JPH0357370A - 半導体受光装置 - Google Patents

半導体受光装置

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JPH0357370A
JPH0357370A JP1193496A JP19349689A JPH0357370A JP H0357370 A JPH0357370 A JP H0357370A JP 1193496 A JP1193496 A JP 1193496A JP 19349689 A JP19349689 A JP 19349689A JP H0357370 A JPH0357370 A JP H0357370A
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浩志 向中野
Kojin Kawahara
河原 行人
Satoshi Machida
聡 町田
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光照射された原稿からの反射光を受けて電気
信号に変換する半導体受光装置に関する。
〔発明の概要〕
本発明は、一導電型の単結晶基板上に光電変換用半導体
受光素子(以下、受光素子と称す。)及び前記受光素子
の出力信号を順次読み出す読み取り回路及び前記出力信
号を電圧変換する増幅回路及び定電圧を供給するボルテ
ージレギュレーターが形成された半導体受光装置であり
、読み取り回路で発生するスイッチングノイズを小さく
する為に、読み取り回路及び受光素子は、内蔵されたボ
ルテージレギュレーターから供給された低電圧で駆動さ
れるものである。スイッチングノイズが減ることにより
、半導体受光装置のS/N比が向上する。更に読み取り
回路を低電圧で駆動するために低消費電流となる。
〔従来の技術〕
第2図は、従来の半導体受光装置の回路図である。半導
体受光装置に入射した光は、受光素子群1により、電気
信号に変換される。しかしながら、受光素子群1で変換
された電気信号は微弱である為、読み取り回路2で発生
する雑音の影響を受けやすい。
アナログスイッチをMOSトランジスタTGnで形成し
た場合、ゲート・ドレイン間の寄生容量を介して過疫応
答時のスパイク雑きが受光素子Snの信号に変動を与え
る。この雑音は、高い電源電圧でMOSトランジスタT
Gnを駆動する程大きくなる。
出力電圧が外部負荷容量及び外部負荷抵抗による低下を
防ぐ為に受光素子群1の電気信号を電圧変換する方式が
拡く用いられている。電圧変換には、一般にソースフオ
ロア回路、演算増幅回路(以下Tfp  Ampと称す
。)が使用されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、σp  Ampは、受光素子の信号出力
を歪みなく伝送するために、広いダイナミックレンジが
必要である。Up  Ampのダイナミックレンジは、
電源電圧の大きさにより変化する。電源電圧が高い程、
ダイナミックレンジは広くとれる。一方、読み取り回路
の電源電圧を高くすると、前述のように、寄生容量及び
ゲート・ドレイン容量を介して、信号線に飛び込む雑音
が大きくなり、S/N比の低下になってしまう。つまり
、従来の半導体受光装置を駆動する電源電圧が高いと、
雑音が増し、低いとダイナミックレンジが狭くなり、満
足な特性が得られなかった。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題を解決するために、本発明は、σpArnpと
読み取り回路を異った2つの電源電圧で駆動できるよう
にしたものである。電源電圧値はUp  Ampの方を
高くする。また、読み取り回路及び受光素子の電源電圧
は、同一単結晶基板に形成されたボルテージレギュレー
ターから与えられるようにした。前記ボルテージレギュ
レーターは、前記Tfp  Ampの電源電圧を使用す
るため、半導体受光装置に与える電圧は1つである。前
記ボルテージレギュレーターは形戒する為に製造プロセ
スの変更はない。
〔作用〕
上記の様に受光素子、読み取り回路、σpAmp及びボ
ルテージレギュレーターを同一単結晶基板に形成するこ
とにより、広いダイナミックレンジを有し、雑音が少な
く、高いS/N比も有する半導体受光装置が得られる。
また読み取り回路を従来よりも低い電源電圧で駆動する
ので、低消費電流となる。
〔実施例〕
以下、本発明について実施例により詳細に説明する。
第1図は、本発明の半導体受光装置の一実施例の回路図
である。一導電型単結晶半導体基板に受光素子1、読み
取り回路2、Tfp  Amp3及びボルテージレギュ
レータ4を形成する。読み取り回路2は、リセットトラ
ンジスタTRn,}ランスミッションゲートTGn,及
びシフトレジスタSRn等で構成されている。リセット
トランジスタTRnは、各受光素子を一定電圧にリセッ
トするものである。
信号の読み出しは、以下のように行なわれる。
シフトレジスタSRIの出力を受けて動作状態になった
トランスミッションゲートTRIを通して、受光素子S
1の信号が出力される。信号はσpAmp3で増幅され
外部へ出力される。シフトレジスタSRIのデータが次
段へ移動し、受光素子の信号は、順次出力されていく。
読み出し回路及び受光素子の電源電圧V DD2は、内
蔵されたボルテージレギュレーター4から供給されてい
る。前記ボルテージレギュレーター4は、電源電圧vD
D1で駆動されている。この電圧は、?TpAmp3の
電源電圧と同じにすることが設計可能であるため、半導
体受光装置に供給する電圧は1つだけでよい。また本発
明を実施するには、VDDI>VDD2とする。
尚、本発明は、C−MσSトランジスタにより、読み取
り回路を構威した実施例を示したが、バイボーラトラン
ジスタ等で構成することも可能である。また、σp  
Amp3ボルテージレギュレーター4も、CMσSトラ
ンジスタ、あるいは、バイボーラトランジスタでも作成
できることは、明らかである。したがって、従来と製造
プロセスを変更する必要もなく、本発明を実施するため
に工程が増すこともない。
〔発明の効果〕
以上のように、本発明によれば、読み取り回路の駆動電
圧を低くすることにより、信号線の雑音が小さくなり、
高いS/N比が得られ、低消費電流であり広いダイナミ
ックレンジを持つ半導体受光装置が得られるという効果
がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の半導体受光装置の一実施例を示した回
路図。第2図は、従来の半導体受光装置を示した回路図
である。 ・受光素子群 ・読み取り回路 ●Tfp  Amp ●ボルテージレギュレーター 以 上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光電変換素子及び前記光電変換素子の出力信号を順次読
    み出す読み取り回路とがそれぞれ複数個と前記出力信号
    を電圧変換する増幅回路及び定電圧を供給するボルテー
    ジレギュレーターとが一導電型半導体基板に形成された
    半導体受光装置であって、前記光電変換素子及び前記読
    み取り回路は、前記ボルテージレギュレーターから供給
    される電圧で駆動されることを特徴とする半導体受光装
    置。
JP1193496A 1989-07-25 1989-07-25 半導体受光装置 Expired - Lifetime JP2530226B2 (ja)

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US07/557,089 US5109155A (en) 1989-07-25 1990-07-23 Semiconductor image sensor with an integrated voltage regulator
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