. It is preferable to use a drawn tube obtained by When using such a tube, for example, when the tube surface is subjected to precision processing that involves mechanical methods such as cutting or polishing for mirror finishing, embossing, etc., or chemical or physical methods such as chemical etching, The characteristics of the aluminum alloy used in the present invention are particularly noticeable. The aluminum alloy used in the present invention is finished to a surface roughness of R nax = 1 μm or less, preferably a flatness of R nax = 0.05 μm or less, using means such as diamond-biting mirror finishing, cylindrical grinding, wrapping finish, etc. It is useful as a support for photoconductive members such as electrophotographic photoreceptors. Hereinafter, an example of the structure of a photoconductive member for electrophotography using a-Si as a photoconductive material will be described using the precision-machined support for a photoconductive member of the present invention manufactured from the above-mentioned aluminum alloy. Such a photoconductive member has, for example, a structure in which a charge injection blocking layer, a photoconductive layer (photosensitive layer), and a surface protection layer are sequentially laminated on a support. The shape of the support is determined as desired, but if it is used for electrophotography, for example, it is preferably in the form of an endless belt or a cylinder in the case of continuous high-speed copying. The thickness of the support is determined as appropriate so that the desired photoconductive member is formed, but if flexibility as a photoconductive member is required, the thickness of the support may be determined within a range that allows the support to function adequately. If possible, it will be made as thin as possible. However, even in such cases, from the viewpoint of manufacturing and handling of the support, as well as mechanical strength, it is usually
It is considered to be 10μm or more. The surface of the support is given a mirror finish by, for example, mirror hole cutting in order to maintain the uniformity of the photoconductive member, and the photoreceptor is used as a light source for digital image information using coherent monochromatic light such as a laser beam. In order to prevent interference fringes when used for recording, mechanical precision processing such as diamond cutting using a lathe, milling machine, etc., or other precision processing such as chemical etching may be used to create regular or irregular patterns such as a spiral pattern. Fine irregularities of the shape are added. The charge injection blocking layer is composed of, for example, a-Si containing hydrogen atoms and/or halogen atoms, and also contains elements belonging to the periodic group or group that are commonly used as impurities in semiconductors as substances that control conductivity. Contains atoms. The thickness of the charge injection blocking layer is preferably 0.01~
10μm, more preferably 0.05~8μm, optimally 0.07~
It is assumed to be 5μm. For example, instead of a charge injection blocking layer,
A barrier layer made of an electrically insulating material such as Al 2 O 3 , SiO 2 , Si 3 N 4 or polycarbonate may be provided, or a charge injection blocking layer and a barrier layer may be used together. The photoconductive layer is composed of, for example, a-Si containing hydrogen atoms and/or halogen atoms, and optionally contains a substance controlling conductivity different from that used in the charge injection blocking layer. The thickness of the photoconductive layer is preferably 1 to 100 μm, more preferably 1 to 100 μm.
The thickness is 80 μm, optimally 2 to 50 μm. The surface protective layer is composed of, for example, SiCx, SiNx, etc., and the layer thickness is preferably 0.01 to 10 μm, more preferably 0.02 to 5 μm,
The optimum thickness is 0.04 to 5 μm. In the present invention, to form the photoconductive layer etc. made of a-Si, vacuum deposition methods that utilize various conventionally known discharge phenomena, such as glow discharge method, sputtering method, or ion plating method, are applied. Ru. Next, an example of a method for manufacturing a photoconductive member using a glow discharge decomposition method will be described. FIG. 1 shows an apparatus for manufacturing photoconductive members using a glow discharge decomposition method. The deposition tank 1 is composed of a base plate 2, a tank wall 3, and a top plate 4. A cathode electrode 5 is provided inside the deposition tank 1, and a cathode electrode 5 is provided inside the deposition tank 1. An alloy drum-shaped support 6 is installed at the center of the cathode electrode 5 and also serves as an anode electrode. To form an a-Si deposited film on a drum-shaped support using this manufacturing device, first close the raw material gas inflow valve 7 and leak valve 8, open the exhaust valve 9, and exhaust the inside of the deposited layer 1. . Vacuum gauge 10 reads approximately 5×10 -6 Torr
At the point when the temperature reaches
For example, SiH 4 gas, SiH 6 gas, adjusted to a predetermined mixing ratio in the mass flow controller 11.
