JPH0360317B2 - - Google Patents
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- JPH0360317B2 JPH0360317B2 JP24309885A JP24309885A JPH0360317B2 JP H0360317 B2 JPH0360317 B2 JP H0360317B2 JP 24309885 A JP24309885 A JP 24309885A JP 24309885 A JP24309885 A JP 24309885A JP H0360317 B2 JPH0360317 B2 JP H0360317B2
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、印字駆動のタイミングをつくる手段
として磁気リニアスケールと磁気抵抗効果素子を
用いるシヤトル方式シリアルラインプリンタに関
し、特に印字期間の始端・後端において正確で安
定した印字タイミングを得るようにしたものであ
る。
として磁気リニアスケールと磁気抵抗効果素子を
用いるシヤトル方式シリアルラインプリンタに関
し、特に印字期間の始端・後端において正確で安
定した印字タイミングを得るようにしたものであ
る。
(従来の技術)
シヤトル方式シリアルラインプリンタでは、第
10図に示すように、紙送り方向Bと略直角な
A,A′方向に一定ピツチで多数のプリント素子
(第8図ではドツトインパクト式印字ハンマ)Di
をアレイ状に取り付けたヘツドバンク1を備え、
このヘツドバンク1を駆動モータ(図示せず)に
より偏心円板2を介してA,A′方向に往復直線
運動させる間に各プリント素子Diを複数の所定
ドツト位置に印字駆動する。図中、3aおよび3
bはヘツドバンク1をA,A′方向に案内するた
めのレールである。ヘツドバンク1の運動は、第
11図に示すように略正弦波状になり、印字期間
C1,C1′の初めと終わり付近では比較的遅く
中間点では最も速い。ヘツドバンク1の瞬間的位
置は位置検出装置により一定の距離間隔で検知さ
れ、第12図に示すように、各プリント素子が次
に印字すべきドツト位置Qiから所定距離だけ前
の位置にあるときのタイミングを示す位置検出パ
ルスPiが位置検出装置からの位置検出信号に基づ
いて生成される。プリント素子駆動装置は、この
位置検出パルスPiに応答して励磁され各プリント
素子をドツト位置Qiに選択的に(すなわちキヤ
ラクタ内には印字しないドツト位置もあるので選
択的に)印打する。
10図に示すように、紙送り方向Bと略直角な
A,A′方向に一定ピツチで多数のプリント素子
(第8図ではドツトインパクト式印字ハンマ)Di
をアレイ状に取り付けたヘツドバンク1を備え、
このヘツドバンク1を駆動モータ(図示せず)に
より偏心円板2を介してA,A′方向に往復直線
運動させる間に各プリント素子Diを複数の所定
ドツト位置に印字駆動する。図中、3aおよび3
bはヘツドバンク1をA,A′方向に案内するた
めのレールである。ヘツドバンク1の運動は、第
11図に示すように略正弦波状になり、印字期間
C1,C1′の初めと終わり付近では比較的遅く
中間点では最も速い。ヘツドバンク1の瞬間的位
置は位置検出装置により一定の距離間隔で検知さ
れ、第12図に示すように、各プリント素子が次
に印字すべきドツト位置Qiから所定距離だけ前
の位置にあるときのタイミングを示す位置検出パ
ルスPiが位置検出装置からの位置検出信号に基づ
いて生成される。プリント素子駆動装置は、この
位置検出パルスPiに応答して励磁され各プリント
素子をドツト位置Qiに選択的に(すなわちキヤ
ラクタ内には印字しないドツト位置もあるので選
択的に)印打する。
従来、そのような位置検出装置としてロータリ
エンコーダが知られているが、最近では磁気リニ
アスケールと磁気抵抗効果素子(MR素子)とを
組み合わせたものがこの種のプリンタに使用され
てきている。
エンコーダが知られているが、最近では磁気リニ
アスケールと磁気抵抗効果素子(MR素子)とを
組み合わせたものがこの種のプリンタに使用され
てきている。
第13図に磁気リニアスケールとMR素子とか
らなる位置検出装置を示す。磁気リニアスケール
10は、紙送り方向Bと略直角なA,A′方向す
なわちヘツドバンク1の往復直線運動方向にN極
およびS極を一定ピツチH(例えば423μm)で交
互に配列してなる。MR素子取付体20は、磁気
リニアスケール10と対向してA,A′方向に配
置されるMR素子F1〜F4を支持する。これら
のMR素子F1〜F4はSi基板またはガラス基板
上に蒸着膜またはスパツタ膜として形成されてよ
く、0.5Hの間隔で配置され、第16図に示すよ
うにブリツジ接続される。磁気リニアスケール1
0に対してMR素子取付体20がA,A′方向に移
動すると、センサ回路の出力端子21a,21b
から正弦波状のセンサ出力信号が得られる。すな
わち、各MR素子Fiにはその膜と平行な磁界が印
加され、この磁界の向きはMR素子Fiが磁気リニ
アスケール10に対して1ピツチH移動すると1
回転する。この磁界の向きの変化に対してMR素
子の抵抗値は正弦波状に変化し、その周期速度は
2倍になつて現れる。したがつて第16図のセン
サ回路ではMR素子F1,F3の抵抗値が同相で
正弦波状に変化し、これらと180゜位相を異にして
MR素子F2,F4の抵抗値が同相で正弦状波に
変化し、これにより出力端子21a,21bから
は第17図aに示すように増倍された正弦状波の
センサ出力信号S0が取り出される。
らなる位置検出装置を示す。磁気リニアスケール
10は、紙送り方向Bと略直角なA,A′方向す
なわちヘツドバンク1の往復直線運動方向にN極
およびS極を一定ピツチH(例えば423μm)で交
互に配列してなる。MR素子取付体20は、磁気
リニアスケール10と対向してA,A′方向に配
置されるMR素子F1〜F4を支持する。これら
のMR素子F1〜F4はSi基板またはガラス基板
上に蒸着膜またはスパツタ膜として形成されてよ
く、0.5Hの間隔で配置され、第16図に示すよ
うにブリツジ接続される。磁気リニアスケール1
0に対してMR素子取付体20がA,A′方向に移
動すると、センサ回路の出力端子21a,21b
から正弦波状のセンサ出力信号が得られる。すな
