JPH036123A - 論理入力回路 - Google Patents
論理入力回路Info
- Publication number
- JPH036123A JPH036123A JP1140404A JP14040489A JPH036123A JP H036123 A JPH036123 A JP H036123A JP 1140404 A JP1140404 A JP 1140404A JP 14040489 A JP14040489 A JP 14040489A JP H036123 A JPH036123 A JP H036123A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- channel mosfet
- level
- noise
- channel
- ground
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010030 laminating Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
Landscapes
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体記憶装置などに用いられTTLレベル
の入力電圧を受ける論理入力回路に関する。
の入力電圧を受ける論理入力回路に関する。
第2図は、従来の半導体記憶装置の一例の入力段回路図
である0図において、1は入力端子、2は出力端子、Q
!はPチャネルM OS F E T 、 Q sはN
チャネルMOSFETである。TTLレベルの入力電圧
を保証するために、NチャネルMOSFET Q、の能
力は、PチャネルMOSFETQ!の能力より大きく設
定されている。
である0図において、1は入力端子、2は出力端子、Q
!はPチャネルM OS F E T 、 Q sはN
チャネルMOSFETである。TTLレベルの入力電圧
を保証するために、NチャネルMOSFET Q、の能
力は、PチャネルMOSFETQ!の能力より大きく設
定されている。
この入力端子1がハイレベルの入力を受けると、Nチャ
ネルM OS F ET Q sは導通(オン)、Pチ
ャネルMOSFET Qzは非導通(オフ)状態となり
、出力端子2はロウレベルになる。また、入力端子lに
ロウレベルの入力を与えるとPチャネルM OS P
E T Q tがオン、NチャネルMo5F E T
Q sがオフ状態となり、出力端子2はハイレベルにな
る。
ネルM OS F ET Q sは導通(オン)、Pチ
ャネルMOSFET Qzは非導通(オフ)状態となり
、出力端子2はロウレベルになる。また、入力端子lに
ロウレベルの入力を与えるとPチャネルM OS P
E T Q tがオン、NチャネルMo5F E T
Q sがオフ状態となり、出力端子2はハイレベルにな
る。
この回路は、−数的な反転回路になっており、通常は、
第3図(a)のように動作する。すなわち、信号レベル
Aが判定レベル1以上でハイ、判定しベルT以下でロウ
となる。
第3図(a)のように動作する。すなわち、信号レベル
Aが判定レベル1以上でハイ、判定しベルT以下でロウ
となる。
上述した従来の半導体記憶装置の入力段回路は、反転回
路になっているので、第3図(c)に示すように、TT
Lレベルの入力電圧ハイレベルが入力信号レベルCに与
えられている時、接地側に上向きのノイズが入ると、入
力段回路の接地がOvから浮き上るため、TTLレベル
の入力WEEハイレベルをロウレベルと誤判断し、逆の
出力レベルを出してしまう、また、第3図(b)のよう
に入力電圧ロウの場合は、電源Vccに下向きのノイズ
が入ると、入力段回路の電圧Vccが下るため、入力電
圧ロウをハイレベルと誤判断し、逆の出力レベルを出し
てしまうという欠点がある。
路になっているので、第3図(c)に示すように、TT
Lレベルの入力電圧ハイレベルが入力信号レベルCに与
えられている時、接地側に上向きのノイズが入ると、入
力段回路の接地がOvから浮き上るため、TTLレベル
の入力WEEハイレベルをロウレベルと誤判断し、逆の
出力レベルを出してしまう、また、第3図(b)のよう
に入力電圧ロウの場合は、電源Vccに下向きのノイズ
が入ると、入力段回路の電圧Vccが下るため、入力電
圧ロウをハイレベルと誤判断し、逆の出力レベルを出し
てしまうという欠点がある。
本発明の目的は、このような欠点を除き、電源ノイズ変
動による論理レベルの誤判定をなくすようにした論理入
力回路を提供することにある。
動による論理レベルの誤判定をなくすようにした論理入
力回路を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の論理入力回路の構成は、電源と接地との間に、
第1および第2のPチャネルMO3FETと第1および
第2のNチャネルMO3FETとをそれぞれ2段積みに