A raw material mixed gas such as SiF 4 gas is allowed to flow into the deposition tank 1 . At this time, the degree of opening of the exhaust valve 9 is adjusted while checking the reading on the vacuum gauge 10 so that the pressure within the deposited layer 1 reaches a desired value. After confirming that the surface temperature of the drum-shaped support 6 is set to a predetermined temperature by the heater 12, the high frequency power source 13 is set to a desired power to generate glow discharge in the deposition tank 1. During layer formation, the drum-shaped support 6 is rotated at a constant speed by a motor 14 in order to ensure uniform layer formation. In this manner, an a-Si deposited film can be formed on the drum-shaped support 6. Hereinafter, the present invention will be explained in detail based on examples. Examples 1 to 6, Comparative Examples 1 to 7 An aluminum alloy billet having the composition shown in Table 1 (Fe is ppm, H is cc per 100 g of aluminum, and the others are weight %) was cast and heated at a temperature of 500°C. After extrusion, cold drawing was performed to achieve an area reduction rate of 30%, and then at the temperature shown in Table 1,
The material was annealed for several hours and then allowed to cool naturally in air to obtain a support cylinder for a photoconductive member. A diamond cutting tool with a tip curvature of 0.01 (mm -1 ) was set on a lathe with an air damper for precision cutting (manufactured by PNEUMO PRECISION INC.) so as to obtain a negative rake angle of 5° with respect to the cylinder center angle. Next, 13 types of aluminum alloy cylinders with different crystal grain sizes shown in Table 1 were vacuum chucked on the rotating shaft flange of this lathe.
While using a combination of white kerosene spray from an attached nozzle and suction of chips from an attached vacuum nozzle,
Mirror cutting was performed so that the outer diameter was 80 mmφ at a circumferential speed of 1000 (m/min) and a feed rate of 0.01 (mm/R). The mirror-finished cylinders were inspected visually and with a metallurgical microscope for surface defects (egre-like scratches, cracks, and streak-like scratches) that had occurred after mirror-finishing, and the number thereof was determined. The amount of hydrogen contained in the cylinder was measured by cutting out a part of the manufactured cylinder and using it as a sample.
Measurements were made using the RH-IE model according to its specifications. Next, using the photoconductive member manufacturing apparatus shown in Fig. 1 on each of these mirror-finished aluminum alloy cylinders, photoconductive members were formed under the following conditions according to the glow discharge decomposition method described in detail above. was created.

【表】 アルミニウムシリンダー温度:250℃ 堆積膜形成時の堆積室内圧:0.3Torr 放電周波数:13.56MHz 堆積膜形成速度:20Å/sec 放電電力:0.18W/cm2 こうして得られた各電子写真感光体ドラムをキ
ヤノン(株)製400RE複写装置に設置してA−3紙上
に画出しを行ない、白点状の画像欠陥(0.3mmφ
以上)の評価を実施した。この結果を第1表に示
す。 なお、実施例1及び実施例2の各電子写真感光
体ドラムについては、更に100万枚の耐久試験を、
23℃/相対湿度50%、30℃/相対湿度90%、5
℃/相対湿度20%の各環境下で実施したが、画像
欠陥、特に白抜け等の欠陥もなく、良好な耐久性
を有していることが確認された。
[Table] Aluminum cylinder temperature: 250℃ Deposition chamber pressure during deposited film formation: 0.3Torr Discharge frequency: 13.56MHz Deposited film formation rate: 20Å/sec Discharge power: 0.18W/cm 2Each electrophotographic photoreceptor thus obtained The drum was installed in a 400RE copying machine manufactured by Canon Inc., and an image was printed on A-3 paper.
(above) were evaluated. The results are shown in Table 1. The electrophotographic photosensitive drums of Examples 1 and 2 were further subjected to a durability test of 1 million sheets.
23℃/50% relative humidity, 30℃/90% relative humidity, 5
Tests were carried out under various environments at ℃/20% relative humidity, and it was confirmed that there were no image defects, especially defects such as white spots, and that the film had good durability.

【表】【table】

【表】 [発明の効果] 本発明におけるアルミニウム合金によれば、主
として粒界段差等の組織異常が抑制され、ないし
は全くなくなり、精密加工による加工性の低下や
加工製品の所望される特性の劣化が抑えられるた
め、精密加工による正確な表面形状が望まれる光
導電部材用として好適である。また、このアルミ
ニウム合金を引き抜き加工して得られる管材は正
確な表面形状並びに高い寸法精度が得られるた
め、とりわけ電子写真感光体の支持体等精密な管
状構成部材等を構成するのに好適である。さら
に、本発明におけるアルミニウム合金を支持体と
して用いた光導電部材は電気的、光学的ないしは
光導電的特性の均一性に優れ、なかんずく電子写
真用として用いた場合、画像欠陥が少なく、高品
質な画像を得ることができる。
[Table] [Effects of the Invention] According to the aluminum alloy of the present invention, structural abnormalities such as grain boundary steps are mainly suppressed or completely eliminated, thereby reducing workability due to precision processing and deterioration of desired characteristics of processed products. Because of this, it is suitable for use in photoconductive members where an accurate surface shape through precision processing is desired. In addition, the tubular material obtained by drawing this aluminum alloy has an accurate surface shape and high dimensional accuracy, so it is particularly suitable for constructing precise tubular components such as supports for electrophotographic photoreceptors. . Furthermore, the photoconductive member using the aluminum alloy as a support of the present invention has excellent uniformity of electrical, optical, or photoconductive properties, and especially when used for electrophotography, has few image defects and high quality. You can get the image.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はグロー放電分解法による光導電部材の
製造装置を示した図である。 図中、1は堆積槽、2はベースプレート、3は
槽壁、4はトツププレート、5はカソード電極、
6はドラム状支持体、7は原料ガス流入バルブ、
8はリークバルブ、9は排気バルブ、10は真空
計、11はマスフローコントローラ、12は加熱
ヒータ、13は高周波電源、14はモータであ
る。
FIG. 1 is a diagram showing an apparatus for manufacturing a photoconductive member using a glow discharge decomposition method. In the figure, 1 is a deposition tank, 2 is a base plate, 3 is a tank wall, 4 is a top plate, 5 is a cathode electrode,
6 is a drum-shaped support, 7 is a raw material gas inflow valve,
8 is a leak valve, 9 is an exhaust valve, 10 is a vacuum gauge, 11 is a mass flow controller, 12 is a heater, 13 is a high frequency power source, and 14 is a motor.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 アルミニウム及び不純物からなり、結晶粒の
大きさが最大300μm以下である合金から製作され
ていることを特徴とする光導電部材用精密加工支
持体。 2 前記結晶粒の大きさの平均値が100μm以下で
ある、特許請求の範囲第1項記載の光導電部材用
精密加工支持体。 3 前記不純物から形成される介在物の大きさが
10μm以下である、特許請求の範囲第1項記載の
光導電部材用精密加工支持体。 4 前記不純物としての鉄が2000ppm以下であ
る、特許請求の範囲第1項記載の光導電部材用精
密加工支持体。 5 前記不純物としての水素がアルミニウム100
グラムに対して1.0c.c.以下である、特許請求の範
囲第1項記載の光導電部材用精密加工支持体。 6 マグネシウムを0.5〜10重量%含み、残部が
アルミニウム及び不純物からなり、結晶粒の大き
さが最大300μm以下である合金から製作されてい
ることを特徴とする光導電部材用精密加工支持
体。 7 前記結晶粒の大きさの平均値が100μm以下で
ある、特許請求の範囲第6項記載の光導電部材用
精密加工支持体。 8 前記不純物から形成される介在物の大きさが
10μm以下である、特許請求の範囲第6項記載の
光導電部材用精密加工支持体。 9 前記不純物としての鉄が2000ppm以下であ
る、特許請求の範囲第6項記載の光導電部材用精
密加工支持体。 10 前記不純物としての水素がアルミニウム
100グラムに対して1.0c.c.以下である、特許請求の
範囲第6項記載の光導電部材用精密加工支持体。 11 マンガンを0.3〜1.5重量%含み、残部がア
ルミニウム及び不純物からなり、結晶粒の大きさ
が最大300μm以下である合金から製作されている
ことを特徴とする光導電部材用精密加工支持体。 12 前記結晶粒の大きさの平均値が100μm以下
である、特許請求の範囲第11項記載の光導電部
材用精密加工支持体。 13 前記不純物から形成される介在物の大きさ
が10μm以下である、特許請求の範囲第11項記
載の光導電部材用精密加工支持体。 14 前記不純物としての鉄が2000ppm以下であ
る、特許請求の範囲第11項記載の光導電部材用
精密加工支持体。 15 前記不純物としての水素がアルミニウム
100グラムに対して1.0c.c.以下である、特許請求の
範囲第11項記載の光導電部材用精密加工支持
体。 16 銅を0.5〜10重量%含み、残部がアルミニ
ウム及び不純物からなり、結晶粒の大きさが最大
300μm以下である合金から製作されていることを
特徴とする光導電部材用精密加工支持体。 17 前記結晶粒の大きさの平均値が100μm以下
である、特許請求の範囲第16項記載の光導電部
材用精密加工支持体。 18 前記不純物から形成される介在物の大きさ
が10μm以下である、特許請求の範囲第16項記
載の光導電部材用精密加工支持体。 19 前記不純物としての鉄が2000ppm以下であ
る、特許請求の範囲第16項記載の光導電部材用
精密加工支持体。 20 前記不純物としての水素がアルミニウム
100グラムに対して1.0c.c.以下である、特許請求の
範囲第16項記載の光導電部材用精密加工支持
体。 21 マグネシウムを0.35〜1.5重量%、ケイ素