わち、各MR素子Fiにはその膜と平行な磁界が印
加され、この磁界の向きはMR素子Fiが磁気リニ
アスケール10に対して1ピツチH移動すると1
回転する。この磁界の向きの変化に対してMR素
子の抵抗値は正弦波状に変化し、その周期速度は
2倍になつて現れる。したがつて第16図のセン
サ回路ではMR素子F1,F3の抵抗値が同相で
正弦波状に変化し、これらと180゜位相を異にして
MR素子F2,F4の抵抗値が同相で正弦状波に
変化し、これにより出力端子21a,21bから
は第17図aに示すように増倍された正弦状波の
センサ出力信号S0が取り出される。
磁気リニアスケール10は、例えば第18図に
示すようにヘツドバンク1の下側部分に一体的に
取り付けられ、MR素子取付体20は第13図に
示すように配置関係で磁気リニアスケール10と
対向してシヤーシベース11に固定される。した
がつて、ヘツドバンク1がA,A′方向に直線運
動するとき磁気リニアスケール10も一緒に運動
し、MR素子取付体20の各MR素子は磁気リニ
アスケール10に対してその長さ方向すなわち
A,A′方向に相対的な直線運動を行い、前述し
たようにセンサ回路の出力端子21a,21bか
ら正弦波状のセンサ出力信号S0が位置検出信号と
して得られ、このセンサ出力信号S0が矩形波状に
波形整形され次いで微分されることにより第17
図bに示すような位置検出パルスPiが生成され
る。
示すようにヘツドバンク1の下側部分に一体的に
取り付けられ、MR素子取付体20は第13図に
示すように配置関係で磁気リニアスケール10と
対向してシヤーシベース11に固定される。した
がつて、ヘツドバンク1がA,A′方向に直線運
動するとき磁気リニアスケール10も一緒に運動
し、MR素子取付体20の各MR素子は磁気リニ
アスケール10に対してその長さ方向すなわち
A,A′方向に相対的な直線運動を行い、前述し
たようにセンサ回路の出力端子21a,21bか
ら正弦波状のセンサ出力信号S0が位置検出信号と
して得られ、このセンサ出力信号S0が矩形波状に
波形整形され次いで微分されることにより第17
図bに示すような位置検出パルスPiが生成され
る。
位置検出パルスPiはMR素子F1〜F4が磁気
リニアスケール10の着磁部10aと対向すると
きに発生し、その期間は印字期間C1,C1′と
なる。また第14図および第15図に示すように
MR素子F1〜F4が非着磁部10bと対向する
ときは位置検出パルスPiは発生せず、その期間は
印字休止期間または運動方向切替期間C0,C
0′となる。そして、ヘツドバンク1がA,A′方
向に往復直線運動するとき、磁気リニアスケール
10とMR素子F1〜F4との相対的な位置関係
は、第14図の状態(印字休止期間C0)から第
13図の状態(印字期間C1)を経て第15図の
状態(印字休止期間C0′)に至り、それから折
り返して第13図の状態(印字期間C1′)を経
て第14図の状態(印字休止期間C0)に戻ると
いうようなサイクルを繰り返す。
リニアスケール10の着磁部10aと対向すると
きに発生し、その期間は印字期間C1,C1′と
なる。また第14図および第15図に示すように
MR素子F1〜F4が非着磁部10bと対向する
ときは位置検出パルスPiは発生せず、その期間は
印字休止期間または運動方向切替期間C0,C
0′となる。そして、ヘツドバンク1がA,A′方
向に往復直線運動するとき、磁気リニアスケール
10とMR素子F1〜F4との相対的な位置関係
は、第14図の状態(印字休止期間C0)から第
13図の状態(印字期間C1)を経て第15図の
状態(印字休止期間C0′)に至り、それから折
り返して第13図の状態(印字期間C1′)を経
て第14図の状態(印字休止期間C0)に戻ると
いうようなサイクルを繰り返す。
(発明が解決しようとする問題点)
しかし、MR素子F1〜F4が着磁部10aの
両端部を通るとき、すなわち印字期間C1,C
1′と印字休止期間C0,C0′との境界におい
て、センサ出力信号S0の波形が第19図a,cに
示すように過渡的に乱れ、これにより印字期間C
1,C1′の始端および終端での印字タイミング
に誤差が生じた。第19図において、taは所定
(本来)の印字期間C1の開始の時点であるが、
不所望な位置検出パルスP0によつて実際には誤
つた時点ta′から印字が開始される。
両端部を通るとき、すなわち印字期間C1,C
1′と印字休止期間C0,C0′との境界におい
て、センサ出力信号S0の波形が第19図a,cに
示すように過渡的に乱れ、これにより印字期間C
1,C1′の始端および終端での印字タイミング
に誤差が生じた。第19図において、taは所定
(本来)の印字期間C1の開始の時点であるが、
不所望な位置検出パルスP0によつて実際には誤
つた時点ta′から印字が開始される。
上記のようなセンサ出力信号S0の波形の乱れ
は、磁気リニアスケールの製造段階において着磁
用磁気ヘツドのヒステリシス特性により着磁部1
0aの端部から非着磁部10bにかけて形成され
る不所望な磁区による磁界を、MR素子F1〜F
4が感知することによつて生ずると考えられる。
は、磁気リニアスケールの製造段階において着磁
用磁気ヘツドのヒステリシス特性により着磁部1
0aの端部から非着磁部10bにかけて形成され
る不所望な磁区による磁界を、MR素子F1〜F
4が感知することによつて生ずると考えられる。
本発明は、従来技術の上記問題点に鑑みてなさ
れたもので、改善された磁気リニアスケールと信
号処理技術とを用いて正確で安定した印字タイミ
ングを得るようにしたシヤトル方式シリアルライ
ンプリンタを提供することを目的とする。
れたもので、改善された磁気リニアスケールと信
号処理技術とを用いて正確で安定した印字タイミ
ングを得るようにしたシヤトル方式シリアルライ
ンプリンタを提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
上記目的を達成する本発明の構成は、紙送り方
向と略直角な所定方向に複数のプリント素子をア
レイ状に取り付けてなるヘツドバンクを所定方向
に往復直線運動させる間に各プリント素子を複数
の所定ドツト位置に印字駆動し、該所定方向にN
極、S極を一定ピツチで交互に配例してなる着磁
部を有する磁気リニアスケールおよびそれと対向
する磁気抵抗効果素子の一方をヘツドバンクと一
