JPH0359476A - 電子回路の測定方法 - Google Patents
電子回路の測定方法Info
- Publication number
- JPH0359476A JPH0359476A JP1194009A JP19400989A JPH0359476A JP H0359476 A JPH0359476 A JP H0359476A JP 1194009 A JP1194009 A JP 1194009A JP 19400989 A JP19400989 A JP 19400989A JP H0359476 A JPH0359476 A JP H0359476A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- program
- execution program
- measuring
- specification description
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、測定プログラムに従ってＩＣ等の電子回路
の電気的特性を測定する測定方法に関する。
の電気的特性を測定する測定方法に関する。
一般に、電子回路は回路設計され製造された後、測定装
置によってその電気的特性の測定が行われる。この測定
装置は、通常複数の信号発生手段や計測手段等を有し、
これらの手段を測定プログラムに従って作動させること
により、種々の測定及び試験を可能とするものである。
置によってその電気的特性の測定が行われる。この測定
装置は、通常複数の信号発生手段や計測手段等を有し、
これらの手段を測定プログラムに従って作動させること
により、種々の測定及び試験を可能とするものである。
このような測定装置を用いて電子回路の特性を測定する
際の全体の構成ブロック図を第２図に示す。測定装置（
Ｌ）に接続ケーブル〈２）を介して測定治具（３）が接
続されている。測定治具（３）は、接続ケーブル（２）
に接続されるインタフェース回路（４）と、周辺回路（
５）と、ソテツ１〜泊具（６）とを有し、ソケット治具
（６）に被測定物であるＩＣ（７）が接続される。ここ
で、周辺回路（５）はＩＣ（７）が実際に使用される時
の周辺の状態を作り出すと共にＩＣ（７）を試験するこ
とができるように多数の切り替えスイッチ（リレー）を
配したものである。
際の全体の構成ブロック図を第２図に示す。測定装置（
Ｌ）に接続ケーブル〈２）を介して測定治具（３）が接
続されている。測定治具（３）は、接続ケーブル（２）
に接続されるインタフェース回路（４）と、周辺回路（
５）と、ソテツ１〜泊具（６）とを有し、ソケット治具
（６）に被測定物であるＩＣ（７）が接続される。ここ
で、周辺回路（５）はＩＣ（７）が実際に使用される時
の周辺の状態を作り出すと共にＩＣ（７）を試験するこ
とができるように多数の切り替えスイッチ（リレー）を
配したものである。
そして、測定装置（１）が測定プログラムに従って作動
し、インタフェース回路（４〉及び周辺回路（５）等を
介してＩＣ（７）に電気信号が入力される。
し、インタフェース回路（４〉及び周辺回路（５）等を
介してＩＣ（７）に電気信号が入力される。
これによりＩＣ（７）が駆動し、このＩＣ（７）の出力
は周辺回路（５）及びインタフェース回路（４）を介し
て測定装置く１）に伝送され、測定装置（１〉により計
測される。このようにして、測定プログラムに基づきＩ
Ｃ（７）の種々の試験が実行される。
は周辺回路（５）及びインタフェース回路（４）を介し
て測定装置く１）に伝送され、測定装置（１〉により計
測される。このようにして、測定プログラムに基づきＩ
Ｃ（７）の種々の試験が実行される。
ここで、測定装置（１）を作動させるための測定プログ
ラムは測定装置（１〉に固有のプログラム言語により構
成されるが、従来次のような手順で作成されていた。
ラムは測定装置（１〉に固有のプログラム言語により構
成されるが、従来次のような手順で作成されていた。
ステップ１：ＩＣ（７）において測定が必要な電気的特
性の項目を選択し、測定仕様書を作成する。
性の項目を選択し、測定仕様書を作成する。
次に、全ての測定項目の測定が可能な測定治具（３〉を
設計製作する。
設計製作する。
ステップ２：測定仕様書に基づいて測定装置（１）に固
有のプログラム言語による測定プログラムを作成する。
有のプログラム言語による測定プログラムを作成する。
ステップ３：接続ケーブル（２）を介して測定治具（３
）を測定装置（１）に接続すると共に測定治具（３）の
ソケット治具（６）にＩＣ（７）を装着し、測定装置（
１）を測定プログラムに従って動作させて所望のデータ
が得られるか否かの確認を行う。所望のデータが得られ
ない場合には、その原因を調査し、測定治具（３〉及び
測定プログラムを適宜修正して全ての測定項目について
所望のデータが得られるまで繰り返す。
）を測定装置（１）に接続すると共に測定治具（３）の
ソケット治具（６）にＩＣ（７）を装着し、測定装置（
１）を測定プログラムに従って動作させて所望のデータ
