JPH0359029B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0359029B2
JPH0359029B2 JP60063725A JP6372585A JPH0359029B2 JP H0359029 B2 JPH0359029 B2 JP H0359029B2 JP 60063725 A JP60063725 A JP 60063725A JP 6372585 A JP6372585 A JP 6372585A JP H0359029 B2 JPH0359029 B2 JP H0359029B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
glass
temperature
firing
alumina
examples
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP60063725A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS61222957A (ja
Inventor
Susumu Nishigaki
Shinsuke Yano
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Narumi China Corp
Original Assignee
Narumi China Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Narumi China Corp filed Critical Narumi China Corp
Priority to JP60063725A priority Critical patent/JPS61222957A/ja
Publication of JPS61222957A publication Critical patent/JPS61222957A/ja
Publication of JPH0359029B2 publication Critical patent/JPH0359029B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野 本発明は、特に電子工業用部品に適し、その他
耐熱工業部品、食器、厨房部品、装飾品などに用
いられる低温焼成セラミツクスの製造法に関す
る。 従来の技術 コンピユータの高速化、民生機器の高周波化に
伴ない、従来のアルミナ基板は誘電率が大きいた
め(ε=10)、信号遅延の原因となり、これに代
る低誘電率基板が強く求められている。また、ア
ルミナ基板は焼成温度が高いため、使用する導体
が比較的抵抗の大きな高融点金属であるMo、W
に限定され、信号遅延の原因となつていた。そこ
で誘電率が低く、抵抗の小さなAu、Ag、Cuが導
体に使用可能となる1000℃以下で焼成でき、かつ
LSIチツプの大型化を考慮して、チツプと基板と
の熱膨脹差による応力が小さくなるようにシリコ
ンに近い熱膨脹係数を持つ低温焼成基板が実用化
され始めている。このような新しい電子機器の動
きに対応した基板特性と同時に、一般なプラスチ
ツク基板並の基板の大型化、低コスト化に加え
て、高速焼成化(従来アルミナ20〜30Hr)が強
く求められている。 つまり、今後電子機器は軽薄短小の動きに伴な
いそのライフサイクルがますます短かくなるた
め、少量多品種を短期間に提供できることが低温
焼成基板の課題となり、このためには高速焼成を
行なつて試作および製造期間を短縮することが重
要となる。しかし、従来研究発表されている低温
焼成基板、特にガラス粉末とアルミナの混合系か
らなる組成系においては、従来のアルミナ基板に
比較し大幅な高速焼成化が実現されていない。 このことは基板に限らず他のセラミツクスにお
いても同様である。 発明が解決しようとする問題点 ガラス粉末とアルミナ粉末からなる混合系低温
焼成セラミツクスにおいて、平均昇温速度10℃/
分以上の高速焼成を可能とする電子回路その他に
したセラミツクスの製造法を提供せんとするもの
である。 例えば低温焼成基板を高速で焼成するために
は、ガラス粉末とアルミナ粉末とテープ成形用有
機物からなるグリーンテープが、ベルト式厚膜炉
形成の炉で高速に焼成されることが必要となる。 厚膜炉での焼成工程中、最も重要な工程は、脱
バインダー工程で、脱バインダーが不十分になる
とカーボンが残存して、取り込まれたカーボンが
原因となつて基板中にブクを発生させたり、多層
導体積層の場合等には断線の原因にもなる。 有機バインダー(アクリル系またはブチラール
系)は、第6図に示すように通常500〜600℃まで
に完全に分解し、CO2、H2Oに焼成されるはずで
あるが、昇温スピードが速くなると、通常の500
〜600℃より更に高温まで継続して反応が起るよ
うになり、収縮を開始した基板に未反応のカーボ
ンが取り込まれる結果となる。 問題点を解決するための手段 本発明では、脱バインダーを容易ならしめるた
めには、グリーンテープが700℃まで収縮を開始
しないで存在することが非常に効果的であること
を明らかにし、また、この収縮を開始する温度が
