JPH0361877A - 開閉機器の絶縁回復試験回路 - Google Patents
開閉機器の絶縁回復試験回路Info
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- JPH0361877A JPH0361877A JP2034483A JP3448390A JPH0361877A JP H0361877 A JPH0361877 A JP H0361877A JP 2034483 A JP2034483 A JP 2034483A JP 3448390 A JP3448390 A JP 3448390A JP H0361877 A JPH0361877 A JP H0361877A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、遮断器や開閉器などの開閉機器の電流遮断
において、アーク消滅直後からの極間の絶縁回復特性を
検証するための絶縁回復試験回路に関する。
において、アーク消滅直後からの極間の絶縁回復特性を
検証するための絶縁回復試験回路に関する。
開閉機器の電流遮断直後は、アークによって加熱された
高温ガスやプラズマが極間に残留している。したがって
、を流零点で７−りが消滅した直後、極間の絶縁耐力は
非常に低い状態にある。しかし、時間経過と共に極間距
離が増大し、ガスも冷却され、プラズマも再結合するの
で、極間の絶縁耐力は次第に回復してくる。このときの
極間の絶縁耐力は絶縁回復電圧と称されている。一方、
遮断後の極間には、電力系統で発生する過渡回復電圧が
かかる。この過渡回復電圧が常に極間の絶縁回復電圧以
下であれば遮断は成功するが、それより高くなると絶縁
破壊によって極間に再びアークが発生し遮断不能となる
。したがって、絶縁回復特性は、開閉機器の遮断性能を
示す重要な特性の一つであり、開閉機器の性能向上や性
能確認のために絶縁回復試験が実施される。
高温ガスやプラズマが極間に残留している。したがって
、を流零点で７−りが消滅した直後、極間の絶縁耐力は
非常に低い状態にある。しかし、時間経過と共に極間距
離が増大し、ガスも冷却され、プラズマも再結合するの
で、極間の絶縁耐力は次第に回復してくる。このときの
極間の絶縁耐力は絶縁回復電圧と称されている。一方、
遮断後の極間には、電力系統で発生する過渡回復電圧が
かかる。この過渡回復電圧が常に極間の絶縁回復電圧以
下であれば遮断は成功するが、それより高くなると絶縁
破壊によって極間に再びアークが発生し遮断不能となる
。したがって、絶縁回復特性は、開閉機器の遮断性能を
示す重要な特性の一つであり、開閉機器の性能向上や性
能確認のために絶縁回復試験が実施される。
絶縁回復試験は、遮断電流、過渡回復電圧を実用線路と
同じように同一の電源から供給する回路による直接短絡
試験が望ましいが、試験設備の規模が大がかりとなるた
め実施が困難である。これに代わる有力な手段として、
遮断電流と過渡回復電圧とをそれぞれ別個の電源から供
給する回路による合成短絡試験法が用いられている。
同じように同一の電源から供給する回路による直接短絡
試験が望ましいが、試験設備の規模が大がかりとなるた
め実施が困難である。これに代わる有力な手段として、
遮断電流と過渡回復電圧とをそれぞれ別個の電源から供
給する回路による合成短絡試験法が用いられている。
第３図は、従来の合成短絡試験法による絶縁回復試験回
路図（中用他「パンファ式ガス遮断器の電流遮断後の極
間過渡絶縁回復特性」電学論Ｂ。
路図（中用他「パンファ式ガス遮断器の電流遮断後の極
間過渡絶縁回復特性」電学論Ｂ。
１０８巻１１号昭６３． Ｐ５４１）であり、第４図は
第３図の回路において発生する電圧および電流の経時変
化を示す波形図である。
第３図の回路において発生する電圧および電流の経時変
化を示す波形図である。
第３図において、短絡発ｔ８１等の大電流電源２より直
列遮断器である保ｌ！遮断器３と電流源遮断器５．直列
