JPH0354773B2 - - Google Patents
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- JPH0354773B2 JPH0354773B2 JP59280777A JP28077784A JPH0354773B2 JP H0354773 B2 JPH0354773 B2 JP H0354773B2 JP 59280777 A JP59280777 A JP 59280777A JP 28077784 A JP28077784 A JP 28077784A JP H0354773 B2 JPH0354773 B2 JP H0354773B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- measured
- optical
- light input
- light
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 発明の属する技術分野
本発明は光フアイバの各種伝送特性の自動測定
方法およびその装置に関する。一例としてマルチ
モードフアイバの測定について述べると、測定す
べき項目として損失、帯域、構造等があるが、本
発明は損失、帯域等光フアイバの一方の端へ入射
した光と他方の端より出射された光との関係を計
測する必要のある測定項目の自動測定方法および
装置に関するものである。
方法およびその装置に関する。一例としてマルチ
モードフアイバの測定について述べると、測定す
べき項目として損失、帯域、構造等があるが、本
発明は損失、帯域等光フアイバの一方の端へ入射
した光と他方の端より出射された光との関係を計
測する必要のある測定項目の自動測定方法および
装置に関するものである。
(ロ) 従来技術とその問題点
光フアイバの評価に必要な測定項目としてはフ
アイバの外径、コア径やその非円率などの幾何学
的構造、また屈折率分布などのフアイバパラメー
タ、さらに光損失、伝送帯域などで代表される伝
送特性がある。この中で特に光損失と伝送帯域は
伝送路を設計する上で重要である。ここで、光損
失については被測定光フアイバ中を伝搬する光の
減衰量を直接測定する透過法や、フアイバ中で発
生するレイリー後方散乱光の減衰量を測定する後
方散乱法、また伝送帯域については周波数領域に
おける測定や時間領域における測定が代表的であ
るが、いずれの場合も測定にあたつては被測定光
フアイバ端と、測定器側の光源からの光を伝える
出射口および光検出器への光を伝える入射口との
接続を行わなくてはならない。第８図は従来の技
術になる透過光検出装置の典型的な一例である。
被測定光フアイバ３１はその端部３１ａが光源３
２または光検出器３３とつながる光フアイバ３６
と接続部３５において接続される。光フアイバ３
４は光源３２とつながる光フアイバ３６の間に挿
入接続されており、伝搬モードの調節（たとえば
定常モード励振を得ること）のために用いられ
る。
アイバの外径、コア径やその非円率などの幾何学
的構造、また屈折率分布などのフアイバパラメー
タ、さらに光損失、伝送帯域などで代表される伝
送特性がある。この中で特に光損失と伝送帯域は
伝送路を設計する上で重要である。ここで、光損
失については被測定光フアイバ中を伝搬する光の
減衰量を直接測定する透過法や、フアイバ中で発
生するレイリー後方散乱光の減衰量を測定する後
方散乱法、また伝送帯域については周波数領域に
おける測定や時間領域における測定が代表的であ
るが、いずれの場合も測定にあたつては被測定光
フアイバ端と、測定器側の光源からの光を伝える
出射口および光検出器への光を伝える入射口との
接続を行わなくてはならない。第８図は従来の技
術になる透過光検出装置の典型的な一例である。
被測定光フアイバ３１はその端部３１ａが光源３
２または光検出器３３とつながる光フアイバ３６
と接続部３５において接続される。光フアイバ３
４は光源３２とつながる光フアイバ３６の間に挿
入接続されており、伝搬モードの調節（たとえば
定常モード励振を得ること）のために用いられ
る。
しかしながら上記従来の装置においては１回、
すなわち１項目の測定が終るごとに被測定光フア
イバをとりかえ、接続をやり直さなくてはならな
い。ここで光フアイバどうしの接続は高精度の接
続を要するので、測定のたびに非常に手間がかか
るという問題があつた。
すなわち１項目の測定が終るごとに被測定光フア
イバをとりかえ、接続をやり直さなくてはならな
い。ここで光フアイバどうしの接続は高精度の接
続を要するので、測定のたびに非常に手間がかか
るという問題があつた。
(ハ) 発明の目的
本発明は上記従来の事情に鑑みなされたもので
あつて、被測定光フアイバを一回測定装置上にセ
ツトするだけで多項目の測定を順次高精度かつ能
率的に行うことを可能とさせる光フアイバの特性
測定方法およびその装置を提供することを目的と
する。
あつて、被測定光フアイバを一回測定装置上にセ
ツトするだけで多項目の測定を順次高精度かつ能
率的に行うことを可能とさせる光フアイバの特性
測定方法およびその装置を提供することを目的と
する。
(ニ) 発明の構成
本発明は被測定光フアイバの両端部が概ね平行
にキヤリヤ上にセツトされるセツトステージと、
光学測定系入出射口が概ね平行に配置された複数
の測定ステージとを設け、被測定光フアイバをセ
ツトした前記キヤリヤは前記セツトステージから
