JPH0365909U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0365909U JPH0365909U JP12730589U JP12730589U JPH0365909U JP H0365909 U JPH0365909 U JP H0365909U JP 12730589 U JP12730589 U JP 12730589U JP 12730589 U JP12730589 U JP 12730589U JP H0365909 U JPH0365909 U JP H0365909U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photodiodes
- light
- measured
- displacement measuring
- optical
- Prior art date
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- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Description
第1図は本考案に係わる光学式変位測定器の信
号処理の一実施例を示す構成図、第2図は第1図
の信号処理を構成するゲイン調整回路の出力信号
を示す図、第3図は第1図の信号処理から得られ
るフオーカスエラー信号を示す図、第4図は本考
案に係わる光学式変位測定器の他の実施例を示す
構成図、第5図は第4図の装置を用いた際のスポ
ツト径と被測定物の変位量の関係を示すシユミレ
ーシヨン図、第6図は第4図の装置から得られる
フオトダイオードの出力信号を示す図、第7図は
第4図の装置から得られるフオーカスエラー信号
を示す図、第8図は従来例の構成図、第9図は第
8図の従来装置から得られるフオトダイオードの
出力信号を示す図、第10図は第8図の従来装置
から得られるフオーカスエラー信号を示す図であ
る。 1……レーザダイオード、2……コリメータレ
ンズ、3……偏光ビームスプリツタ、4……1/4
波長板、5……対物レンズ、6……被測定物、7
……ハーフミラー、10,11……フオトダイオ
ード、12,13……ゲイン調整回路、14……
演算回路、15,16……集光レンズ。
号処理の一実施例を示す構成図、第2図は第1図
の信号処理を構成するゲイン調整回路の出力信号
を示す図、第3図は第1図の信号処理から得られ
るフオーカスエラー信号を示す図、第4図は本考
案に係わる光学式変位測定器の他の実施例を示す
構成図、第5図は第4図の装置を用いた際のスポ
ツト径と被測定物の変位量の関係を示すシユミレ
ーシヨン図、第6図は第4図の装置から得られる
フオトダイオードの出力信号を示す図、第7図は
第4図の装置から得られるフオーカスエラー信号
を示す図、第8図は従来例の構成図、第9図は第
8図の従来装置から得られるフオトダイオードの
出力信号を示す図、第10図は第8図の従来装置
から得られるフオーカスエラー信号を示す図であ
る。 1……レーザダイオード、2……コリメータレ
ンズ、3……偏光ビームスプリツタ、4……1/4
波長板、5……対物レンズ、6……被測定物、7
……ハーフミラー、10,11……フオトダイオ
ード、12,13……ゲイン調整回路、14……
演算回路、15,16……集光レンズ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 対物レンズをフオーカス方向に駆動し被測
定物上に光スポツトを集光しその反射光の光強度
パターンを光検出器で測定し演算処理することに
より被測定物の微小変位を測定する光学式変位測
定器において、 被測定物からの反射光を2方向に分岐する光学
要素と、前記光学要素により分岐された2つの光
をそれぞれ集光する2つの集光レンズと、前記2
つの集光レンズの焦点前後同距離に配置され前記
集光レンズにより集光された光がそれぞれ入射さ
れる2つのフオトダイオードと、前記2つのフオ
トダイオードの検出信号がそれぞれ入力されこの
検出信号の変化の割合を等しくするための2つの
ゲイン調整回路とを設けた構成とし、この2つの
ゲイン調整回路の出力信号の差からフオーカスエ
ラー信号を得るようにしたことを特徴とする光学
式変位測定器。 (2) 前記2つの集光レンズを検出信号の変化の
割合を等しくするための焦点距離の異なる集光レ
ンズとし、この集光レンズにより集光された光が
それぞれ入射される2つのフオトダイオードを前
記2つの集光レンズの焦点前後かつ前記フオトダ
イオードの直径とフオトダイオード上のスポツト
径が等しくなる距離に配置した構成とし、この2
つのフオトダイオードの検出信号の差からフオー
カスエラー信号を得るようにしたことを特徴とす
る光学式変位測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12730589U JPH084564Y2 (ja) | 1989-10-31 | 1989-10-31 | 光学式変位測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12730589U JPH084564Y2 (ja) | 1989-10-31 | 1989-10-31 | 光学式変位測定器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0365909U true JPH0365909U (ja) | 1991-06-26 |
| JPH084564Y2 JPH084564Y2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=31675065
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12730589U Expired - Fee Related JPH084564Y2 (ja) | 1989-10-31 | 1989-10-31 | 光学式変位測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH084564Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06194125A (ja) * | 1992-10-05 | 1994-07-15 | Carl Zeiss:Fa | 対物レンズの焦点から物体のずれ又は位置変化を検出する方法及び装置 |
-
1989
- 1989-10-31 JP JP12730589U patent/JPH084564Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06194125A (ja) * | 1992-10-05 | 1994-07-15 | Carl Zeiss:Fa | 対物レンズの焦点から物体のずれ又は位置変化を検出する方法及び装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH084564Y2 (ja) | 1996-02-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |