JPH0363507A - 立体形状検出方法 - Google Patents

立体形状検出方法

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JPH0363507A
JPH0363507A JP1199223A JP19922389A JPH0363507A JP H0363507 A JPH0363507 A JP H0363507A JP 1199223 A JP1199223 A JP 1199223A JP 19922389 A JP19922389 A JP 19922389A JP H0363507 A JPH0363507 A JP H0363507A
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中川 泰夫
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

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  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、焦点位置が異なる複数の画像から、任意の対
象物の立体的形状が精度良好にして検出されるようにし
た立体形状検出方法に関するものである。
〔従来の技術] これまで、焦点位置に着目した立体形状検出方法として
は、特開昭61−124809号公報に記載されたもの
が知られている。これによる場合、被検査体としての凹
凸パターンからは焦点位置を変えてそれぞれパターン検
出が行なわれ、これら焦点位置情報とパターン位置情報
とからパターンの平面的および立体的な寸法が算出され
るようになっている。より具体的には、LSIウェハの
パターンを例として、これより焦点調製機構により焦点
面を順次変化させた画像が検出され、その映像信号の最
もシャープな部分を抽出、台底することによって、0段
差パターンでの上の段差エッヂ、下の段差エッヂの何れ
に対してもピントの合った段差パターンの検出、■最も
シャープな部分が抽出される場合での焦点位置からはパ
ターンの立体的寸法(厚さ)の検出、■フォトレジスト
のパターンの場合、コントラスト最大の映像信号からは
、その変化率最大点としてパターン段差部での上下端位
置の検出、といったことなどが可能となっている。
一方、論文「分散値を利用した画像合成法」(電子通信
学会論文誌’83/10 Vol、J66−D No、
10)によれば、焦点位置の異なる画像から小領域毎の
明るさの分散を求め、これより各画像の中で合焦部分を
抽出したうえ台底することによって、画像全体に亘って
焦点の合った画像が得られるようになっている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、特開昭61−124809号公報によれ
ば、薄膜パターン段差部での上下端位置など、固有のコ
ントラストや固有な信号波形上の特徴を有する部分の位
置を特定することによって、段差パターン部での上下端
位置や厚さが検出され得ても、段差パターンの平坦部を
含む立体形状全体までは検出され得ないものとなってい
る。
一方、論文「分散値を利用した画像合成法」では、焦点
位置が異なる画像から全面合焦の画像が得られているが
、それら画像から立体形状を求めることまでは考慮され
ていないものとなっている。
したがって、これまでは、焦点位置の異なる画像から立
体形状は何隻検出されていなく、ましてや高さ方向(Z
方向)に例えばΔ2づつ焦点位置を変化させて得た画像
から、Δ2より細かい高さ分解能をもつようにして立体
形状を検出することは何等考えられていないものとなっ
ている。
本発明の目的は、焦点位置が異なる画像より、対象物の
立体形状を精度良好にして検出し得る立体形状検出方法
を供するにある。
また、本発明の他の第1の目的は、画像間の焦点位置差
よりもより細かい分解能で以て、対象物の立体形状を検
出し得る立体形状検出方法、第2の目的は、拡散表面や
鏡面など、テックスチャをもたない表面を有する対象物
であっても、その対象物の立体形状を検出し得る立体形
状検出方法、第3の目的は、より高速に対象物の立体形
状が検出され得る立体形状検出方法、第4の目的は、特
に第1の目的に関連してより高速に対象物の立体形状が
検出され得る立体形状検出方法をそれぞれ供するにある
〔課題を解決するための手段〕
上記目的は、同一対象物について焦点位置が異なる複数
の画像を得るようにするが、対象物上の点各々について
それら複数の画像より合焦測度が最大となる画像を選択
し、この画像での焦点位置をその点についての高さとし
て求めることで達成される。
また、本発明の他の第1の目的は、合焦測度が最大値と
なる画像についての焦点位置を、画像間に内挿された合
焦測度より求めることで、第2の目的は、拡散面や鏡面
など、テックスチャをもたない対象物表面に対□しては
、合焦点位置ではその表面が高いコントラストをもつべ
く対象物を照明光によって照射することで、第3の目的
は、複数の画像各々は、対象物と画像検出光学系との間
の相対的位置関係が連続的に変化されつつある間に求め
られることで、第4の目的は、合焦測度が最大となる画
像についての焦点位置を、予め算出、記憶されているマ
トリックスデータを参照し求めることで達成される。
〔作用〕
要は、対象物上の点各々について焦点位置が異なる複数
の画像を得、合焦測度が最大となる画像の焦点位置をそ
の点についての高さとして求めようというものである。
点各々の高さからは対象物の立体形状が求められるわけ
であるが、その際、画像間に合焦点位置を内挿する場合
には、より小さい高さ分解能を以て点各々についての高
さが求められ、対象物の立体形状は精度良好にして求め
られるというものである。ところで、画像検出では対象
物上の合焦点位置部分での面粗さやテックスチャを検出
することが重要であるが、その表面にそれらを有しない
対象物に対しては、マルチスシ ボナト像や格子パターン、ランクムテックスチャを、合
焦点位置面でコントラストが良好なるべく投影するよう
にすればよい。その表面にテックスチャがもたらせられ
ることで、立体形状が検出可能となるものである。また
、焦点位置が異なる複数の画像は、対象物・画像検出光
学系間の相対的位置関係をステップ的に変化せしめるこ
とで得られるが、その相対的位置関係を連続的に変化さ
せつつ例えば一定周期的毎に画像を得る場合は、焦点位
置が異なる複数の画像はより高速にして得られ、この結
果として対象物の立体形状もまた高速に求められるとい
うものである。更に、対象物上の点各々について、合焦
測度が最大となる画像の焦点位置を求めるには各種の演
算が要されるが、最終的な途中演算結果をアドレスとし
てマトリックスデータを参照する場合には、より早く最
終的な演算結果、即ち、点各々についての高さが求めら
れるというものである。
〔実施例〕
以下、本発明を第1図から第9図により説明する。
先ず本発明に係る立体形状検出装置について説明すれば
、第1図はその概略構成を対象物lとともに示したもの
である。本例での対象物はその表面が金属粒子の焼結体
など、ランダムで鮮明なテックスチャを有するものとし
て仮定されており、その表面の合焦測度が通常の明視野
照明状態下で検出されるようになっている。
即ち、対象物1はランプ6からの照明光が照明レンズ5
、ハーフミラ−4を介し照明されている状態で、その高
さが試料台2を介し上下機構3によって上下動されてい
る間に、その画像が結像レンズ7を介しTVカメラや1
次元イメージセンサなどの各種撮像手段としての像検出
器8で検出されるようになっている。結像レンズ7やこ
れを含む画像検出光学系全体を上下動させても同様に画
像が検出されるが、何れにしてもこれにより異なる焦点
位置での画像が複数得られるわけである。
本例では説明の簡単化上、合焦点位置の高さはZs、Z
z、Zs  (Zz  Zt−Zz  Zs−Δ2(一
定)として仮定)として示されており、また、図示の状
態では画像検出光学系の焦点位置はZ3に一致するもの
として示されたものとなっている。さて、第2図(a)
にはそれら高さZ 1.Z t、 Z s各々に対応す
る映像信号V、、V、、V、が例示されているが、一般
に映像信号は合焦点位置部分が最も鮮明であり信号振幅
が大きく、しかもその部分での周波数も大きなものとな
っている。再び第1図に戻り説明すれば、合焦測度検出
部9では像検出器8からのそれら映像信号V r、 V
 t、 V sより入力画面上での点各々について合焦
測度が求められるようになっている。ここにいう合焦測
度とは、その点での焦点の合い具合を代表して示す数値
として定義されるが、合焦測度は例えば以下のようにし
て求められるようになっている。
即ち、合焦点位置の高さZs  (i=1.2.・・・
n)での対象物からの検出画像をVB (x、 y)と
すれば、検出画像Vt (X、 y)からコントラスト
画像Cr (xt y)は式(1)によって求められる
ようになっている。
Ch (x、 y)= l −Vt (x−1,V)+
2Vl (x、 y)Vt (xtLy)l+1−VA
(x、?y−1) ’+ 2 Vi(x、 y)−Vt
 (に、y+1)・・・・・・ (1) 更にCh (x、 y)からは合焦測度F! (X、y
)が式(2)によって求められる。
但し、m、m’は予め定められた定数であり、局部画像
の加算領域を示すものとなっている。
式(2)より明らかなように、本例での合焦測度Fえ(
x、 y)はコントラスト画像CI (x、 y)の局
所加算、即ち、平滑化に相当したものとなっている。
第3図はその合焦測度検出部の一具体的構成を示したも
のである。図示のように、検出画像■l(X、 y)で
の映像信号はA/D変換回路12で順次ディジタル量に
変換されたうえシフトレジスタ(検出画像−走査線分の
容量をもつ) 13.14を順次介されることによって
、シフトレジスタ13.14各々からは1走査線前、2
走査線前の映像信号が併せて得られるようになっている
。したがって、これら映像信号とA/D変換回路I2か
らの映像信号とをコントラスト抽出回路15に入力せし
めれば、コントラスト抽出回路15ではそれら映像信号
各々にもとづきその内部で式(1)に従ってコントラス
ト画像C,(χ、 y>が求められるものである。この
ようにして求められたコントラスト画像CI (X、 
y)はその後A/D変換回路12からの映像信号と同様
にして、シフトレジスタ(検出画像−走査線分の容ft
) 16.17を順次介され、シフトレジスタ16.1
7各々からのものとともに平滑化回路18に入力され、
平滑化口8L8では式(2)に従って焦点量Ft(に、
 y)が求められるものである。平滑化回路18への入
力は図示のようであることから、本例では既述の定数m
′はlであり、これに応じてmの値も1に設定されたも
のとなっている。以上の処理はパイプライン的に処理さ
れ得ることがら、その処理は実時間的に行なわれ得るも
のとなっている。
なお、コントラスト画像Ci (x+ y)が算出され
た際に、その値が予め定められるしきい値T1以下の場
合には、C1(x、 y)は以下のように処理されても
よい。
CI (X、y)=O(Ci (χ、 y)≦T、の場
合)・・・・・・ (3) これは、焦点ずれ部分でのノイズ除去のための処理であ