前記測定ステージへ順次移動され、前記各測定ス
テージにて被測定光フアイバの両端と前記光学測
定系入出射口とが位置合せされ、光学的に被測定
光フアイバの特性を測定する方法および装置にお
いて、前記測定ステージの光学測定系入出射口を
光の入出射方向に直角な方向に移動可能な手段を
介して光の入出射方向に移動可能な手段上に載置
し、被測定光フアイバの両端と前記光の入出射口
との位置合せが必要に応じて、前記セツトステー
ジにて被測定光フアイバ両端部先端の前記キヤリ
ヤの基準位置に対する軸方向位置を光学的に自動
検出し、前記各測定ステージにて前記光の入出射
口と前記キヤリヤの基準位置との被測定光フアイ
バ軸方向距離を自動検出して、これにより前記光
の入出射方向に移動可能な手段により被測定光フ
アイバ両端部先端と前記光の入出射口との軸方向
距離を所定の値に自動調節し、さらに前記光の入
出射方向と直角な方向に移動可能な手段により被
測定光フアイバの両端と前記光の入出射口とを光
学的に自動軸心合せすることを特徴とする。
にキヤリヤ上にセツトされるセツトステージと、
光学測定系入出射口が概ね平行に配置された複数
の測定ステージとを設け、被測定光フアイバをセ
ツトした前記キヤリヤは前記セツトステージから
前記測定ステージへ順次移動され、前記各測定ス
テージにて被測定光フアイバの両端と前記光学測
定系入出射口とが位置合せされ、光学的に被測定
光フアイバの特性を測定する方法および装置にお
いて、前記測定ステージの光学測定系入出射口を
光の入出射方向に直角な方向に移動可能な手段を
介して光の入出射方向に移動可能な手段上に載置
し、被測定光フアイバの両端と前記光の入出射口
との位置合せが必要に応じて、前記セツトステー
ジにて被測定光フアイバ両端部先端の前記キヤリ
ヤの基準位置に対する軸方向位置を光学的に自動
検出し、前記各測定ステージにて前記光の入出射
口と前記キヤリヤの基準位置との被測定光フアイ
バ軸方向距離を自動検出して、これにより前記光
の入出射方向に移動可能な手段により被測定光フ
アイバ両端部先端と前記光の入出射口との軸方向
距離を所定の値に自動調節し、さらに前記光の入
出射方向と直角な方向に移動可能な手段により被
測定光フアイバの両端と前記光の入出射口とを光
学的に自動軸心合せすることを特徴とする。
(ホ) 発明の作用
上記構成によれば、セツトステージにて被測定
光フアイバ両端部をキヤリヤ上にいつたんセツト
すれば、以後複数の測定ステージにて被測定光フ
アイバの両端部と光学測定系入出射端との軸方向
および軸心位置合せが光学的かつ自動的に行れる
ことになる。
光フアイバ両端部をキヤリヤ上にいつたんセツト
すれば、以後複数の測定ステージにて被測定光フ
アイバの両端部と光学測定系入出射端との軸方向
および軸心位置合せが光学的かつ自動的に行れる
ことになる。
(ヘ) 発明の実施例
第１図に本発明方法を実施するための装置の概
要図を示す。本発明においては、被測定光フアイ
バ１０〜１０ｄはその両端部１〜１ｄをキヤリヤ
１１〜１１ｄ上に被測定光フアイバ用ホルダ７〜
７ｄを介してセツトステージＡにてセツトされ、
次に矢印１２の方向に送られ測定ステージＢ，
Ｃ，Ｄ，Ｅへと移動される。各測定ステージにお
いては一対の移動台１３ａ，１３a′〜１３ｄ，１
３d′上に載置されたフアイバホルダ８ａ，８a′〜
８ｄ，８d′上にそれぞれ光検出器３ａ〜３ｄ、光
源２ａ〜２ｄに接続された測定側光フアイバ６
ａ，６a′〜６ｄ，６d′がセツトされている。この
ような測定装置において、キヤリヤ上に載置され
た被測定光フアイバを順次ステージＡ→Ｂ→Ｃ→
Ｄ→Ｅと送り、被測定光フアイバと測定器側光フ
アイバとが同軸に整列するようキヤリヤ１１〜１
１ｄを位置決めすれば、光源・測定側光フアイ
バ・被測定光フアイバ・測定器側光フアイバ・光
検出器とが一連に接続されることになり、もつて
被測定光フアイバの特性測定を行うことができ
る。しかしながら光フアイバの特性測定において
は光フアイバの接続の精度が極めて重要である。
すなわち、光フアイバどうしの接続に際し、被測
定光フアイバへ入射される光のモードおよび出射
されるモードは接続部において保たれなくてはな
らない。たとえば第８図の従来技術の説明でふれ
たように、光フアイバ３６には定常モード励振を
得るための光フアイバ３４が挿入されるが、本発
明の方法における光フアイバ接続部においても定
常モード励振された光が被測定光フアイバに入射
しなくてはならない。ここでグレーデツドインデ
ツスフアイバの例をとるならば、励振モードを維
持しながら光フアイバの接続を行うにはその端面
どうしの間隔は10〜15μm以内で、しかも軸ずれ
がμm以内であることが望ましい。
要図を示す。本発明においては、被測定光フアイ
バ１０〜１０ｄはその両端部１〜１ｄをキヤリヤ
１１〜１１ｄ上に被測定光フアイバ用ホルダ７〜
７ｄを介してセツトステージＡにてセツトされ、
次に矢印１２の方向に送られ測定ステージＢ，
Ｃ，Ｄ，Ｅへと移動される。各測定ステージにお
いては一対の移動台１３ａ，１３a′〜１３ｄ，１
３d′上に載置されたフアイバホルダ８ａ，８a′〜
８ｄ，８d′上にそれぞれ光検出器３ａ〜３ｄ、光
源２ａ〜２ｄに接続された測定側光フアイバ６
ａ，６a′〜６ｄ，６d′がセツトされている。この
ような測定装置において、キヤリヤ上に載置され
た被測定光フアイバを順次ステージＡ→Ｂ→Ｃ→
Ｄ→Ｅと送り、被測定光フアイバと測定器側光フ
アイバとが同軸に整列するようキヤリヤ１１〜１