体的に運動させるとともに他方を固定配置し、磁
気抵抗効果素子のセンサ出力信号に基づいてプリ
ント素子を印字駆動するためのタイミングを得る
ようにしたシヤトル方式シリアルラインプリンタ
において、磁気リニアスケールの着磁部の両端に
その磁界が磁気抵抗効果素子によつて実質的に感
知されないような極小のピツでN極、S極を配列
してなる補助着磁部を設け;前記センサ出力信号
の中心レベル付近に設定された第1の基準電圧、
その第1の基準電圧よりも幾らか高い第2の基準
電圧、および前記第1の基準電圧よりも幾らか低
い第3の基準電圧を発生する基準電圧発生手段
と、前記センサ出力信号が前記第1の基準電圧か
ら前記第2の基準電圧に至るまでの期間、および
前記センサ出力信号が前記第1の基準電圧から前
記第3の基準電圧に至るまでの期間をそれぞれパ
ルス幅として位置検出パルスを発生する手段とを
具備する;ことを特徴とする。
向と略直角な所定方向に複数のプリント素子をア
レイ状に取り付けてなるヘツドバンクを所定方向
に往復直線運動させる間に各プリント素子を複数
の所定ドツト位置に印字駆動し、該所定方向にN
極、S極を一定ピツチで交互に配例してなる着磁
部を有する磁気リニアスケールおよびそれと対向
する磁気抵抗効果素子の一方をヘツドバンクと一
体的に運動させるとともに他方を固定配置し、磁
気抵抗効果素子のセンサ出力信号に基づいてプリ
ント素子を印字駆動するためのタイミングを得る
ようにしたシヤトル方式シリアルラインプリンタ
において、磁気リニアスケールの着磁部の両端に
その磁界が磁気抵抗効果素子によつて実質的に感
知されないような極小のピツでN極、S極を配列
してなる補助着磁部を設け;前記センサ出力信号
の中心レベル付近に設定された第1の基準電圧、
その第1の基準電圧よりも幾らか高い第2の基準
電圧、および前記第1の基準電圧よりも幾らか低
い第3の基準電圧を発生する基準電圧発生手段
と、前記センサ出力信号が前記第1の基準電圧か
ら前記第2の基準電圧に至るまでの期間、および
前記センサ出力信号が前記第1の基準電圧から前
記第3の基準電圧に至るまでの期間をそれぞれパ
ルス幅として位置検出パルスを発生する手段とを
具備する;ことを特徴とする。
(作用)
ヘツドバンクが所定方向に往復直線運動すると
き、磁気抵抗効果素子は磁気リニアスケールに対
して相対的に往復直線運動する。
き、磁気抵抗効果素子は磁気リニアスケールに対
して相対的に往復直線運動する。
磁気抵抗効果素子が磁気リニアスケールの着磁
部を通るときには、一定ピツチで配列されたN極
S極の周期的な磁界に応答して周期的な波形のセ
ンサ出力信号が発生する。
部を通るときには、一定ピツチで配列されたN極
S極の周期的な磁界に応答して周期的な波形のセ
ンサ出力信号が発生する。
また、磁気抵抗効果素子が磁気リニアスケール
の着磁されてない部分、すなわち非着磁部を通る
ときには、感知されるほどの磁界がないのでセン
サ出力信号は発生しない。
の着磁されてない部分、すなわち非着磁部を通る
ときには、感知されるほどの磁界がないのでセン
サ出力信号は発生しない。
そして、磁気抵抗効果素子が磁気リニアスケー
ルの着磁部の両端を通るときには補助着磁部と対
向するが、ここではN極、S極が極めて小さなピ
ツチで配列しておりその磁界が磁気リニアスケー
ルによつて検出されず、しかも着磁部の形成時に
磁気ヘツドの磁気ヒステリシス特性に基づく不所
望な磁区を打ち消しているので、センサ出力信号
を発生せしめるほどの磁界が存在しない。
ルの着磁部の両端を通るときには補助着磁部と対
向するが、ここではN極、S極が極めて小さなピ
ツチで配列しておりその磁界が磁気リニアスケー
ルによつて検出されず、しかも着磁部の形成時に
磁気ヘツドの磁気ヒステリシス特性に基づく不所
望な磁区を打ち消しているので、センサ出力信号
を発生せしめるほどの磁界が存在しない。
したがつて、磁気抵抗効果素子が磁気リニアス
ケールの非着磁部から補助着磁部を通り抜けて着
磁部に対向するようになつたときに、瞬時に正規
の(乱れない)波形のセンサ出力信号が発生し、
これにより所定のタイミングで印字が開始され
る。また、磁気抵抗効果素子が着磁部を通るとき
に正規な波形で連続的に発生していたセンサ出力
信号は、磁気抵抗効果素子が補助着磁部と対向す
るようになつたときから瞬時に波形が乱れること
なく絶える。
ケールの非着磁部から補助着磁部を通り抜けて着
磁部に対向するようになつたときに、瞬時に正規
の(乱れない)波形のセンサ出力信号が発生し、
これにより所定のタイミングで印字が開始され
る。また、磁気抵抗効果素子が着磁部を通るとき
に正規な波形で連続的に発生していたセンサ出力
信号は、磁気抵抗効果素子が補助着磁部と対向す
るようになつたときから瞬時に波形が乱れること
なく絶える。
こうして得られたセンサ出力信号が信号処理を
受けることによつて位置検出パルスが生成される
が、本発明では、センサ出力信号が第1の基準電
圧を切る(越える、または割る)だけでなく第2
の基準電圧または第3の基準電圧をも切らなけれ
ば位置検出パルスが発生しないので、第2の基準
電圧と第3の基準電圧との間でセンサ出力信号の
レベルが例えばオフセツト等で変動しても、位置
検出パルスの発生するタイミングには影響せず、
したがつて各印字期間の始端および終端において
安定した一定の印字タイミングが得られる。
受けることによつて位置検出パルスが生成される
が、本発明では、センサ出力信号が第1の基準電
圧を切る(越える、または割る)だけでなく第2
の基準電圧または第3の基準電圧をも切らなけれ
ば位置検出パルスが発生しないので、第2の基準
電圧と第3の基準電圧との間でセンサ出力信号の
レベルが例えばオフセツト等で変動しても、位置
検出パルスの発生するタイミングには影響せず、
したがつて各印字期間の始端および終端において
安定した一定の印字タイミングが得られる。
(実施例)
第1図ないし第9図を参照して本発明の実施例
を説明する。なお、第10図の構成は本実施例で
も使用される。
を説明する。なお、第10図の構成は本実施例で
も使用される。
第1図は、本実施例による磁気リニアスケール
100を示す。
100を示す。
磁気リニアスケール100の位置検出信号を得
るための着磁部100aは、N極、S極を普通の
例えば423μmのピツチPaで交互に配列してなる