が得られるか否かの確認を行う。所望のデータが得られ
ない場合には、その原因を調査し、測定治具（３〉及び
測定プログラムを適宜修正して全ての測定項目について
所望のデータが得られるまで繰り返す。
このようにして動作上誤りのない測定プログラムが作成
すると、以下のステップ４〜６に従って測定プログラム
の改善が行われる。
すると、以下のステップ４〜６に従って測定プログラム
の改善が行われる。
ステップ４：測定プログラムにおいて、重複している又
は不必要なプログラム記述を削減する。
は不必要なプログラム記述を削減する。
ステップ５：互いに測定条件が独立しており、測定治具
（３〉及び測定装置）！（１）が時間的に同時、あるい
は同時とみなせるほど十分高速に処理可能な複数の測定
項目を並列に（同時に〉測定するように測定プログラム
を変更する。
（３〉及び測定装置）！（１）が時間的に同時、あるい
は同時とみなせるほど十分高速に処理可能な複数の測定
項目を並列に（同時に〉測定するように測定プログラム
を変更する。
ステップ６：不良品の解析、歩留まり向上、測定時間の
短縮等を目的として測定順序を最適なものに変更する。
短縮等を目的として測定順序を最適なものに変更する。
これらのステップ４〜６により測定実行の効率が改善さ
れるが、これらのステップを実現するためには、その都
度ステップ３に示したデバッグ作業が必要となる。
れるが、これらのステップを実現するためには、その都
度ステップ３に示したデバッグ作業が必要となる。
測定プログラムの作成は以上のような各ステップに従っ
て行われていたので、測定装置（１）のハードウェア及
びソフトウェアの双方の知識が必要となるものであった
。このため、測定装置（１）に固有のプログラム言語を
自由に駆使できる熟練の技術者が必要となり、また測定
プログラムの作成及び変更に多大の労力と時間を要する
という問題点があった。
て行われていたので、測定装置（１）のハードウェア及
びソフトウェアの双方の知識が必要となるものであった
。このため、測定装置（１）に固有のプログラム言語を
自由に駆使できる熟練の技術者が必要となり、また測定
プログラムの作成及び変更に多大の労力と時間を要する
という問題点があった。
特に、ステップ６で測定プログラムの順序変更を行う場
合には、ステップ４及び５で削減あるいは書き換えられ
た測定条件等を考慮しなければならず、極めて複雑な作
業となっていた。
合には、ステップ４及び５で削減あるいは書き換えられ
た測定条件等を考慮しなければならず、極めて複雑な作
業となっていた。
この発明はこのような問題点を解消するためになされた
もので、測定効率の優れた測定プログラムを容易に作成
して電子回路の測定を行うことができる電子回路の測定
方法を得ることを目的とする。
もので、測定効率の優れた測定プログラムを容易に作成
して電子回路の測定を行うことができる電子回路の測定
方法を得ることを目的とする。
この発明に係る電子回路の測定方法は、測定実行プログ
ラムに従って作動する測定装置を用いて電子回路の特性
を測定する方法であって、複数の測定項目にそれぞれ対
応する複数の測定仕様を固定語長形式の測定仕様記述テ
ーブルに表し、測定仕様記述テーブルをそのまま反映さ
せた測定仕様記述プログラムを作成し、測定仕様記述プ
ログラムに測定順序の指定を行うと共にプログラムの冗
長部分の削除及び複数の測定項目のうち並列測定し得る
項目のプログラムの結合を行うことにより測定実行プロ
グラムを作成し、測定実行プログラムに従って測定装置
を作動させることにより測定実行プログラムをデバッグ
し、デバッグによる測定実行プログラムの変更部分に対
応させて測定仕様記述プログラムを修正し、デバッグさ
れた測定実行プログラムに従って測定装置により電子回
路の測定を行い、その後測定順序を変更する場合には修
正された測定仕様記述プログラムから再び測定実行プロ
グラムを作成する方法である。
ラムに従って作動する測定装置を用いて電子回路の特性
を測定する方法であって、複数の測定項目にそれぞれ対
応する複数の測定仕様を固定語長形式の測定仕様記述テ
ーブルに表し、測定仕様記述テーブルをそのまま反映さ
せた測定仕様記述プログラムを作成し、測定仕様記述プ
ログラムに測定順序の指定を行うと共にプログラムの冗
長部分の削除及び複数の測定項目のうち並列測定し得る
項目のプログラムの結合を行うことにより測定実行プロ
グラムを作成し、測定実行プログラムに従って測定装置
を作動させることにより測定実行プログラムをデバッグ
し、デバッグによる測定実行プログラムの変更部分に対
応させて測定仕様記述プログラムを修正し、デバッグさ
れた測定実行プログラムに従って測定装置により電子回
路の測定を行い、その後測定順序を変更する場合には修
正された測定仕様記述プログラムから再び測定実行プロ
グラムを作成する方法である。
この発明においては、測定仕様記述テーブルをそのまま
反映させた測定仕様記述プログラムを作成すると共に、
測定仕様記述プログラムから実際に測定装置を作動させ