１ｄを位置決めすれば、光源・測定側光フアイ
バ・被測定光フアイバ・測定器側光フアイバ・光
検出器とが一連に接続されることになり、もつて
被測定光フアイバの特性測定を行うことができ
る。しかしながら光フアイバの特性測定において
は光フアイバの接続の精度が極めて重要である。
すなわち、光フアイバどうしの接続に際し、被測
定光フアイバへ入射される光のモードおよび出射
されるモードは接続部において保たれなくてはな
らない。たとえば第８図の従来技術の説明でふれ
たように、光フアイバ３６には定常モード励振を
得るための光フアイバ３４が挿入されるが、本発
明の方法における光フアイバ接続部においても定
常モード励振された光が被測定光フアイバに入射
しなくてはならない。ここでグレーデツドインデ
ツスフアイバの例をとるならば、励振モードを維
持しながら光フアイバの接続を行うにはその端面
どうしの間隔は10〜15μm以内で、しかも軸ずれ
がμm以内であることが望ましい。
以下、本発明の方法における光フアイバ先端ど
うしの位置合せについて説明する。まず光フアイ
バ端面どうしの間隔については前述したような高
精度を要する。ここでキヤリヤ１１〜１１ｄ上に
セツトされた光フアイバ両端１〜１ｄはキヤリヤ
と共に各測定ステージＢ〜Ｅに移動され、位置決
めされるが、この各ステージにおける被測定光フ
アイバ両端１〜１ｄの位置精度はセツトステージ
Ａでの光フアイバセツトおよび各測定ステージで
のキヤリヤの位置決め精度によつて決まる。しか
しながら、これら両者の許容誤差は前記したよう
に10〜15μm以下の端面間隔を得るために、それ
ぞれ数μm以下しか許されない。これを解決すべ
く本発明においては、まずセツトステージＡにお
いて被測定光フアイバ端部１の先端のキヤリヤ１
１の基準位置に対する光学的位置検出を行う。光
学的検出は非接触であるので測定精度を高くする
ことができ、しかも光フアイバを清浄に保つうえ
で有効である。これは一例として次のような方法
が用いられる。第２図に検出方法の概念を示す。
１は被測定光フアイバ端部、２０はフオトダイオ
ード、２１は被測定光フアイバ端部１の像をフオ
トダイオード２０上に結ぶためのレンズ系、２２
は透過照明光、２３は照明のためのレンズ系であ
る。以上が被測定光フアイバ先端位置検出装置１
４を構成する。（第１図セツトステージＡ参照）
この検出装置１４はキヤリヤ１１の基準位置に対
し所定の位置に配置されている。またフオトダイ
オード２０には第３図に示すような微小なフオト
ダイオードの列を用いる。ここで、たとえば微小
なフオトダイオードの間隔２４を25μmとし、レ
ンズ系２１の倍率を40倍とするなら、第２図中で
照明系２２，２３より適当な照明光を得て像の明
暗を検出すれば25μm÷40≒0.6μmの精度で被測
定光フアイバ端１先端面のキヤリヤ１１の基準位
置に対する相対位置を検出することができる。こ
のダイオードには第４図のように複数の列が並ん
だものを使用しても良い。また、さに被測定光フ
アイバの先端位置を正確に検出するためには、こ
の検出器を被測定光フアイバ端に垂直な面上を移
動させて光フアイバ端の位置をスキヤンしても良
い。第５図はその概念図である。ダイオードの列
が検出すべき測定対象面を２５から２５ａ乃至２
５ｋの位置まで矢印２６の方向に動かしてゆけ
ば、被測定光フアイバの先端面の位置を各測定対
象面ごとに正確に把握し、端が欠けている場合、
斜めになつている場合等端面の状態を知ることが
できると共に被測定光フアイバの軸に垂直または
平行位置に多少誤差があつてもスキヤンする範囲
が広いため確実に検出を行うことができる。第５
図に示したスキヤンニングの代りに第４図に示し
たような複数の列をもつたフオトダイオードを用
いても同様の検出が行える。また検出した値は適
当な時間的あるいは幾何学的な計算処理をもつて
検出値を安定化することもできる。上記において
は照明系、検出系にレンズ系を用いる例を示した
が、レンズ系の代りに口径の小さい光フアイバや
あるいは光フアイバの束などを用いることも考え
られ、検出すべき精度に応じて選択できる。以上
のようにして検出された被測定光フアイバ端１先
端面のキヤリヤ１１の基準位置に対する位置に対
して、本発明においては各測定ステージＢ〜Ｅ上
で測定器側光フアイバ６ａ，６a′〜６ｄ，６d′と
上記被測定光フアイバ端部１〜１ｄとの位置合せ
を行う。このために、測定器側光フアイバのホル
ダ８ａ，８a′〜８ｄ，８d′を載置した移動台１３
ａ，１３a′〜１３ｄ，１３d′を第１図の矢印１５
の方向すなわち光の出射および入射方向に被測定
光フアイバ先端と測定器側光フアイバ先端との検
出距離に応じて所定の間隔を得るべく自動的に動
かす。たとえば第６図に示すように被測定光フア
イバ先端の位置がキヤリヤ１１上の基準位置から
l1であることをセツトステージＡにて検出してい
たとすると、測定ステージ上で測定器側光フアイ
バ６先端とキヤリヤ１１上の基準位置１６との間
隔l2を求めることができればl2とl1との差が測定
に必要な間隔となるように移動台１３を移動させ
れば良いことになる。
うしの位置合せについて説明する。まず光フアイ
バ端面どうしの間隔については前述したような高
精度を要する。ここでキヤリヤ１１〜１１ｄ上に
セツトされた光フアイバ両端１〜１ｄはキヤリヤ
と共に各測定ステージＢ〜Ｅに移動され、位置決
めされるが、この各ステージにおける被測定光フ
アイバ両端１〜１ｄの位置精度はセツトステージ
