JPH0371263B2 - - Google Patents
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- JPH0371263B2 JPH0371263B2 JP57151118A JP15111882A JPH0371263B2 JP H0371263 B2 JPH0371263 B2 JP H0371263B2 JP 57151118 A JP57151118 A JP 57151118A JP 15111882 A JP15111882 A JP 15111882A JP H0371263 B2 JPH0371263 B2 JP H0371263B2
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 19
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 6
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
- G07D7/06—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency using wave or particle radiation
- G07D7/12—Visible light, infrared or ultraviolet radiation
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41F—PRINTING MACHINES OR PRESSES
- B41F33/00—Indicating, counting, warning, control or safety devices
- B41F33/0036—Devices for scanning or checking the printed matter for quality control
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Inking, Control Or Cleaning Of Printing Machines (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は印刷物の絵柄を検査する方法および装
置に関する。
置に関する。
従来の印刷物絵柄検査装置は、第１図に示すよ
うに印刷物１をラインセンサカメラ２により幅方
向に走査しつつ画像情報を取出し、一方搬送系の
シリンダ３に取付けたロータリーエンコーダ４の
出力によつてカメラ２の走査を同期化することに
より試料絵柄５（第２図）をマトリクス状の多数
の小画素に分割する。
うに印刷物１をラインセンサカメラ２により幅方
向に走査しつつ画像情報を取出し、一方搬送系の
シリンダ３に取付けたロータリーエンコーダ４の
出力によつてカメラ２の走査を同期化することに
より試料絵柄５（第２図）をマトリクス状の多数
の小画素に分割する。
これら各画素は、同様に分割してメモリに記録
した標本絵柄６（第２図）の対応する小画素とを
順次濃度比較されて欠陥有無が検出される。
した標本絵柄６（第２図）の対応する小画素とを
順次濃度比較されて欠陥有無が検出される。
このような絵柄検査において、第３図に示すよ
うに搬送系の幅方向位置ずれがあると試料から得
られた階調７のうちの〇印を付した３画素につき
標本から得られた階調８の該当する３画素分と比
較した場合、試料絵柄に欠陥がなくても欠陥あり
との誤判定が行われる。
うに搬送系の幅方向位置ずれがあると試料から得
られた階調７のうちの〇印を付した３画素につき
標本から得られた階調８の該当する３画素分と比
較した場合、試料絵柄に欠陥がなくても欠陥あり
との誤判定が行われる。
これを防ぐ一法として、試料と標本との階調差
に対して大きな許容値を設定することが考えられ
る。
に対して大きな許容値を設定することが考えられ
る。
しかしながら、これは欠陥検出精度の低下をも
たらすもので対策としては必ずしも良好なもので
はない。
たらすもので対策としては必ずしも良好なもので
はない。
このような問題のない方法としては、標本絵柄
に対する試料絵柄の位置ずれを補正するものとい
うことになり、各種の方法が考案されている。
に対する試料絵柄の位置ずれを補正するものとい
うことになり、各種の方法が考案されている。
その１は本願出願人による特願56−146355号に
示すような、印刷物の絵柄が幅方向に関しいかな
る位置にあるかを検出し、この位置変化が標本絵
柄のデータを基準値メモリに書込むときと試料絵
柄のデータを検出値メモリに書込むときとで所定
値以上異なるときは、そのときの試料絵柄データ
を基準値メモリに書込むものである。
示すような、印刷物の絵柄が幅方向に関しいかな
る位置にあるかを検出し、この位置変化が標本絵