るための測定実行プログラムを作成し、デバッグにより
測定実行プログラムが変更した場合にはその変更部分に
対応させて測定仕様記述プログラムの修正を行う。そし
て、測定順序を変更する場合には修正された測定仕様記
述プログラムから再び測定実行プログラムを作成する。
反映させた測定仕様記述プログラムを作成すると共に、
測定仕様記述プログラムから実際に測定装置を作動させ
るための測定実行プログラムを作成し、デバッグにより
測定実行プログラムが変更した場合にはその変更部分に
対応させて測定仕様記述プログラムの修正を行う。そし
て、測定順序を変更する場合には修正された測定仕様記
述プログラムから再び測定実行プログラムを作成する。
以下、この発明の実施例を添ｆ寸図面に基ついて説明す
る。
る。
第１図はこの発明の一実施例に係る電子回路の測定方法
を示すフローチャー１へ図である。まず、ステップ１１
で被測定物である電子口ｉｉ＋８０測定仕様が自然言語
の形で複数の測定項目毎に作業者により入力される。こ
れらの測定仕様は、ステップ１２で固定語長形式の表に
まとめられ、これにより測定仕様記述テーブルが作成さ
れる。このとき、ステップ１１で入力された測定仕様に
おけるデータはプログラミングに即した内容及び順序に
沿って割り付けられ、作表される。
を示すフローチャー１へ図である。まず、ステップ１１
で被測定物である電子口ｉｉ＋８０測定仕様が自然言語
の形で複数の測定項目毎に作業者により入力される。こ
れらの測定仕様は、ステップ１２で固定語長形式の表に
まとめられ、これにより測定仕様記述テーブルが作成さ
れる。このとき、ステップ１１で入力された測定仕様に
おけるデータはプログラミングに即した内容及び順序に
沿って割り付けられ、作表される。
次に、ステップ１３において、測定仕様記述テーブルは
測定仕様記述プログラムに変換される。
測定仕様記述プログラムに変換される。
この測定仕様記述プログラムは、測定仕様記述テーブル
に記載されている測定装置（図示せず〉の全ての制御デ
ータを含み、測定仕様記述テーブルがそのまま反映され
たものである。すなわち、この測定仕様記述プログラム
においては、各測定項目の測定がそれぞれ独立すると共
に完結する形で記載されている。このため、複数の測定
項目のうち任意の一つの項目のプログラムを取り出して
も、あるいは測定項目の順序を変更しても測定の実行は
可能である。
に記載されている測定装置（図示せず〉の全ての制御デ
ータを含み、測定仕様記述テーブルがそのまま反映され
たものである。すなわち、この測定仕様記述プログラム
においては、各測定項目の測定がそれぞれ独立すると共
に完結する形で記載されている。このため、複数の測定
項目のうち任意の一つの項目のプログラムを取り出して
も、あるいは測定項目の順序を変更しても測定の実行は
可能である。
その後、ステップ１４で、測定実行プログラムの作成が
行われる。この測定実行プログラムの作成に当たって測
定順序の指定がなされ、ステップ１３で作成された測定
仕様記述プログラムが指定された測定順序に従って変更
される。さらに、変更された測定仕様記述プログラムに
おいて、重複しているプログラム記述や不必要なプログ
ラム記述等の冗長部分が削減されると共に時間的に同時
あるいは同時とみなせるほど十分高速に処理可能な複数
の測定項目を並列に測定するようにプログラムの結合が
行われ、これにより測定実行プログラムが作成される。
行われる。この測定実行プログラムの作成に当たって測
定順序の指定がなされ、ステップ１３で作成された測定
仕様記述プログラムが指定された測定順序に従って変更
される。さらに、変更された測定仕様記述プログラムに
おいて、重複しているプログラム記述や不必要なプログ
ラム記述等の冗長部分が削減されると共に時間的に同時
あるいは同時とみなせるほど十分高速に処理可能な複数
の測定項目を並列に測定するようにプログラムの結合が
行われ、これにより測定実行プログラムが作成される。
次に、ステップ１５で測定実行プログラムのデバッグが
行われる。このとき、ステップ１１１で作成された測定
実行プログラムに従って実際に測定装置を作動させて各
測定項目毎の測定装置の動ｆＪｒ−状態が観察される。
行われる。このとき、ステップ１１１で作成された測定
実行プログラムに従って実際に測定装置を作動させて各
測定項目毎の測定装置の動ｆＪｒ−状態が観察される。
そして、所望のデータが得られない場合には、ステップ
１６で測定実行プログラムを適宜修正して全ての測定項
目について所望のデータが得られるまで繰り返すに のようにして実際の測定に用いられる測定実行プログラ
ムが作成されるが、ステップ１６で測定実行プログラム
の変更を行った場合には、さらにステップ１７でその変
更部分に対応させてステップ１３で作成された測定仕様
記述プログラムを修正しておく。次に、ステップ１８で
電子回路の測定が実施される。
１６で測定実行プログラムを適宜修正して全ての測定項
目について所望のデータが得られるまで繰り返すに のようにして実際の測定に用いられる測定実行プログラ
ムが作成されるが、ステップ１６で測定実行プログラム
の変更を行った場合には、さらにステップ１７でその変
更部分に対応させてステップ１３で作成された測定仕様
記述プログラムを修正しておく。次に、ステップ１８で
電子回路の測定が実施される。
その後、不良品の解析、歩留まりの向上、測定時間の短
縮等を目的としてステップ１つで測定順序を変更する必
要がある場合には、ステ・・ｌプ２゜に！３いて再び測
定実行プログラムの作成が行われる。このとき、ステッ
プ１７でデバッグの結果に対応して修正された測定仕様
記述プログラムから測定実行プログラムが作成される。
縮等を目的としてステップ１つで測定順序を変更する必
要がある場合には、ステ・・ｌプ２゜に！３いて再び測
定実行プログラムの作成が行われる。このとき、ステッ
プ１７でデバッグの結果に対応して修正された測定仕様
記述プログラムから測定実行プログラムが作成される。
上述したように、測定仕様記述プログラムでは、各測定
項目の測定がそれぞれ独立すると共に完結する形で記載
されているので、測定項目の順序の変更は極めて簡単に
行われる。さらに、重複しているプログラム記述や不必
要なプログラム記述の削減、並列測定する項目のプログ
ラムの結合等を行って測定実行プログラムを作成した後
、ステップ１５に戻り、測定実行プログラムのデバッグ
が行われる。続いて、ステップ１６及び１７の測定実行
プログラムの修正、測定仕様記述プログラムの修正が行
われ、ステップ１８で測定が実施される。
項目の測定がそれぞれ独立すると共に完結する形で記載
されているので、測定項目の順序の変更は極めて簡単に
行われる。さらに、重複しているプログラム記述や不必
要なプログラム記述の削減、並列測定する項目のプログ
ラムの結合等を行って測定実行プログラムを作成した後
、ステップ１５に戻り、測定実行プログラムのデバッグ
が行われる。続いて、ステップ１６及び１７の測定実行
プログラムの修正、測定仕様記述プログラムの修正が行
われ、ステップ１８で測定が実施される。
ここで、より具体的な電子回路の測定の実施例を示す。
次の表−１〜６に示す６項目の測定仕様に従ってＩＣの
測定を行うものとする。
測定を行うものとする。
これらの測定仕様は測定項目毎に
■測定項目名
■周辺回路の設定
■信号源、測定器等のハードウェアの設定■ハードウェ
アのセットリング ■電子回路への電源及び信号源の供給 ■測定データのフォーマット、良否判定値設定■測定実
行（電子回路のセットリングを含む）■測定結果の分類
、表示 ■測定条件の解除 という固定語長形式の表にまとめられ、これにより次の
表−７に示すような測定仕様記述テーブルが作成される
。
アのセットリング ■電子回路への電源及び信号源の供給 ■測定データのフォーマット、良否判定値設定■測定実
行（電子回路のセットリングを含む）■測定結果の分類
、表示 ■測定条件の解除 という固定語長形式の表にまとめられ、これにより次の
表−７に示すような測定仕様記述テーブルが作成される
。
この測定仕様記述テーブルをそのままプログラム言語に
変換することにより測定仕様記述プログラムが作成され
る。
変換することにより測定仕様記述プログラムが作成され
る。
その後、例えば測定仕様記述テーブルに記載された順序
で測定を行うものとした場合に、重複しているプログラ
ム記述や不必要なプログラム記述を削減することにより
作成された測定実行プログラムを測定仕様記述テーブル
と同様の表形式で表すと表−８のようになる。表−７と
表−８とを比較することにより測定実行プログラムはプ
ログラム言語が簡略化されていることがわかる。
で測定を行うものとした場合に、重複しているプログラ
ム記述や不必要なプログラム記述を削減することにより
作成された測定実行プログラムを測定仕様記述テーブル
と同様の表形式で表すと表−８のようになる。表−７と
表−８とを比較することにより測定実行プログラムはプ
ログラム言語が簡略化されていることがわかる。
さらに、並列測定し得る測定項目がある場合には、その
プログラムの結合が行われる。このようにして作成され
た測定実行プログラムはデバッグされることにより必要
に応じて修正され、このとき測定仕様記述プログラムも
修正される。そして、測定実行プログラムに従って実際
に電子回路の測定が実施される。
プログラムの結合が行われる。このようにして作成され
た測定実行プログラムはデバッグされることにより必要
に応じて修正され、このとき測定仕様記述プログラムも
修正される。そして、測定実行プログラムに従って実際
に電子回路の測定が実施される。
その後、測定順序の変更を要する場合には、デバッグの
結果修正された測定仕様記述プログラムから新たな測定
実行プログラムの作成が行われる。
結果修正された測定仕様記述プログラムから新たな測定
実行プログラムの作成が行われる。
ここで、実際の測定に用いた測定実行プログラムに修正
を加えて新たな測定実行プログラムを作成しようとする
と、基となる測定実行プログラムが既に表−８に示すよ
うにプログラム言語の簡略化がなされると共に並列測定