Ａでの光フアイバセツトおよび各測定ステージで
のキヤリヤの位置決め精度によつて決まる。しか
しながら、これら両者の許容誤差は前記したよう
に10〜15μm以下の端面間隔を得るために、それ
ぞれ数μm以下しか許されない。これを解決すべ
く本発明においては、まずセツトステージＡにお
いて被測定光フアイバ端部１の先端のキヤリヤ１
１の基準位置に対する光学的位置検出を行う。光
学的検出は非接触であるので測定精度を高くする
ことができ、しかも光フアイバを清浄に保つうえ
で有効である。これは一例として次のような方法
が用いられる。第２図に検出方法の概念を示す。
１は被測定光フアイバ端部、２０はフオトダイオ
ード、２１は被測定光フアイバ端部１の像をフオ
トダイオード２０上に結ぶためのレンズ系、２２
は透過照明光、２３は照明のためのレンズ系であ
る。以上が被測定光フアイバ先端位置検出装置１
４を構成する。（第１図セツトステージＡ参照）
この検出装置１４はキヤリヤ１１の基準位置に対
し所定の位置に配置されている。またフオトダイ
オード２０には第３図に示すような微小なフオト
ダイオードの列を用いる。ここで、たとえば微小
なフオトダイオードの間隔２４を25μmとし、レ
ンズ系２１の倍率を40倍とするなら、第２図中で
照明系２２，２３より適当な照明光を得て像の明
暗を検出すれば25μm÷40≒0.6μmの精度で被測
定光フアイバ端１先端面のキヤリヤ１１の基準位
置に対する相対位置を検出することができる。こ
のダイオードには第４図のように複数の列が並ん
だものを使用しても良い。また、さに被測定光フ
アイバの先端位置を正確に検出するためには、こ
の検出器を被測定光フアイバ端に垂直な面上を移
動させて光フアイバ端の位置をスキヤンしても良
い。第５図はその概念図である。ダイオードの列
が検出すべき測定対象面を２５から２５ａ乃至２
５ｋの位置まで矢印２６の方向に動かしてゆけ
ば、被測定光フアイバの先端面の位置を各測定対
象面ごとに正確に把握し、端が欠けている場合、
斜めになつている場合等端面の状態を知ることが
できると共に被測定光フアイバの軸に垂直または
平行位置に多少誤差があつてもスキヤンする範囲
が広いため確実に検出を行うことができる。第５
図に示したスキヤンニングの代りに第４図に示し
たような複数の列をもつたフオトダイオードを用
いても同様の検出が行える。また検出した値は適
当な時間的あるいは幾何学的な計算処理をもつて
検出値を安定化することもできる。上記において
は照明系、検出系にレンズ系を用いる例を示した
が、レンズ系の代りに口径の小さい光フアイバや
あるいは光フアイバの束などを用いることも考え
られ、検出すべき精度に応じて選択できる。以上
のようにして検出された被測定光フアイバ端１先
端面のキヤリヤ１１の基準位置に対する位置に対
して、本発明においては各測定ステージＢ〜Ｅ上
で測定器側光フアイバ６ａ，６a′〜６ｄ，６d′と
上記被測定光フアイバ端部１〜１ｄとの位置合せ
を行う。このために、測定器側光フアイバのホル
ダ８ａ，８a′〜８ｄ，８d′を載置した移動台１３
ａ，１３a′〜１３ｄ，１３d′を第１図の矢印１５
の方向すなわち光の出射および入射方向に被測定
光フアイバ先端と測定器側光フアイバ先端との検
出距離に応じて所定の間隔を得るべく自動的に動
かす。たとえば第６図に示すように被測定光フア
イバ先端の位置がキヤリヤ１１上の基準位置から
l1であることをセツトステージＡにて検出してい
たとすると、測定ステージ上で測定器側光フアイ
バ６先端とキヤリヤ１１上の基準位置１６との間
隔l2を求めることができればl2とl1との差が測定
に必要な間隔となるように移動台１３を移動させ
れば良いことになる。
なお複数のキヤリヤを直線的に動かして位置決
めを行うとき被測定光フアイバおよび測定側光フ
アイバの接触が問題となる場合があるが、上記例
によればキヤリヤ１１〜１１ｄの移動時に測定側
光フアイバ６ａ，６a′〜６ｄ，６d′を移動台１３
ａ，１３a′〜１３ｄ，１３d′を移動させることに
より被測定光フアイバ端１〜１ｄから見て後退さ
せることができるので光フアイバどうしの接触は
容易に回避できる。また光フアイバの接続時には
屈折率整合剤いわゆるマツチングオイルが一般に
塗布されるが、光フアイバ端の位置検出はマツチ
ングオイル塗布前に行れるのでマツチングオルに
よつて検出精度が悪化したりあるいは不可能とな
る恐れはない。
めを行うとき被測定光フアイバおよび測定側光フ
アイバの接触が問題となる場合があるが、上記例
によればキヤリヤ１１〜１１ｄの移動時に測定側
光フアイバ６ａ，６a′〜６ｄ，６d′を移動台１３
ａ，１３a′〜１３ｄ，１３d′を移動させることに
より被測定光フアイバ端１〜１ｄから見て後退さ
せることができるので光フアイバどうしの接触は
容易に回避できる。また光フアイバの接続時には
屈折率整合剤いわゆるマツチングオイルが一般に
塗布されるが、光フアイバ端の位置検出はマツチ
ングオイル塗布前に行れるのでマツチングオルに
よつて検出精度が悪化したりあるいは不可能とな
る恐れはない。
以上の例において、移動台１３を直接光フアイ
バ軸方向へ移動したが、動作を確実にするためキ
ヤリヤ上の基準面と測光器側光フアイバ６の先端
と間隔l2を自動測定した後にこの移動を行うとよ
い。各測定ステージにてこのl2の値を求めるに
は、たとえば第７図に示すように移動台１３上に
センサー１７を設け、移動台１３を動かしてこれ
によりキヤリヤ１１上のある基準位置を検出する