使用するガラスの屈伏点とほぼ比例関係にあるこ
とに着目してなされたもので、その要旨は屈伏点
700〜760℃のガラス粉末とアルミナ粉末を重量比
でそれぞれ60〜55/40〜45%に、バインダー、可
塑材および溶剤を混合し800〜1000℃で焼成する
ことを特徴とする低温焼成セラミツクスの製造法
である。 本発明における屈伏点700〜760℃のガラス粉末
としては、ホウ珪酸ガラス、アルミノホウ珪酸ガ
ラス、リシアアルミノホウ珪酸ガラス、マグネシ
アアルミノホウ珪酸ガラス、カルシアアルミノホ
ウ珪酸ガラス等の非品質あるいは結晶化ガラスが
用いられ、特にSiO2−Al2O3−CaO、SiO2
Al2O3−MgO、SiO2−Al2O3−MgO−CaO系ガ
ラス粉末あるいはこれら組成ガラスにB2O3を含
むものが用いられる。 そして本発明では不純物として0〜5%までの
Na2OまたはK2O等のアルカリ金属酸化物、その
他、BaO、PbO、Fe2O3、MnO2、Mn3O4
Cr2O3、NiO、Co2O3、TiO2、ZrO2などを重量基
準で10%まで含み得る。 ここでガラスの屈伏点とは、ガラスを一定昇温
スピード加熱し、その伸びと温度との関係をプロ
ツトするとき、直線状関係を示した後急激な伸び
を示し、次に自重及び荷重により軟化収縮しはじ
める。(具体的には第4図に例示してある)この
軟化収縮しはじめるときの温度を屈伏点という。
(ガラス工学ハンドブツク、924ページ[昭和41
年]枝報堂発行) 本発明では上記ガラス粉末とアルミナとを混合
するが、アルミナの他にアノーサイト、セルシア
ン等も使用することができる。 本発明において、脱バインダーが容易になる理
由は、バインダーの分解やカーボンの酸化の反応
速度が十分に大きくなる700℃以上の高温までテ
ープが全く収縮しないため、クローズポアーがな
く、グリーン基板中の有機バインダーや残留カー
ボンが燃焼して生成するCO2、H2Oなどのガスが
開気孔を通じて除去されやすく、また燃焼に必要
な空気も通り易いためである。 実施例 以下、本発明について実施例および比較例に基
づき図面ならびに表を参照して詳細に説明する。 表1に示した各種の屈伏点を持つガラス粉末と
アルミナ粉末を配合混合し、10wt%のアクリル
系バインダー、可塑剤、溶剤を加えてスラリー状
に分散し、ドクターブレード法により厚さ0.9〜
1mmのグリーンテープにした。 これらのテープを30×45mmに打ち抜き焼成用サ
ンプルとした。 I・R炉を使用し200℃/分までの昇温速度で、
第1図のヒートパターンにしたがい焼成した。こ
の際、2/分の空気を炉内に供給した。 第2図は、表1に示した実施例1〜9、比較例
1、2の昇温速度とブク発生率との関係を示した
ものである。 第3図は、実施例1、4、7と比較例1、2の
10℃/分で昇温した際の収縮曲線を示しており、
表1に示した実施例2、3、5、6、8、9の収
縮開始温度も併せて考えると700℃以上で収縮が
開始される原料を使用した場合には、ブクの発生
率が極めて少なく、700℃以下で収縮が開始され
る原料を使用した場合には、ブク発生率が非常に
多くることがわかる。 第4図は、使用した代表的なガラスとして実施
例1、4、7、比較例1、2のガラスの屈伏点を
示している。これらのガラスの屈伏点と、グリー
ンテープの収縮開始温度との関係を第5図に示
す。これによつて収縮開始温度とガラスの屈伏点
がほぼ比例していることがわかる。 したがつて、結果的に屈伏点が700℃以上のガ
ラスを使用すれば、高速昇温つまり高速焼成に適
する低温焼成基板用原料を得ることができる。 なお、本実施例および比較例は、極めて多量の
空気を供給し、脱バインダーが容易にできる条件
の場合であつたが、通常の厚膜炉を使用して多量
のサンプルを連続焼成した場合(10コ/分程度)、
10℃/分の昇温で実施例1の原料はブクが一つも
発生しなかつたが、比較例1、2ではブクおよび
クラツクが多数発生した。
【表】
【表】 発明の効果 本発明によれば、特に電子工業用部品に適し、
その他耐熱工業部品、食器、厨房部品、装飾品な
どに適したセラミツクスが高速焼成でつくること
ができ、少量多品種のものを短納期で提供するこ
とができるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は実施例および比較例における焼成パタ
ーンを示すグラフ、第2図ないし第5図は実施例
および比較例の各種試験結果を示すグラフ、第6
図は焼成時におけるバインダーの分解状況を示す
グラフである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 屈伏点700〜760℃のガラス粉末とアルミナ粉
    末を重量比でそれぞれ60〜55/40〜45%に、バイ
    ンダー、可塑材および溶剤を混合し800〜1000℃
    で焼成することを特徴とする低温焼成セラミツク
    スの製造法。