構成である。
るための着磁部100aは、N極、S極を普通の
例えば423μmのピツチPaで交互に配列してなる
構成である。
着磁部100aの両端、すなわち非着磁部10
0bと隣接する部分には、本実施例による補助磁
極100a′が設けられている。この補助磁極10
0a′はN極、S極を磁気抵抗効果素子(MR素
子)が実質的に検出しないような、例えば2〜
3μmの極小ピツチPa′で交互に配列してなる構成
である。これら補助磁極100aの長さまたは延
長範囲Lは約1ピツチPa(423μm)に選ばれてい
る。
0bと隣接する部分には、本実施例による補助磁
極100a′が設けられている。この補助磁極10
0a′はN極、S極を磁気抵抗効果素子(MR素
子)が実質的に検出しないような、例えば2〜
3μmの極小ピツチPa′で交互に配列してなる構成
である。これら補助磁極100aの長さまたは延
長範囲Lは約1ピツチPa(423μm)に選ばれてい
る。
第2図は、本実施例によるMR素子取付体20
0を示す。
0を示す。
このMR素子取付体200には、第1のMR素
子F1〜F4および第2のMR素子G1〜G4が
それぞれ0.5HのピツチでA,A′方向に配列され、
第3図a,bに示すようにブリツジ接続された第
1および第2のセンサ回路202,204を形成
する。
子F1〜F4および第2のMR素子G1〜G4が
それぞれ0.5HのピツチでA,A′方向に配列され、
第3図a,bに示すようにブリツジ接続された第
1および第2のセンサ回路202,204を形成
する。
磁気リニアスケール100はヘツドバンク1
(図示せず)の下側部分に一体的に取り付けられ、
MR素子取付体200はシヤーシベース(図示せ
ず)に固定されてよい。したがつて、ヘツドバン
ク1がA,A′方向に直線運動するとき磁気リニ
アスケール100も一緒に運動し、MR素子取付
体200の各MR素子は磁気リニアスケール10
0に対してその長さ方向すなわちA,A′方向に
相対的な直線運動を行い、第1のセンサ回路20
2の出力端子210,212から第4図に示すよ
うな周期的波形(正確には正弦波状)の第1のセ
ンサ出力信号Saが得られる。
(図示せず)の下側部分に一体的に取り付けられ、
MR素子取付体200はシヤーシベース(図示せ
ず)に固定されてよい。したがつて、ヘツドバン
ク1がA,A′方向に直線運動するとき磁気リニ
アスケール100も一緒に運動し、MR素子取付
体200の各MR素子は磁気リニアスケール10
0に対してその長さ方向すなわちA,A′方向に
相対的な直線運動を行い、第1のセンサ回路20
2の出力端子210,212から第4図に示すよ
うな周期的波形(正確には正弦波状)の第1のセ
ンサ出力信号Saが得られる。
本実施例によれば、MR素子取付体200が磁
気リニアスケール100の補助着磁部100a′を
通り過ぎるとき、すなわち第4図の期間Taにお
いて、センサ出力信号Saの波形が特に乱れる
(脈動する)ことがない。これは、補助磁極10
0a′が着磁部100aの端部における乱れた磁区
を打ち消すとともに、補助磁極100a′自体のピ
ツチが極めて小さいためにその磁界がMR素子に
よつて検出されないからである。
気リニアスケール100の補助着磁部100a′を
通り過ぎるとき、すなわち第4図の期間Taにお
いて、センサ出力信号Saの波形が特に乱れる
(脈動する)ことがない。これは、補助磁極10
0a′が着磁部100aの端部における乱れた磁区
を打ち消すとともに、補助磁極100a′自体のピ
ツチが極めて小さいためにその磁界がMR素子に
よつて検出されないからである。
なお、第2のセンサ回路204の出力端子21
4,216からも第4図のセンサ出力信号Saと
同様な波形のセンサ出力信号Sbが得られるが、
ただし位相が90゜異なる。すなわち、ヘツドバン
ク1がA方向に移動するときには、第5図aに示
すように第1のセンサ出力信号Saに対して第2
のセンサ出力信号Sbの位相は90゜遅れる。しかし、
ヘツドバンク1がA′方向に移動するときには、
第5図bに示すように第1のセンサ出力信号Sa
に対して第2のセンサ出力信号Sbの位相は90゜進
む。
4,216からも第4図のセンサ出力信号Saと
同様な波形のセンサ出力信号Sbが得られるが、
ただし位相が90゜異なる。すなわち、ヘツドバン
ク1がA方向に移動するときには、第5図aに示
すように第1のセンサ出力信号Saに対して第2
のセンサ出力信号Sbの位相は90゜遅れる。しかし、
ヘツドバンク1がA′方向に移動するときには、
第5図bに示すように第1のセンサ出力信号Sa
に対して第2のセンサ出力信号Sbの位相は90゜進
む。
ところで、上述のようにして得られた正弦波状
のセンサ出力信号Sa,Sbを、従来のように矩形
波パルスに波形整形してその立ち上がり、立ち下
がりのタイミングで位置検出パルスPiを生成する
ようにすると、印字休止期間Co,Co′におけるセ
ンサ出力信号Sa,Sbのオフセツトレベルによつ
て印字期間C1,C1′の始端および後端で位置
検出パルスが出たり出なかつたりするという問題
が残る。
のセンサ出力信号Sa,Sbを、従来のように矩形
波パルスに波形整形してその立ち上がり、立ち下
がりのタイミングで位置検出パルスPiを生成する
ようにすると、印字休止期間Co,Co′におけるセ
ンサ出力信号Sa,Sbのオフセツトレベルによつ
て印字期間C1,C1′の始端および後端で位置
検出パルスが出たり出なかつたりするという問題
が残る。
その様子を第6図に示す。印字休止期間Co,
Co′においてセンサ出力信号Sa,Sbのレベルが中
心レベルつまりゼロクロスレベルVCに一致すれ
ば問題ないが、実際にはMR素子その他の回路素
子のバラツキによつて第6図aの実線で示すよう
にゼロクロスレベルVCより高かつたり点線で示
すようにそれより低かつたりする。
Co′においてセンサ出力信号Sa,Sbのレベルが中
心レベルつまりゼロクロスレベルVCに一致すれ
ば問題ないが、実際にはMR素子その他の回路素
子のバラツキによつて第6図aの実線で示すよう
にゼロクロスレベルVCより高かつたり点線で示
すようにそれより低かつたりする。
そうすると、印字期間C1,C1′の始端およ
び終端において、実線のレベルの場合にはゼロク
ロスレベルVCを切らないので位置検出パルスPi
が発生しないが、点線のレベルの場合にはゼロク