とよい。ここで測定側光フアイバ６の先端位置は
移動台１３に対し最初から一定の位置となるよう
セツトされているでセンサー１７がキヤリヤ１１
の基準位置と移動台１３との距離を検出すれば上
述のl2は自と求められることになる。
バ軸方向へ移動したが、動作を確実にするためキ
ヤリヤ上の基準面と測光器側光フアイバ６の先端
と間隔l2を自動測定した後にこの移動を行うとよ
い。各測定ステージにてこのl2の値を求めるに
は、たとえば第７図に示すように移動台１３上に
センサー１７を設け、移動台１３を動かしてこれ
によりキヤリヤ１１上のある基準位置を検出する
とよい。ここで測定側光フアイバ６の先端位置は
移動台１３に対し最初から一定の位置となるよう
セツトされているでセンサー１７がキヤリヤ１１
の基準位置と移動台１３との距離を検出すれば上
述のl2は自と求められることになる。
このような本発明による位置決め方法によれ
ば、各測定ステージ上で被測定光フアイバと測定
側光フアイバとの軸方向位置決めが自動的に行え
るためセツトステージＡから測定ステージＢ〜Ｅ
へ移動したキヤリヤの位置決め精度の影響を直接
受けないという利点が得られる。
ば、各測定ステージ上で被測定光フアイバと測定
側光フアイバとの軸方向位置決めが自動的に行え
るためセツトステージＡから測定ステージＢ〜Ｅ
へ移動したキヤリヤの位置決め精度の影響を直接
受けないという利点が得られる。
なお複数のキヤリヤを直線的に動かして位置決
めを行うとき被測定光フアイバおよび測定側光フ
アイバの接触が問題となる場合があるが、上記例
によればキヤリヤ１１〜１１ｄの移動時に測定側
光フアイバ６ａ，６a′〜６ｄ，６d′を移動台１３
ａ，１３a′〜１３ｄ，１３d′を移動させることに
より被測定光フアイバ端１〜１ｄから見て後退さ
せることがでるので光フアイバどうしの接触は容
易に回避できる。また光フアイバの接続時には屈
折率整合剤いわゆるマツチングオイルが一般に塗
布されるが、光フアイバ端の位置検出はマツチン
グオイル塗布前に行れるのでマツチングオイルに
よつて検出精度が悪化したりあるいは不可能とな
る恐れはない。
めを行うとき被測定光フアイバおよび測定側光フ
アイバの接触が問題となる場合があるが、上記例
によればキヤリヤ１１〜１１ｄの移動時に測定側
光フアイバ６ａ，６a′〜６ｄ，６d′を移動台１３
ａ，１３a′〜１３ｄ，１３d′を移動させることに
より被測定光フアイバ端１〜１ｄから見て後退さ
せることがでるので光フアイバどうしの接触は容
易に回避できる。また光フアイバの接続時には屈
折率整合剤いわゆるマツチングオイルが一般に塗
布されるが、光フアイバ端の位置検出はマツチン
グオイル塗布前に行れるのでマツチングオイルに
よつて検出精度が悪化したりあるいは不可能とな
る恐れはない。
次に被測定光フアイバと測定器側光フアイバと
の軸心合せについて説明する。本発明においては
光検出器３ａ〜３ｄが検出する光パワーが最大と
なるように測定器側のフアイバホルダ８ａ，８
a′〜８ｄ，８d′をそれぞれ測定器側光フアイバ６
ａ，６a′〜６ｄ，６d′の軸に直角な方向、すなわ
ち光の入出射方向に垂直な方向に動かして調整を
行う。これにはフアイバホルダ８ａ，８a′〜８
ｄ，８d′を上記光フアイバの軸に直角な面内で２
方向に徐々に位置変化を与え、光パワーをモニタ
ーして光パワーのピークを自動的に求めさせれば
良いが、この方法ははシングルモード光フアイバ
の融着接続等において行れており公知の方法であ
る。本発明においては、この軸心合せは被測定光
フアイバと測定器側光フアイバとの軸方向位置決
めの後に行うとよい。これは、前述のように軸方
向の間隔が微小に位置決めされているので、軸ず
れ量の変化に対する光検出器における検出光パワ
ーの変化が大きくなり、したがつて軸心合せの精
度、高速性や確実性を向上させることができるた
めである。
の軸心合せについて説明する。本発明においては
光検出器３ａ〜３ｄが検出する光パワーが最大と
なるように測定器側のフアイバホルダ８ａ，８
a′〜８ｄ，８d′をそれぞれ測定器側光フアイバ６
ａ，６a′〜６ｄ，６d′の軸に直角な方向、すなわ
ち光の入出射方向に垂直な方向に動かして調整を
行う。これにはフアイバホルダ８ａ，８a′〜８
ｄ，８d′を上記光フアイバの軸に直角な面内で２
方向に徐々に位置変化を与え、光パワーをモニタ
ーして光パワーのピークを自動的に求めさせれば
良いが、この方法ははシングルモード光フアイバ
の融着接続等において行れており公知の方法であ
る。本発明においては、この軸心合せは被測定光
フアイバと測定器側光フアイバとの軸方向位置決
めの後に行うとよい。これは、前述のように軸方
向の間隔が微小に位置決めされているので、軸ず
れ量の変化に対する光検出器における検出光パワ
ーの変化が大きくなり、したがつて軸心合せの精
度、高速性や確実性を向上させることができるた
めである。
以上の実施例においては光源からの光出射口お
よび光検出器への光の入射口に光フアイバを用い
る例を示したが、光フアイバの代りにレンズ系を
用いることも可能である。なお、上記の他に出射
光の幅の広い光源を用いて直接出射させたり、あ
るいは検出器に直接入射させることも考えられ
る。ただし、このような直接入出射の場合は位置
決め精度はきびしくないので上記実施例で説明し
たような精密位置合せは不要である。
よび光検出器への光の入射口に光フアイバを用い
る例を示したが、光フアイバの代りにレンズ系を
