JPH037048B2 - - Google Patents
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- JPH037048B2 JPH037048B2 JP11341182A JP11341182A JPH037048B2 JP H037048 B2 JPH037048 B2 JP H037048B2 JP 11341182 A JP11341182 A JP 11341182A JP 11341182 A JP11341182 A JP 11341182A JP H037048 B2 JPH037048 B2 JP H037048B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G23/00—Auxiliary devices for weighing apparatus
- G01G23/18—Indicating devices, e.g. for remote indication; Recording devices; Scales, e.g. graduated
- G01G23/36—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells
- G01G23/37—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells involving digital counting
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Indicating Measured Values (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子はかりの表示装置に関する。
一般に、高感度の電子はかりにおいては、微少
振動等の一時的外乱によりその表示が大きく変動
する為、従来、その表示は、所定時間間隔でサン
プリングされるデータを多数個平均してその値を
表示して上述の変動を抑制する方法が採られてい
た。しかし、この様な方法では、実際に電子はか
り上に載せられている荷重値に対する表示の応答
が非常に遅くなる欠点があり、特に一定量はかり
取り作業等においては問題となつている。また、
測定者にとつて、表示値が安定な状態になつたか
どうかを判断するには、例えば表示値がある程度
の時間以上変動しなくなるまで表示を注視しつつ
待つ必要があつて、このことはひよう量作業にお
ける相当な負担となつていた。
振動等の一時的外乱によりその表示が大きく変動
する為、従来、その表示は、所定時間間隔でサン
プリングされるデータを多数個平均してその値を
表示して上述の変動を抑制する方法が採られてい
た。しかし、この様な方法では、実際に電子はか
り上に載せられている荷重値に対する表示の応答
が非常に遅くなる欠点があり、特に一定量はかり
取り作業等においては問題となつている。また、
測定者にとつて、表示値が安定な状態になつたか
どうかを判断するには、例えば表示値がある程度
の時間以上変動しなくなるまで表示を注視しつつ
待つ必要があつて、このことはひよう量作業にお
ける相当な負担となつていた。
本発明は上記に鑑みなされたものであつて、測
定値の変動又は安定状態を自動的に判別し、変動
状態では上述の応答を早める為に少ないサンプリ
ングデータ数による平均値を表示するとともに、
安定状態に移行すれば順次データ数を増加した平
均値を表示し、かつ、その平均値算出精度が、こ
の電子はかりの精密度を越えたときに、安定表示
を確認する旨の表示をし得る様な電子はかりの表
示装置の提供を目的とする。
定値の変動又は安定状態を自動的に判別し、変動
状態では上述の応答を早める為に少ないサンプリ
ングデータ数による平均値を表示するとともに、
安定状態に移行すれば順次データ数を増加した平
均値を表示し、かつ、その平均値算出精度が、こ
の電子はかりの精密度を越えたときに、安定表示
を確認する旨の表示をし得る様な電子はかりの表
示装置の提供を目的とする。
以下、図面に従つて本発明の実施例を説明す
る。
る。
第１図は本発明実施例の構成を示すブロツク図
である。
である。
電子式荷重測定機構１からのデジタル変換デー
タは、微少時間例えば0.2秒間隔で刻々と入出力
ポート２を介して制御部３に出力される。制御部
３はマイクロプロセツサで構成され、中央処理装
置CPU、リードオンリメモリROM、ランダムア
クセスメモリRAM等を備えている。制御部３に
導入されたデータは、ランダムアクセスメモリ
RAMのデータ記憶部分に格納され、ランダムア
クセスメモリRAMのデータ記憶部分はｎ＋１個
のデータ記憶エリアが設けられており、最新のサ
ンプリングデータd0が到来するごとに最も古いデ
ータが捨てられ、従つて常時d0，d1……doのデー
タが記憶されている。このランダムアクセスメモ
リRAMは、上述のデータ記憶部以外に、後述す
る各種計算結果の記憶および各種レジスタとして
用いられる。制御部３のリードオンリメモリ
ROMには、後述する処理プログラムが書き込ま
れている。制御部３にはまた、入出力ポート２を
介して各種定数等を入力する為等に用いられるキ
ーボード４が接続され、更に入出力ポート２、イ
ンターフエース回路５を介して算出値を表示する
表示器６が接続されている。
タは、微少時間例えば0.2秒間隔で刻々と入出力
ポート２を介して制御部３に出力される。制御部
３はマイクロプロセツサで構成され、中央処理装
置CPU、リードオンリメモリROM、ランダムア
クセスメモリRAM等を備えている。制御部３に
導入されたデータは、ランダムアクセスメモリ
RAMのデータ記憶部分に格納され、ランダムア
クセスメモリRAMのデータ記憶部分はｎ＋１個
のデータ記憶エリアが設けられており、最新のサ
ンプリングデータd0が到来するごとに最も古いデ
ータが捨てられ、従つて常時d0，d1……doのデー
タが記憶されている。このランダムアクセスメモ
リRAMは、上述のデータ記憶部以外に、後述す
る各種計算結果の記憶および各種レジスタとして
用いられる。制御部３のリードオンリメモリ
ROMには、後述する処理プログラムが書き込ま
れている。制御部３にはまた、入出力ポート２を
介して各種定数等を入力する為等に用いられるキ
ーボード４が接続され、更に入出力ポート２、イ
ンターフエース回路５を介して算出値を表示する
表示器６が接続されている。
次に作用を述べる。第２図は本発明実施例の処
理プログラムを示すフローチヤートである。ST
１において、ランダムアクセスメモリRAM内の
データがそれぞれ１つずつシフトされ、ST２に
おいて最新のサンプリングデータd0が取り込まれ
る。ST３においては、その最新のサンプリング
データd0から教えてｉ個のデータd0，d1，……
di-1を用いて、すなわち最新のｉ個のサンプリン
グデータによる平均値W0が算出される。ST４で
はその最新の平均値W0からその直前の平均値W1
が減じられ、最新の平均値の差δ0が算出される。
ST５においてその最新の差δ0の絶対値とその直
前の差δ1の絶対値が比較され、最新の差δ0の絶対
値が大きればST６に進み、小さければST７に進
む。ST６では減少回数レジスタＰがリセツトさ
れ、ST７では増加回数レイジスタＱがリセツト
される。ST６からはST８に進み、増加回数レジ
スタＱが所定の値ａに達したかどうかが判断さ
れ、達していなければST１０にて増加回数レジ
スタＱが１カウントアツプされる。ST７からは
ST９に進み、減少回数レジスタＰが所定の値ａ
に達したかどうかが判断され、達していなければ
ST１１にて減少回数レジスタＰが１カウントア
ツプされる。このST５ないしST１１におけるフ
ローは、測定値が定常状態又は変動状態であるか
の状態判別フローであり、その持つ意味を第３図
に示す説明図に基づいて以下述べる。第３図は、
例えば前述のランダムアクセスメモリRAMにお
けるデータ記憶部分のｎ＋１を10とし、平均値
W0を求める為のｉを３個とし、更にST８および
ST９における所定の値ａを３とした場合におけ
る説明図であつて、上述した如くST５において
最新の差δ0の絶対値とその直前の差δ1の絶対値を
比較して、その増加又は減少の傾向が３回以上連
続したときに、測定値が変動又は安定状態に移行
したと判別するものであつて、例えば0.2秒間隔
のサンプリングデータ到来ごとにこのフローが実
行され、しかも平均化個数を例えば３個と短い平
均化時間を行なわれた平均値による判断であるの
で、状態の変化を迅速に捕えることができる。な
お、ST１２およびST１３は、1δ01＝1δ11となつ
たときに現時点における状態を維持する為に設け
られたものである。また差δ0およびδ1の比較時に
絶対値を用いるのは、第３図の如き測定値が増え
ていく場合と逆に測定値が減つていく場合におい
ても同様なる判別を行い得る様にした為である。
第２図フローチヤートに戻つて、ST８において
レジスタＱの値がａに達していれば、すなわち測
定値が変動状態に移行していると判断すれば、
ST１４からST１５に進み、サンプリングデータ
数をｉ個（例えば３個）によつてST３で算出さ
れた平均値W0を表示器６に表示する。ST８おい
てレジスタＱがａに達していなければST１０の
次にST１６に進む。ST９においてレジスタＰが
ａに達していなければ前述のST１１からST１４
に進み、ST１４でレジスタＮをｉにリセツトす
るとともに、ST１５でサンプリングデータ数ｉ
個によるST３において算出された平均値W0を表
示する。レジスタＮは後述する如く測定値が安定
状態にあると判断されたときに、平均値算出の為
のサンプリングデータ数を増加せしめる為に設け
られたものであり、安定状態に達していない、あ
るいは変動状態であると判断された場合には、初
期の平均化個数ｉにST１４にてリセツトされる。
ST８においてレジスタＱがａに達していない、
すなわち、変動状態に移行したとは判断されない
場合、並びにST９においてレジスタＰがａに達
した、すなわち、安定状態に移行したと判断され
た場合には、ST１６に進み、ST１６において
は、レジスタＮの値が、すなわち平均値を算出す
る為のサンプリングデータ数が、最大データ採取
数Nnaxに達したかどうかの判断がなされる。達
していなければST１７にてレジスタＮが１カウ
ントアツプされST１８に進む。ST１６でレジス
タＮの値が最大データ採取数に達していれば、レ
ジスタＮを１カウントアツプせずにST１８に進
む。ST１８ではレジスタＮの値に従つて最新の
Ｎ個のデータを用いて平均値W′0を算出する。こ
のST１６ないしST１８は、測定値が安定状態に
おいて平均化の為のデータ数を、あらかじめ設定
された最大データ採取数Nnaxにまで順次増加せ
しめて平均値を算出する為のフローであり、最大
データ採取数Nnaxは、平均化の為のデータ数Ｎ
がむやみに増加することを抑制する為に設けられ
ている。ST１８からST１９に進み、平均化の為
のデータ数Ｎがあらかじめ設定されている保証デ
ータ採取数Ｋに達したかどうかの判定がなされ
る。データ数Ｎが保証データ採取数Ｋに達してい
れば、ST２０において次の(1)式の演算を行つて
Ｒを算出する。
理プログラムを示すフローチヤートである。ST
１において、ランダムアクセスメモリRAM内の
データがそれぞれ１つずつシフトされ、ST２に
おいて最新のサンプリングデータd0が取り込まれ
る。ST３においては、その最新のサンプリング
データd0から教えてｉ個のデータd0，d1，……
di-1を用いて、すなわち最新のｉ個のサンプリン
グデータによる平均値W0が算出される。ST４で
はその最新の平均値W0からその直前の平均値W1
が減じられ、最新の平均値の差δ0が算出される。
ST５においてその最新の差δ0の絶対値とその直
前の差δ1の絶対値が比較され、最新の差δ0の絶対
値が大きればST６に進み、小さければST７に進
む。ST６では減少回数レジスタＰがリセツトさ
れ、ST７では増加回数レイジスタＱがリセツト
される。ST６からはST８に進み、増加回数レジ
スタＱが所定の値ａに達したかどうかが判断さ
れ、達していなければST１０にて増加回数レジ
スタＱが１カウントアツプされる。ST７からは
ST９に進み、減少回数レジスタＰが所定の値ａ
に達したかどうかが判断され、達していなければ
ST１１にて減少回数レジスタＰが１カウントア
ツプされる。このST５ないしST１１におけるフ
ローは、測定値が定常状態又は変動状態であるか
の状態判別フローであり、その持つ意味を第３図
に示す説明図に基づいて以下述べる。第３図は、
例えば前述のランダムアクセスメモリRAMにお
けるデータ記憶部分のｎ＋１を10とし、平均値
W0を求める為のｉを３個とし、更にST８および
ST９における所定の値ａを３とした場合におけ
る説明図であつて、上述した如くST５において
最新の差δ0の絶対値とその直前の差δ1の絶対値を
比較して、その増加又は減少の傾向が３回以上連
続したときに、測定値が変動又は安定状態に移行
したと判別するものであつて、例えば0.2秒間隔
のサンプリングデータ到来ごとにこのフローが実
行され、しかも平均化個数を例えば３個と短い平
均化時間を行なわれた平均値による判断であるの
で、状態の変化を迅速に捕えることができる。な
お、ST１２およびST１３は、1δ01＝1δ11となつ
たときに現時点における状態を維持する為に設け
られたものである。また差δ0およびδ1の比較時に
絶対値を用いるのは、第３図の如き測定値が増え
ていく場合と逆に測定値が減つていく場合におい
ても同様なる判別を行い得る様にした為である。
第２図フローチヤートに戻つて、ST８において
レジスタＱの値がａに達していれば、すなわち測
定値が変動状態に移行していると判断すれば、
ST１４からST１５に進み、サンプリングデータ
数をｉ個（例えば３個）によつてST３で算出さ
れた平均値W0を表示器６に表示する。ST８おい
てレジスタＱがａに達していなければST１０の
次にST１６に進む。ST９においてレジスタＰが
ａに達していなければ前述のST１１からST１４
に進み、ST１４でレジスタＮをｉにリセツトす
るとともに、ST１５でサンプリングデータ数ｉ
個によるST３において算出された平均値W0を表
示する。レジスタＮは後述する如く測定値が安定
状態にあると判断されたときに、平均値算出の為
のサンプリングデータ数を増加せしめる為に設け
られたものであり、安定状態に達していない、あ
るいは変動状態であると判断された場合には、初
期の平均化個数ｉにST１４にてリセツトされる。
ST８においてレジスタＱがａに達していない、
すなわち、変動状態に移行したとは判断されない
場合、並びにST９においてレジスタＰがａに達
した、すなわち、安定状態に移行したと判断され
た場合には、ST１６に進み、ST１６において
は、レジスタＮの値が、すなわち平均値を算出す
る為のサンプリングデータ数が、最大データ採取
数Nnaxに達したかどうかの判断がなされる。達
していなければST１７にてレジスタＮが１カウ
ントアツプされST１８に進む。ST１６でレジス
タＮの値が最大データ採取数に達していれば、レ
ジスタＮを１カウントアツプせずにST１８に進
む。ST１８ではレジスタＮの値に従つて最新の
Ｎ個のデータを用いて平均値W′0を算出する。こ
のST１６ないしST１８は、測定値が安定状態に
おいて平均化の為のデータ数を、あらかじめ設定
された最大データ採取数Nnaxにまで順次増加せ
しめて平均値を算出する為のフローであり、最大
データ採取数Nnaxは、平均化の為のデータ数Ｎ
がむやみに増加することを抑制する為に設けられ
ている。ST１８からST１９に進み、平均化の為
のデータ数Ｎがあらかじめ設定されている保証デ
ータ採取数Ｋに達したかどうかの判定がなされ
る。データ数Ｎが保証データ採取数Ｋに達してい
れば、ST２０において次の(1)式の演算を行つて
Ｒを算出する。
R′＝Ｒ・√／√ ……(1)
ここでＲはあらかじめ設定された値で統計学的に
求められたこの電子はかりにおける許容読取幅す
なわちこの電子はかりの精密度である。この(1)式
によつて算出されるR′について以下説明する。
第４図はデータ採取数ｎと測定値の関係を示すグ
ラフである。図中、安定巾Ｂとは、上述のＲとデ
ータ採取数ｎによつて ±Ｂ＝±Ｒ・√ ……(2) にて求められ、統計学的には母集団の標準偏差σ
に対する±3σの範囲に相当している。従つて測
定値の応答波形の軌跡が、この安定巾Ｂ内に納ま
れば、上述のＲのレンジで測定値が正確であると
いう意味をもつている。そこで、測定値が安定状
態であるときに、あらかじめデータ採取数ｎがＫ
に達すれは殆ど測定値の応答波形がこの安定巾Ｂ
に納まるという保証データ採取数Ｋを設定してお
き、その時点での安定巾をB′とする。