ロスレベルVCを切るので位置検出パルスPi′が発
生し、結果的に印字動作が不確定で印字品質が低
下する。
び終端において、実線のレベルの場合にはゼロク
ロスレベルVCを切らないので位置検出パルスPi
が発生しないが、点線のレベルの場合にはゼロク
ロスレベルVCを切るので位置検出パルスPi′が発
生し、結果的に印字動作が不確定で印字品質が低
下する。
しかし本実施例では、第7図に示す信号処理回
路によつて上述の問題を解決している。
路によつて上述の問題を解決している。
この信号処理回路は、同じ構成を有する第1お
よび第2の信号処理部300A,300Bとアン
ドゲート360とからなる。
よび第2の信号処理部300A,300Bとアン
ドゲート360とからなる。
第1の信号処理部300Aにおいて、入力端子
302a,304aは、第1のセンサ回路202
の出力端子210,212(第3図a)にそれぞ
れ接続され、第1のセンサ出力信号Saを受け取
る。入力された第1のセンサ出力信号Saは、抵
抗306a,308a,310a,312aによ
り差動増幅器として動作する演算増幅器314a
で第8図aに示すような信号波形に増幅されたの
ち、抵抗316a,324a,332aをそれぞ
れ介して演算増幅器320a,328a,336
aの反転入力端子に供給される。これら演算増幅
器320a,328a,336aの非反転入力端
子には、基準電圧発生回路340aから第1、第
2および第3の基準電圧V1,V2,V3がそれ
ぞれ供給される。第1の基準電圧V1は第1のセ
ンサ出力信号Saの略中心レベルVCに設定され、
第2の基準電圧V2は第1の基準電圧V1に対し
幾分高く(オフセツトレベル分よりは高く)設定
され、第3の基準電圧V3は第1の基準電圧V1
に対し幾分低く(オフセツトレベル分よりは低
く)設定される。演算増幅器320a,328
a,336aの各々の反転入力端子と出力端子間
には帰還抵抗318a,326a,334aが接
続されるとともに各出力端子はプルアツプ抵抗3
22a,330a,338aを介して電源電圧+
Vcc(“1”)に接続され、これにより各演算増幅
器320a,328a,336aはそれぞれ第
1、第2および第3の基準電圧V1,V2,V3
についてのコンバレータまたは波形整形回路とし
て動作する。而して、演算増幅器320a,32
8a,336aの出力端子には、第8図b,c,
dに示すような矩形波信号またはパルスEa1,
Ea2,Ea3がそれぞれ得られる。パルスEa1
は、D型フリツプフロツプ346aのクロツク入
力端子CLに反転回路344aを介して供給され
るとともにD型フリツプフロツプ348aのクロ
ツク入力端子CLに直接供給される。またパルス
Ea2はD型フリツプフロツプ346aのリセツ
ト端子Rに反転回路342aを介して供給され、
パルスEa3はD型フリツプフロツプ348aの
リセツト端子Rに直接供給される。それらD型フ
リツプフロツプ346a,348aのデータ入力
端子Dは電源電圧+Vcc(“1”)を常時受けてい
る。したがつて、D型フリツプフロツプ346a
はパルスEa1の立ち下がりで(すなわち反転回
路344aの出力電圧の立ち上がりで)“1”の
データを取り込み、これによつてその反転出力端
子の出力電圧は“0”に立ち下がる。またD型
フリツプフロツプ346aはパルスEa2の立ち
上がりでリセツトされ、これによつてその反転出
力端子の出力電圧が“1”に立ち下がる。而し
て、D型フリツプフロツプ346aからアンドゲ
ート350aの一方の入力端子に第8図eに示す
ようなパルスJa1が与えられる。他方、D型フ
リツプフロツプ348aはパルスEa1の立ち上
がりで“1”のデータを取り込み、これによつて
その反転出力端子の出力電圧は“0”に立ち下
がり、またD型フリツプフロツプ348aはパル
スEa3の立ち上がりでリセツトされ、これによ
つてその反転出力端子の出力電圧が“1”に立
ち上がる。而して、D型フリツプフロツプ348
aからアンドゲート350aの他方の入力端子に
第8図fに示すようなパルスJa2が与えられる。
その結果アンドゲート350aの出力端子には第
8図gに示すようなパルスJaが得られ、これは
アンドゲート360の一方の入力端子に供給され
る。
302a,304aは、第1のセンサ回路202
の出力端子210,212(第3図a)にそれぞ
れ接続され、第1のセンサ出力信号Saを受け取
る。入力された第1のセンサ出力信号Saは、抵
抗306a,308a,310a,312aによ
り差動増幅器として動作する演算増幅器314a
で第8図aに示すような信号波形に増幅されたの
ち、抵抗316a,324a,332aをそれぞ
れ介して演算増幅器320a,328a,336
aの反転入力端子に供給される。これら演算増幅
器320a,328a,336aの非反転入力端
子には、基準電圧発生回路340aから第1、第
2および第3の基準電圧V1,V2,V3がそれ
ぞれ供給される。第1の基準電圧V1は第1のセ
ンサ出力信号Saの略中心レベルVCに設定され、
第2の基準電圧V2は第1の基準電圧V1に対し
幾分高く(オフセツトレベル分よりは高く)設定
され、第3の基準電圧V3は第1の基準電圧V1
に対し幾分低く(オフセツトレベル分よりは低
く)設定される。演算増幅器320a,328
a,336aの各々の反転入力端子と出力端子間
には帰還抵抗318a,326a,334aが接
続されるとともに各出力端子はプルアツプ抵抗3
22a,330a,338aを介して電源電圧+
Vcc(“1”)に接続され、これにより各演算増幅
器320a,328a,336aはそれぞれ第
1、第2および第3の基準電圧V1,V2,V3
についてのコンバレータまたは波形整形回路とし
て動作する。而して、演算増幅器320a,32
8a,336aの出力端子には、第8図b,c,
dに示すような矩形波信号またはパルスEa1,
Ea2,Ea3がそれぞれ得られる。パルスEa1
は、D型フリツプフロツプ346aのクロツク入
力端子CLに反転回路344aを介して供給され
るとともにD型フリツプフロツプ348aのクロ
ツク入力端子CLに直接供給される。またパルス
Ea2はD型フリツプフロツプ346aのリセツ
ト端子Rに反転回路342aを介して供給され、
パルスEa3はD型フリツプフロツプ348aの
リセツト端子Rに直接供給される。それらD型フ