用いることも可能である。なお、上記の他に出射
光の幅の広い光源を用いて直接出射させたり、あ
るいは検出器に直接入射させることも考えられ
る。ただし、このような直接入出射の場合は位置
決め精度はきびしくないので上記実施例で説明し
たような精密位置合せは不要である。
上記説明においては被測定光フアイバをセツト
するステージと被測定光フアイバ先端面の軸方向
位置の検出を同一のステージＡで行う例を示した
が、測定を行う前であれば別々のステージで行つ
てもかまわず、また何回、何箇所で行つても良
い。以上のようにセツトステージを測定ステージ
と分離することにより被測定光フアイバをセツト
している間にも移動を行うことができるため測定
作業能率が向上させられる。
するステージと被測定光フアイバ先端面の軸方向
位置の検出を同一のステージＡで行う例を示した
が、測定を行う前であれば別々のステージで行つ
てもかまわず、また何回、何箇所で行つても良
い。以上のようにセツトステージを測定ステージ
と分離することにより被測定光フアイバをセツト
している間にも移動を行うことができるため測定
作業能率が向上させられる。
(ト) 発明の効果
以上のように、本発明によれば次に示す効果が
ある。
ある。
セツトステージ及び複数の測定ステージを設
けかつこれらのステージの間を被測定光フアイ
バを（コンベヤ等によりステツプ的に）順次移
送してその都度所定の測定を行うようにするこ
とにより、セツトステージにて被測定フアイバ
両端部をキヤリヤ上にいつたんセツトすること
により、以後各測定ステージにて複数の被測定
光フアイバについて複数の光フアイバ測定項目
の測定を、逐次かつ同時に行なえ、測定・検査
の自動化及び省力化を図れるという利点があ
る。
けかつこれらのステージの間を被測定光フアイ
バを（コンベヤ等によりステツプ的に）順次移
送してその都度所定の測定を行うようにするこ
とにより、セツトステージにて被測定フアイバ
両端部をキヤリヤ上にいつたんセツトすること
により、以後各測定ステージにて複数の被測定
光フアイバについて複数の光フアイバ測定項目
の測定を、逐次かつ同時に行なえ、測定・検査
の自動化及び省力化を図れるという利点があ
る。
上記測定において、被測定光フアイバの両端
と光学測定系入出射口との精密位置合わせを、
（コンベヤ等により移送して概略位置合わせし
た後に）光の入出射方向に移動可能な手段（移
動台；１３ａ，１３a′〜１３ｄ，１３d′）によ
り互いの軸方向距離を光学的かつ自動的に調節
し、かつ光の入出射方向と直角な方向に移動可
能な手段（フアイバホルダ；８ａ，８′〜８ｄ，
８d′）により軸心合わせを光学的かつ自動的に
調節して行い、これにより被測定光フアイバの
両端と光学測定系入出射口とは、互いの精密軸
方向位置合わせ及び精密軸心合わせがなされ、
精密な測定を行うことができる。
と光学測定系入出射口との精密位置合わせを、
（コンベヤ等により移送して概略位置合わせし
た後に）光の入出射方向に移動可能な手段（移
動台；１３ａ，１３a′〜１３ｄ，１３d′）によ
り互いの軸方向距離を光学的かつ自動的に調節
し、かつ光の入出射方向と直角な方向に移動可
能な手段（フアイバホルダ；８ａ，８′〜８ｄ，
８d′）により軸心合わせを光学的かつ自動的に
調節して行い、これにより被測定光フアイバの
両端と光学測定系入出射口とは、互いの精密軸
方向位置合わせ及び精密軸心合わせがなされ、
精密な測定を行うことができる。
これにより、被測定光フアイバの多項目の測
定を人手を要することなく順次高精度かつ能率
的に行なうことが可能になるという利点があ
る。
定を人手を要することなく順次高精度かつ能率
的に行なうことが可能になるという利点があ
る。
上記軸方向位置合わせは、予じめセツトステ
ージにて被測定光フアイバの両端部の先端とキ
ヤリヤの基準位置との間の軸方向距離l1を（光
学的に）検出しておき、この距離l1を基準とし
て、例えば他の各測定ステージにおいてはその
都度センサー等により単に光学測定系の入出射
口と上記キヤリヤの基準位置との間の距離l2を
検出することにより、各測定ステージにおける
被測定光フアイバ両端部の先端と光学測定系の
入出射口との所望軸方向距離l2−l1を自動的に
調整実現するようにしているので、上記精密軸
方向位置合わせ作業自体が極めて容易かつ能率
的であるという利点がある。
ージにて被測定光フアイバの両端部の先端とキ
ヤリヤの基準位置との間の軸方向距離l1を（光
学的に）検出しておき、この距離l1を基準とし
て、例えば他の各測定ステージにおいてはその
都度センサー等により単に光学測定系の入出射
口と上記キヤリヤの基準位置との間の距離l2を
検出することにより、各測定ステージにおける
被測定光フアイバ両端部の先端と光学測定系の
入出射口との所望軸方向距離l2−l1を自動的に
調整実現するようにしているので、上記精密軸
方向位置合わせ作業自体が極めて容易かつ能率
的であるという利点がある。
第１図は本発明に係る光フアイバ特性測定装置
の全体概要を示す上面図、第２図はセツトステー
ジにおける被測定光フアイバ先端位置の検出装置
の概念図、第３図および第４図は第２図のフオト
ダイオードの具体的な配置例を示す概念図、第５
図は被測定光フアイバ先端位置の精密検出方法を
示す概念図、第６図および第７図は被測定光フア
イバと測定器側光フアイバの先端どうしの軸方向
間隔を測定する方法を示す概念図、第８図は従来
の光フアイバ特性測定装置の全体概要を示す上面