柄のデータを基準値メモリに書込むときと試料絵
柄のデータを検出値メモリに書込むときとで所定
値以上異なるときは、そのときの試料絵柄データ
を基準値メモリに書込むものである。
しかしながら、この方法によると、印刷物の幅
方向の位置変化検出、および位置変化情報にした
がつて位置ずれ補正のための装置が必要となり、
ハードウエアの複雑化、コスト高等の問題を生じ
る。
方向の位置変化検出、および位置変化情報にした
がつて位置ずれ補正のための装置が必要となり、
ハードウエアの複雑化、コスト高等の問題を生じ
る。
その２は特公昭55−45948号等に示すもので、
試料画素とこれに対応する標本画素の近傍数点の
画素とを比較する方法である。
試料画素とこれに対応する標本画素の近傍数点の
画素とを比較する方法である。
しかしながら、この方法では検査精度の低下を
避け得ない点で問題がある。
避け得ない点で問題がある。
本発明は上述の点に鑑みてなされたもので、印
刷物搬送形に位置ずれがあつても高精度で絵柄検
査でき、しかも装置を安価に構成し得る印刷物の
絵柄検査方法および装置を提供することを目的と
する。
刷物搬送形に位置ずれがあつても高精度で絵柄検
査でき、しかも装置を安価に構成し得る印刷物の
絵柄検査方法および装置を提供することを目的と
する。
この目的達成のため、本発明では、試料の幅方
向絵柄階調データ（以下試料行データという）
を、標本の対応する幅方向絵柄階調データ（以下
標本行データという）と比較し欠陥検出するにつ
き、各試料行毎に許容する位置ずれ分だけシフト
した複数の標本行を参照し、試料行と最も位相の
近い標本行と試料行とによつて絵柄検査を行う方
法および装置を提供するものである。
向絵柄階調データ（以下試料行データという）
を、標本の対応する幅方向絵柄階調データ（以下
標本行データという）と比較し欠陥検出するにつ
き、各試料行毎に許容する位置ずれ分だけシフト
した複数の標本行を参照し、試料行と最も位相の
近い標本行と試料行とによつて絵柄検査を行う方
法および装置を提供するものである。
以下第４図乃至第１１図を参照して本発明の実
施例を説明する。
施例を説明する。
第４図ａ，ｂは試料行データと標本行データと
を示したもので、同図ａは本発明方法において取
扱われる試料行データと標本行データとの基本的
な関係を示し、同図ｂは印刷物の絵柄エツジをは
じめとする特殊な部分における試料行データと標
本行データとの関係を示したものである。
を示したもので、同図ａは本発明方法において取
扱われる試料行データと標本行データとの基本的
な関係を示し、同図ｂは印刷物の絵柄エツジをは
じめとする特殊な部分における試料行データと標
本行データとの関係を示したものである。
まず同図ａによれば、１つの試料行データ９に
対し複数の標本行データ１０〜１６を参照する。
これら標本行データ１０〜１６は基本となる標本
行データ１３を予想される位置ずれ分だけ１画素
分ずつ左右にシフトして得たものである。
対し複数の標本行データ１０〜１６を参照する。
これら標本行データ１０〜１６は基本となる標本
行データ１３を予想される位置ずれ分だけ１画素
分ずつ左右にシフトして得たものである。
そして、試料行データ９を標本行データ１０〜
１６の中で最も試料行データ９と位相が近いもの
１２と濃度比較するができ、これによつて欠陥検
出が行われる。
１６の中で最も試料行データ９と位相が近いもの
１２と濃度比較するができ、これによつて欠陥検
出が行われる。
これにより試料行データ９が印刷物の幅方向に
位置ずれしていてもデータ同士を内容的に比較す
ることができるから精度よく欠陥検出することが
できる。
位置ずれしていてもデータ同士を内容的に比較す
ることができるから精度よく欠陥検出することが
できる。
次に同図ｂによれば、試料行データ１７に対し
最も位相の近い標本行データ１８を対比すると共
に、階調差許容値を大きくとつたものである。こ
れにより絵柄エツジ部分のように階調差が極めて
大きな場合に適した欠陥検査を行い得る。すなわ
ち、標本行データ１８は試料行データ１７に最も
位相の近いものであるため、両者の位相差は1/2
画素幅分である。従つて1/2画素幅分の位置ずれ
が生じた場合のエツジに相当する画素における試
料と標本との階調差をその画素に対する許容値と
すればよい。この各画素毎の許容値設定について
は種々の方法を採ることができ（特願昭56−
179599号参照）、あるいはエツジに相当する画素
をマスキングすることにより判定対象外としても
よい。
最も位相の近い標本行データ１８を対比すると共
に、階調差許容値を大きくとつたものである。こ
れにより絵柄エツジ部分のように階調差が極めて
大きな場合に適した欠陥検査を行い得る。すなわ
ち、標本行データ１８は試料行データ１７に最も
位相の近いものであるため、両者の位相差は1/2
画素幅分である。従つて1/2画素幅分の位置ずれ
が生じた場合のエツジに相当する画素における試