る。また、本例ではコントラスト画像CI(x、 y)
は3(χ方向の画素数)X3(y方向の画素数)画素に
対する2次微分の絶対値和として表現されているが、こ
れに限定されることなく5×5画素など、より大きな局
所画像範囲内での2次微分であってもよい。2次微分以
外にはラプラシアン、ガウシアンラプラシアン、1次微
分、2×2画素のロバーッグラディエントなど、各種の
微分オペレータをCi(x、 y)算出のために適用し
得るものとなっている。場合によっては、式(4)とし
て示すように、濃度の分数値よりCt (x+ y)が
求められてもよいものである。
(Vi(x+Δx、y+Δy) −V u (x、y)
  ) ”・・・・・・ (4) 但し、Vμ(x、 y)は次式で与えられる平均濃度で
ある。
V!(x+Δx、y+Δy)    ・・・・・・ (
5)更に、式(2)では平滑化のための局所加算が行な
われているが、これは平均値処理や中間値処理であって
も、また、その他のノイズ処理であってもよい。尤も、
検出画像が極めて均質なテックスチャを有し、ノイズ成
分も極めて少ない場合には、その処理は省略可能となっ
ている。
さて、以上のようにして合焦測度F、が求められるが、
第2図(ロ)は第2図(a)に示す映像信号V、。
V、、V、各々に関連した合焦測度F l、 F t、
 F sを一次元的に示したものである。これより合焦
点部分に対応した映像信号位置では合焦測度が大として
検出されるようになっている。
次に合焦測度最大値位置検出について説明すれば、いま
、対象物上の点各々について第4図(a)に示すように
Fi(x、y)(1=1,2・・・・・・、n)が求め
られているとして、これらFl (XI y)より合焦
測度が最大となるl焦点位置を求めるようにすれば、最
終的に対象物の立体形状Z(x、y)が求められること
になる。より具体的に説明すれば、第4図中)は第4図
(a)に示す対象物上のある座標点(x+y)について
のFlの値をプロットしたものであるが、合焦測度Fが
最大値Fpとなる場合での2座標Zpを求めるようにす
れば、これがその座標点(x、 y)での高さとして求
められるというものである。第1図(C)は第1図中)
におけるX方向任意座標位lxでのFムの分布を示すが
、この分布より合焦測度Fの最大値Flを求め、これに
対する2座標Z、を求めるようにすれば、この2座標Z
pが任意座標位置Xでの高さとして求められ、結果的に
対象物の立体形状が検出されるものであることが判る。
以上のように合焦測度Fの最大値Flに対する2座標Z
、を求めることが必要となるが、2座標Zpは例えば以
下のようにして求められるものとなっている。
即ち、この方法ではFt(χ、 y)のデータ分布は式
(6)に示すように、ガウス分布として仮定されるよう
になっている。
但し、σはFの分散を示す。
この式(6)にもとづきZ座標Z、を求めるには、座標
点(x+ y)についてのF + (x、y) (i・
1.2・・・・・・n)の中より最大値Flとその2座
標Zm、更にはその前のFa−1(LV)とその2座標
Zll−1、およびその後のF□1(x+ y)とその
2座標Z□1が求められるようになっている。結果的に
(F、、。
Z□+)、(F−、Z−、)、(F、、+、 Z□、)
がF4(x、y)の中より求められるものであるが、こ
れらを式(6)中のF、  zに代入すれば、未知数と
してのF pn番。
Z2が以下のように、容易に求められるものである。
C=  (Z−−+  Z−) (j! −F−1−F
−−+)D=  (Z、−211)(ffi1%FII
−、−1,IF、 )である。
・・・(田 したがって、対象物上の座標点(X、 y >全てにつ
いて、式(7)に従って演算すれば、対象物の立体形状
Z(x、y)が求められるわけである。Z、を求めるの
に式(8)、 (9)は必ずしも必要とはされないが、
F、の値が予め設定されているしきい値T2よりも大き
く、しかもσの値が予め設定されているしきい値T、よ
りも小さい場合のみ式(7)で得られた値をそのままZ
2として用い、それ以外の場合はZpとして特殊な値、
例えば0を用いるようにすれば、ZIから27までの何
れでも焦点が合わない背景部などを除去し得るものとな
っている。
以上の合焦測度最大値位置は合焦測度最大値位置検出部
10で検出されるが、第5図はその具体内構I′Ii、
(但し、しきい値T□T、による判定処理は含まず)を
示したものである。これによる場合、3つの連続したF
 t (x、 y)、  F z−+(L V>−F 
1−z(に、 y)を更新可として記憶するフレームメ
モリ19゜20、21、これらフレームメモリ19.2
0.21にFi(X、 ?)を選択的に書き込むための
選択回路22、フレームメモリ19.20.21の何れ
か2つからはF l−2(x、y)、F i −+ (
X+ V)を、また、合焦測度検出部9からのFl (
x、 y)を入力としてFt−+(x、 y)が最大か
否かを判定する最大値抽出回路23、任意の座標点(x
、 y)においてFz−+(L y)が極大であった場
合に、Fi−+(x、 y)をFa (L V)として
書き込むフレームメモリ24、その場合に最大値抽出回
路23内において求められたΔz X (t−1) (
=Z −1)をZ。
として書き込むフレームメモリ24′、その場合にFl
−2(x、 y)をF wa −+ (x、y)として
書き込むフレームメモリ25、その場合にFi(x、 
y)をFTll+I(XIy)として書き込むフレーム
メモリ26、およびF M−1(x+ y)+  Ft
a (x+ y)、  Fast(X+ y)4や2.