直列接続し、前記第2のPチャネルMO3FETの前記
第1のNチャネル間O8FETとの接続点を出力端子と
し、これらMOSFETの各ゲートを共通接続して入力
端子とし、前記第1のPチャネルMO3FETのゲート
を前記接地に接続し、前記第2のNチャネル間O8FE
Tのゲートを前記電源と接続したことを特徴とする。
第1および第2のPチャネルMO3FETと第1および
第2のNチャネルMO3FETとをそれぞれ2段積みに
直列接続し、前記第2のPチャネルMO3FETの前記
第1のNチャネル間O8FETとの接続点を出力端子と
し、これらMOSFETの各ゲートを共通接続して入力
端子とし、前記第1のPチャネルMO3FETのゲート
を前記接地に接続し、前記第2のNチャネル間O8FE
Tのゲートを前記電源と接続したことを特徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の一実施例の回路図である。
本実施例において、Q、、Q2はPチャネルMOSFE
T、Q3.Q4はNチャネル間O8FETである。
T、Q3.Q4はNチャネル間O8FETである。
次に、本実施例の動作説明を行なう。
(1)電源、接地にノイズが入らない場合この場合には
、PチャネルMOSFET Q、への入力電圧は、接地
レベルであるためMOSFET Q、はオン状態である
。また、NチャネルM OS F E T Q 4への
入力電圧は電源レベルでオン状態となり通常の反転回路
と同じ動作を行なう。
、PチャネルMOSFET Q、への入力電圧は、接地
レベルであるためMOSFET Q、はオン状態である
。また、NチャネルM OS F E T Q 4への
入力電圧は電源レベルでオン状態となり通常の反転回路
と同じ動作を行なう。
(2)接地に上向きのノイズが入った場合この場合、入
力端子1の入力電圧レベルがハイレベルの時、接地に上
向きのノイズが入ると、PチャネルM OS F E
T Q sの入力電圧が接地(OV)レベルからハイレ
ベル方向に、ノイズが入った期間だけ変化するために、
その期間中PチャネルMOSFET Q、がオフ状態
になる。モしてPチャネルM OS F E T Q
!がオン状態になっても出力端子2にハイレベルを出力
できなくなる。従って出力端子2にはロウのレベルが出
力され続ける。
力端子1の入力電圧レベルがハイレベルの時、接地に上
向きのノイズが入ると、PチャネルM OS F E
T Q sの入力電圧が接地(OV)レベルからハイレ
ベル方向に、ノイズが入った期間だけ変化するために、
その期間中PチャネルMOSFET Q、がオフ状態
になる。モしてPチャネルM OS F E T Q
!がオン状態になっても出力端子2にハイレベルを出力
できなくなる。従って出力端子2にはロウのレベルが出
力され続ける。
(3)電源Vccに下向きのノイズが入った場合この場
合、入力端子lの入力電圧レベルがロウレベルの時、電
源Vccに下向きのノイズが入ると、NチャネルMO8
F]li:T Q4の入力電圧が電源レベルからロウレ
ベル方向に入った期間だけ変化するために、その期間中
NチャネルM OS F E T Q 4がオフ状態に
なる。従って、NチャネルM OS F E T Q
sがオン状態になっても、出力端子2にロウレベルを出
力できなくなり、出力端子2にはハイレベルが出力され
続ける。
合、入力端子lの入力電圧レベルがロウレベルの時、電
源Vccに下向きのノイズが入ると、NチャネルMO8
F]li:T Q4の入力電圧が電源レベルからロウレ
ベル方向に入った期間だけ変化するために、その期間中
NチャネルM OS F E T Q 4がオフ状態に
なる。従って、NチャネルM OS F E T Q
sがオン状態になっても、出力端子2にロウレベルを出
力できなくなり、出力端子2にはハイレベルが出力され
続ける。
以上説明したように、本実施例は電源、接地にノイズが
入っても誤動作しにくくなる。
入っても誤動作しにくくなる。
以上説明したように本発明は、TTLレベルの入力電圧
を受ける入力段回路を有する半導体記憶装置の電源、接
地にノイズが入っても誤動作し難くした回路を付加する
ことにより、電源、接地ノイズに対して強くなるという
効果がある。
を受ける入力段回路を有する半導体記憶装置の電源、接
地にノイズが入っても誤動作し難くした回路を付加する
ことにより、電源、接地ノイズに対して強くなるという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は従来
例の論理入力回路の一例の回路図、第3図は第2図の回
路にノイズが入った場合のタイミング図である。 1・・・・・・入力端子、2・・・・・・出力端子、Q
l、Q、・・・・・・PチャネルMO3FET。 Q31 Q4・・・・・・Nチャネ ルMOSFET。
例の論理入力回路の一例の回路図、第3図は第2図の回
路にノイズが入った場合のタイミング図である。 1・・・・・・入力端子、2・・・・・・出力端子、Q