料と標本との階調差をその画素に対する許容値と
すればよい。この各画素毎の許容値設定について
は種々の方法を採ることができ（特願昭56−
179599号参照）、あるいはエツジに相当する画素
をマスキングすることにより判定対象外としても
よい。
第５図は第４図に示した思想に基づき構成した
本発明方法を実施するための装置構成を示したも
のである。この構成では、印刷物１上の絵柄がカ
メラ２によつて走査されて画像情報が取出され
る。この際、搬送系シリンダ３の回転量がロータ
リエンコーダ４により取出され同期回路２１に与
えられる。同期回路２１は、カメラ２、Ａ／Ｄ変
換回路２２およびアドレス回路２４にその出力を
与え、カメラ２の走査同期化、カメラ２により取
出した画像情報のＡ／Ｄ変換同期化、ならびに標
本画素データメモリ２５および画素制御データメ
モリ２６のアドレス割当てを行う。
本発明方法を実施するための装置構成を示したも
のである。この構成では、印刷物１上の絵柄がカ
メラ２によつて走査されて画像情報が取出され
る。この際、搬送系シリンダ３の回転量がロータ
リエンコーダ４により取出され同期回路２１に与
えられる。同期回路２１は、カメラ２、Ａ／Ｄ変
換回路２２およびアドレス回路２４にその出力を
与え、カメラ２の走査同期化、カメラ２により取
出した画像情報のＡ／Ｄ変換同期化、ならびに標
本画素データメモリ２５および画素制御データメ
モリ２６のアドレス割当てを行う。
したがつて標本画素データメモリ２５への標本
行データの書込みにしても、また試料行データの
検出時に判定回路２３における判定動作のための
標本画素データメモリ２５および画素制御データ
メモリ２６からのデータ読出しにしても正確なデ
ータ対応が得られる。画素制御データメモリ２６
には、各画素毎に許容値を与えるためのデータが
予めデータ設定されており、判定回路２３は試料
行データと標本行データとを対比するにつき画素
制御データによる許容値を参酌する。
行データの書込みにしても、また試料行データの
検出時に判定回路２３における判定動作のための
標本画素データメモリ２５および画素制御データ
メモリ２６からのデータ読出しにしても正確なデ
ータ対応が得られる。画素制御データメモリ２６
には、各画素毎に許容値を与えるためのデータが
予めデータ設定されており、判定回路２３は試料
行データと標本行データとを対比するにつき画素
制御データによる許容値を参酌する。
第６図は第５図の装置における判定回路２３の
より具体的構成を示したもので、標本行データ
SDおよび画素制御データMDを１画素分ずつシ
フトするためのラツチL1〜L3によるシフト回路
と、試料行データTDを１画素ずつシフトするた
めのラツチL4〜L6によるシフト回路とをそれぞ
れ判定要素JE1〜JE3およびJE4〜JE7による判定
要素群と組合わせてなるものである。
より具体的構成を示したもので、標本行データ
SDおよび画素制御データMDを１画素分ずつシ
フトするためのラツチL1〜L3によるシフト回路
と、試料行データTDを１画素ずつシフトするた
めのラツチL4〜L6によるシフト回路とをそれぞ
れ判定要素JE1〜JE3およびJE4〜JE7による判定
要素群と組合わせてなるものである。
各シフト回路は何れもカメラ２（第１図）の走
査に用いたクロツクCLKがラツチ回路に与えら
れることによりシフト動作を行うもので、クロツ
クCLKが１画素毎に与えられるようにすればよ
い。
査に用いたクロツクCLKがラツチ回路に与えら
れることによりシフト動作を行うもので、クロツ
クCLKが１画素毎に与えられるようにすればよ
い。
例えば試料行データTD1はラツチL4，L5，L6
によりカメラの走査に同期して順次シフトされ
TD２，TD３，TD４となる。同様に標本行デー
タSD１および画素制御データMD１はラツチL1，
L2，L3によりカメラの走査に同期して順次シフ
トされMD2，MD3，MD4およびSD2，SD3，SD4
となる。
によりカメラの走査に同期して順次シフトされ
TD２，TD３，TD４となる。同様に標本行デー
タSD１および画素制御データMD１はラツチL1，
L2，L3によりカメラの走査に同期して順次シフ
トされMD2，MD3，MD4およびSD2，SD3，SD4
となる。
そして試料行データTD１は判定エレメント
JE1，JE2，JE3，JE4に与えられ、標本行データ
および画素制御データと比較判定される。すなわ
ち判定エレメントJE4では試料行データTD１1と
標本行データSD1、画素制御データMD1による判
定を行い、判定エレメントVE1ではTD1とSD2，
MD2による判定、同じくJE2ではTD1とSD3，
MD3による判定、JE3ではTD1とSD4，MD4によ
る判定を行う。これにより標本行データおよび画
素制御データを試料行データに対し遅れさせたと
きの判定が行われる。
JE1，JE2，JE3，JE4に与えられ、標本行データ
および画素制御データと比較判定される。すなわ