.2.。
=−2,−ΔZ ) 、  Z □l (−Z M+Δ
2)にもとづき式(7)によりZ、 (x、 y)を求
める最大値位置検出回路27より構成されたものとなっ
ている。
この合焦測度最大値値検出部10での動作について説明
すれば、選択回路22では合焦測度検出部9より実時間
で送出されるFt (x、 y)を最も古い2フレーム
(検出画面)前のFl−、(x、 y)が記憶されてい
るフレームメモリ19.20.21の何れかに新たなF
、(χ、yとして書き込むようになっている。
この結果、フレームメモリ19.20.21の残された
2つにはそのF4 (x、 y)に対しlフレーム前、
2フレーム前のF i−+(X+ y)、 Fl−z(
x+ y)が常に記憶されていることになるものである
。最大値抽出回路23ではまた検出画像が得られる度に
、フレームメモリ19.20.21の何れか2つからの
Ft−+(X+y) 、F i−z (x、 y)と合
焦測度検出部9からのFl(x、y)とにもとづき式O
o)で示される関係が座標点(x、 y)各々で成立す
るか否かが判定されているものである。
F 1−z(X+ y) < F t−+ (x、y)
≦F ((x、 y) ・” GO)もしも式GO)が
成立した場合には、Ft−+(x+ y)が極大値であ
ると見做して、次には、これがこれまでにフレームメモ
リ24に記憶されているF、(x。
y)よりも大きいか否かが弐〇〇によって判定されるよ
うになっている。
Ft−+(x+ y) >F、 (x、y)     
  ””00もしも、弐〇〇が成立しない場合は何等の
処理も行なわれないが、成立した場合にはそのFi−t
(X。
y)をこれまでに得られた最大値であるとして、これを
新たなF m (x+ y)とする更新処理が行なわれ
るものである。この更新処理ではそのFL−1(x。
まれるものである。
したがって、以上の処理をi−1からnまで実行すれば
、フレームメモリ24.25.26各々には座標点(に
、 y)全てについての、合焦測度最大値に係るFs 
(x+ y)、Fs−+(X+ y)、Fm++(x、
y)が、また、フレームメモリ24′にはZ、が記憶さ
れていることになるものである。よって、これらの値に
もとづき最大値位置検出回路27で式(7)として示さ
れている演算が行なわれれば、座標点(x、 y)全て
についてZp(x、 y)が求められるものである。
ところで、以上の処理ではガウス分布の主たる部分での
データ3点にもとづきガウス分布を求め、これよりZ、
(χ、 y)が求められているが、ガウス分布近似はこ
れ以外にも、第4図(ハ)に示した全てのデータ点にも
とづき最小二乗近似によって求められるようになってい
る。また、F、、Z、の算出はガウス分布近似による場
合以外にも考えられるものとなっている。例えば第6図
に示すように、Fs−+(x+ y)+Fs*+(x+
 y)のうち小さいものとF。
(x、 y)とを直線で結び、この直線の傾き角をαと
して、FTl−1(X、 y)、F□+(x+ y)の
うち大きいものを通るようにして傾き角αの直線を引く
ようにすれば、これら直線の交点として(F、、Z、)
を求めてもよいものである。更に第7図に示すように、
データ点列を折れ線近似したうえ適当に設定されたしき
い値T4との交点z’、z“を求めるようにすれば、Z
pは以下のように求められるものとなっている。
z’ +z’ Z、=               ・・・・・・(
121場合によってはZ2はデータ点列の重心位置とし
て求められてもよいものである。
ところで、また、Zp (x+ y)がガウス分布近似
によって式(7)で求められるにしても、Zpをその都
度演算を行なうのではなく直接的に求めることも可能と
なっている。結局なところ、ZpはF5゜F 11−1
+ F *+1の関数となることから、第8図に示すよ
うに、座標(F、、F、−1,F、、、)からなる3次
元メモリに、F llI+ F lm−In F @4
1の全ての組合せに対するΔ2=2p−2,を予め求め
、記憶しておけば、これを参照することでZpがより高
速に求められるものである。その際、F M+ F M
−1+ F @ 41を例えばF、で、また、2..2
.。l+L−1をΔ2で正規化しておく場合は、メモリ
容量が少なくて済まされるものである。更に、以上の説
明では、合焦測度最大値位置検出では画像検出ピッチΔ
2よりも細かい値でZpを求めることに重点がおかれて
いるが、Δ2ピッチ単位にZ、を求めるのであれば、以
下の式03)より単純にZpは求められるものとなって
いる。
Zp(x+ y)= il wax(Ft(x+ yL
i=1+2−、 n)・・・03) 即ち、座標点(x、 y)全てに対してFt (x、 
y)が最大となる場合でのiを求め、これをZ、(に、
 y)とすればよいものである。
以上合焦測度最大値位置検出にもとづいてZp(x、 
y)が求められたが、これにもとづき立体形状表示部1
1では対象物1のその立体形状が表示されるものとなっ
ている。立体形状表示部11では合焦測度最大値位置検
出部10からのZp(x、 y)全てがメモリに一旦記
憶されたうえ、表示管に立体形状として表示されるよう
になっているが、その表示には表示管以外にプリンタや
、各種の表示手段を利用し得るものとなっている。また
、単に立体形状を表示するだけではなく、Zp (x、
 y)は自動検査や形状収集などに用いられることがあ
るから、このような場合には立体形状表示部11は自動
検査のための判定回路であったり、あるいは形状収集の
ための大規模メモリや計算機であったりすることは明ら
かである。
最後に本発明の変形態様、あるいはより望ましい実施態
様について説明すれば、対象物の表面でャを有しない拡
散面や鏡面をその表面として有する対象物に対しては、
格子パターンやマルチスポット光を使用することで、テ
ックスチャを有しない拡散面表面に照明によるテックス
チャを形成せしめたり、鏡面からの反射光を多数光源像
にさせることが可能であり、このようにすれば拡散面や
鏡面に対してもその立体形状が検出され得るというもの
である。より詳細に説明すれば、第9図(a)では周囲
からのライドガイド(光源部は図示省略)28によって
マルチスポット光源が形成され、対象物(図示せず)は
それらライドガイド28によって照明されるようになっ
ている。また、第9図(b)では格子状光源として照明
する例を示しており、暗視野照明用放物凹面鏡29への
照明光束30によってその鏡面上には格子状パターンが
形成されるようになっている。更に第9図(C)では明
視野照明とされるも、その照明側実像面上にはフィルタ
31が挿入されたものとなっている。フィルタ31とし
てマルチスポット(多数の円形開口部)フィルタや、格
子パターン、あるいはランダムなテックスチャを有する
フィルタなどを挿入し、合焦面ではそれらが最もコント
ラスト良好に投影されるようにすれば、マルチスポット
像や格子パターン、ランダムテックスチャが像検出によ
って検出されることで、対象物の立体形状が検出され得
るものである。
zf例では対象物の上下動をステップ的に行ない、各停
止位置で画像検出が行なわれる場合を想定しているが、
より高速に立体形状を検出するために、例えば速度一定
として対象物と画像検出光学系との相対的位置関係を連
続的に変化せしめている間に、周期的に、あるいは非周
期的に一定時間内に亘って対象物の像を平均的に検出す
るようにしてもよい。TVカメラを像検出器として用い
る場合など、蓄積型センサでは一定時間(蓄積時間)内
の間に受光部に蓄積、あるいは放電された電荷がその受
光部で受光された光量に対応することから、対象物と画
像検出光学系との間の相対的位置関係を連続的に変化さ
せつつ蓄積型センサで対象物の画像を検出する場合は、
蓄積時間内での変化量に対応した、平均的な画像が得ら
れることから、何隻不具合は生じないというものである
したがって、そのようにして画像検出を行なう場合は、
焦点位置が異なる複数の画像検出がより高速に検出され
、ひいては対象物の立体形状もまたより高速に求められ
るものである。
〔発明の効果〕
以上説明したように、請求項1による場合は、焦点位置
が異なる複数の画像間に亘る合焦測度最大値位置を以て
、対象物上でのその部分の高さが求められることから、
任意対象物の立体形状が確実に求められることになる。
また、請求項2による場合には、合焦測度最大値位置は
、これを焦点位置が異なる画像間に内挿して求められて
いることから、焦点位置の差よりも細かく高精度に対象
物の立体形状が求められ、しかもまた検出画像数が少な
い場合であっても立体形状が検出されることになる。更
に、請求項3による場合は、対象物表面にテックスチャ
コントラストを生じせしめぞ村る照明光を用いることに
よっては、その表面が鏡面や拡散面であっても、対象物
の立体形状が求められることになる。更にまた、請求項
4による場合には、対象物に対する画像検出は画像検出
光学系との間の相対的位置関係が連続的に変化されてい
る間に行なわれることから、より高速に対象物の立体形
状が求められ、請求項5による場合はまた、内挿による
高分解能な合焦測度最大値位置検出は、予め算出、記憶
