JPH036893A - 多層薄膜配線基板 - Google Patents

多層薄膜配線基板

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JPH036893A
JPH036893A JP14183689A JP14183689A JPH036893A JP H036893 A JPH036893 A JP H036893A JP 14183689 A JP14183689 A JP 14183689A JP 14183689 A JP14183689 A JP 14183689A JP H036893 A JPH036893 A JP H036893A
Authority
JP
Japan
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layer
laminated
layers
conductor
thickness
Prior art date
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Pending
Application number
JP14183689A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyokazu Moriizumi
清和 森泉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPH036893A publication Critical patent/JPH036893A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [概要〕 複数の層をセラミック材より成るベースの表面に逐次積
層することで形成される多層薄膜配線基板に関し、 各層を平坦化することで、導体層の断線を発生させる要
因を除去し、より多層化を行うことができ、かつ、信顛
性の向上を図ることを目的とし、所定の厚みに積層され
た有機絶縁材より成る絶縁層と、該絶縁層の積層厚みと
同等の厚みに形成された導体層とによって層を形成する
と共に、該導体層が電極金属スパッタにより形成された
金属膜と、該金属膜にメッキを施すことで形成されたメ
ッキ膜とによって形成されるように構成する。
[産業上の利用分野] 本発明は複数の層をセラミック材より成るベースの表面
に逐次積層することで形成される多層薄膜配線基板に関
する。
近年、電算機などの電子装置では高速化に伴い、これら
に使用される回路基板は高密度化されるようになった。
そこで、このような回路基板は、−船釣に、薄膜により
パターン形成を行い、パターン形成が行われた層の多数
を積層し、多層化することで高密度配線が行われるよう
に形成されている。
したがって、このような回路基板では、より多くの層が
積層されるように形成されることが望まれる。
(従来の技術) 従来は第4図の従来の側面断面図に示すように構成され
ていた。
第4図に示すように、セラミック材より成るベースlの
表面1Aに導体11−1と絶縁[12−1とより成る第
1の層10−1を積層し、更に、第1の層10−1の上
層に対して同様に第2の層10−2を積層することで、
次々と第3の層10−3.第4の層10−4を積層する
ように形成されていた。
また、第1の7!10−1と第2の層10−2.第2の
層10−2と第3の層10−3のように上層と下層との
各導体層の接続はビア13が設けられることで行われて
いる。
このような積層は、−船釣に、第5図の(a)〜(h)
の製造工程図に示す製造によって形成することが行われ
ている。
第5図の(a)に示すように、先づ、ベース1の表面に
金属スパッタによって所定の膜厚の金属膜11Aを形成
し、(b)に示すように、金属膜11Aの上層にレジス
)14を積層し、エツチングによって金属膜11^の不
要部を除去し、(c)に示すように、所定のパターンを
形成する第1の導体層11−1の形成を行う。
次に、(d)に示すように、有機絶縁材によって第1の
導体層11−1の全体を覆うように第1の絶縁層12−
1の積層し、第1の層10−1の形成が行われる。
この第1の絶縁層12−1に対しては、(e)に示すよ
うに、第1の導体層11−1を露出させるピアホール1
5が設けられ、(f)に示すように第1の絶縁層12−
1の上層に金属スパッタによって所定の膜厚の金属膜1
1八を形成した時、ピアホール15にはビア13が形成
される。
そこで、(f)に示すように、金属膜11Aにレジスト
14を積層し、エツチングによって第2の層1〇−2を
構成する第2の導体層11−2の形成を行うことで(h
)に示すように、第1の導体層11−1の上層に積層さ
れる第2の導体層11−2とはビア13によって接続さ
れる。
したがって、同様の工程を繰り返すことで第3の層10
−3.第4の層10−4の積層が行われる。
〔発明が解決しようとする課題〕
このようなビア13によって接続される第1〜第4の導
体層11−1〜11−4が積層される構成では、特に、
第2〜第4の導体層11−2〜11−4の上層になる程
、その張架が平滑な面に行われなくなり、第2〜第4の
導体層11−2〜11−4は曲折されることで張架され
ることになる。
また、このような第2〜第4の導体層11−2〜11−
4の曲折された個所にはストレスが集中され、断線など
が発生する要因となる。
したがって、このような構成では、特に、多数の層を積
層することは困難となる問題を有していた。
そこで、本発明では、各層を平坦化することで、導体層
の断線を発生させる要因を除去し、より多層化を行うこ
とができ、かつ、信頼性の向上を図ることを目的とする
〔課題を解決するための手段〕
第1図は本発明の原理説明図である。
第1図に示すように、所定の厚みTに積層された有機絶
縁材より成る絶縁層3と、該絶縁層3の積層厚みTと同
等の厚みに形成された導体層4−1〜4−Nとによって
層2−1〜2−Nを形成すると共に、該導体層4−1〜
4−Nが電極金属スパッタにより形成された金属膜5と
、該金属膜5にメッキを施すことで形成されたメッキ膜
6とによって形成されるように構成する。
このように構成することによって前述の課題は解決され
る。
〔作用〕
即ち、積層される層2=1〜2−Nが所定の厚みTに積
層された絶縁層3と、電極金属スパッタによる金属膜5
とメッキによるメッキ膜とより成る導体層4−1〜4−
Nとによって形成されると共に、導体層4−1〜4−N
の厚みが絶縁層3の厚みと同一に形成されるようにした
ものである。
そこで、積層される導体層4−1〜4−Nは、常に、平
滑な面に張架されることになり、多層化により積層され
る導体層が増加しても、従来のような導体層が曲折する
ことで張架されることがないため、断線の発生が生じる
ことがない。
したがって、より多数の層を積層させることが可能とな
り、かつ、断線による障害がなくなり、品質の向上が図
れる。
〔実施例〕
以下本発明を第2図および第3図を参考に詳細に説明す
る。第2図は零発、明による一実施例の側面断面図、第
3図の(a)〜(e)は本発明の製造工程図である。全
図を通じて、同一符号は同一対象物を示す。
第2図に示すように、ベース1の表面1八に絶縁層3と
、導体層4−1 とより成る層2−1を積層し、更に、
層2−1の上層には絶縁層3と、導体層4−2とより成
る層2−2が積層され、以下同様に、導体層4−3 、
4−4 、4−5を有する層2−3 、2−4 、2−
5の積層が次々行われるように構成されたものである。
また、導体層4−1〜4−5はそれぞれ、金属膜5とメ
ッキ膜6とによって形成されている。
このような積層は第3図の(a)〜(e)に示す製造工
程によって形成することができる。
第3図の(a)に示すように、先づ、所定の厚みTによ
る有機絶縁材による絶縁層3の積層をベース1の表面1
Aに行い、(b)に示すように、絶縁層3の突出部およ
び表面1Aの露出部には金属スパッタによって金属膜5
の形成を行う。
次に、(c)に示すように、絶縁層3の突出部に形成さ
れた金属膜5の上層5Aを覆うようにレジスト7の形成
を行い、更に、(d)に示すようにメッキを施すことで
、レジスト7によって覆われた以外の露出された金属膜
5の上層5Aにメッキ膜6の形成を行う。
最後に、(e)に示すように、レジスト7を剥離し、エ
ツチングによりレジスト7の剥離によって露出された個
所の金属膜5の除去を行い、金属膜5とメッキ膜6とよ
り成る厚みTの導体4−1を絶縁N3に形成することが
できる。
以下同様の工程を繰り返すことで、層2−1の上層に導
体層4−2を有する層2−2の積層を行い、次々に層2
−3.2−4.2−5の積層を順次行うことができる。
したがって、このように構成すると、層2−1〜2−5
のように積層されても、それぞれの導体層4−1〜4−
5は平滑に張架されることになり、多層化されても導体
層は従来のような屈折することがなく張架されることに
なる。
また、このような構成では、例えば、第2図に示す層2
−1.2−3および2−5の導体層4−1.4−3.4
−5を所定のパターンとし、その間に積層される層22
.2−4の導体層4−2.4−4をビアとして導体層4
−14−3 、4−5の互いの接続が行われるように形
成することができる。
〔発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、所定の厚みに形
成された絶縁層と、絶縁層と同等の厚みによる導体層と
によって層を形成し、その層を積層することで、多数の
層が積層されても、常に、導体層が平滑に張架されるよ
うに形成することができる。
したがって、従来のような導体層の張架が多層化するこ
とで曲折されることがなく、より多くの層を積層させる
ことが行え、かつ、品質の向上が図れ、実用的効果は大
である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理説明図。 第2図は本発明による一実施例の側面断面図。 第3図の(a)〜(e)は本発明の製造工程図。 第4図は従来の側面断面図。 第5図の(a)〜(h)は従来の製造工程図を示す。 図において、 1はベース、2−1〜2−Nは層。 3は絶縁層1     4−1〜4−Nは導体層。 5は金属膜、     6はメッキ膜。 1Aは表面を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  複数の層(2−1〜2−N)をセラミック材より成る
    ベース(1)の表面(1A)に逐次積層することで形成
    された多層薄膜配線基板であって、 所定の厚み(T)に積層された有機絶縁材より成る絶縁
    層(3)と、該絶縁層(3)の積層厚み(T)と同等の
    厚みに形成された導体層(4−1〜4−N)とによって
    前記層(2−1〜2−N)を形成すると共に、該導体層
    (4−1〜4−N)が電極金属スパッタにより形成され
    た金属膜(5)と、該金属膜(5)にメッキを施すこと
    で形成されたメッキ膜(6)とによって形成されること
    を特徴とする多層薄膜配線基板。
JP14183689A 1989-06-02 1989-06-02 多層薄膜配線基板 Pending JPH036893A (ja)

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JP14183689A JPH036893A (ja) 1989-06-02 1989-06-02 多層薄膜配線基板

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JP14183689A Pending JPH036893A (ja) 1989-06-02 1989-06-02 多層薄膜配線基板

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JP (1) JPH036893A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09148770A (ja) * 1995-11-21 1997-06-06 Sanyo Electric Co Ltd 電子機器における電子部品の放熱装置
JP2006210473A (ja) * 2005-01-26 2006-08-10 Kyocera Corp 多層配線基板

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JPH09148770A (ja) * 1995-11-21 1997-06-06 Sanyo Electric Co Ltd 電子機器における電子部品の放熱装置
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