JP60063725A 1985-03-29 1985-03-29 低温焼成セラミックスの製造法 Granted JPS61222957A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60063725A JPS61222957A (ja) 1985-03-29 1985-03-29 低温焼成セラミックスの製造法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60063725A JPS61222957A (ja) 1985-03-29 1985-03-29 低温焼成セラミックスの製造法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61222957A JPS61222957A (ja) 1986-10-03
JPH0359029B2 true JPH0359029B2 (ja) 1991-09-09

Family

ID=13237661

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60063725A Granted JPS61222957A (ja) 1985-03-29 1985-03-29 低温焼成セラミックスの製造法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61222957A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004107149A (ja) * 2002-09-19 2004-04-08 Sumitomo Metal Electronics Devices Inc 高周波部品用低誘電率磁器組成物とその製造方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6221754A (ja) * 1985-07-18 1987-01-30 富士通株式会社 アルミナ−ほうけい酸ガラス複合体の強化方法
JPH01138170A (ja) * 1987-11-25 1989-05-31 Noboru Aiko 低温焼結アルミナ焼結体
US20030170436A1 (en) 2001-12-25 2003-09-11 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Dielectric material and dielectric sintered body, and wiring board using the same
CN107500735B (zh) * 2017-09-06 2021-01-15 嘉兴佳利电子有限公司 一种黑色低温烧结微波介质陶瓷材料及其制备方法和应用

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004107149A (ja) * 2002-09-19 2004-04-08 Sumitomo Metal Electronics Devices Inc 高周波部品用低誘電率磁器組成物とその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS61222957A (ja) 1986-10-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4749665A (en) Low temperature fired ceramics
EP0163155B1 (en) Low temperature fired ceramics
JPH05211005A (ja) 誘電体組成物
JPH11310458A (ja) ガラスセラミック組成物、その焼成方法及びガラスセラミック複合体
JPH0359029B2 (ja)
EP0494357A1 (en) Glass-ceramic-bonded ceramic composites
JPS63107838A (ja) ガラスセラミツク焼結体
JPS62278145A (ja) ガラスセラミツク焼結体
JP2002338295A (ja) 無アルカリガラス、電子回路基板用組成物および電子回路基板
JP7386945B2 (ja) ガラス組成物、ガラス繊維及びそれを含む製品
JPH01141837A (ja) 回路基板用誘電体材料
JPH01132194A (ja) 配線基板
WO2009119433A1 (ja) 無鉛ガラス及び無鉛ガラスセラミックス用組成物
JPS6049149B2 (ja) 電子部品用白色アルミナ・セラミックの製造方法
JP2000211969A (ja) 低温焼成磁器およびこれを備えた電子部品
JPS6379739A (ja) ガラスセラミツク焼結体
JPH0517211A (ja) 基板材料及び回路基板
JPH01179740A (ja) ガラス−セラミックス複合体
JP2958324B2 (ja) ガラスセラミックス系基板用の組成物
JPH01141838A (ja) 回路基板用誘電体材料
JPS62171942A (ja) ガラス粉末焼結体
JP3315233B2 (ja) セラミック基板用組成物
JPS62252340A (ja) ガラス焼結体およびガラスセラミツク焼結体
JPH0471857B2 (ja)
JP3336176B2 (ja) ガラスセラミック焼結体