されているマトリックスデータを参照することで、その
最大値位置は高速に求められることになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係る立体形状検出装置の概略構成を
対象物とともに示す図、第2図(a)、 (b)。 (C)は、本発明に係る処理内容の概略を説明するため
の図、第3図は、その装置における構成要素としての合
焦測度検出部の一具体的l構成を示す図、第4図(a)
、 (b)は、画像間に内挿された合焦測度最大値位置
を求めるための説明図、第5図は、その装置における構
成要素としての合焦測度最大値位置検出部の一具体内構
成を示す図、第6図、第7図は、画像間に内挿された合
焦測度最大値位置を他の方法によって求める場合を説明
するための図、第8図は、画像間に内挿された合焦測度
最大値位置を求める際に参照されるマトリックスデータ
を説明するための図、第9図(a)、 (b)、 (C
)は、本発明に係る各種照明方式を説明するための図で
ある。 1・・・対象物、3・・・上下機構、4・・・ハーフミ
ラ−5・・・照明レンズ、6・・・ランプ、7・・・結
像レンズ、8・・・像検出器、9・・・合焦測度検出部
、10・・・合焦測度最大値位置検出部、11・・・立
体形状表示部、28・・・ライトガイド、29・・・暗
視野照明用放物凹面鏡、31・・・フィルタ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、対象物の立体的形状を光学的に検出するための立体
    形状検出方法であって、同一対象物について求められた
    、焦点位置が異なる複数の画像より該対象物上の点各々
    について上記画像対応に合焦測度を求め、該点対応に求
    められた、上記複数の画像間での合焦測度の最大値が得
    られる際での焦点位置を、該点についての高さとして求
    めることを特徴とする立体形状検出方法。 2、合焦測度の最大値が得られる際での焦点位置は、複
    数の画像間に内挿された合焦測度より求められる請求項
    1記載の立体形状検出方法。 3、同一対象物について複数の画像が求められる際には
    、該対象物には該対象物表面にテックスチャコントラス
    トを生じせしめる照明光が照射される、請求項1、2の
    何れかに記載の立体形状検出方法。 4、同一対象物について複数の画像が求められる際には
    、該対象物と画像検出光学系との間の相対的位置関係が
    、連続的に変化されつつ複数の画像が求められる、請求
    項1〜3の何れかに記載の立体形状検出方法。 5、複数の画像間に内挿された合焦測度より合焦測度の
    最大値を得るに際しては、予め算出、記憶されているマ
    トリックスデータが参照される、請求項2〜4の何れか
    に記載の立体形状検出方法。
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US (1) US5151609A (ja)
JP (1) JP2928548B2 (ja)

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5878152A (en) * 1997-05-21 1999-03-02 Cognex Corporation Depth from focal gradient analysis using object texture removal by albedo normalization
US6025905A (en) * 1996-12-31 2000-02-15 Cognex Corporation System for obtaining a uniform illumination reflectance image during periodic structured illumination
US6148120A (en) * 1997-10-30 2000-11-14 Cognex Corporation Warping of focal images to correct correspondence error
US6219461B1 (en) 1997-07-29 2001-04-17 Cognex Corporation Determining a depth
JP2002090127A (ja) * 2000-09-19 2002-03-27 Olympus Optical Co Ltd 三次元情報取得方法及び共焦点走査型顕微鏡並びにコンピュータにより読み取り可能な記憶媒体
JP2004294100A (ja) * 2003-03-25 2004-10-21 Toshiba Corp パターン計測装置、パターン計測方法および半導体装置の製造方法
JP2006516729A (ja) * 2003-01-25 2006-07-06 スパイラル スクラッチ リミテッド 深さ情報を含むイメージを作成する方法及び装置
JP2008241499A (ja) * 2007-03-28 2008-10-09 Fujitsu Ltd 干渉計測装置およびフォーカス調整方法
JP2008304331A (ja) * 2007-06-07 2008-12-18 Aruze Corp 三次元座標測定装置及び三次元座標測定装置において実行されるプログラム
JP2010139419A (ja) * 2008-12-12 2010-06-24 Nikon Corp 形状測定装置
WO2010134343A1 (ja) * 2009-05-21 2010-11-25 株式会社ニコン 形状測定装置、観察装置および画像処理方法
JP2011085932A (ja) * 2009-10-15 2011-04-28 General Electric Co <Ge> 被写界深度が向上した撮像システム及び撮像方法
WO2011052693A1 (ja) * 2009-10-29 2011-05-05 富士機械製造株式会社 三次元計測装置及び三次元計測方法
WO2011114939A1 (ja) * 2010-03-16 2011-09-22 株式会社ニコン 高さ測定方法、高さ測定用プログラム、高さ測定装置
WO2014208362A1 (ja) * 2013-06-25 2014-12-31 Ntn株式会社 塗布装置および高さ検出方法
JP2017090447A (ja) * 2015-11-04 2017-05-25 ▲れい▼達科技股▲ふん▼有限公司Leadot Innovation, Inc. 3次元外形情報検知システム及び検知方法
US10728519B2 (en) 2004-06-17 2020-07-28 Align Technology, Inc. Method and apparatus for colour imaging a three-dimensional structure
US10952827B2 (en) 2014-08-15 2021-03-23 Align Technology, Inc. Calibration of an intraoral scanner
JP2022074065A (ja) * 2020-10-30 2022-05-17 株式会社ミツトヨ ポイントフロムフォーカスタイプのプロセスのための投射パターンを用いた計測システム

Families Citing this family (66)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9102903D0 (en) * 1991-02-12 1991-03-27 Oxford Sensor Tech An optical sensor
JPH0560528A (ja) * 1991-09-03 1993-03-09 Hitachi Ltd 立体情報入力装置
JPH05299048A (ja) * 1992-04-24 1993-11-12 Hitachi Ltd 電子線装置および走査電子顕微鏡
US5432332A (en) * 1992-04-28 1995-07-11 Fuji Photo Optical Co., Ltd. Method of auto-focussing and system therefor
JP3206843B2 (ja) * 1992-12-18 2001-09-10 株式会社小松製作所 3次元画像計測装置
US5453784A (en) * 1993-02-10 1995-09-26 Krishnan; Arun Imaging apparatus and method for determining range and determining focus information
US5647025A (en) * 1994-09-20 1997-07-08 Neopath, Inc. Automatic focusing of biomedical specimens apparatus
US6033721A (en) * 1994-10-26 2000-03-07 Revise, Inc. Image-based three-axis positioner for laser direct write microchemical reaction
US5543918A (en) * 1995-01-06 1996-08-06 International Business Machines Corporation Through-the-lens confocal height measurement
US5793900A (en) * 1995-12-29 1998-08-11 Stanford University Generating categorical depth maps using passive defocus sensing
DE19631205C2 (de) * 1996-08-02 1998-07-30 Werner Schulz Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung der Geometrie eines dreidimensionalen Objektes
US5912768A (en) * 1996-12-31 1999-06-15 Cognex Corporation Depth-from-defocus optical apparatus with invariance to surface reflectance properties
ATE208911T1 (de) * 1997-04-04 2001-11-15 Isis Innovation Abbildungssystem und -verfahren für mikroskopie
KR100428604B1 (ko) * 1997-06-30 2004-06-16 주식회사 대우일렉트로닉스 3차원 데이터 취득시점 자동제어방법
JP2000329527A (ja) * 1999-05-20 2000-11-30 Sony Corp 高さ測定装置及び方法とこれを利用した検査装置
DE19941771B4 (de) * 1999-09-02 2010-10-21 E. Zoller GmbH & Co. KG Einstell- und Messgeräte Verfahren zur Vermessung von ein- oder mehrschneidigen Zerspanungswerkzeugen
DE19944516B4 (de) * 1999-09-16 2006-08-17 Brainlab Ag Dreidimensionale Formerfassung mit Kamerabildern
EP1199542A3 (de) * 2000-10-13 2003-01-15 Leica Microsystems Imaging Solutions Ltd. Verfahren und Vorrichtung zur optischen Vermessung eines Oberflächenprofils eines Objektes
US20040125228A1 (en) * 2001-07-25 2004-07-01 Robert Dougherty Apparatus and method for determining the range of remote objects
DE50212392D1 (de) * 2001-09-11 2008-07-31 Leica Microsystems Verfahren und vorrichtung zur optischen untersuchung eines objektes
US7127098B2 (en) * 2001-09-13 2006-10-24 Hitachi, Ltd. Image detection method and its apparatus and defect detection method and its apparatus
EP1459033A2 (de) * 2001-12-19 2004-09-22 Werth Messtechnik GmbH Verfahren zur dreidimensionalen messung einer oberfläche
US7084910B2 (en) * 2002-02-08 2006-08-01 Hewlett-Packard Development Company, L.P. System and method for using multiple images in a digital image capture device
US7084383B2 (en) * 2002-06-03 2006-08-01 Olympus Corporation Image processing apparatus
DE10321748A1 (de) * 2003-05-09 2004-12-09 Gigia Likokeli Verfahren zur Messung der Form dreidimensionaler Objekte
US20050206874A1 (en) * 2004-03-19 2005-09-22 Dougherty Robert P Apparatus and method for determining the range of remote point light sources
DE102004047928B4 (de) * 2004-10-01 2011-02-24 Carl Mahr Holding Gmbh Optisches 3D-Messverfahren und Messeinrichtung
US8311311B2 (en) 2005-10-31 2012-11-13 Mitutoyo Corporation Optical aberration correction for machine vision inspection systems
US7724942B2 (en) * 2005-10-31 2010-05-25 Mitutoyo Corporation Optical aberration correction for machine vision inspection systems
JP2007219130A (ja) * 2006-02-16 2007-08-30 Renesas Technology Corp マスクブランクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びにそれらを用いた半導体装置の製造方法
US8970680B2 (en) * 2006-08-01 2015-03-03 Qualcomm Incorporated Real-time capturing and generating stereo images and videos with a monoscopic low power mobile device
EP1970668A1 (de) * 2007-03-14 2008-09-17 Alicona Imaging GmbH Verfahren und Apparat zur optischen Messung der Topografie einer Probe
US8179432B2 (en) * 2007-04-30 2012-05-15 General Electric Company Predictive autofocusing
US7729049B2 (en) * 2007-05-26 2010-06-01 Zeta Instruments, Inc. 3-d optical microscope
US8184364B2 (en) * 2007-05-26 2012-05-22 Zeta Instruments, Inc. Illuminator for a 3-D optical microscope
GB2476738B (en) * 2007-07-18 2012-08-15 Iatia Imaging Pty Ltd Method and apparatus for determining the surface profile of an object
DE102007053993B4 (de) 2007-09-14 2010-08-12 Carl Mahr Holding Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Werkzeugvermessung
DE102008041070A1 (de) * 2008-08-07 2010-02-11 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Bestimmung der Partikelhöhe
US8218061B2 (en) * 2008-09-04 2012-07-10 Csr Technology Inc. Apparatus, method, and manufacture for iterative auto-focus using depth-from-defocus