図。 １〜１ｄ……被測定光フアイバ両端部、２ａ〜
２ｄ……光源、３ａ〜３ｄ……光検出器、６a′〜
６d′……光源からの光の出射口、６ａ〜６ｄ……
光検出器への光の入射口、８ａ，８a′〜８ｄ，８
d′……光の入出射方向と直角な方向に移動可能な
手段、１０〜１０ｄ……被測定光フアイバ、１１
〜１１ｄ……キヤリヤ、１３ａ，１３a′〜１３
ｄ，１３d′……光の入出射方向に移動可能な手
段。
の全体概要を示す上面図、第２図はセツトステー
ジにおける被測定光フアイバ先端位置の検出装置
の概念図、第３図および第４図は第２図のフオト
ダイオードの具体的な配置例を示す概念図、第５
図は被測定光フアイバ先端位置の精密検出方法を
示す概念図、第６図および第７図は被測定光フア
イバと測定器側光フアイバの先端どうしの軸方向
間隔を測定する方法を示す概念図、第８図は従来
の光フアイバ特性測定装置の全体概要を示す上面
図。 １〜１ｄ……被測定光フアイバ両端部、２ａ〜
２ｄ……光源、３ａ〜３ｄ……光検出器、６a′〜
６d′……光源からの光の出射口、６ａ〜６ｄ……
光検出器への光の入射口、８ａ，８a′〜８ｄ，８
d′……光の入出射方向と直角な方向に移動可能な
手段、１０〜１０ｄ……被測定光フアイバ、１１
〜１１ｄ……キヤリヤ、１３ａ，１３a′〜１３
ｄ，１３d′……光の入出射方向に移動可能な手
段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被測定光フアイバの両端部が概ね平行にキヤ
リヤ上にセツトされるセツトステージと、光学測
定系入出射口が概ね平行に配置された複数の測定
ステージとを設け、被測定光フアイバをセツトし
た前記キヤリヤは前記セツトステージから前記測
定ステージへ順次移動され、前記各測定ステージ
にて被測定光フアイバの両端と前記光学測定系入
出射口とが位置され、光学的に被測定光フアイバ
の特性を測定する方法において、前記測定ステー
ジの光学測定系入出射口を光の入出射方向に直角
な方向に移動可能な手段を介して光の入出射方向
に移動可能な手段上に載置し、被測定光フアイバ
両端と前記光の入出射口との位置合せが、前記セ
ツトステージにて被測定光フアイバ両端部先端の
前記キヤリヤの基準位置に対する軸方向位置を光
学的に自動検出し、前記各測定ステージにて前記
光の入出射方向に移動可能な手段により被測定光
フアイバ両端部先端と前記光の入出射口との軸方
向距離を所定の値に自動調節し、さらに前記光の
入出射方向と直角な方向に移動可能な手段により
被測定光フアイバの両端と前記光の入出射口とを
光学的に自動軸心合せすることを特徴とする光フ
アイバの特性測定方法。 ２ 前記セツトステージにおける被測定光フアイ
バ両端部先端の前記キヤリヤ基準位置に対する軸
方向位置を光学的に自動検出する方法がフオトダ
イオードを使用することを特徴とする特許請求の
範囲第１項に記載の光フアイバ特性測定方法。 ３ 前記光の入出射口と前記キヤリヤの基準位置
との被測定光フアイバ軸方向距離を自動検出する
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の
光フアイバ特性測定方法。 ４ 前記各測定ステージにて前記光の入出射口と
前記キヤリヤの基準位置との軸方向距離の自動検
出が前記その入出射方向に移動可能な手段上に取
付けられたセンサーにより行れることを特徴とす
る特許請求の範囲第３項に記載の光フアイバの特
性測定方法。 ５ 前記光の入出射方向に移動可能な手段が移動
台であることを特徴とする特許請求の範囲第１項
に記載の光フアイバの特性測定方法。 ６ 前記光学測定系入出射口がそれぞれ測定器側
光フアイバからなることを特徴とする特許請求の
範囲第１項に記載の光フアイバの特性測定方法。 ７ 前記光学的測定系入出射口がそれぞれレンズ
系からなることを特徴とする特許請求の範囲第１
項に記載の光フアイバ特性測定方法。 ８ 前記光の入出射方向と直角方向に移動可能な
手段がフアイバホルダであることを特徴とする特
許請求の範囲第６項に記載の光フアイバの特性測
定方法。 ９ 前記被測定光フアイバの両端と前記光の入出
射口との位置合せが前記軸方向距離の調節に続い
て軸心合せをすることにより行れることを特徴と
する特許請求の範囲第６項に記載の光フアイバの
特性測定方法。 １０ 前記被測定光フアイバの両端と前記光の入
出射口との光学的自動軸心合せが、前記光学測定
系の作用により被測定光フアイバに光を通過させ
て、その検出される光パワーが最大となるように
前記フアイバホルダを前記光の入出射方向と直角
な方向に移動させることにより行れることを特徴
とする特許請求の範囲第８項に記載の光フアイバ
の特性測定方法。 １１ 前記光学的測定系入出射口を載置するため
の光の入出射方向に移動可能な手段およびその上
に配置された光の入出射方向と直角方向に移動可
能な手段がそれぞれ前記光の入出射口を別々に載
置するよう一対の組合せからなることを特徴とす
る特許請求の範囲第１項に記載の光フアイバの特
性測定方法。 １２ 被測定光フアイバの両端部を概ね平行にキ
ヤリヤ上にセツトするセツトステージと、前記セ
ツトステージから移動された前記キヤリヤに載置
された被測定光フアイバの特性を測定するための
複数の測定ステージであつて各々光学測定系入出
射口を概ね平行に配置されて有する複数の測定ス
テージとを備えた光フアイバ特性測定装置におい
て、被測定光フアイバを両端部先端と前記光学測
定系入出射口とを軸方向および軸心位置合せさせ