を0.5〜7重量%含み、残部がアルミニウム及び
不純物からなり、結晶粒の大きさが最大300μm以
下である合金から製作されていることを特徴とす
る光導電部材用精密加工支持体。 22 前記結晶粒の大きさの平均値が100μm以下
である、特許請求の範囲第21項記載の光導電部
材用精密加工支持体。 23 前記不純物から形成される介在物の大きさ
が10μm以下である、特許請求の範囲第21項記
載の光導電部材用精密加工支持体。 24 前記不純物としての鉄が2000ppm以下であ
る、特許請求の範囲第21項記載の光導電部材用
精密加工支持体。 25 前記不純物としての水素がアルミニウム
100グラムに対して1.0c.c.以下である、特許請求の
範囲第21項記載の光導電部材用精密加工支持
体。 26 アルミニウム及び不純物からなり、結晶粒
の大きさが最大300μm以下である合金から製作さ
れた支持体と、該支持体上に設けられた光導電層
とを有することを特徴とする光導電部材。 27 前記結晶粒の大きさの平均値が100μm以下
である、特許請求の範囲第26項記載の光導電部
材。 28 前記不純物から形成される介在物の大きさ
が10μm以下である、特許請求の範囲第26項記
載の光導電部材。 29 前記不純物としての鉄が2000ppm以下であ
る、特許請求の範囲第26項記載の光導電部材。 30 前記不純物としての水素がアルミニウム
100グラムに対して1.0c.c.以下である、特許請求の
範囲第26項記載の光導電部材。 31 マグネシウムを0.5〜10重量%含み、残部
がアルミニウム及び不純物からなり、結晶粒の大
きさが最大300μm以下である合金から製作された
支持体と、該支持体上に設けられた光導電層とを
有することを特徴とする光導電部材。 32 前記結晶粒の大きさの平均値が100μm以下
である、特許請求の範囲第26項記載の光導電部
材。 33 前記不純物から形成される介在物の大きさ
が10μm以下である、特許請求の範囲第31項記
載の光導電部材。 34 前記不純物としての鉄が2000ppm以下であ
る、特許請求の範囲第31項記載の光導電部材。 35 前記不純物としての水素がアルミニウム
100グラムに対して1.0c.c.以下である、特許請求の
範囲第31項記載の光導電部材。 36 マンガンを0.3〜1.5重量%含み、残部がア
ルミニウム及び不純物からなり、結晶粒の大きさ
が最大300μm以下である合金から製作された支持
体と、該支持体上に設けられた光導電層とを有す
ることを特徴とする光導電部材。 37 前記結晶粒の大きさの平均値が100μm以下
である、特許請求の範囲第36項記載の光導電部
材。 38 前記不純物から形成される介在物の大きさ
が10μm以下である、特許請求の範囲第36項記
載の光導電部材。 39 前記不純物としての鉄が2000ppm以下であ
る、特許請求の範囲第36項記載の光導電部材。 40 前記不純物としての水素がアルミニウム
100グラムに対して1.0c.c.以下である、特許請求の
範囲第36項記載の光導電部材。 41 マンガンを0.5〜10重量%含み、残部がア
ルミニウム及び不純物からなり、結晶粒の大きさ
が最大300μm以下である合金から製作された支持
体と、該支持体上に設けられた光導電層とを有す
ることを特徴とする光導電部材。 42 前記結晶粒の大きさの平均値が100μm以下
である、特許請求の範囲第41項記載の光導電部
材。 43 前記不純物から形成される介在物の大きさ
が10μm以下である、特許請求の範囲第41項記
載の光導電部材。 44 前記不純物としての鉄が2000ppm以下であ
る、特許請求の範囲第41項記載の光導電部材。 45 前記不純物としての水素がアルミニウム
100グラムに対して1.0c.c.以下である、特許請求の
範囲第41項記載の光導電部材。 46 マグネシウム0.35〜1.5重量%、ケイ素を
0.5〜7重量%含み、残部がアルミニウム及び不
純物からなり、結晶粒の大きさが最大300μm以下
である合金から製作された支持体と、該支持体上
に設けられた光導電層とを有することを特徴とす
る光導電部材。 47 前記結晶粒の大きさの平均値が100μm以下
である、特許請求の範囲第46項記載の光導電部
材。 48 前記不純物から形成される介在物の大きさ
が10μm以下である、特許請求の範囲第46項記
載の光導電部材。 49 前記不純物としての鉄が2000ppm以下であ
る、特許請求の範囲第“46項記載の光導電部
材。 50 前記不純物としての水素がアルミニウム
100グラムに対して1.0c.c.以下である、特許請求の
範囲第46項記載の光導電部材。
[Claims] 1. A precision-machined support for a photoconductive member, characterized in that it is made from an alloy consisting of aluminum and impurities, and whose crystal grain size is at most 300 μm or less. 2. The precisely processed support for a photoconductive member according to claim 1, wherein the average size of the crystal grains is 100 μm or less. 3 The size of inclusions formed from the impurities is
The precisely processed support for a photoconductive member according to claim 1, which has a diameter of 10 μm or less. 4. The precisely processed support for a photoconductive member according to claim 1, wherein the iron content as the impurity is 2000 ppm or less. 5 Hydrogen as the impurity is aluminum 100
The precisely processed support for a photoconductive member according to claim 1, which has a weight of 1.0 cc or less per gram. 6. A precisely processed support for a photoconductive member, characterized in that it is manufactured from an alloy containing 0.5 to 10% by weight of magnesium, the remainder consisting of aluminum and impurities, and having a crystal grain size of at most 300 μm or less. 7. The precisely processed support for a photoconductive member according to claim 6, wherein the average size of the crystal grains is 100 μm or less. 8 The size of inclusions formed from the impurities is
The precisely processed support for a photoconductive member according to claim 6, which has a diameter of 10 μm or less. 9. The precisely processed support for a photoconductive member according to claim 6, wherein the iron content as the impurity is 2000 ppm or less. 10 Hydrogen as the impurity is aluminum