KR20100051359A (ko) * 2008-11-07 2010-05-17 삼성전자주식회사 영상 데이터 생성 방법 및 장치
CA2763826C (en) 2009-06-17 2020-04-07 3Shape A/S Focus scanning apparatus
WO2011014419A1 (en) 2009-07-31 2011-02-03 3Dmedia Corporation Methods, systems, and computer-readable storage media for creating three-dimensional (3d) images of a scene
US20110025830A1 (en) * 2009-07-31 2011-02-03 3Dmedia Corporation Methods, systems, and computer-readable storage media for generating stereoscopic content via depth map creation
US9380292B2 (en) 2009-07-31 2016-06-28 3Dmedia Corporation Methods, systems, and computer-readable storage media for generating three-dimensional (3D) images of a scene
US8542313B2 (en) * 2010-01-27 2013-09-24 Csr Technology Inc. Depth from defocus calibration
RU2453922C2 (ru) * 2010-02-12 2012-06-20 Георгий Русланович Вяхирев Способ представления исходной трехмерной сцены по результатам съемки изображений в двумерной проекции (варианты)
US9389408B2 (en) 2010-07-23 2016-07-12 Zeta Instruments, Inc. 3D microscope and methods of measuring patterned substrates
US9344701B2 (en) 2010-07-23 2016-05-17 3Dmedia Corporation Methods, systems, and computer-readable storage media for identifying a rough depth map in a scene and for determining a stereo-base distance for three-dimensional (3D) content creation
US8644697B1 (en) 2010-08-13 2014-02-04 Csr Technology Inc. Method for progressively determining depth from defocused images
WO2012061549A2 (en) 2010-11-03 2012-05-10 3Dmedia Corporation Methods, systems, and computer program products for creating three-dimensional video sequences
US8649024B2 (en) 2010-12-03 2014-02-11 Zygo Corporation Non-contact surface characterization using modulated illumination
US8274552B2 (en) 2010-12-27 2012-09-25 3Dmedia Corporation Primary and auxiliary image capture devices for image processing and related methods
US10200671B2 (en) 2010-12-27 2019-02-05 3Dmedia Corporation Primary and auxiliary image capture devices for image processing and related methods
US9501834B2 (en) 2011-08-18 2016-11-22 Qualcomm Technologies, Inc. Image capture for later refocusing or focus-manipulation
JP5882805B2 (ja) * 2012-03-26 2016-03-09 キヤノン株式会社 情報処理装置、その処理方法及びプログラム
DE102012109726A1 (de) * 2012-09-04 2014-04-03 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Geometrie eines Objektes mit einer Zoomoptik
US8896747B2 (en) 2012-11-13 2014-11-25 Qualcomm Technologies, Inc. Depth estimation based on interpolation of inverse focus statistics
US10237528B2 (en) 2013-03-14 2019-03-19 Qualcomm Incorporated System and method for real time 2D to 3D conversion of a video in a digital camera
TWI618640B (zh) * 2013-09-13 2018-03-21 Silicon Touch Technology Inc. 立體列印系統以及立體列印方法
WO2015118120A1 (en) 2014-02-07 2015-08-13 3Shape A/S Detecting tooth shade
US10321100B2 (en) * 2014-12-02 2019-06-11 Ademco Inc. System and method of foreground extraction for digital cameras
CN106524901A (zh) * 2015-09-15 2017-03-22 苏州中启维盛机器人科技有限公司 采用ccd光敏器件的成像光斑计算方法
DE102015117756A1 (de) * 2015-10-19 2017-04-20 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zum Ermitteln eines fokussierten Bildabstands eines optischen Sensors eines Koordinatenmessgeräts
DE102021108238A1 (de) * 2021-03-31 2022-10-06 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Computerimplementiertes Verfahren, Verfahren, Messgerät und Computerprogrammprodukt
DE102021111706B4 (de) 2021-05-05 2025-04-24 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren, Messgerät und Computerprogramm
EP4379445A3 (de) 2022-02-11 2024-08-07 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH Bestimmung von tiefenwerten eines oberflächenbereichs eines werkstücks

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS613464A (ja) * 1984-06-18 1986-01-09 Hitachi Ltd 半導体装置
JPS6474764A (en) * 1987-09-17 1989-03-20 Matsushita Electric Industrial Co Ltd Semiconductor device

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2539778B2 (ja) * 1984-11-22 1996-10-02 株式会社日立製作所 検査方法および検査装置
JPH0616087B2 (ja) * 1987-09-22 1994-03-02 スタンレー電気株式会社 光電検出装置