リアクトル４を介して供試遮断器１に遮断電流２６を供
給する電流源回路６と、直流電源７により所定の電圧に
充電される電源コンデンサ８とこれにｉＩ！響接続され
る始動ギャップ９よりなる電圧源回路１２と、始動ギャ
ップ９に接続された共振りアクドル２Ｌ整流器２２．減
衰抵抗器２３．および共振コンデンサ２４の直列回路よ
りなる直列共振回路２５と、この直列共振回路２５と供
試遮断器１とを結ぶ制限抵抗器１３および供試遮断器１
に並列接続された並列抵抗器１４および並列コンデンサ
１５の直列回路からなる回復電圧波形調整回路１６とで
試験回路が構成されている。
列遮断器である保ｌ！遮断器３と電流源遮断器５．直列
リアクトル４を介して供試遮断器１に遮断電流２６を供
給する電流源回路６と、直流電源７により所定の電圧に
充電される電源コンデンサ８とこれにｉＩ！響接続され
る始動ギャップ９よりなる電圧源回路１２と、始動ギャ
ップ９に接続された共振りアクドル２Ｌ整流器２２．減
衰抵抗器２３．および共振コンデンサ２４の直列回路よ
りなる直列共振回路２５と、この直列共振回路２５と供
試遮断器１とを結ぶ制限抵抗器１３および供試遮断器１
に並列接続された並列抵抗器１４および並列コンデンサ
１５の直列回路からなる回復電圧波形調整回路１６とで
試験回路が構成されている。
従来例による試験方法を第３図の回路図と第４彼衿
図の 図とに基づいて説明する。試験開始
前にあらかじめ、供試遮断器１と１ｉ流源遮断器５は投
入状態としておくとともに、電源コンデンサ８にも所定
の電圧を充電しておく、保ｖｌ遮断器３を投入し交流の
遮断電流２６を電流源回路６に流した状態で、供試遮断
器１と電流源遮断器５に開極指令を出す、供試遮断器ｌ
と電流源遮断器５の開極時刻（すなわち、アークが発生
し始める時刻）をｔ、遮断時刻（すなわち、アークが消
滅する最終の電流零点）をｔ、とすると、遮断電流２６
はたとえば第４図における電流波形２０１のようになる
。２、ツチングされた部分がアーク発生ＸＪＩ 間ニ対
応し、時刻ｔ、以降は電流源回路６がらの電流供給はな
くなるので零となる。
前にあらかじめ、供試遮断器１と１ｉ流源遮断器５は投
入状態としておくとともに、電源コンデンサ８にも所定
の電圧を充電しておく、保ｖｌ遮断器３を投入し交流の
遮断電流２６を電流源回路６に流した状態で、供試遮断
器１と電流源遮断器５に開極指令を出す、供試遮断器ｌ
と電流源遮断器５の開極時刻（すなわち、アークが発生
し始める時刻）をｔ、遮断時刻（すなわち、アークが消
滅する最終の電流零点）をｔ、とすると、遮断電流２６
はたとえば第４図における電流波形２０１のようになる
。２、ツチングされた部分がアーク発生ＸＪＩ 間ニ対
応し、時刻ｔ、以降は電流源回路６がらの電流供給はな
くなるので零となる。
遮断電流２６の零点ｔ、の直前の時刻ｔ２において、始
動パルス発生器１９より始動パルス信号２ｏを発生させ
始動ギャップ９を放電させると、電流コンデンサ８に充
電された！荷が直列共振回路２５を振動電流となって流
れ、共振コンデンサ２４を充電する。
動パルス発生器１９より始動パルス信号２ｏを発生させ
始動ギャップ９を放電させると、電流コンデンサ８に充
電された！荷が直列共振回路２５を振動電流となって流
れ、共振コンデンサ２４を充電する。
共振コンデンサ２４の端子電圧は、第４図の電圧波形２
０２のように振動電圧の第１波高値まで充電されると、
整流器２２が逆極性の振動電流を阻止するので共振コン
デンサ２４への充電は中断される。
０２のように振動電圧の第１波高値まで充電されると、
整流器２２が逆極性の振動電流を阻止するので共振コン
デンサ２４への充電は中断される。
一方、電源コンデンサ８に充電された電荷の一部は、回
復電圧波形調整回路１６および供試遮断器１にも流れる
。供試遮断器１の極間にかかる電圧は、第４図における
電圧波形２０３のように時刻ｔ。
復電圧波形調整回路１６および供試遮断器１にも流れる
。供試遮断器１の極間にかかる電圧は、第４図における