るべく前記光学測定系入出射口が光の入出射方向
に直角な方向に移動可能な手段を介して光の入出
射方向に移動可能な手段上に載置されており、前
記セツトステージが被測定光フアイバの両端部先
端の前記キヤリヤの基準位置に対する軸方向位置
自動検出手段を備えていることを特徴とする光フ
アイバの特性測定装置。 １３ 前記セツトステージにおける被測定光フア
イバ両端部先端の前記キヤリヤの基準位置に対す
る軸方向位置自動検出手段がフオトダイオードを
使用することを特徴とする特許請求の範囲第１２
項に記載の光フアイバの特性測定装置。 １４ 前記光の入出射方向に移動可能な手段が前
記キヤリヤが前記各測定ステージにあるときに前
記光の入出射口と前記キヤリヤの基準位置との軸
方向距離を自動検出するための手段を備えている
ことを特徴とする特許請求の範囲第１２項に記載
の光フアイバの特性測定装置。 １５ 前記測定ステージにて前記光の入出射口と
前記キヤリヤの基準位置との軸方向距離を自動検
出する手段が前記光の入出射方向に移動可能な手
段上に設けられたセンサーであることを特徴とす
る特許請求の範囲第１４項に記載の光フアイバ特
性測定装置。 １６ 前記光学測定系入出射口がそれぞれ測定器
測光フアイバからなることを特徴とする特許請求
の範囲第１２項に記載の光フアイバ特性測定装
置。 １７ 前記光源からの光の入出射口がそれぞれレ
ンズ系からなることを特徴とする特許請求の範囲
第１２項に記載の光フアイバ特性測定装置。 １８ 前記光の入出射方向に移動可能な手段が移
動台であり、前記光の入出射方向に直角な方向に
移動可能な手段がフアイバホルダであることを特
徴とする特許請求の範囲第１６項に記載の光フア
イバ特性測定装置。 １９ 前記フアイバホルダが前記光学測定系の作
用により被測定光フアイバに光を通過させて、そ
の検出される光パワーが最大となる点を求めて移
動されることを特徴とする特許請求の範囲第１８
項に記載の光フアイバ特性測定装置。 ２０ 前記光学測定系入出射口を載置するための
光の入出射方向に移動可能な手段およびその上に
配置された光の入出射方向と直角な方向に移動可
能な手段がそれぞれ前記光の入出射口を別々に載
置するよう一対の組合せからなることを特徴とす
る特許請求の範囲第１２項に記載の光フアイバ特
性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28077784A JPS61155935A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 光フアイバの特性測定方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28077784A JPS61155935A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 光フアイバの特性測定方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61155935A JPS61155935A (ja) | 1986-07-15 |
| JPH0354773B2 true JPH0354773B2 (ja) | 1991-08-21 |
Family
ID=17629811
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28077784A Granted JPS61155935A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 光フアイバの特性測定方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61155935A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102006023828B4 (de) * | 2006-05-20 | 2011-04-28 | Schott Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung von Stirnflächen von Lichtleitern |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5326815A (en) * | 1976-08-25 | 1978-03-13 | Noda Plywood Mfg Co Ltd | Method of manufacturing panels of building materials |
| JPS5337650U (ja) * | 1976-09-08 | 1978-04-03 | ||
| JPS6085351A (ja) * | 1983-08-29 | 1985-05-14 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光フアイバの検査ライン |
-
1984
- 1984-12-28 JP JP28077784A patent/JPS61155935A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61155935A (ja) | 1986-07-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |