JPH0625657B2 - 印刷物の絵柄検査方法および装置 - Google Patents
印刷物の絵柄検査方法および装置Info
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- JPH0625657B2 JPH0625657B2 JP58108224A JP10822483A JPH0625657B2 JP H0625657 B2 JPH0625657 B2 JP H0625657B2 JP 58108224 A JP58108224 A JP 58108224A JP 10822483 A JP10822483 A JP 10822483A JP H0625657 B2 JPH0625657 B2 JP H0625657B2
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- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
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- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
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- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41F—PRINTING MACHINES OR PRESSES
- B41F33/00—Indicating, counting, warning, control or safety devices
- B41F33/0036—Devices for scanning or checking the printed matter for quality control
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/98—Detection or correction of errors, e.g. by rescanning the pattern or by human intervention; Evaluation of the quality of the acquired patterns
- G06V10/993—Evaluation of the quality of the acquired pattern
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
- G07D7/06—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency using wave or particle radiation
- G07D7/12—Visible light, infrared or ultraviolet radiation
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
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- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明は印刷物の絵柄を検査する方法および装置に関す
る。
る。
従来の印刷物絵柄検査装置は、第１図に示すように印刷
物１をラインセンサカメラ２により幅方向に走査しつつ
画像情報を取出し、一方搬送系のシリンダ３に取付けた
ロータリーエンコーダ４の出力によつてカメラ２の走査
を同期化することにより試料絵柄５（第２図）をマトリ
クス状の多数の小画素に分割する。
物１をラインセンサカメラ２により幅方向に走査しつつ
画像情報を取出し、一方搬送系のシリンダ３に取付けた
ロータリーエンコーダ４の出力によつてカメラ２の走査
を同期化することにより試料絵柄５（第２図）をマトリ
クス状の多数の小画素に分割する。
これら各画素は、同様に分割してメモリに記録した標本
絵柄６（第２図）の対応する小画素と順次濃度比較され
て欠陥有無が検出される。
絵柄６（第２図）の対応する小画素と順次濃度比較され
て欠陥有無が検出される。
このような絵柄検査において、第３図に示すように搬送
系の幅方向位置ずれがあると試料から得られた階調７の
うちの○印を付した３画素につき標本から得られた階調
８の該当する３画素分と比較した場合、試料絵柄に欠陥
がなくても欠陥ありとの誤判定が行われる。
系の幅方向位置ずれがあると試料から得られた階調７の
うちの○印を付した３画素につき標本から得られた階調
８の該当する３画素分と比較した場合、試料絵柄に欠陥
がなくても欠陥ありとの誤判定が行われる。
これを防ぐ一法として、試料と標本との階調差に対して
大きな許容値を設定することが考えられる。
大きな許容値を設定することが考えられる。
しかしながら、これは欠陥検出精度の低下をもたらすも
ので対策としては必ずしも良好なものではない。
ので対策としては必ずしも良好なものではない。
このような問題のない方法としては、標本絵柄に対する
試料絵柄の位置ずれを補正するものということになり、
各種の方法が考案されている。
試料絵柄の位置ずれを補正するものということになり、
各種の方法が考案されている。
その１は本願出願人による特願56−146355号に示すよう
な、印刷物の絵柄が幅方向に関しいかなる位置にあるか
を検出し、この位置変化が標本絵柄のデータを標本画素
データメモリに書込むときと試料絵柄のデータを読み込
むときとで比較した結果所定値以上異なるときは、その
ときの試料絵柄データを標本画素データメモリに書込む
ものである。
な、印刷物の絵柄が幅方向に関しいかなる位置にあるか
を検出し、この位置変化が標本絵柄のデータを標本画素
データメモリに書込むときと試料絵柄のデータを読み込
むときとで比較した結果所定値以上異なるときは、その
ときの試料絵柄データを標本画素データメモリに書込む
ものである。
しかしながら、この方法によると、印刷物の幅方向の位
置変化検出、および位置変化情報にしたがつて位置ずれ
補正のための装置が必要となり、ハードウエアの複雑
化、コスト高騰の問題を生じる。
置変化検出、および位置変化情報にしたがつて位置ずれ
補正のための装置が必要となり、ハードウエアの複雑
化、コスト高騰の問題を生じる。
その２は特公昭55−45948 号等に示すもので、試料画素
とこれに対応する標本画素の近傍数点の画素とを比較す
る方法である。
とこれに対応する標本画素の近傍数点の画素とを比較す
る方法である。
しかしながら、この方法では検査精度の低下を避け得な
い点で問題がある。
い点で問題がある。
その３は本願出願人による特願昭57−151,118に係るも
ので試料の幅方向絵柄階調データ（以下試料行データと
いう）を、標本の対応する幅方向絵柄階調データ（以下
標本行データという）と比較し、検出するにつき、各試
料毎に許容する位置ずれ分だけシフトした複数の標本行
を参照し、試料行と最も位相の近い標本行と試料行とに
よつて絵柄検査を行なう方法であつた。
ので試料の幅方向絵柄階調データ（以下試料行データと
いう）を、標本の対応する幅方向絵柄階調データ（以下
標本行データという）と比較し、検出するにつき、各試
料毎に許容する位置ずれ分だけシフトした複数の標本行
を参照し、試料行と最も位相の近い標本行と試料行とに
よつて絵柄検査を行なう方法であつた。
しかしながらこの方法では、試料搬送系の位置決め精度
によつては、必要な標本行の数が非常に多くなるととも
に、搬送系の高精度化が要求されるためさらに、簡略か
つ低コスト化がはかれる位置ずれ補正方法の開発が望ま
れていた。
によつては、必要な標本行の数が非常に多くなるととも
に、搬送系の高精度化が要求されるためさらに、簡略か
つ低コスト化がはかれる位置ずれ補正方法の開発が望ま
れていた。
本発明は上述の点を考慮してなされたもので、試料印刷
物から取出された絵柄データを標本印刷物から予め取出
されメモリに記憶されている絵柄データと比較し絵柄の
良否判定を行うにつき、前記試料から１行毎に検出した
試料行データおよび前記メモリに記憶されている標本行
データの何れか一方を他方に対し相対的に１画素単位で
位置ずれさせて複数のデータを形成し、この複数のデー
タによつて前記試料行データと標本行データとの対比を
行い、そのレベル差が最小値となつたときの前記両デー
タの位置関係からこれら両データ間の位置ずれを求め、
この位置ずれ量に基いて前記両データの一方のアドレス
を補正するような印刷物の絵柄検査方法および装置を提
供するものである。
物から取出された絵柄データを標本印刷物から予め取出
されメモリに記憶されている絵柄データと比較し絵柄の
良否判定を行うにつき、前記試料から１行毎に検出した
試料行データおよび前記メモリに記憶されている標本行
データの何れか一方を他方に対し相対的に１画素単位で
位置ずれさせて複数のデータを形成し、この複数のデー
タによつて前記試料行データと標本行データとの対比を
行い、そのレベル差が最小値となつたときの前記両デー
タの位置関係からこれら両データ間の位置ずれを求め、
この位置ずれ量に基いて前記両データの一方のアドレス
を補正するような印刷物の絵柄検査方法および装置を提
供するものである。
以下第４図乃至第21図を参照して本発明を実施例につき
説明する。
説明する。
第４図(a)，(b)，(c)は試料データと標本行データとを
示したもので、同図(a)は本発明方法において取扱われ
る試料行データと標本行データとの基本的な関係を示
し、同図(b)は両データの位置ずれ量と欠陥箇数との関
係を示し、同図(c)は印刷物の絵柄エツジをはじめとす
る特殊な部分における試料行データと標本行データとの
関係を示したものである。
示したもので、同図(a)は本発明方法において取扱われ
る試料行データと標本行データとの基本的な関係を示
し、同図(b)は両データの位置ずれ量と欠陥箇数との関
係を示し、同図(c)は印刷物の絵柄エツジをはじめとす
る特殊な部分における試料行データと標本行データとの
関係を示したものである。
まず同図(a)によれば、１つの試料行データ９に対し複
数の標本行データ10〜16を参照する。これら標本行デー
タ10〜16は基本となる標本行データ13を搬送系の精度よ
り予想される位置ずれ分だけ１画素分ずつ左右にシフト
して得たものである。
数の標本行データ10〜16を参照する。これら標本行デー
タ10〜16は基本となる標本行データ13を搬送系の精度よ
り予想される位置ずれ分だけ１画素分ずつ左右にシフト
して得たものである。
そして、試料行データ９を標本行データ10〜16の中で最
も試料行データ９と位相が近いものと12と濃度比較する
ことができ、これによつて欠陥検出が行われる。
も試料行データ９と位相が近いものと12と濃度比較する
ことができ、これによつて欠陥検出が行われる。
これにより試料行データ９が印刷物の幅方向に位置ずれ
していてもデータ同士を内容的に比較することができる
から精度よく欠陥検出することができる。複数の標本行
データの内から試料行データと位相の一番近いものを選
択する方法は以下の通りである。
していてもデータ同士を内容的に比較することができる
から精度よく欠陥検出することができる。複数の標本行
データの内から試料行データと位相の一番近いものを選
択する方法は以下の通りである。
第４図(b)に示すように、複数個の標本行データの各々
についてカメラの１走査期間欠陥検出を行なうと、試料
行データと最も位相が近い標本行データの欠陥箇数が他
に比べて最小になる。即ち、１走査毎に、欠陥箇数が最
小となる標本行データがその時の試料行データと、一番
位相が近いということになる。ただし、この図示例は比
較的淡い画像に関するものであり、濃淡の度合の強い画
像により傾斜の大きい特性曲線となる。
についてカメラの１走査期間欠陥検出を行なうと、試料
行データと最も位相が近い標本行データの欠陥箇数が他
に比べて最小になる。即ち、１走査毎に、欠陥箇数が最
小となる標本行データがその時の試料行データと、一番
位相が近いということになる。ただし、この図示例は比
較的淡い画像に関するものであり、濃淡の度合の強い画
像により傾斜の大きい特性曲線となる。
次に同図(c)によれば、試料行データ17に対し最も位相
の近い標本行データ18を対比すると共に、階調差許容値
を大きくとつたものである。これにより絵柄エツジ部分
のように階調差が極めて大きな場合に適した欠陥検査を
行い得る。すなわち、標本行データ18は試料行データ17
に最も位相の近いものであるため、両者の位相差は1/2
画素幅分である。従つて1/2画素幅分の位値ずれが生じ
た場合のエツジに相当する画素における試料と標本との
階調差をその画素に対する許容値とすればよい。この各
画素毎の許容値設定については種々の方法を採ることが
でき（特開昭56−179599号参照）、あるいはエツジに相
当する画素をマスキングすることにより判定対象外とし
てもよい。
の近い標本行データ18を対比すると共に、階調差許容値
を大きくとつたものである。これにより絵柄エツジ部分
のように階調差が極めて大きな場合に適した欠陥検査を
行い得る。すなわち、標本行データ18は試料行データ17
に最も位相の近いものであるため、両者の位相差は1/2
画素幅分である。従つて1/2画素幅分の位値ずれが生じ
た場合のエツジに相当する画素における試料と標本との
階調差をその画素に対する許容値とすればよい。この各
画素毎の許容値設定については種々の方法を採ることが
でき（特開昭56−179599号参照）、あるいはエツジに相
当する画素をマスキングすることにより判定対象外とし
てもよい。
第５図に第４図の思想に基づき構成した本発明方法を実
施するための装置構成を示す。
施するための装置構成を示す。
この装置において、印刷物１を搬送する搬送シリンダ３
の回転量がロータリーエンコーダ４により検出され、同
期回路21に入力される。この同期回路21には、カメラ２
によるスキヤニング位置検出信号が同様に入力されて印
刷物１上の任意位置が検出される。この同期回路21の出
力に基きA/D変換器22がカメラ２より入力されたアナロ
グ量をデイジタル量に変換する。ここで、印刷物１上に
同期回路21の情報を基にアドレス付けする回路がアドレ
ス補正回路24である。この回路の重要な機能は、試料行
パターンに最も位相の近い標本行パターンに関する判定
回路23の出力結果がフイードバツクされることにより次
の行を最適アドレスに補正することである。そして、デ
イジタル量を検出１画素につき標本画素データメモリ25
に格納した後、次の画面からは判定回路23において試料
行データが、標本画素データメモリ25より生成される複
数のシフト行データとリアルタイムで比較される。一
方、判定レベル設定回路27にて事前に設定された判定レ
ベルデータメモリ26のデータと標本画素データメモリ25
のデータとから、リアルタイムで判定レベルが求めら
れ、判定回路23に出力される。
の回転量がロータリーエンコーダ４により検出され、同
期回路21に入力される。この同期回路21には、カメラ２
によるスキヤニング位置検出信号が同様に入力されて印
刷物１上の任意位置が検出される。この同期回路21の出
力に基きA/D変換器22がカメラ２より入力されたアナロ
グ量をデイジタル量に変換する。ここで、印刷物１上に
同期回路21の情報を基にアドレス付けする回路がアドレ
ス補正回路24である。この回路の重要な機能は、試料行
パターンに最も位相の近い標本行パターンに関する判定
回路23の出力結果がフイードバツクされることにより次
の行を最適アドレスに補正することである。そして、デ
イジタル量を検出１画素につき標本画素データメモリ25
に格納した後、次の画面からは判定回路23において試料
行データが、標本画素データメモリ25より生成される複
数のシフト行データとリアルタイムで比較される。一
方、判定レベル設定回路27にて事前に設定された判定レ
ベルデータメモリ26のデータと標本画素データメモリ25
のデータとから、リアルタイムで判定レベルが求めら
れ、判定回路23に出力される。
なお、図においてアドレス補正回路24から判定回路23に
与えられる破線図示の信号はカメラ２からの試料画素デ
ータを最適アドレスに補正する場合に用いられる。この
場合、判定回路23はシフトレジスタ等を持つていて試料
画素データを１画素分づつシフトできるようになつてい
ることを要する。
与えられる破線図示の信号はカメラ２からの試料画素デ
ータを最適アドレスに補正する場合に用いられる。この
場合、判定回路23はシフトレジスタ等を持つていて試料
画素データを１画素分づつシフトできるようになつてい
ることを要する。
第６図は第５図の装置における判定回路23のより具体的
構成をシフト量±３画素、１行512 画素を例にとつて示
したもので、標本行データＳＤおよび判定レベルデータ
ＭＤを１画素分ずつシフトするためのラツチＬ１〜Ｌ３
によるシフト回路と、試料行データＴＤを１画素分ずつ
シフトするためのラツチＬ４〜Ｌ６によるシフト回路と
をそれぞれ判定要素ＪＥ１〜ＪＥ３およびＪＥ４〜ＪＥ
７による判定要素群と組合わせてなるものである。
構成をシフト量±３画素、１行512 画素を例にとつて示
したもので、標本行データＳＤおよび判定レベルデータ
ＭＤを１画素分ずつシフトするためのラツチＬ１〜Ｌ３
によるシフト回路と、試料行データＴＤを１画素分ずつ
シフトするためのラツチＬ４〜Ｌ６によるシフト回路と
をそれぞれ判定要素ＪＥ１〜ＪＥ３およびＪＥ４〜ＪＥ
７による判定要素群と組合わせてなるものである。
各シフト回路は何れもカメラ２（第１図）の走査に用い
たクロツクＣＬＫがラツチ回路に与えられることにより
シフト動作を行うもので、クロツクＣＬＫが１画素毎に
与えられるようにすればよい。
たクロツクＣＬＫがラツチ回路に与えられることにより
シフト動作を行うもので、クロツクＣＬＫが１画素毎に
与えられるようにすればよい。
例えば試料行データＴＤ１はラツチＬ４，Ｌ５，Ｌ６に
よりカメラの走査に同期して順次シフトされＴＤ２，Ｔ
Ｄ３，ＴＤ４となる。同様に標本行データＳＤ１および
判定レベルデータＭＤ１はラツチＬ１，Ｌ２，Ｌ３によ
りカメラの走査に同期して順次シフトされＭＤ２，ＭＤ
３，ＭＤ４およびＳＤ２，ＳＤ３，ＳＤ４となる。
よりカメラの走査に同期して順次シフトされＴＤ２，Ｔ
Ｄ３，ＴＤ４となる。同様に標本行データＳＤ１および
判定レベルデータＭＤ１はラツチＬ１，Ｌ２，Ｌ３によ
りカメラの走査に同期して順次シフトされＭＤ２，ＭＤ
３，ＭＤ４およびＳＤ２，ＳＤ３，ＳＤ４となる。
そして試料行データＴＤ１は判定エレメントＪＥ１，Ｊ
Ｅ２，ＪＥ３，ＪＥ４に与えられ、標本行データおよび
判定レベルデータと比較判定される。すなわち判定エレ
メントＪＥ４では試料行データＴＤ１と標本行データＳ
Ｄ１、判定レベルデータＭＤ１による判定を行い、判定
エレメントＪＥ１ではＴＤ１とＳＤ２，ＭＤ２による判
定、同じくＪＥ２ではＴＤ１とＳＤ３，ＭＤ３による判
定、ＪＥ３ではＴＤ１とＳＤ４，ＭＤ４による判定を行
う。これにより標本行データおよび判定レベルデータを
試料行データに対し遅れさせたときの判定が行われる。
Ｅ２，ＪＥ３，ＪＥ４に与えられ、標本行データおよび
判定レベルデータと比較判定される。すなわち判定エレ
メントＪＥ４では試料行データＴＤ１と標本行データＳ
Ｄ１、判定レベルデータＭＤ１による判定を行い、判定
エレメントＪＥ１ではＴＤ１とＳＤ２，ＭＤ２による判
定、同じくＪＥ２ではＴＤ１とＳＤ３，ＭＤ３による判
定、ＪＥ３ではＴＤ１とＳＤ４，ＭＤ４による判定を行
う。これにより標本行データおよび判定レベルデータを
試料行データに対し遅れさせたときの判定が行われる。
一方、これとは反対に試料行データを標本行データおよ
び画素制御データに対し遅れさせたときの判定は判定エ
レメントＪＥ５，ＪＥ６，ＪＥ７により行われる。これ
により判定エレメントＪＥ１〜ＪＥ７の各々により第４
図(a)における試料行データ９と標本行データ10〜16と
の比較判定が行なわれる。この時の各判定エレメントＪ
Ｅ１〜ＪＥ７の出力はカメラ１走査の間に検出された欠
陥の箇数である。
び画素制御データに対し遅れさせたときの判定は判定エ
レメントＪＥ５，ＪＥ６，ＪＥ７により行われる。これ
により判定エレメントＪＥ１〜ＪＥ７の各々により第４
図(a)における試料行データ９と標本行データ10〜16と
の比較判定が行なわれる。この時の各判定エレメントＪ
Ｅ１〜ＪＥ７の出力はカメラ１走査の間に検出された欠
陥の箇数である。
この７つの判定エレメントからの出力は総合判定回路Ｔ
ＪＵに与えられる。総合判定回路ＴＪＵは、各エレメン
トから出力される欠陥箇数のうち最小値を選び出し、そ
の値が閾値を超えているか否かによつて良否判定を行な
う。即ち、試料行データとも最も位相の合つた標本行デ
ータとの比較判定が行なわれる訳である。又、この最低
欠陥箇数を与える判定エレメントを総合判定回路ＴＪＵ
の演算結果に基き識別することで、現在検査している試
料行データが標本行データから、何画素ずれているかが
判かる。この識別データは出力端子ＳＴからアドレス補
正回路24に転送され、次のカメラ１走査に対する先頭ア
ドレスを補正する。
ＪＵに与えられる。総合判定回路ＴＪＵは、各エレメン
トから出力される欠陥箇数のうち最小値を選び出し、そ
の値が閾値を超えているか否かによつて良否判定を行な
う。即ち、試料行データとも最も位相の合つた標本行デ
ータとの比較判定が行なわれる訳である。又、この最低
欠陥箇数を与える判定エレメントを総合判定回路ＴＪＵ
の演算結果に基き識別することで、現在検査している試
料行データが標本行データから、何画素ずれているかが
判かる。この識別データは出力端子ＳＴからアドレス補
正回路24に転送され、次のカメラ１走査に対する先頭ア
ドレスを補正する。
第７図は第６図の判定回路に用いられる判定エレメント
ＪＥのより具体的構成を示したものである。これは、差
の絶対値検出回路ＤＡ、コンパレータＣＰ、カウンタＣ
Ｔ、ラツチＬＡにより構成されている。そして、差の絶
対値回路ＤＡは、各試料行データＴＤ（ＴＤ１〜Ｔ
Ｄ４）と各標本行データＳＤ（ＳＤ１〜ＳＤ４）との差
の絶対値｜ＴＤ−ＳＤ｜を求める。この値と判定レベル
設定回路27から与えられる各判定レベルＭＤ（ＭＤ１〜
ＭＤ４とをコンパレータＣＰにて比較し、判定レベル以
上の画素を欠陥信号として、カウンタＣＴへ出力する。
カウンタＣＴはカメラの１走査開始毎に発生するスキヤ
ニング開始信号ＳＺＥＲＯが入力される毎に初期化さ
れ、欠陥信号が出力されている間のみカウント可能とな
る。カウンタＣＴのクロツクCLＫは本発明に係る検査装
置のタイミング生成用に使用されているクロツクであ
り、このクロツク１つはカメラによる画像走査における
一画素に相当する。即ち、カウンタＣＴでは、カメラの
１走査期間に発生する欠陥画素数をカウントすることに
なる。ラツチＬＡは、カメラの１走査終了毎に発生する
スキヤニング終了信号SENDによつて前記１走査期間中に
発生する欠陥箇数をＦＮ（ＦＮ１〜ＦＮ７）信号として
総合判定回路TJUに出力する。
ＪＥのより具体的構成を示したものである。これは、差
の絶対値検出回路ＤＡ、コンパレータＣＰ、カウンタＣ
Ｔ、ラツチＬＡにより構成されている。そして、差の絶
対値回路ＤＡは、各試料行データＴＤ（ＴＤ１〜Ｔ
Ｄ４）と各標本行データＳＤ（ＳＤ１〜ＳＤ４）との差
の絶対値｜ＴＤ−ＳＤ｜を求める。この値と判定レベル
設定回路27から与えられる各判定レベルＭＤ（ＭＤ１〜
ＭＤ４とをコンパレータＣＰにて比較し、判定レベル以
上の画素を欠陥信号として、カウンタＣＴへ出力する。
カウンタＣＴはカメラの１走査開始毎に発生するスキヤ
ニング開始信号ＳＺＥＲＯが入力される毎に初期化さ
れ、欠陥信号が出力されている間のみカウント可能とな
る。カウンタＣＴのクロツクCLＫは本発明に係る検査装
置のタイミング生成用に使用されているクロツクであ
り、このクロツク１つはカメラによる画像走査における
一画素に相当する。即ち、カウンタＣＴでは、カメラの
１走査期間に発生する欠陥画素数をカウントすることに
なる。ラツチＬＡは、カメラの１走査終了毎に発生する
スキヤニング終了信号SENDによつて前記１走査期間中に
発生する欠陥箇数をＦＮ（ＦＮ１〜ＦＮ７）信号として
総合判定回路TJUに出力する。
第８図は第７図の判定エレメントにおける差の絶対値回
路のより具体的構成を示したもので、２つの加算器A
D1，AD2、エクスクルーシブオア回路ＥＸおよびインバ
ータＩＮＶにより構成され、入力としてＴＤ、▲▼
が与えられることにより|TD−SD|なる出力を形成する。
この回路は周知であるため詳細説明は省略する。
路のより具体的構成を示したもので、２つの加算器A
D1，AD2、エクスクルーシブオア回路ＥＸおよびインバ
ータＩＮＶにより構成され、入力としてＴＤ、▲▼
が与えられることにより|TD−SD|なる出力を形成する。
この回路は周知であるため詳細説明は省略する。
第９図は第６図の判定回路における総合判定回路TJUの
構成をより詳細に示したものであり、６つの低値検出回
路MIN1〜MIN6、コンパレータＣＰ、判定エレメント識別
回路ＪＡから構成されている。
構成をより詳細に示したものであり、６つの低値検出回
路MIN1〜MIN6、コンパレータＣＰ、判定エレメント識別
回路ＪＡから構成されている。
判定エレメントＪＥ１〜ＪＥ７（第６図，第７図，第８
図）からの欠陥箇数ＦＮ１〜ＦＮ７の中で最小のものを
検出するのが低値検出回路MIN1〜MIN6であり、検出され
た最小値は、あらかじめ与えられている欠陥許容数とコ
ンパレータＣＰにて比較され、許容数以上の走査行は欠
陥行として検出信号が出力端子OUTPUTに出力される。こ
こで与えられる欠陥許容数はノイズ等による誤判定防止
のための値に印刷物の品質として許容できる範囲の値を
上乗せしたものである。
図）からの欠陥箇数ＦＮ１〜ＦＮ７の中で最小のものを
検出するのが低値検出回路MIN1〜MIN6であり、検出され
た最小値は、あらかじめ与えられている欠陥許容数とコ
ンパレータＣＰにて比較され、許容数以上の走査行は欠
陥行として検出信号が出力端子OUTPUTに出力される。こ
こで与えられる欠陥許容数はノイズ等による誤判定防止
のための値に印刷物の品質として許容できる範囲の値を
上乗せしたものである。
又、この総合判定回路TJUには、±３画素づつシフトさ
れた各標本行データ群と最も位相の近い（欠陥数が最
小）試料行データがどれかを検出するために判定エレメ
ント識別回路ＪＡが設けられている。これの出力ＳＴは
現在、カメラが走査している時の位置ずれ量が標本行デ
ータを検査装置に取り込んだ時と、何画素ずれているか
の情報を与える。
れた各標本行データ群と最も位相の近い（欠陥数が最
小）試料行データがどれかを検出するために判定エレメ
ント識別回路ＪＡが設けられている。これの出力ＳＴは
現在、カメラが走査している時の位置ずれ量が標本行デ
ータを検査装置に取り込んだ時と、何画素ずれているか
の情報を与える。
第10図は第９図における低値検出回路MINのより具体的
な構成を示したもので、セレクタＳＥ、コンパレータＣ
Ｐとにより構成されている。２つの入力Ａ，Ｂをコンパ
レータＣＰにて比較し、Ａ＞Ｂなる信号を得る。これは
１つは判定エレメント識別信号ＪとしてＪＡへいき、も
う１つはセレクタＳＥにて入力Ａ，Ｂの中から低値を選
択する信号となる。この回路の出力が２入力Ａ，Ｂから
低値を検出した信号MIN（Ａ，Ｂ）である。
な構成を示したもので、セレクタＳＥ、コンパレータＣ
Ｐとにより構成されている。２つの入力Ａ，Ｂをコンパ
レータＣＰにて比較し、Ａ＞Ｂなる信号を得る。これは
１つは判定エレメント識別信号ＪとしてＪＡへいき、も
う１つはセレクタＳＥにて入力Ａ，Ｂの中から低値を選
択する信号となる。この回路の出力が２入力Ａ，Ｂから
低値を検出した信号MIN（Ａ，Ｂ）である。
ここに、第９図の総合判定回路は７つの入力を２つずつ
組合わせて低値検出し、この低値検出結果同士を比較し
て低値検出し、さらにもう一段低値検出を行うことによ
り７入力中の最低値を検出するようにしたものである。
組合わせて低値検出し、この低値検出結果同士を比較し
て低値検出し、さらにもう一段低値検出を行うことによ
り７入力中の最低値を検出するようにしたものである。
第11図は、第９図における判定エレメント識別回路ＪＡ
の動作内容を示したものである。第11図において、チャ
ート内の“１”は、低値検出回路の出力ＪがＡ＞Ｂを満
足している状態、“φ”はＡ＜Ｂを満足している状態、
“Ｘ”はそのどちらでもかまわない状態である。Ｊ１〜
Ｊ６がそれぞれ、チヤートのような状態を満足している
時に７つの判定エレメントＪＥからの出力FN１〜FN７の
どれが一番小さいかが識別できる。
の動作内容を示したものである。第11図において、チャ
ート内の“１”は、低値検出回路の出力ＪがＡ＞Ｂを満
足している状態、“φ”はＡ＜Ｂを満足している状態、
“Ｘ”はそのどちらでもかまわない状態である。Ｊ１〜
Ｊ６がそれぞれ、チヤートのような状態を満足している
時に７つの判定エレメントＪＥからの出力FN１〜FN７の
どれが一番小さいかが識別できる。
第12図は、第９図における判定エレメント識別回路ＪＡ
のより具体的構成を示したもので、インバータＩＮV1〜
ＩＮV6、オア回路OR1〜OR6、エンコーダＥＮにて前記ロ
ジツクを構成した回路例である。
のより具体的構成を示したもので、インバータＩＮV1〜
ＩＮV6、オア回路OR1〜OR6、エンコーダＥＮにて前記ロ
ジツクを構成した回路例である。
判定レベルの設定方法は本出願人が既に出願（特願昭５
６−179599号参照）したものをさらに進め、リアルタイ
ムにて判定回路の判定結果に使用できさらに誤判定し難
い構成である。
６−179599号参照）したものをさらに進め、リアルタイ
ムにて判定回路の判定結果に使用できさらに誤判定し難
い構成である。
ここでは、３種類の判定レベルを採用する。第１番目は
“固定分”と呼ばれるものであり、印刷絵柄のシヤドー
部分（低濃度部分）に対する最低値、あるいは、検査を
必要としない部分（余白部分）に対する最大値（８ビツ
トにて255 ）を与える。これは判定レベルデータ・メモ
リ26に事前に書込んでおく。第２番目は、“比例分”と
呼ばれるものであり、標本画素データ25にある比率Ｋ
（Ｋ＜１）を乗じた値であり、これにより検査性能の向
上が期待できる。
“固定分”と呼ばれるものであり、印刷絵柄のシヤドー
部分（低濃度部分）に対する最低値、あるいは、検査を
必要としない部分（余白部分）に対する最大値（８ビツ
トにて255 ）を与える。これは判定レベルデータ・メモ
リ26に事前に書込んでおく。第２番目は、“比例分”と
呼ばれるものであり、標本画素データ25にある比率Ｋ
（Ｋ＜１）を乗じた値であり、これにより検査性能の向
上が期待できる。
第３番目は“エツヂ分”と呼ばれるものであり標本画素
データ・メモリ25の隣り合う画素の差を判定レベルとし
て与えることにより、濃度急変部分での誤動作防止に役
立つ。第２，第３の判定レベルは標本画素データ・メモ
リ25からリアルタイムに演算される。
データ・メモリ25の隣り合う画素の差を判定レベルとし
て与えることにより、濃度急変部分での誤動作防止に役
立つ。第２，第３の判定レベルは標本画素データ・メモ
リ25からリアルタイムに演算される。