US4929843A (en) * 1989-06-28 1990-05-29 General Electric Company Apparatus and method for determining a dimension of an object

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS613464A (ja) * 1984-06-18 1986-01-09 Hitachi Ltd 半導体装置
JPS6474764A (en) * 1987-09-17 1989-03-20 Matsushita Electric Industrial Co Ltd Semiconductor device

Cited By (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6025905A (en) * 1996-12-31 2000-02-15 Cognex Corporation System for obtaining a uniform illumination reflectance image during periodic structured illumination
US5878152A (en) * 1997-05-21 1999-03-02 Cognex Corporation Depth from focal gradient analysis using object texture removal by albedo normalization
US6219461B1 (en) 1997-07-29 2001-04-17 Cognex Corporation Determining a depth
US6269197B1 (en) 1997-07-29 2001-07-31 Cognex Corporation Determining a depth
US6483950B1 (en) 1997-07-29 2002-11-19 Cognex Corporation Determining a depth
US6148120A (en) * 1997-10-30 2000-11-14 Cognex Corporation Warping of focal images to correct correspondence error
JP2002090127A (ja) * 2000-09-19 2002-03-27 Olympus Optical Co Ltd 三次元情報取得方法及び共焦点走査型顕微鏡並びにコンピュータにより読み取り可能な記憶媒体
JP2006516729A (ja) * 2003-01-25 2006-07-06 スパイラル スクラッチ リミテッド 深さ情報を含むイメージを作成する方法及び装置
JP2004294100A (ja) * 2003-03-25 2004-10-21 Toshiba Corp パターン計測装置、パターン計測方法および半導体装置の製造方法
US10924720B2 (en) 2004-06-17 2021-02-16 Align Technology, Inc. Systems and methods for determining surface topology and associated color of an intraoral structure
US10728519B2 (en) 2004-06-17 2020-07-28 Align Technology, Inc. Method and apparatus for colour imaging a three-dimensional structure
US10750152B2 (en) 2004-06-17 2020-08-18 Align Technology, Inc. Method and apparatus for structure imaging a three-dimensional structure
US10750151B2 (en) 2004-06-17 2020-08-18 Align Technology, Inc. Method and apparatus for colour imaging a three-dimensional structure
US10764557B2 (en) 2004-06-17 2020-09-01 Align Technology, Inc. Method and apparatus for imaging a three-dimensional structure
US10944953B2 (en) 2004-06-17 2021-03-09 Align Technology, Inc. Method and apparatus for colour imaging a three-dimensional structure
US10812773B2 (en) 2004-06-17 2020-10-20 Align Technology, Inc. Method and apparatus for colour imaging a three-dimensional structure
JP2008241499A (ja) * 2007-03-28 2008-10-09 Fujitsu Ltd 干渉計測装置およびフォーカス調整方法
JP2008304331A (ja) * 2007-06-07 2008-12-18 Aruze Corp 三次元座標測定装置及び三次元座標測定装置において実行されるプログラム
JP2010139419A (ja) * 2008-12-12 2010-06-24 Nikon Corp 形状測定装置
WO2010134343A1 (ja) * 2009-05-21 2010-11-25 株式会社ニコン 形状測定装置、観察装置および画像処理方法
JP5500462B2 (ja) * 2009-05-21 2014-05-21 株式会社ニコン 形状測定装置、観察装置および画像処理方法
US8675062B2 (en) 2009-05-21 2014-03-18 Nikon Corporation Shape measuring device, observation device, and image processing method
JP2011085932A (ja) * 2009-10-15 2011-04-28 General Electric Co <Ge> 被写界深度が向上した撮像システム及び撮像方法
JP2011095093A (ja) * 2009-10-29 2011-05-12 Myuu Skynet:Kk 三次元計測装置及び三次元計測方法
WO2011052693A1 (ja) * 2009-10-29 2011-05-05 富士機械製造株式会社 三次元計測装置及び三次元計測方法
WO2011114939A1 (ja) * 2010-03-16 2011-09-22 株式会社ニコン 高さ測定方法、高さ測定用プログラム、高さ測定装置
US9945661B2 (en) 2010-03-16 2018-04-17 Nikon Corporation Method for measuring height, non-transitory computer readable medium storing a program for measuring height, and height measuring apparatus
JP5397537B2 (ja) * 2010-03-16 2014-01-22 株式会社ニコン 高さ測定方法、高さ測定用プログラム、高さ測定装置
JP2015007564A (ja) * 2013-06-25 2015-01-15 Ntn株式会社 塗布装置および高さ検出方法
WO2014208362A1 (ja) * 2013-06-25 2014-12-31 Ntn株式会社 塗布装置および高さ検出方法
US10952827B2 (en) 2014-08-15 2021-03-23 Align Technology, Inc. Calibration of an intraoral scanner
US10721455B2 (en) 2015-11-04 2020-07-21 Leadot Innovation, Inc. Three dimensional outline information sensing system and sensing method
JP2017090447A (ja) * 2015-11-04 2017-05-25 ▲れい▼達科技股▲ふん▼有限公司Leadot Innovation, Inc. 3次元外形情報検知システム及び検知方法
JP2022074065A (ja) * 2020-10-30 2022-05-17 株式会社ミツトヨ ポイントフロムフォーカスタイプのプロセスのための投射パターンを用いた計測システム

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