ち判定エレメントJE4では試料行データTD１1と
標本行データSD1、画素制御データMD1による判
定を行い、判定エレメントVE1ではTD1とSD2，
MD2による判定、同じくJE2ではTD1とSD3，
MD3による判定、JE3ではTD1とSD4，MD4によ
る判定を行う。これにより標本行データおよび画
素制御データを試料行データに対し遅れさせたと
きの判定が行われる。
一方、これとは反対に試料行データを標本行デ
ータおよび画素制御データに対し遅れさせたとき
の判定は判定エレメントJE5，JE6，JE7により行
われる。
ータおよび画素制御データに対し遅れさせたとき
の判定は判定エレメントJE5，JE6，JE7により行
われる。
これにより判定エレメントJE1〜JE7の各々に
より第４図ａにおける試料行データ９と標本行デ
ータ１０〜１６との比較判定が行われる。判定エ
レメントJE1〜JE7の各出力は総合判定回路TJU
に与えられる。総合判定回路TJUは各エレメン
トの出力中の最小値を選び出し、その値が閾値を
超えているか否かによつて良否判定を行う。
より第４図ａにおける試料行データ９と標本行デ
ータ１０〜１６との比較判定が行われる。判定エ
レメントJE1〜JE7の各出力は総合判定回路TJU
に与えられる。総合判定回路TJUは各エレメン
トの出力中の最小値を選び出し、その値が閾値を
超えているか否かによつて良否判定を行う。
第７図は第６図の判定回路に用いられる判定エ
レメントJEのより具体的構成を示したもので、
差の絶対値検出回路DA、コンパレータCP、およ
びカウンタCTにより構成されている。そして、
差の絶対値検出回路DAは、試料行データTDと
標本行データSDとの差の絶対値｜TD−SD｜を
出力する。この｜TD−SD｜と｜TD−SD｜に対
する許容値である画素制御データMDはコンパレ
ータCPによつて大小比較され、その出力がカウ
ンタCTに与えられることにより｜TD−SD｜＞
MDなる画素数の計数が行われる。
レメントJEのより具体的構成を示したもので、
差の絶対値検出回路DA、コンパレータCP、およ
びカウンタCTにより構成されている。そして、
差の絶対値検出回路DAは、試料行データTDと
標本行データSDとの差の絶対値｜TD−SD｜を
出力する。この｜TD−SD｜と｜TD−SD｜に対
する許容値である画素制御データMDはコンパレ
ータCPによつて大小比較され、その出力がカウ
ンタCTに与えられることにより｜TD−SD｜＞
MDなる画素数の計数が行われる。
第８図は第７図の判定エレメントにおける差の
絶対値回路のより具体的構成を示したもので、２
つの加算器AD1，AD2、エクスクルーシブオア回
路EXおよびインバータINVにより構成され、入
力としてTD、が与えられることにより−
SDなる出力を形成する。この回路は周知である
ため詳細説明は省略する。
絶対値回路のより具体的構成を示したもので、２
つの加算器AD1，AD2、エクスクルーシブオア回
路EXおよびインバータINVにより構成され、入
力としてTD、が与えられることにより−
SDなる出力を形成する。この回路は周知である
ため詳細説明は省略する。
第９図は第６図の判定回路における総合判定回
路TJUの構成をより詳細に示したもので、６つ
の低値検出回路MIN1〜MIN6により判定エレメ
ントJE1〜JE7（第６図）からの各出力J1〜J7の最
低値を検出するものである。
路TJUの構成をより詳細に示したもので、６つ
の低値検出回路MIN1〜MIN6により判定エレメ
ントJE1〜JE7（第６図）からの各出力J1〜J7の最
低値を検出するものである。
第１０図は第９図における低値検出回路MIN
のより具体的な構成を示したもので、セレクタ
SEとコンパレータCPとにより構成されている。
この回路は２つの入力Ａ、Ｂ中の低値を検出する
ものであり、したがつて第９図の総合判定回路は
７つの入力を２つずつ組合わせて低値検出し、こ
の低値検出結果同士を比較して低値検出し、さら
にもう一段低値検出を行うことにより７入力中の
最低値を検出するようにしたものである。
のより具体的な構成を示したもので、セレクタ
SEとコンパレータCPとにより構成されている。
この回路は２つの入力Ａ、Ｂ中の低値を検出する
ものであり、したがつて第９図の総合判定回路は
７つの入力を２つずつ組合わせて低値検出し、こ
の低値検出結果同士を比較して低値検出し、さら
にもう一段低値検出を行うことにより７入力中の
最低値を検出するようにしたものである。
以上のような構成により印刷物の絵柄がある程
度位置ずれを伴つていても、正確に絵柄の良否判
別を行うことができ、高速検査が可能で装置の低
コスト化ができる。また、標本行データと試料行
データとの比較を行うため、絵柄同士を全体的に
比較する場合に比べ格段に高精度の検査を行うこ
とができる。
度位置ずれを伴つていても、正確に絵柄の良否判
別を行うことができ、高速検査が可能で装置の低