リツプフロツプ346a,348aのデータ入力
端子Dは電源電圧+Vcc(“1”)を常時受けてい
る。したがつて、D型フリツプフロツプ346a
はパルスEa1の立ち下がりで(すなわち反転回
路344aの出力電圧の立ち上がりで)“1”の
データを取り込み、これによつてその反転出力端
子の出力電圧は“0”に立ち下がる。またD型
フリツプフロツプ346aはパルスEa2の立ち
上がりでリセツトされ、これによつてその反転出
力端子の出力電圧が“1”に立ち下がる。而し
て、D型フリツプフロツプ346aからアンドゲ
ート350aの一方の入力端子に第8図eに示す
ようなパルスJa1が与えられる。他方、D型フ
リツプフロツプ348aはパルスEa1の立ち上
がりで“1”のデータを取り込み、これによつて
その反転出力端子の出力電圧は“0”に立ち下
がり、またD型フリツプフロツプ348aはパル
スEa3の立ち上がりでリセツトされ、これによ
つてその反転出力端子の出力電圧が“1”に立
ち上がる。而して、D型フリツプフロツプ348
aからアンドゲート350aの他方の入力端子に
第8図fに示すようなパルスJa2が与えられる。
その結果アンドゲート350aの出力端子には第
8図gに示すようなパルスJaが得られ、これは
アンドゲート360の一方の入力端子に供給され
る。
第2の信号処理部300Bは、第2のセンサ信
号Sbを入力してこれに同じ信号処理を施すので、
そのアンドゲート350bの出力端子には上記パ
ルスJaと位相が90゜異なるパルスJbが得られ、こ
れはアンドゲート360の他方の入力端子に供給
される。したがつて、アンドゲート360の出力
端子には第8図hに示すような位置検出パルスPi
が得られる。なお、第1のセンサ出力信号Saに
対して第2のセンサ出力信号Sbは印字期間C
1′では位相が90゜進み印字期間C1では位相が
90゜遅れる。したがつて、第1のセンサ出力信号
Saに基づくアンドゲート350aからのパルス
Jaが、印字期間C1′の終端では最後の位置検出
パルスPieとなり、印字期間C1の始端では最初
の位置検出パルスPisとなる。
号Sbを入力してこれに同じ信号処理を施すので、
そのアンドゲート350bの出力端子には上記パ
ルスJaと位相が90゜異なるパルスJbが得られ、こ
れはアンドゲート360の他方の入力端子に供給
される。したがつて、アンドゲート360の出力
端子には第8図hに示すような位置検出パルスPi
が得られる。なお、第1のセンサ出力信号Saに
対して第2のセンサ出力信号Sbは印字期間C
1′では位相が90゜進み印字期間C1では位相が
90゜遅れる。したがつて、第1のセンサ出力信号
Saに基づくアンドゲート350aからのパルス
Jaが、印字期間C1′の終端では最後の位置検出
パルスPieとなり、印字期間C1の始端では最初
の位置検出パルスPisとなる。
ところで、印字休止期間Coにおいて、演算増
幅器314aからのセンサ出力信号Saのレベル
が第8図aの実線で示すようにゼロクロスレベル
VCよりも高い場合には、印字期間C1′の終端お
よび印字期間C1の始端においてセンサ出力信号
SaがゼロクロスレベルVCを切らないので、演算
増幅器320aの出力電圧Ea1は“0”レベル
を維持する。これにより、フリツプフロツプ34
6aの出力電圧Ja1、フリツプフロツプ348
aの出力電圧Ja2およびアンドゲート350a
の出力電圧Jaはそれぞれ第8図c,d,eの実
線で示すようになる。而して、印字期間C1′の
終端においては時点teで最後の位置検出パルス
Pieが発生し、印字期間C1の始端においては時
点tsで最初の位置検出パルスPisが発生する。
幅器314aからのセンサ出力信号Saのレベル
が第8図aの実線で示すようにゼロクロスレベル
VCよりも高い場合には、印字期間C1′の終端お
よび印字期間C1の始端においてセンサ出力信号
SaがゼロクロスレベルVCを切らないので、演算
増幅器320aの出力電圧Ea1は“0”レベル
を維持する。これにより、フリツプフロツプ34
6aの出力電圧Ja1、フリツプフロツプ348
aの出力電圧Ja2およびアンドゲート350a
の出力電圧Jaはそれぞれ第8図c,d,eの実
線で示すようになる。而して、印字期間C1′の
終端においては時点teで最後の位置検出パルス
Pieが発生し、印字期間C1の始端においては時
点tsで最初の位置検出パルスPisが発生する。
また印字休止期間Coにおいて、演算増幅器3
14aからのセンサ出力信号Saのレベルが第8
図aの点線で示すようにゼロクロスレベルVCよ
りも低い場合には、印字期間C1′の終端および
印字期間C1の始端においてセンサ出力信号Sa
がゼロクロスレベルVCを切る。これにより演算
増幅器320aの出力電圧Ea1は、8図bの点
線で示すように、印字期間C1′の終端で“0”
レベルから“1”レベルに変化し、印字休止期間
Co中は“1”レベルを維持し、印字期間C1の
始端で“1”レベルから“0”レベルに変化す
る。その結果、フリツプフロツプ346aの出力
電圧Ja1、フリツプフロツプ348aの出力電
圧およびアンドゲート350aの出力電圧はそれ
ぞれ第8図c,d,eの点線で示すようになり、
印字期間C1の始端でフリツプフロツプ346a
からパルス〔Ja1〕が発生するが、フリツプフ
ロツプ348aの出力電圧が“0”になつている
ためにアンドゲート350aの出力端子に該パル
ス〔Ja1〕が現れず、結果として時点tsで最初の
位置検出パルスPisが発生する。
14aからのセンサ出力信号Saのレベルが第8
図aの点線で示すようにゼロクロスレベルVCよ
りも低い場合には、印字期間C1′の終端および
印字期間C1の始端においてセンサ出力信号Sa
がゼロクロスレベルVCを切る。これにより演算
増幅器320aの出力電圧Ea1は、8図bの点
線で示すように、印字期間C1′の終端で“0”
レベルから“1”レベルに変化し、印字休止期間
Co中は“1”レベルを維持し、印字期間C1の
始端で“1”レベルから“0”レベルに変化す
る。その結果、フリツプフロツプ346aの出力
電圧Ja1、フリツプフロツプ348aの出力電
圧およびアンドゲート350aの出力電圧はそれ
ぞれ第8図c,d,eの点線で示すようになり、
印字期間C1の始端でフリツプフロツプ346a
からパルス〔Ja1〕が発生するが、フリツプフ
ロツプ348aの出力電圧が“0”になつている
ためにアンドゲート350aの出力端子に該パル
ス〔Ja1〕が現れず、結果として時点tsで最初の
位置検出パルスPisが発生する。
このように、印字休止期間Coにおいてセンサ
出力信号Sa(およびSb)のレベルがオフセツトし
てゼロクロスレベルVCより高くなつたり低くな
つたりしても、印字期間C1′の最後の位置検出
パルスPieおよび印字期間C1の最初の位置検出
パルスPisは常に一定のタイミングte,tsで発生
する。
出力信号Sa(およびSb)のレベルがオフセツトし
てゼロクロスレベルVCより高くなつたり低くな
つたりしても、印字期間C1′の最後の位置検出
パルスPieおよび印字期間C1の最初の位置検出
パルスPisは常に一定のタイミングte,tsで発生
する。
なお、本実施例では、位置検出パルスPiの立ち
上がりで印字駆動がトリガされるようになつてお
り、したがつてアンドゲート360の出力電圧が
立ち下がつても印字タイミングを与えることはな
い。
上がりで印字駆動がトリガされるようになつてお
り、したがつてアンドゲート360の出力電圧が
立ち下がつても印字タイミングを与えることはな
い。
第9図は、印字期間C1の終端、印字休止期間
Co′および印字期間C1′の始端における動作を
説明するためのタイミング図である。この場合で
も印字休止期間Co′においてセンサ出力信号Saの
レベルがゼロクロスレベルVCよりも高くなつた
り低くなつたりすると、それに応じて演算増幅器
320a、フリツプフロツプ346a,348
a、アンドゲート350a,360のそれぞれの
出力電圧が図の実線、点線で示すように変動する
が、やはり印字期間C1の終端では一定のタイミ
ングte′で最後の位置検出パルスPieが発生し、印
字期間C1′の始端では一定のタイミングts′で最
初の位置検出パルスPisが発生する。なお、この
場合には、第8図とは逆に、第2のセンサ出力信
号Sbに基づくアンドゲート350bからのパル
スJbが印字期間C1の終端において最終の位置
検出パルスPieになり印字期間C1′の始端におい
て最初の位置検出パルスPisになる。
Co′および印字期間C1′の始端における動作を
説明するためのタイミング図である。この場合で
も印字休止期間Co′においてセンサ出力信号Saの
レベルがゼロクロスレベルVCよりも高くなつた
り低くなつたりすると、それに応じて演算増幅器
320a、フリツプフロツプ346a,348
a、アンドゲート350a,360のそれぞれの
出力電圧が図の実線、点線で示すように変動する
が、やはり印字期間C1の終端では一定のタイミ
ングte′で最後の位置検出パルスPieが発生し、印
字期間C1′の始端では一定のタイミングts′で最
初の位置検出パルスPisが発生する。なお、この
場合には、第8図とは逆に、第2のセンサ出力信
号Sbに基づくアンドゲート350bからのパル
スJbが印字期間C1の終端において最終の位置
検出パルスPieになり印字期間C1′の始端におい
て最初の位置検出パルスPisになる。
(発明の効果)
以上のように、本発明では、磁気リニアスケー
ルの着磁部の両端にその磁界が磁気抵抗効果素子
によつて実質的に感知されないような極小のピツ
チでN極、S極を配列してなる補助着磁部を設け
ることにより印字期間の始端、後端においてセン
サ出力信号が瞬時に正規な波形で現れ、消失する
ようにし、且つセンサ出力信号の中心レベル付近
に設定された第1、第2および第3の基準電圧を
比較基準電圧として位置検出パルスを形成するの
で、印字休止期間においてセンサ出力信号のレベ
ルがオフセツトしても印字期間の始端および終端
において安定した一定の印字タイミングが得られ
る。
ルの着磁部の両端にその磁界が磁気抵抗効果素子
によつて実質的に感知されないような極小のピツ
チでN極、S極を配列してなる補助着磁部を設け
ることにより印字期間の始端、後端においてセン
サ出力信号が瞬時に正規な波形で現れ、消失する
ようにし、且つセンサ出力信号の中心レベル付近
に設定された第1、第2および第3の基準電圧を
比較基準電圧として位置検出パルスを形成するの
で、印字休止期間においてセンサ出力信号のレベ
ルがオフセツトしても印字期間の始端および終端
において安定した一定の印字タイミングが得られ
る。
第1図は、本発明の一実施例による磁気リニア
スケール100の構成を示す斜視図、第2図は、
上記実施例における磁気抵抗効果素子F1〜F
4,G1〜G4の配置構成を示す斜視図、第3図
は、上記実施例における第1および第2のセンサ
回路202,204の接続構成を示す回路図、第
4図は、上記実施例において第1のセンサ回路2
02の出力端子より得られる第1のセンサ出力信
号Saの信号波形図、第5図は、第1のセンサ出
力信号Saと第2のセンサ出力信号Sbとの位相関
係を示す信号波形図、第6図は、センサ出力信号
Sa,Sbのオフセツトレベルに起因する不都合を
説明するためのタイミング図、第7図は、第1お
よび第2のセンサ出力信号Sa,Sbを入力して位
置検出パルスPiを生成する信号処理回路、第8図
および第9図は、上記信号処理回路の動作を説明
するための各部の信号を示すタイミング図、第1
0図は、シヤトル方式シリアルラインプリンタの
ヘツドバンクを示す略斜視図、第11図は、上記
ヘツドバンクの運動特性を示す図、第12図は、
上記シリアルラインプリンタにおいて所定ドツト
位置Qiと位置検出パルスPiとのタイミング関係
を示す図、第13図、第14図および第15図
は、磁気リニアスケールと磁気抵抗効果素子
(MR素子)間の相対的位置関係を示す図、第1
6図は、磁気抵抗効果素子からなるセンサ回路の
回路図、第17図は、上記センサ回路より発生さ
れるセンサ出力信号の波形図、第18図は、上記
シリアルラインプリンタにおいて磁気リニアスケ
ールとMR素子取付体との取付位置関係を示す斜
視図、および第19図は、従来のシリアルライン
プリンタにおける問題点を示す信号波形図であ
る。 1…ヘツドバンク、D1〜Do…プリント素子、
100…磁気リニアスケール、100a…着磁
部、100a′…補助着磁部、100b…非着磁
部、F1〜F4,G1〜G4…磁気抵抗効果素子
(MR素子)、200…MR素子取付体、202,
204…センサ回路、300A,300B…信号