求められたこの電子はかりにおける許容読取幅す
なわちこの電子はかりの精密度である。この(1)式
によつて算出されるR′について以下説明する。
第４図はデータ採取数ｎと測定値の関係を示すグ
ラフである。図中、安定巾Ｂとは、上述のＲとデ
ータ採取数ｎによつて ±Ｂ＝±Ｒ・√ ……(2) にて求められ、統計学的には母集団の標準偏差σ
に対する±3σの範囲に相当している。従つて測
定値の応答波形の軌跡が、この安定巾Ｂ内に納ま
れば、上述のＲのレンジで測定値が正確であると
いう意味をもつている。そこで、測定値が安定状
態であるときに、あらかじめデータ採取数ｎがＫ
に達すれは殆ど測定値の応答波形がこの安定巾Ｂ
に納まるという保証データ採取数Ｋを設定してお
き、その時点での安定巾をB′とする。
±B′＝±Ｒ・√ ……(3)
そして、保証データ採取数Ｋおける安定巾B′を
基準として、データ採取数Ｎにおける安定読取幅
R′を逆算すれば、(2)式より、 R′＝B′／√ ……(4) (3)、(4)より R′＝Ｒ・√／√ ……(5) となる。このR′は、データ採取数Ｎが保証デー
タ採取数Ｋを越えたときにはR′＜Ｒとなり、従
つて、この電子はかりの統計学的に求められた許
容読取幅Ｒよりも小さいレンジで読取られている
という意味をもつている。第２図フローチヤート
に戻つて、ST２０によつて得られたR′はST２１
において表示され、これは現在表示している平均
値W′0は安定表示である旨の確認をする為の表示
となる。ST２２で、ST１８で求めたＮ個のデー
タによる平均値W′0が表示される。ST１９にお
いてレジスタＮの値がＫに達していなければ上述
の安定表示の確認となる表示（R′の表示）を行
わずにST２２に進みＮ個のデータによる平均値
W′0を表示する。
基準として、データ採取数Ｎにおける安定読取幅
R′を逆算すれば、(2)式より、 R′＝B′／√ ……(4) (3)、(4)より R′＝Ｒ・√／√ ……(5) となる。このR′は、データ採取数Ｎが保証デー
タ採取数Ｋを越えたときにはR′＜Ｒとなり、従
つて、この電子はかりの統計学的に求められた許
容読取幅Ｒよりも小さいレンジで読取られている
という意味をもつている。第２図フローチヤート
に戻つて、ST２０によつて得られたR′はST２１
において表示され、これは現在表示している平均
値W′0は安定表示である旨の確認をする為の表示
となる。ST２２で、ST１８で求めたＮ個のデー
タによる平均値W′0が表示される。ST１９にお
いてレジスタＮの値がＫに達していなければ上述
の安定表示の確認となる表示（R′の表示）を行
わずにST２２に進みＮ個のデータによる平均値
W′0を表示する。
なお、安定表示を補証する旨の表示を、R′を
求めずに、ST１９から、ＮがＫに達した場合に
は、平均値W0の表示の全部又は一部を点滅させ
るよう構成してもよく、または表示部の例えば単
位記号や小数点を点滅してもよいし、更に、別途
補助表示手段を設けてランプを点灯したり
“OK”や“GOOD”の表示を点灯するよう構成
してもよい。
求めずに、ST１９から、ＮがＫに達した場合に
は、平均値W0の表示の全部又は一部を点滅させ
るよう構成してもよく、または表示部の例えば単
位記号や小数点を点滅してもよいし、更に、別途
補助表示手段を設けてランプを点灯したり
“OK”や“GOOD”の表示を点灯するよう構成
してもよい。
また、ST２０において、予め定数ｋを入力し
ておき、そのｋでR′を除した値、 S.D.＝R′／Ｋ ……(6) を算出し、そのS.D.は標準偏差と推定することが
できるので、安定表示を確認する為の表示とし
て、このS.Dを表示してもよい。
ておき、そのｋでR′を除した値、 S.D.＝R′／Ｋ ……(6) を算出し、そのS.D.は標準偏差と推定することが
できるので、安定表示を確認する為の表示とし
て、このS.Dを表示してもよい。
第５図に、安定表示の確認のための表示例を示
す。第５図ａは、上述の補助表示手段７によりラ
ンプ点灯又は“OK”点灯するよう構成した例で
あり、同ｂには、ST２０で求めたR′の値（Ｎ＜
ＫのときはＲの値）と対応するよう補助表示手段
として設けられたバー表示器８によつて表示した
例を、同ｃには、同様にR′（又はＲ）の値を補助
表示器９にデジタル表示するよう構成した例を示
す。なおこのR′（Ｒ）は前述の(6)式によつて求め
たS.D.であつてもよい。
す。第５図ａは、上述の補助表示手段７によりラ
ンプ点灯又は“OK”点灯するよう構成した例で
あり、同ｂには、ST２０で求めたR′の値（Ｎ＜
ＫのときはＲの値）と対応するよう補助表示手段
として設けられたバー表示器８によつて表示した
例を、同ｃには、同様にR′（又はＲ）の値を補助
表示器９にデジタル表示するよう構成した例を示
す。なおこのR′（Ｒ）は前述の(6)式によつて求め
たS.D.であつてもよい。
以上説明したように、本発明によれば、測定値
が変動状態であるか安定状態であるかを常時判別
し、変動状態では少ない平均化個数によつて刻々
と平均値を表示して応答性を向上せしめ、安定状
態になれば平均化個数を次々と増加させて平均値
を算出して表示し、平均値算出精度がこの電子は
かりの感量を越えれば、表示値が安定状態になつ
たことを確認する旨の表示がなされる為、従来の
電子はかりの表示装置のように表示値を注視しつ
づけなくともよくなり、ひよう量作業の負但を軽
減することができる。
が変動状態であるか安定状態であるかを常時判別
し、変動状態では少ない平均化個数によつて刻々
と平均値を表示して応答性を向上せしめ、安定状
態になれば平均化個数を次々と増加させて平均値
を算出して表示し、平均値算出精度がこの電子は
かりの感量を越えれば、表示値が安定状態になつ
たことを確認する旨の表示がなされる為、従来の
電子はかりの表示装置のように表示値を注視しつ
づけなくともよくなり、ひよう量作業の負但を軽
減することができる。
また、安定読取巾が表示されていることによ
り、より精密さを持つて安定な測定が行われてい
る旨知らしめることができるので、作業者はひよ
う量作業を信頼して行うことができる。
り、より精密さを持つて安定な測定が行われてい
る旨知らしめることができるので、作業者はひよ
う量作業を信頼して行うことができる。
第１図は本発明実施例の構成を示すブロツク
図、第２図はその処理プログラムを示すフロチヤ
ート、第３図は本発明実施例の作用説明図、第４
図はデータ採取数と測定値および安定巾等の関係
を示す特性図、第５図は本発明による安定表示の
確認表示を付した表示装置の実施例である。 １……電子式荷重測定機構、２……入出力ポー
ト、３……制御部、６……表示器、７……補助表
示手段、８……バー表示器、９……補助表示器。
図、第２図はその処理プログラムを示すフロチヤ
ート、第３図は本発明実施例の作用説明図、第４
図はデータ採取数と測定値および安定巾等の関係
を示す特性図、第５図は本発明による安定表示の
確認表示を付した表示装置の実施例である。 １……電子式荷重測定機構、２……入出力ポー
ト、３……制御部、６……表示器、７……補助表
示手段、８……バー表示器、９……補助表示器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 電子式荷重測定機構のデジタル変換データを
所定時間間隔でサンプリングするデータサンプリ
ング手段と、サンプリングされたデータの所定個
数による平均値を算出する第１のデータ平均化手
段と、その第１のデータ平均化手段による平均値
の時系列的変化から測定値の変動状態又は安定状
態を判別する安定判別手段と、その安定判別手段
による判別結果が安定である場合に上記所定個数
からデータサンプリングごとに順次データ数を増
加して平均値を算出する第２のデータ平均化手段
と、その第２のデータ平均化手段による平均値算
出精度が当該電子はかりの精密度より向上したか
否かを判別する精密度判別手段と、その精密度判
別手段が向上したと判別した場合に点灯する安定
表示確認表示手段とを有し、当該電子はかりの計
量値表示装置には、上記安定判別手段による判別
結果に基づき、測定値の変動状態では上記第１の
データ平均化手段による平均値を、安定状態では
上記第２のデータ平均化手段による平均値を表示
するよう構成された電子はかりの表示装置。 ２ 上記安定表示確認表示手段が、上記計量値表
示装置の表示値の点滅であることを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載の電子はかりの表示装
置。 ３ 上記安定表示確認表示手段が、上記計量値表
示装置の単位記号および小数点の表示部の点滅で
あることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の電子はかりの表示装置。 ４ 上記安定表示確認表示手段が、上記計量値表
示装置の補助表示手段の点灯であることを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載の電子はかりの表
示装置。 ５ 上記安定表示確認表示手段が、上記計量値表
示装置に併設する補助表示装置の点灯表示である
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の電
子はかりの表示装置。 ６ 上記精密度判別手段は、上記第２のデータ平
均化手段による平均値算出の為のデータ数があら
かじめ設定された数に達したか否かで判別を行う
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項、第２
項、第３項、第４項または第５項記載の電子はか
りの表示装置。 ７ 上記第２のデータ平均化手段による平均値算
出の為のデータ数Ｎが、あらかじめ設定された数
Ｋに達したときに、下記に示す演算を実施し、上
記安定表示確認表示手段による表示を、下記の
R′の値を補助表示手段に表示することによつて
行うことを特徴とする特許請求の範囲第４項記載
の電子はかりの表示装置。 R′＝Ｒ・√／√ ここで、 Ｒ；当該電子はかりの精密度 R′；平均値算出の為のデータ数がＮである場合
における実質的な当該電子はかりの精密度
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11341182A JPS593326A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 電子はかりの表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11341182A JPS593326A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 電子はかりの表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS593326A JPS593326A (ja) | 1984-01-10 |
| JPH037048B2 true JPH037048B2 (ja) | 1991-01-31 |
Family
ID=14611587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11341182A Granted JPS593326A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 電子はかりの表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS593326A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6252009A (ja) * | 1985-09-02 | 1987-03-06 | 茨木精機株式会社 | 包装用製袋装置 |
| CH682518A5 (de) * | 1991-07-09 | 1993-09-30 | Mettler Toledo Ag | Elektronische Waage mit einer Einrichtung zur Stillstandskontrolle. |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP11341182A patent/JPS593326A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS593326A (ja) | 1984-01-10 |
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