電圧波形２０３のように時刻ｔ。
までは極間のアークによって短絡されているので零であ
るが、時刻ｔ３以降にアークが消滅するので極間の絶縁
が回復し、回復電圧波形調整回路１６のもつ時定数τ。
るが、時刻ｔ３以降にアークが消滅するので極間の絶縁
が回復し、回復電圧波形調整回路１６のもつ時定数τ。
によって立ち上がる。しかし、供試遮断器ｌの端子間に
かかる電圧は、それ自体のもつ極間の絶縁回復電圧まで
上昇すると絶縁破壊によって一旦零となり、その後、再
び時定数τ。
かかる電圧は、それ自体のもつ極間の絶縁回復電圧まで
上昇すると絶縁破壊によって一旦零となり、その後、再
び時定数τ。
で上昇し、以後同様の経過を繰り返し電圧波形２０３と
なる。したがって第４図において電圧波形２０３の絶縁
破壊点を結んだ特性曲線２０４が供試遮断器ｌの絶縁回
復電圧の経時変化を示す。
なる。したがって第４図において電圧波形２０３の絶縁
破壊点を結んだ特性曲線２０４が供試遮断器ｌの絶縁回
復電圧の経時変化を示す。
〔発明が解決しようとする課題〕
第３図における電圧源回路１２では、′ｒＩＩＢコンデ
ンサ８に充電された電荷を整流器２２を介して一旦共振
コンデンサ２４に移し、共振コンデンサ２４に充電され
た電荷を制限抵抗器１３を介して供試遮断器１に再度放
電する回路となっている。電源コンデンサ８にＥｖなる
電圧を充電したとき、共振コンデンサ２４に発生する電
圧Ｅ、の最大値Ｅ０は、Ｅ ＊−／ Ｅ ｖ ＝ Ｋ−
Ａ −−−−−−−−−−（１）となる、ここで、 Ｋ −Ｃｗ ／ （Ｃｖ ＋ Ｃ，） −・・・
−−−−−・（２＋Ｃｖ＋Ｃａはそれぞれ電源コンデン
サ８．共振コンデンサ２４の静電容量・Ｌｖ暎共振りア
クドル２１のインダクタンス、Ｒｏは減衰抵抗器２３の
抵抗コンデンサ２４の電圧Ｅ、が低下するが、ｎ回絶縁
破壊し、ｎ個の絶縁回復電圧のデータが得られた後の電
圧Ｅ、をＥ、つとすると次の関係式が成立する。
ンサ８に充電された電荷を整流器２２を介して一旦共振
コンデンサ２４に移し、共振コンデンサ２４に充電され
た電荷を制限抵抗器１３を介して供試遮断器１に再度放
電する回路となっている。電源コンデンサ８にＥｖなる
電圧を充電したとき、共振コンデンサ２４に発生する電
圧Ｅ、の最大値Ｅ０は、Ｅ ＊−／ Ｅ ｖ ＝ Ｋ−
Ａ −−−−−−−−−−（１）となる、ここで、 Ｋ −Ｃｗ ／ （Ｃｖ ＋ Ｃ，） −・・・
−−−−−・（２＋Ｃｖ＋Ｃａはそれぞれ電源コンデン
サ８．共振コンデンサ２４の静電容量・Ｌｖ暎共振りア
クドル２１のインダクタンス、Ｒｏは減衰抵抗器２３の
抵抗コンデンサ２４の電圧Ｅ、が低下するが、ｎ回絶縁
破壊し、ｎ個の絶縁回復電圧のデータが得られた後の電
圧Ｅ、をＥ、つとすると次の関係式が成立する。
Ｃ１
Ｅ、、／Ｅ、、−＜ ”）−・−
・−・−・−・−（４）Ｃ＠ ＋ Ｃｍ ＋ Ｃｅ となる、ここで、Ｃ０は並列コンデンサ１５の静電容量
、Ｃ３は漂遊容量１７も含めた供試遮断器１の静電容量
である。したがって、供試遮断器ｌに充電される電圧Ｅ
、と電源コンデンサ８に充電される電圧Ｅｖとの関係は
、＋１）式と（４）式よりＣ１ Ｈａ−／ Ｂｙ ＝ Ｋ−Ａ ・（）”−−・（５１Ｃ
ｍ ” Ｃｓ ” Ｃ。
・−・−・−・−（４）Ｃ＠ ＋ Ｃｍ ＋ Ｃｅ となる、ここで、Ｃ０は並列コンデンサ１５の静電容量
、Ｃ３は漂遊容量１７も含めた供試遮断器１の静電容量
である。したがって、供試遮断器ｌに充電される電圧Ｅ
、と電源コンデンサ８に充電される電圧Ｅｖとの関係は
、＋１）式と（４）式よりＣ１ Ｈａ−／ Ｂｙ ＝ Ｋ−Ａ ・（）”−−・（５１Ｃ
ｍ ” Ｃｓ ” Ｃ。
となる、絶縁回復試験を実施する場合、供試遮断器ｌの
定格電圧が高くなるにつれてＥ。も高い電圧が必要とな
る。（５）式のＥ−／ Ｅ Ｖをできるだけ大きくする
には、Ａをできるだけ２に近づけると共に、Ｃｖ ）Ｃ
ｍ ）Ｃｓ ＋Ｇｏ とする必要がある。
定格電圧が高くなるにつれてＥ。も高い電圧が必要とな
る。（５）式のＥ−／ Ｅ Ｖをできるだけ大きくする
には、Ａをできるだけ２に近づけると共に、Ｃｖ ）Ｃ
ｍ ）Ｃｓ ＋Ｇｏ とする必要がある。
たとえば、Ｒ１１＝ＩＯとすればｌ Ａ ” ２となる
ので、Ｃｖ −ｔｏｏ Ｃｍ ｌＣ，−１００（Ｃｓ
＋Ｃｏ Ｌｎ−５の場合、（５）式より、 １０１ １０１ となり、電圧Ｅ、九源コンデンサ８の充電電圧Ｅｖのほ
ぼ２倍となる。しかし、電源コンデンサー８の容量とし
てはＣＷ −１０’ −（ｃｓ ＋ＣＯ） となり、
供試遮断器ｌのｎ１！容量より４桁以上も大きい設備が
必要となる欠点がある。
ので、Ｃｖ −ｔｏｏ Ｃｍ ｌＣ，−１００（Ｃｓ
＋Ｃｏ Ｌｎ−５の場合、（５）式より、 １０１ １０１ となり、電圧Ｅ、九源コンデンサ８の充電電圧Ｅｖのほ
ぼ２倍となる。しかし、電源コンデンサー８の容量とし
てはＣＷ −１０’ −（ｃｓ ＋ＣＯ） となり、
供試遮断器ｌのｎ１！容量より４桁以上も大きい設備が
必要となる欠点がある。
さらに、振動波形の第１波高値の値を維持し、後続の振
動分をカットするために整流器２２が必要である。この
整流器２２としては、供試遮断器１の定格電圧が高くな
るにつれて、高電圧および高周波電流の仕様に耐えるも
のとする必要があり、大型ノ整流器２２を設備しなけれ
ばならないという欠点がある。また・電圧を直列共振さ
せるために共振りアクドル２１も必要であり、試験回路
の構成が複雑化すると共に、多額の設備費を必要とする
欠点がある。
動分をカットするために整流器２２が必要である。この
整流器２２としては、供試遮断器１の定格電圧が高くな
るにつれて、高電圧および高周波電流の仕様に耐えるも
のとする必要があり、大型ノ整流器２２を設備しなけれ
ばならないという欠点がある。また・電圧を直列共振さ
せるために共振りアクドル２１も必要であり、試験回路
の構成が複雑化すると共に、多額の設備費を必要とする
欠点がある。
この発明の目的は絶縁回復試験回路の回路構成を簡素化
し、設備費を低減することにある。
し、設備費を低減することにある。
上記課題を解決するために、この発明によれば、直列遮
断器、リアクトルを介してアーク時間があらかじめ定ま
る供試開閉機器に遮断電流を供給する電流源回路と、直
流電源により所定電圧に充電される電源コンデンサおよ
びこれに直列接続され供試開閉機器がアーク遮断する電
流の零点直前に始動パルス信号により放電する始動ギャ
ップを含む電圧源回路と、この電圧源回路と供試開閉機
器とを結ぶ制限抵抗器および供試開閉機器の極間に並列
接続された並列抵抗器および並列コンデンサの直列回路
からなる回復電圧波形調整回路とからなり、供試開閉機
器の電流遮断後の絶縁回復電圧の経時変化を試験する回
路において、前記電圧源回路が、前記始動ギャップに対
して並列接続され前記電源コンデンサと前記制限抵抗器
との間に直列接続された直列抵抗器と直列コンデンサと
の直列回路を備えたものとする。
断器、リアクトルを介してアーク時間があらかじめ定ま
る供試開閉機器に遮断電流を供給する電流源回路と、直
流電源により所定電圧に充電される電源コンデンサおよ
びこれに直列接続され供試開閉機器がアーク遮断する電
流の零点直前に始動パルス信号により放電する始動ギャ
ップを含む電圧源回路と、この電圧源回路と供試開閉機
器とを結ぶ制限抵抗器および供試開閉機器の極間に並列
接続された並列抵抗器および並列コンデンサの直列回路
からなる回復電圧波形調整回路とからなり、供試開閉機
器の電流遮断後の絶縁回復電圧の経時変化を試験する回
路において、前記電圧源回路が、前記始動ギャップに対
して並列接続され前記電源コンデンサと前記制限抵抗器
との間に直列接続された直列抵抗器と直列コンデンサと
の直列回路を備えたものとする。
上記手段において、漂遊容量を含めた供試開閉機器と並
列コンデンサに直列コンデンサを介して電源コンデンサ
の充電電荷を直接給電するように構成したことにより、
従来充電電圧の２倍の電圧を得るために必要とした直列
共振回路、とくに共振コンデンサが不要となり、電源コ
ンデンサの容量を数１０分の１に低減できると共に、共
振りアクドルや整流器、減衰抵抗器が不要となり、電圧
源回路を簡素化することができる。また、共振コンデン
サを排除したことによって始動ギャップの放ｉｔ流が減
少し始動ギャップはその並列コンデンサへの充電電流を
持続して供給できなくなるが、始動ギャップに並列に直
列コンデンサと直列抵抗器との直列回路を設けたことに
より、これを介して並列コンデンサへの充電が継続的に
行われ・電源：Ｉ７デ′すおよび直列コンデンサの静電
容量を漂遊容量を含めた供試開閉機器と並列コンデンサ
との静電容量の和より充分に大きくしておくことにより
、電源コンデンサに充電した電圧をほとんど低下させず
に供試開閉機器側に移すことができる。
列コンデンサに直列コンデンサを介して電源コンデンサ
の充電電荷を直接給電するように構成したことにより、
従来充電電圧の２倍の電圧を得るために必要とした直列
共振回路、とくに共振コンデンサが不要となり、電源コ
ンデンサの容量を数１０分の１に低減できると共に、共
振りアクドルや整流器、減衰抵抗器が不要となり、電圧
源回路を簡素化することができる。また、共振コンデン
サを排除したことによって始動ギャップの放ｉｔ流が減
少し始動ギャップはその並列コンデンサへの充電電流を
持続して供給できなくなるが、始動ギャップに並列に直
列コンデンサと直列抵抗器との直列回路を設けたことに
より、これを介して並列コンデンサへの充電が継続的に
行われ・電源：Ｉ７デ′すおよび直列コンデンサの静電
容量を漂遊容量を含めた供試開閉機器と並列コンデンサ
との静電容量の和より充分に大きくしておくことにより
、電源コンデンサに充電した電圧をほとんど低下させず
に供試開閉機器側に移すことができる。
以下この発明を実施例に基づいて説明する。第１図はこ
の発明の実施例を示す絶縁回復試験回路図であり、第２
図は第１図の回路において発生する電圧および電流の経
時変化を示す波形図である。
の発明の実施例を示す絶縁回復試験回路図であり、第２
図は第１図の回路において発生する電圧および電流の経
時変化を示す波形図である。
第１図における試験回路は、大電流電源２より直列遮断
器である保護遮断器３と電流源遮断器５゜直列リアクト
ル４を介して供試遮断器１に遮断電流２６を供給する電
流源回路６と直流電源７により所定の電圧Ｅｖに充電さ
れる電源コンデンサ８と、これに直列接続される始動ギ
ャップ９と、始動ギヤ、プ９に並列接続された直列コン
デンサ１０と直列抵抗器１１との直列回路とからなる電
圧源回路１２と、この電圧源回路１２と供試遮断器１と
を結ぶ制限抵抗器】３および供試遮断器１に並列接続さ
れた並列抵抗器１４および並列コンデンサ１５の直列回
路からなる回復電圧波形調整回路１６とで構成されてい
る。
器である保護遮断器３と電流源遮断器５゜直列リアクト
ル４を介して供試遮断器１に遮断電流２６を供給する電
流源回路６と直流電源７により所定の電圧Ｅｖに充電さ
れる電源コンデンサ８と、これに直列接続される始動ギ
ャップ９と、始動ギヤ、プ９に並列接続された直列コン
デンサ１０と直列抵抗器１１との直列回路とからなる電
圧源回路１２と、この電圧源回路１２と供試遮断器１と
を結ぶ制限抵抗器】３および供試遮断器１に並列接続さ
れた並列抵抗器１４および並列コンデンサ１５の直列回
路からなる回復電圧波形調整回路１６とで構成されてい
る。
実施例による試験方法を第１図と第２図とに基づいて説
明する。試験開始前にあらかじめ供試遮断器１と電流源
遮断器５とを投入すると共に直流電＃７により電源コン
デンサ８もＥｖに充電する。
明する。試験開始前にあらかじめ供試遮断器１と電流源
遮断器５とを投入すると共に直流電＃７により電源コン
デンサ８もＥｖに充電する。
このとき、供試遮断器１が閉じているので、直列抵抗器
１１．制限抵抗器１３を介して直列コンデンサ１０もＥ
ｖに充電される。保護遮断器３を投入して交流の遮断電
流２６を電流源回路６に流した状態で、供試遮断器１と
電流源遮断器５に開極指令を出す。
１１．制限抵抗器１３を介して直列コンデンサ１０もＥ
ｖに充電される。保護遮断器３を投入して交流の遮断電
流２６を電流源回路６に流した状態で、供試遮断器１と
電流源遮断器５に開極指令を出す。
供試遮断器１と電流Ｂ遮断器５の開極時刻をｔ。
遮断時刻を１．とすると、遮断電流２６はたとえば第２
図における電流波形２０１のようになる。ハンチングさ
れた部分がアーク発生期間に対応し、時刻１、以降は電
流源回路６からの電流供給はなくなり供試遮断器１の絶
縁が回復しはじめる。
図における電流波形２０１のようになる。ハンチングさ
れた部分がアーク発生期間に対応し、時刻１、以降は電
流源回路６からの電流供給はなくなり供試遮断器１の絶
縁が回復しはじめる。
遮断電流２６の零点ｔｓの直前の時刻１１においてへ始
動パルス発生器１９より始動パルス信号２０を発生させ
始動ギャップ９を放電させると、直列コンデンサ１０に
充電されている電荷が直列抵抗器１１と始動ギャップ９
との直列回路で構成される閉回路に流れ、遮断時刻ｔ、
までに直列コンデンサ１０に充電されている電荷が放電
して消滅するように直列抵抗器１１の抵抗値をあらかじ
め選んでおくと、時刻ｔ、で直列コンデンサの端子電圧
Ｅ、は第２図の電圧波形２０５のようにほぼ零となる。
動パルス発生器１９より始動パルス信号２０を発生させ
始動ギャップ９を放電させると、直列コンデンサ１０に
充電されている電荷が直列抵抗器１１と始動ギャップ９
との直列回路で構成される閉回路に流れ、遮断時刻ｔ、
までに直列コンデンサ１０に充電されている電荷が放電
して消滅するように直列抵抗器１１の抵抗値をあらかじ
め選んでおくと、時刻ｔ、で直列コンデンサの端子電圧
Ｅ、は第２図の電圧波形２０５のようにほぼ零となる。
このとき、供試遮断器１は極間の絶縁が回復しつつあり
、始動ギャップ９を流れる電流は制限抵抗器１３の抵抗
Ｒｖ、並列抵抗器１４の抵抗Ｒ０を介して並列コンデン
サ１５の静電容量Ｃ，（含む供試遮断器１の静電容量ｃ
ｌ のみとなり、電流が著しく減少するので、始動ギャ
ップ９の放電は停止し、その後は直列コンデンサ１０お
よび直列抵抗器１１を介して並列コンデンサ１５の充電
が行われることになる。
、始動ギャップ９を流れる電流は制限抵抗器１３の抵抗
Ｒｖ、並列抵抗器１４の抵抗Ｒ０を介して並列コンデン
サ１５の静電容量Ｃ，（含む供試遮断器１の静電容量ｃ
ｌ のみとなり、電流が著しく減少するので、始動ギャ
ップ９の放電は停止し、その後は直列コンデンサ１０お
よび直列抵抗器１１を介して並列コンデンサ１５の充電
が行われることになる。
供試遮断器１の極間絶縁が回復してくると、極間にかか
る電圧は回路時定数τ。で上昇し、絶縁回復特性を得る
ことができる。第２図の電圧波形２０３は供試遮断器１
の極間にかかる電圧Ｅ０の時間変化を示し、特性曲＆１
１２０４が供試遮断器１の絶縁回復特性を示す、なお直
列コンデンサ１０が電圧をあまり負担しないように、直
列コンデンサ１０の静電容ＮＣ１は、供試遮断器１およ
び並列コンデンサ１５の静電容量の和（ＣＳ＋Ｃ，）よ
り充分に大きな値を選ぶ。
る電圧は回路時定数τ。で上昇し、絶縁回復特性を得る
ことができる。第２図の電圧波形２０３は供試遮断器１
の極間にかかる電圧Ｅ０の時間変化を示し、特性曲＆１
１２０４が供試遮断器１の絶縁回復特性を示す、なお直
列コンデンサ１０が電圧をあまり負担しないように、直
列コンデンサ１０の静電容ＮＣ１は、供試遮断器１およ
び並列コンデンサ１５の静電容量の和（ＣＳ＋Ｃ，）よ
り充分に大きな値を選ぶ。
電源コンデンサ８にＥｖの電圧が充電された場合、ｎ＠
絶縁破壊したのちの電源コンデンサ８の電圧をＥｌとす
ると、次式の関係が成立する。
絶縁破壊したのちの電源コンデンサ８の電圧をＥｌとす
ると、次式の関係が成立する。
Ｃ。
Ｅｖ、ｌ／Ｅｖ −（）″ −−−−−ｆ７＋Ｃｖ
＋ Ｃｍ ＋ Ｃ。
＋ Ｃｍ ＋ Ｃ。
たとえば、Ｃｖ ”１００ （Ｃｓ ＋Ｃｏ ）＋ｎ−
５とすると、（７）式は ０１ となる、従来法の場合と同じように供試遮断器１に２倍
の電圧を印加するために、Ｔ１．Ｂコンデンサ８の充１
を電圧を２倍にすると、０．９５１ Ｘ ２−１．９０
となり・（６）式における従来法の場合の発生電圧と同
シトする。しかし、この発明における電源コンデンサ８
の静電容ＩＣＶは、従来法のそれより２桁小さくてすむ
ので、コンデンサの容量としては、４／１００ ＝１／
２５となり従来法より小さくて済む。
５とすると、（７）式は ０１ となる、従来法の場合と同じように供試遮断器１に２倍
の電圧を印加するために、Ｔ１．Ｂコンデンサ８の充１
を電圧を２倍にすると、０．９５１ Ｘ ２−１．９０
となり・（６）式における従来法の場合の発生電圧と同
シトする。しかし、この発明における電源コンデンサ８
の静電容ＩＣＶは、従来法のそれより２桁小さくてすむ
ので、コンデンサの容量としては、４／１００ ＝１／
２５となり従来法より小さくて済む。
この発明は前述のよ）に電圧源回路として始動ギャップ
に対して並列接続され１ｉ：ａコンデンサと制＠抵抗器
との間に直列接続された直列抵抗器と直列コンデンサと
を備え、並列コンデンサが直列コンデンサを介して電源
コンデンサの充電電荷により直接充電されるように回路
を！ａ或した。
に対して並列接続され１ｉ：ａコンデンサと制＠抵抗器
との間に直列接続された直列抵抗器と直列コンデンサと
を備え、並列コンデンサが直列コンデンサを介して電源
コンデンサの充電電荷により直接充電されるように回路
を！ａ或した。
その結果、従来法と１１：、べて電導コンアンサの静ｔ
′！￥量が１００分の１．その電圧は２倍となるので、
容量としては２５分の】となり、１［コンデンサが小型
かつ低価格となる効果が得られる。
′！￥量が１００分の１．その電圧は２倍となるので、
容量としては２５分の】となり、１［コンデンサが小型
かつ低価格となる効果が得られる。
また、従来法で必要であった大型の整流器や共振りアク
ドルも共振回路を使わないので不要となり、簡素化され
た絶縁回復試験回路となるという効果も得られ、結果的
に開閉機器の絶縁回復試験回路の設備費が低減されると
いう効果が得られる。
ドルも共振回路を使わないので不要となり、簡素化され
た絶縁回復試験回路となるという効果も得られ、結果的
に開閉機器の絶縁回復試験回路の設備費が低減されると
いう効果が得られる。
第１図はこの発明の実施例を示す遮断器の絶縁回復試験
回路図、第２図は第１図の回路において発生する電圧、
ｉｔ流等の経時変化を示す波形図、第３図は従来例を示
す遮断器の絶縁回復試験回路図、第４図は第３図の回路
において発生する電圧。 ３：保護遮断器、４：直列リアクトル、５：電流１ｌＩ
ｌ遮断器、６：電流源回路、７：直流電源、８：ＴｓＢ
コンデンサ、９：始動ギャップ、ＩＯ＝直列コンデンサ
、１１：Ｉ［列抵抗器、１２：電圧源回路、１３：制限
抵抗器、１４：並列抵抗器、１５：並列コンデンサ、１
６：回復電圧波形調整回路、１７：漂遊容器、１８：接
地１．１９：始動パルス発生器、２０：始動パルス信号
、２１：共振りアクドル、２２：整流器、２３：減衰抵
抗器、２４：共振コンデンサ、２５：直列名 ■ 図 窩 図
回路図、第２図は第１図の回路において発生する電圧、
ｉｔ流等の経時変化を示す波形図、第３図は従来例を示
す遮断器の絶縁回復試験回路図、第４図は第３図の回路
において発生する電圧。 ３：保護遮断器、４：直列リアクトル、５：電流１ｌＩ
ｌ遮断器、６：電流源回路、７：直流電源、８：ＴｓＢ
コンデンサ、９：始動ギャップ、ＩＯ＝直列コンデンサ
、１１：Ｉ［列抵抗器、１２：電圧源回路、１３：制限
抵抗器、１４：並列抵抗器、１５：並列コンデンサ、１
６：回復電圧波形調整回路、１７：漂遊容器、１８：接
地１．１９：始動パルス発生器、２０：始動パルス信号
、２１：共振りアクドル、２２：整流器、２３：減衰抵
抗器、２４：共振コンデンサ、２５：直列名 ■ 図 窩 図
Claims (1)
- １）直列遮断器、リアクトルを介してアーク時間があら
かじめ定まる供試開閉機器に遮断電流を供給する電流源
回路と、直流電源により所定電圧に充電される電源コン
デンサおよびこれに直列接続され供試開閉機器がアーク
遮断する電流の零点直前に始動パルス信号により放電す
る始動ギャップを含む電圧源回路と、この電圧源回路と
供試開閉機器とを結ぶ制限抵抗器および供試開閉機器の
極間に並列接続された並列抵抗器および並列コンデンサ
の直列回路からなる回復電圧波形調整回路とからなり、
供試開閉機器の電流遮断後の絶縁回復電圧の経時変化を
試験する回路において、前記電圧源回路が、前記始動ギ
ャップに対して並列接続され前記電源コンデンサと前記
制限抵抗器との間に直列接続された直列抵抗器と直列コ
ンデンサとの直列回路を備えたことを特徴とする開閉機
器の絶縁回復試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2034483A JP2787050B2 (ja) | 1989-03-08 | 1990-02-15 | 開閉機器の絶縁回復試験回路 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1-55957 | 1989-03-08 | ||
| JP5595789 | 1989-03-08 | ||
| JP2034483A JP2787050B2 (ja) | 1989-03-08 | 1990-02-15 | 開閉機器の絶縁回復試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0361877A true JPH0361877A (ja) | 1991-03-18 |
| JP2787050B2 JP2787050B2 (ja) | 1998-08-13 |
Family
ID=26373302
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2034483A Expired - Lifetime JP2787050B2 (ja) | 1989-03-08 | 1990-02-15 | 開閉機器の絶縁回復試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2787050B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110346712A (zh) * | 2019-07-15 | 2019-10-18 | 南方电网科学研究院有限责任公司 | 一种等效介质恢复测试电路 |
| CN112382777A (zh) * | 2020-11-03 | 2021-02-19 | 盐城国投中科新能源科技有限公司 | 一种提高氢燃料电池系统绝缘性能的方法 |
-
1990
- 1990-02-15 JP JP2034483A patent/JP2787050B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110346712A (zh) * | 2019-07-15 | 2019-10-18 | 南方电网科学研究院有限责任公司 | 一种等效介质恢复测试电路 |
| CN112382777A (zh) * | 2020-11-03 | 2021-02-19 | 盐城国投中科新能源科技有限公司 | 一种提高氢燃料电池系统绝缘性能的方法 |
| CN112382777B (zh) * | 2020-11-03 | 2023-12-29 | 盐城国投中科新能源科技有限公司 | 一种提高氢燃料电池系统绝缘性能的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2787050B2 (ja) | 1998-08-13 |
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