コスト化ができる。また、標本行データと試料行
データとの比較を行うため、絵柄同士を全体的に
比較する場合に比べ格段に高精度の検査を行うこ
とができる。
第１１図は印刷物の流れ方向の位置ずれについ
ても対応し得るような構成を示したもので、第６
図に示した判定回路と同様の判定回路JC1〜JC7、
シフトレジスタSR1〜SR6および総合判定回路
TJUによつて構成されている。シフトレジスタ
SRは、カメラ２（第１図）のセンサアレイビツ
ト数に等しいビツト数であり、標本行データSD、
画素制御データMDおよび試料行データTDを第
６図の回路におけるラツチのように１画素ずつ遅
らせて判定回路JC1〜JC7に与え、これら判定回
路JC1〜JC7の各出力j1〜j7は総合判定回路TJUに
与えられて最小値が検出される。
ても対応し得るような構成を示したもので、第６
図に示した判定回路と同様の判定回路JC1〜JC7、
シフトレジスタSR1〜SR6および総合判定回路
TJUによつて構成されている。シフトレジスタ
SRは、カメラ２（第１図）のセンサアレイビツ
ト数に等しいビツト数であり、標本行データSD、
画素制御データMDおよび試料行データTDを第
６図の回路におけるラツチのように１画素ずつ遅
らせて判定回路JC1〜JC7に与え、これら判定回
路JC1〜JC7の各出力j1〜j7は総合判定回路TJUに
与えられて最小値が検出される。
本発明は上述のように、試料印刷物から画素毎
に行単位で取出した画像情報に対し当該行を中心
とする所定数行の標本行データを用意し、試料行
データが何れかの標本行データと許容値以内の濃
度差であるか否かによつて印刷絵柄の良否判定を
行うようにしたため、印刷物の搬送による位置ず
れがあつても実用上問題のない精度で絵柄検査を
行うことができる。また、本発明により搬送系と
しては位置ずれが許容されるから、搬送系のコス
ト低減ができる。
に行単位で取出した画像情報に対し当該行を中心
とする所定数行の標本行データを用意し、試料行
データが何れかの標本行データと許容値以内の濃
度差であるか否かによつて印刷絵柄の良否判定を
行うようにしたため、印刷物の搬送による位置ず
れがあつても実用上問題のない精度で絵柄検査を
行うことができる。また、本発明により搬送系と
しては位置ずれが許容されるから、搬送系のコス
ト低減ができる。
第１図は本発明の対象である絵柄検査装置の画
像情報検出部の構成を示す図、第２図は絵柄検査
のための試料絵柄データと標本絵柄データの記録
方式の模型的説明図、第３図は印刷物搬送系等に
起因して絵柄の位置ずれが生じた場合の説明用特
性図、第４図ａ，ｂは本発明方法の基本的な検査
方法および絵柄エツジの検査方法を示す特性図、
第５図は本発明方法を実施するための装置構成を
示すブロツク線図、第６図は第５図の装置におけ
る判定回路のより具体的構成を示すブロツク線
図、第７図は第６図の判定回路における判定エレ
メントのより具体的構成を示すブロツク線図、第
８図は第７図の判定エレメントにおける差の絶対
値検出回路のより具体的構成を示すブロツク線
図、第９図は第６図の判定回路における総合判定
回路のより具体的構成を示すブロツク線図、第１
０図は第９図の総合判定回路における低値検出回
路のより具体的構成を示すブロツク線図、第１１
図は印刷物の流れ方向への位置ずれにも対応し得
る構成を示すブロツク線図である。 １…印刷物、２…カメラ、３…シリンダ、４…
ロータリーエンコーダ、５，７，９，１７…試料
絵柄（試料行）データ、６，８，１０，１８…標
本絵柄（標本行）データ。TD…試料行データ、
SD…標本行データ、MD…画素制御データ、JC
…判定回路、JE…判定エレメント、Ｌ…ラツチ、
SR…シフトレジスタ、TJU…総合判定回路。
像情報検出部の構成を示す図、第２図は絵柄検査
のための試料絵柄データと標本絵柄データの記録
方式の模型的説明図、第３図は印刷物搬送系等に
起因して絵柄の位置ずれが生じた場合の説明用特
性図、第４図ａ，ｂは本発明方法の基本的な検査
方法および絵柄エツジの検査方法を示す特性図、
第５図は本発明方法を実施するための装置構成を
示すブロツク線図、第６図は第５図の装置におけ
る判定回路のより具体的構成を示すブロツク線
図、第７図は第６図の判定回路における判定エレ
メントのより具体的構成を示すブロツク線図、第
８図は第７図の判定エレメントにおける差の絶対
値検出回路のより具体的構成を示すブロツク線
図、第９図は第６図の判定回路における総合判定
回路のより具体的構成を示すブロツク線図、第１
０図は第９図の総合判定回路における低値検出回
路のより具体的構成を示すブロツク線図、第１１
図は印刷物の流れ方向への位置ずれにも対応し得
る構成を示すブロツク線図である。 １…印刷物、２…カメラ、３…シリンダ、４…
ロータリーエンコーダ、５，７，９，１７…試料
絵柄（試料行）データ、６，８，１０，１８…標
本絵柄（標本行）データ。TD…試料行データ、