The precision-machined support for a photoconductive member according to claim 6, which has an amount of 1.0 cc or less per 100 grams. 11. A precisely processed support for a photoconductive member, characterized in that it is manufactured from an alloy containing 0.3 to 1.5% by weight of manganese, the remainder consisting of aluminum and impurities, and having a maximum crystal grain size of 300 μm or less. 12. The precisely processed support for a photoconductive member according to claim 11, wherein the average size of the crystal grains is 100 μm or less. 13. The precision-machined support for a photoconductive member according to claim 11, wherein the size of inclusions formed from the impurities is 10 μm or less. 14. The precisely processed support for a photoconductive member according to claim 11, wherein the iron content as the impurity is 2000 ppm or less. 15 Hydrogen as the impurity is aluminum
The precision-machined support for a photoconductive member according to claim 11, which has an amount of 1.0 cc or less per 100 grams. 16 Contains 0.5 to 10% by weight of copper, the balance consists of aluminum and impurities, and the crystal grain size is the largest
A precisely processed support for a photoconductive member, characterized in that it is manufactured from an alloy having a diameter of 300 μm or less. 17. The precisely processed support for a photoconductive member according to claim 16, wherein the average size of the crystal grains is 100 μm or less. 18. The precision-machined support for a photoconductive member according to claim 16, wherein the size of inclusions formed from the impurities is 10 μm or less. 19. The precisely processed support for a photoconductive member according to claim 16, wherein the iron content as the impurity is 2000 ppm or less. 20 Hydrogen as an impurity is aluminum
The precision-machined support for a photoconductive member according to claim 16, which has an amount of 1.0 cc or less per 100 grams. 21 A photoconductive device characterized by being manufactured from an alloy containing 0.35 to 1.5% by weight of magnesium, 0.5 to 7% by weight of silicon, the balance consisting of aluminum and impurities, and having a maximum crystal grain size of 300 μm or less Precision processed support for parts. 22. The precisely processed support for a photoconductive member according to claim 21, wherein the average size of the crystal grains is 100 μm or less. 23. The precision-machined support for a photoconductive member according to claim 21, wherein the size of inclusions formed from the impurities is 10 μm or less. 24. The precisely processed support for a photoconductive member according to claim 21, wherein the iron content as the impurity is 2000 ppm or less. 25 Hydrogen as the impurity is aluminum
The precision-machined support for a photoconductive member according to claim 21, which has an amount of 1.0 cc or less per 100 grams. 26. A photoconductive member comprising a support made of an alloy consisting of aluminum and impurities and having a crystal grain size of at most 300 μm or less, and a photoconductive layer provided on the support. 27. The photoconductive member according to claim 26, wherein the average size of the crystal grains is 100 μm or less. 28. The photoconductive member according to claim 26, wherein the size of the inclusion formed from the impurity is 10 μm or less. 29. The photoconductive member according to claim 26, wherein iron as the impurity is 2000 ppm or less. 30 Hydrogen as an impurity is aluminum