l、Q、・・・・・・PチャネルMO3FET。 Q31 Q4・・・・・・Nチャネ ルMOSFET。
Claims (1)
- 電源と接地との間に、第1および第2のPチャネルMO
SFETと第1および第2のNチャネルMOSFETと
をそれぞれ2段積みに直列接続し、前記第2のPチャネ
ルMOSFETと前記第1のNチャネルMOSFETと
の接続点を出力端子とし、これらMOSFETの各ゲー
トを共通接続して入力端子とし、前記第1のPチャネル
MOSFETのゲートを前記接地に接続し、前記第2の
NチャネルMOSFETのゲートを前記電源と接続した
ことを特徴とする論理入力回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1140404A JPH036123A (ja) | 1989-06-01 | 1989-06-01 | 論理入力回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1140404A JPH036123A (ja) | 1989-06-01 | 1989-06-01 | 論理入力回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH036123A true JPH036123A (ja) | 1991-01-11 |
Family
ID=15267978
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1140404A Pending JPH036123A (ja) | 1989-06-01 | 1989-06-01 | 論理入力回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH036123A (ja) |
-
1989
- 1989-06-01 JP JP1140404A patent/JPH036123A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4996443A (en) | Integrated circuit for level shift | |
| EP0103236B1 (en) | Logical circuit | |
| US4874971A (en) | Edge-sensitive dynamic switch | |
| US4142118A (en) | Integrated circuit with power supply voltage level detection | |
| EP0341740B1 (en) | Complementary output circuit for logic circuit | |
| KR900000993B1 (ko) | 개선된 출력특성을 갖는 비교기 회로 | |
| KR0176326B1 (ko) | 배타적 오아/노아게이트 회로 | |
| JP3636848B2 (ja) | Cmosヒステリシス回路 | |
| US4596939A (en) | Schmitt trigger input gate having delayed feedback for pulse width discrimination | |
| JPS5928986B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH036123A (ja) | 論理入力回路 | |
| US4469960A (en) | Voltage translating circuit | |
| US6181214B1 (en) | Voltage tolerant oscillator input cell | |
| JP2540765B2 (ja) | 誤動作防止テスト回路 | |
| JPS6182532A (ja) | インバ−タ回路 | |
| JPS61237509A (ja) | シユミツト・トリガ−回路 | |
| KR100221611B1 (ko) | 반도체 디바이스 입력회로 | |
| JP2595074B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JPS63119323A (ja) | 絶縁ゲ−ト型出力バツフア回路 | |
| JPH0666656B2 (ja) | シユミツトトリガ回路 | |
| JPH07134158A (ja) | Cmos半導体集積回路の出力バッファ回路 | |
| JP2934265B2 (ja) | 相補型mos出力回路 | |
| JPH10117138A (ja) | 半導体集積回路 | |
| EP0406491A1 (en) | Noise removing circuit | |
| JPS60253886A (ja) | 半導体集積回路 |