処理部、322a,322b,328a,328
b,336a,336b…演算増幅器、340
a,340b…基準電圧発生器、346a,34
6b,348a,348b…D型フリツプフロツ
プ、360…アンドゲート。
スケール100の構成を示す斜視図、第2図は、
上記実施例における磁気抵抗効果素子F1〜F
4,G1〜G4の配置構成を示す斜視図、第3図
は、上記実施例における第1および第2のセンサ
回路202,204の接続構成を示す回路図、第
4図は、上記実施例において第1のセンサ回路2
02の出力端子より得られる第1のセンサ出力信
号Saの信号波形図、第5図は、第1のセンサ出
力信号Saと第2のセンサ出力信号Sbとの位相関
係を示す信号波形図、第6図は、センサ出力信号
Sa,Sbのオフセツトレベルに起因する不都合を
説明するためのタイミング図、第7図は、第1お
よび第2のセンサ出力信号Sa,Sbを入力して位
置検出パルスPiを生成する信号処理回路、第8図
および第9図は、上記信号処理回路の動作を説明
するための各部の信号を示すタイミング図、第1
0図は、シヤトル方式シリアルラインプリンタの
ヘツドバンクを示す略斜視図、第11図は、上記
ヘツドバンクの運動特性を示す図、第12図は、
上記シリアルラインプリンタにおいて所定ドツト
位置Qiと位置検出パルスPiとのタイミング関係
を示す図、第13図、第14図および第15図
は、磁気リニアスケールと磁気抵抗効果素子
(MR素子)間の相対的位置関係を示す図、第1
6図は、磁気抵抗効果素子からなるセンサ回路の
回路図、第17図は、上記センサ回路より発生さ
れるセンサ出力信号の波形図、第18図は、上記
シリアルラインプリンタにおいて磁気リニアスケ
ールとMR素子取付体との取付位置関係を示す斜
視図、および第19図は、従来のシリアルライン
プリンタにおける問題点を示す信号波形図であ
る。 1…ヘツドバンク、D1〜Do…プリント素子、
100…磁気リニアスケール、100a…着磁
部、100a′…補助着磁部、100b…非着磁
部、F1〜F4,G1〜G4…磁気抵抗効果素子
(MR素子)、200…MR素子取付体、202,
204…センサ回路、300A,300B…信号
処理部、322a,322b,328a,328
b,336a,336b…演算増幅器、340
a,340b…基準電圧発生器、346a,34
6b,348a,348b…D型フリツプフロツ
プ、360…アンドゲート。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 紙送り方向と略直角な所定方向に複数のプリ
ント素子をアレイ状に取り付けてなるヘツドバン
クを前記所定方向に往復直線運動させる間に各プ
リント素子を複数の所定ドツト位置に印字駆動
し、前記所定方向にN極、S極を一定ピツチで交
互に配列してなる着磁部を有する磁気リニアスケ
ールおよびそれと対向する磁気抵抗効果素子の一
方を前記ヘツドバンクと一体的に運動させるとと
もに他方を固定配置し、前記ヘツドバンクが運動
するときに前記磁気抵抗効果素子より得られる周
期的波形のセンサ出力信号に基づいてプリント素
子を印字駆動するためのタイミングを与える位置
検出パルスを得るシヤトル方式シリアルラインプ
リンタにおいて、 前記磁気リニアスケールの着磁部の両端にその
磁界が磁気抵抗効果素子によつて実質的に検出さ
れないような極小のピツチでN極、S極を配列し
てなる補助着磁部を設け; 前記センサ出力信号の中心レベル付近に設定さ
れた第1の基準電圧、その第1の基準電圧よりも
幾らか高い第2の基準電圧、および前記第1の基
準電圧よりも幾らか低い第3の基準電圧を発生す
る基準電圧発生手段と、前記センサ出力信号が前
記第1の基準電圧から前記第2の基準電圧に至る
までの期間、および前記センサ出力信号が前記第
1の基準電圧から前記第3の基準電圧に至るまで
の期間をそれぞれパルス幅として位置検出パルス
を発生する手段とを備える; ことを特徴とするシヤトル方式シリアルラインプ
リンタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24309885A JPS62103152A (ja) | 1985-10-30 | 1985-10-30 | シャトル方式シリアルラインプリンタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24309885A JPS62103152A (ja) | 1985-10-30 | 1985-10-30 | シャトル方式シリアルラインプリンタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62103152A JPS62103152A (ja) | 1987-05-13 |
| JPH0360317B2 true JPH0360317B2 (ja) | 1991-09-13 |
Family
ID=17098758
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24309885A Granted JPS62103152A (ja) | 1985-10-30 | 1985-10-30 | シャトル方式シリアルラインプリンタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62103152A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9574906B2 (en) * | 2013-10-28 | 2017-02-21 | Hitachi Metals, Ltd. | Magnetic medium for magnetic encoder, magnetic encoder and method for manufacturing magnetic medium |
-
1985
- 1985-10-30 JP JP24309885A patent/JPS62103152A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62103152A (ja) | 1987-05-13 |
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