27. The photoconductive member according to claim 26, wherein the photoconductive member has an amount of 1.0 cc or less per 100 grams. 31 A support made of an alloy containing 0.5 to 10% by weight of magnesium, the balance consisting of aluminum and impurities, and having a maximum crystal grain size of 300 μm or less, and a photoconductive layer provided on the support. A photoconductive member comprising: 32. The photoconductive member according to claim 26, wherein the average size of the crystal grains is 100 μm or less. 33. The photoconductive member according to claim 31, wherein the size of inclusions formed from the impurities is 10 μm or less. 34. The photoconductive member according to claim 31, wherein iron as the impurity is 2000 ppm or less. 35 Hydrogen as the impurity is aluminum
32. The photoconductive member according to claim 31, wherein the photoconductive member has an amount of 1.0 cc or less per 100 grams. 36 A support made of an alloy containing 0.3 to 1.5% by weight of manganese, the remainder consisting of aluminum and impurities, and having a maximum crystal grain size of 300 μm or less, and a photoconductive layer provided on the support. A photoconductive member comprising: 37. The photoconductive member according to claim 36, wherein the average size of the crystal grains is 100 μm or less. 38. The photoconductive member according to claim 36, wherein the size of the inclusion formed from the impurity is 10 μm or less. 39. The photoconductive member according to claim 36, wherein iron as the impurity is 2000 ppm or less. 40 Hydrogen as an impurity is aluminum
37. The photoconductive member according to claim 36, wherein the photoconductive member has an amount of 1.0 cc or less per 100 grams. 41 A support made of an alloy containing 0.5 to 10% by weight of manganese, the balance consisting of aluminum and impurities, and a crystal grain size of at most 300 μm or less, and a photoconductive layer provided on the support. A photoconductive member comprising: 42. The photoconductive member according to claim 41, wherein the average size of the crystal grains is 100 μm or less. 43. The photoconductive member according to claim 41, wherein the size of the inclusion formed from the impurity is 10 μm or less. 44. The photoconductive member according to claim 41, wherein iron as the impurity is 2000 ppm or less. 45 Hydrogen as the impurity is aluminum
42. The photoconductive member according to claim 41, wherein the photoconductive member has an amount of 1.0 cc or less per 100 grams. 46 Magnesium 0.35-1.5% by weight, silicon
It has a support made of an alloy containing 0.5 to 7% by weight, the balance consisting of aluminum and impurities, and a crystal grain size of at most 300 μm, and a photoconductive layer provided on the support. A photoconductive member characterized by: 47. The photoconductive member according to claim 46, wherein the average size of the crystal grains is 100 μm or less. 48. The photoconductive member according to claim 46, wherein the size of the inclusion formed from the impurity is 10 μm or less. 49. The photoconductive member according to claim 46, wherein the iron as the impurity is 2000 ppm or less. 50 The hydrogen as the impurity is aluminum
47. The photoconductive member according to claim 46, wherein the photoconductive member has an amount of 1.0 cc or less per 100 grams.
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