SD…標本行データ、MD…画素制御データ、JC
…判定回路、JE…判定エレメント、Ｌ…ラツチ、
SR…シフトレジスタ、TJU…総合判定回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 試料印刷物から取出された絵柄データを標本
印刷物から予め取出されメモリーに記録されてい
る絵柄データと比較し絵柄の良否判定を行う絵柄
検査方法において、 前記試料から１行毎に検出した試料行データお
よび前記メモリーに記録されている標本行データ
の少くとも一方を、他方に対し実際に起こり得る
印刷物の位置ずれの範囲で１画素づつ相対的に位
置ずれさせて複数のデータを形成し、 この複数のデータによつて前記試料行データと
前記標本行データとの対比を行つてレベル差を検
出し、 そのレベル差の最小値が所定許容値範囲内であ
るか否かによつて良否判定するようにしたことを
特徴とする印刷物の絵柄検査方法。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の方法において、 前記印刷物のエツジについては、特別のレベル
許容値を設定するようにした印刷物の絵柄検査方
法。 ３ 印刷物の搬送速度に応じて同期信号を形成す
る装置と、 前記同期信号に基き前記印刷物の絵柄を走査し
て画像情報を取出すカメラと、 このカメラにより標本印刷物から取出した画像
情報が書込まれる標本行データメモリーと、 前記カメラからの試料行データと前記標本行デ
ータメモリーからのデータとをこれら両データの
少くとも一方を１画素づつ位置ずれさせることに
より予想される前記印刷物の位置ずれに対応した
ずれを伴う複数のデータを形成し、この複数のデ
ータにより前記試料行データと標本行データとの
対比を行う判定回路と をそなえた印刷物の絵柄検査装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57151118A JPS5940241A (ja) | 1982-08-31 | 1982-08-31 | 印刷物の絵柄を検査する方法および装置 |
| DE8383108547T DE3380997D1 (de) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Verfahren zur bilduntersuchung. |
| US06/527,947 US4677680A (en) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Method and device for inspecting image |
| EP83108547A EP0104477B1 (en) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Method for inspecting image |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57151118A JPS5940241A (ja) | 1982-08-31 | 1982-08-31 | 印刷物の絵柄を検査する方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5940241A JPS5940241A (ja) | 1984-03-05 |
| JPH0371263B2 true JPH0371263B2 (ja) | 1991-11-12 |
Family
ID=15511752
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57151118A Granted JPS5940241A (ja) | 1982-08-31 | 1982-08-31 | 印刷物の絵柄を検査する方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5940241A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62221085A (ja) * | 1986-03-20 | 1987-09-29 | Nec Corp | 自己走査型光電変換検出装置 |
| JPS6387238A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-18 | Nec Corp | 印刷物の検査装置 |
-
1982
- 1982-08-31 JP JP57151118A patent/JPS5940241A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5940241A (ja) | 1984-03-05 |
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