のためのプログラムの結合等がなされているので、極め
て複雑な作業となる。これに対して、測定仕様記述プロ
グラムは表−７の測定仕様記述テーブルにそのまま対応
しているので、測定順序の変更が容易に行われる。
を加えて新たな測定実行プログラムを作成しようとする
と、基となる測定実行プログラムが既に表−８に示すよ
うにプログラム言語の簡略化がなされると共に並列測定
のためのプログラムの結合等がなされているので、極め
て複雑な作業となる。これに対して、測定仕様記述プロ
グラムは表−７の測定仕様記述テーブルにそのまま対応
しているので、測定順序の変更が容易に行われる。
このため、測定仕様記述テーブルの作成、測定仕様記述
プログラムの作成、測定実行プロゲラ１１の作成、測定
順序変更に伴う新たな測定実行プログラムの作成等を全
て人手を介さずにコンピュータ等により実現することが
可能となる。
プログラムの作成、測定実行プロゲラ１１の作成、測定
順序変更に伴う新たな測定実行プログラムの作成等を全
て人手を介さずにコンピュータ等により実現することが
可能となる。
以上説明したように、この発明に係る電子回路の測定方
法は、測定実行プログラムに従って作動する測定装置を
用いて電子回路の特性を測定する方法であって、複数の
測定項目にそれぞれ対応する複数の測定仕様を固定語長
形式の測定仕様記述テーブルに表し、測定仕様記述テー
ブルをそのまま反映させた測定仕様記述プログラムを作
成し、測定仕様記述プログラムに測定順序の指定を行う
と共にプログラムの冗長部分の削除及び複数の測定項目
のうち並列測定し得る項目のプログラムの結合を行うこ
とにより測定実行プログラムを作成し、測定実行プログ
ラムに従って測定装置を作動させることにより測定実行
プログラムをデバッグし、デバッグによる測定実行プロ
グラムの変更部分に対応させて測定仕様記述プログラム
を修正し、デバッグされた測定実行プログラムに従って
測定装置により電子回路の測定を行い、その後測定順序
を変更する場合には修正された測定仕様記述プログラム
から再び測定実行プログラムを作成するので、測定効率
の優れた測定プログラムを容易に作成して電子回路の測
定を行うことができる。
法は、測定実行プログラムに従って作動する測定装置を
用いて電子回路の特性を測定する方法であって、複数の
測定項目にそれぞれ対応する複数の測定仕様を固定語長
形式の測定仕様記述テーブルに表し、測定仕様記述テー
ブルをそのまま反映させた測定仕様記述プログラムを作
成し、測定仕様記述プログラムに測定順序の指定を行う
と共にプログラムの冗長部分の削除及び複数の測定項目
のうち並列測定し得る項目のプログラムの結合を行うこ
とにより測定実行プログラムを作成し、測定実行プログ
ラムに従って測定装置を作動させることにより測定実行
プログラムをデバッグし、デバッグによる測定実行プロ
グラムの変更部分に対応させて測定仕様記述プログラム
を修正し、デバッグされた測定実行プログラムに従って
測定装置により電子回路の測定を行い、その後測定順序
を変更する場合には修正された測定仕様記述プログラム
から再び測定実行プログラムを作成するので、測定効率
の優れた測定プログラムを容易に作成して電子回路の測
定を行うことができる。
第１図はこの発明の一実施例に係る電子回路の測定方法
を示すフローチャー１−図、第２図は電子回路の測定を
行うための従来の装置を示すブロック図である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
を示すフローチャー１−図、第２図は電子回路の測定を
行うための従来の装置を示すブロック図である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 測定実行プログラムに従って作動する測定装置を用いて
電子回路の特性を測定する方法であって、複数の測定項
目にそれぞれ対応する複数の測定仕様を固定語長形式の
測定仕様記述テーブルに表し、 前記測定仕様記述テーブルをそのまま反映させた測定仕
様記述プログラムを作成し、 前記測定仕様記述プログラムに測定順序の指定を行うと
共にプログラムの冗長部分の削除及び前記複数の測定項
目のうち並列測定し得る項目のプログラムの結合を行う
ことにより測定実行プログラムを作成し、 前記測定実行プログラムに従つて前記測定装置を作動さ
せることにより前記測定実行プログラムをデバッグし、 デバッグによる前記測定実行プログラムの変更部分に対
応させて前記測定仕様記述プログラムを修正し、 デバッグされた前記測定実行プログラムに従って前記測
定装置により前記電子回路の測定を行い、その後測定順
序を変更する場合には修正された前記測定仕様記述プロ
グラムから再び測定実行プログラムを作成する ことを特徴とする電子回路の測定方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1194009A JPH0359476A (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 | 電子回路の測定方法 |
| US07/428,586 US5053981A (en) | 1989-07-28 | 1989-10-30 | Method of measuring electrical characteristics of electronic circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1194009A JPH0359476A (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 | 電子回路の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0359476A true JPH0359476A (ja) | 1991-03-14 |
Family
ID=16317448
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1194009A Pending JPH0359476A (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 | 電子回路の測定方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5053981A (ja) |
| JP (1) | JPH0359476A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0843053A (ja) * | 1994-07-26 | 1996-02-16 | Matsushita Electric Works Ltd | 外観検査装置 |
| JP2012533072A (ja) * | 2009-07-13 | 2012-12-20 | ディスペース デジタル シグナル プロセッシング アンド コントロール エンジニアリング ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 電気的な特性量を測定及び／又は形成するための装置と方法 |
| CN104142161A (zh) * | 2014-07-31 | 2014-11-12 | 天津二十冶建设有限公司 | 一种用于施工现场热工仪表快速调试方法 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04211871A (ja) * | 1990-05-02 | 1992-08-03 | Toshiba Corp | 論理設計の検証支援システム |
| JP2944256B2 (ja) * | 1991-06-10 | 1999-08-30 | 三菱電機株式会社 | デバッグ用プログラム作成方法 |
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| US8174990B2 (en) * | 2007-02-16 | 2012-05-08 | International Business Machines Corporation | Mechanism and system for programmable measurement of aggregate metrics from a dynamic set of nodes |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US4550406A (en) * | 1983-06-14 | 1985-10-29 | Everett/Charles Test Equipment, Inc. | Automatic test program list generation using programmed digital computer |
| US4862399A (en) * | 1987-08-31 | 1989-08-29 | General Electric Company | Method for generating efficient testsets for a class of digital circuits |
| JP2697861B2 (ja) * | 1988-06-28 | 1998-01-14 | 三菱電機株式会社 | 測定プログラム自動作成装置 |
-
1989
- 1989-07-28 JP JP1194009A patent/JPH0359476A/ja active Pending
- 1989-10-30 US US07/428,586 patent/US5053981A/en not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5053981A (en) | 1991-10-01 |
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