ある画素の判定レベルを与えるときには、前記３種類の
判定レベルの中から最大値を選んで用いることにより、
誤判定し難い検査装置の構成を可能としている。すなわ
ち標本画素データＳＤにおける画素間レベル差が小さい
場合には、第１の判定レベルを用い、階調変化により画
素間レベル差がやや大きい場合には第２の判定レベルを
用い、エツヂ部分で画素間レベル差が著しく大きい場合
は第３の判定レベルを用いる。このような対応により誤
判定を防ぐ。
判定レベルの中から最大値を選んで用いることにより、
誤判定し難い検査装置の構成を可能としている。すなわ
ち標本画素データＳＤにおける画素間レベル差が小さい
場合には、第１の判定レベルを用い、階調変化により画
素間レベル差がやや大きい場合には第２の判定レベルを
用い、エツヂ部分で画素間レベル差が著しく大きい場合
は第３の判定レベルを用いる。このような対応により誤
判定を防ぐ。
第13図に第５図の判定レベル設定回路27の具体的構成例
を示す。
を示す。
標本画素データＳＤは、１つはラツチLA3，LA4を用いて
シフトされインバータＩＮＶ、差の絶対値回路DA2，DA3
にて隣り合う画素同士の差が求められる。高値検出回路
HL1にて、左右の隣り合う画素との差の中で大きい方
が、高値検出回路ＨL2のＢ入力に“エツヂ分”判定レベ
ルとして送られる。このように左右両隣りの画素と比較
することにより幅方向の位置ずれが左右どちらに生じて
も一つの判定レベルで対応できる。標本画素データＳＤ
のもう１つは、比例分設定回路ＲＳにてある係数Ｋ（Ｋ
＜１）が乗ぜられ、高値検出回路HL2のＣ入力に“比例
分”判定レベルとして送られる。
シフトされインバータＩＮＶ、差の絶対値回路DA2，DA3
にて隣り合う画素同士の差が求められる。高値検出回路
HL1にて、左右の隣り合う画素との差の中で大きい方
が、高値検出回路ＨL2のＢ入力に“エツヂ分”判定レベ
ルとして送られる。このように左右両隣りの画素と比較
することにより幅方向の位置ずれが左右どちらに生じて
も一つの判定レベルで対応できる。標本画素データＳＤ
のもう１つは、比例分設定回路ＲＳにてある係数Ｋ（Ｋ
＜１）が乗ぜられ、高値検出回路HL2のＣ入力に“比例
分”判定レベルとして送られる。
ここで標本画素データＳＤをラツチLA4の出力としてい
る訳は“エツヂ分”判定レベルと画素の位相を一致させ
るためである。同様の目的で、判定レベルデータＣＤか
ら“固定分”判定レベルを引用する際もラツチLA1，LA2
にて位相合せを行ない高値検出回路HL2の入力Ａとなつ
ている。高値検出回路HL2では入力Ａ，Ｂ，Ｃの中から
最大の判定レベル、つまり標本画素データＳＤの該当領
域における画素間レベル差から得た最適判定レベルを選
定し、その値をその画素の判定レベルＭＤとして判定回
路27に送出する。
る訳は“エツヂ分”判定レベルと画素の位相を一致させ
るためである。同様の目的で、判定レベルデータＣＤか
ら“固定分”判定レベルを引用する際もラツチLA1，LA2
にて位相合せを行ない高値検出回路HL2の入力Ａとなつ
ている。高値検出回路HL2では入力Ａ，Ｂ，Ｃの中から
最大の判定レベル、つまり標本画素データＳＤの該当領
域における画素間レベル差から得た最適判定レベルを選
定し、その値をその画素の判定レベルＭＤとして判定回
路27に送出する。
この一連の動作は検査装置のタイミング・クロツクCLK
と同期して行なわれるため、試料行データと標本行デー
タの画素毎比較が行なわれる判定回路23へリアルタイム
で判定レベルを与えることができる。
と同期して行なわれるため、試料行データと標本行デー
タの画素毎比較が行なわれる判定回路23へリアルタイム
で判定レベルを与えることができる。
ここで、差の絶対値回路DA2，DA3は第８図と同様な構成
であり、又、高値検出回路HL1，HL2は第10図に示された
低値優先回路MINの逆の機能で実現できるため回路図は
省略する。
であり、又、高値検出回路HL1，HL2は第10図に示された
低値優先回路MINの逆の機能で実現できるため回路図は
省略する。
第14図は第13図の比例分設定回路ＲＳの具体例を示した
ものである。本実施例では簡単のため乗算器などを用い
ずにゲートＧ１〜Ｇ４を、デコーダＤＥで選択すること
により、特定の判定レベルが得られるようになつてい
る。又、比例分設定値は２ビツトとしている。ゲートＧ
１の入力は最上位ビツトはLOWに接続、下位７ビツトを
標本画素データＳＤの上位７ビツト（残り１ビツトは無
接続）と接続することにより、このゲートＧ１が選択さ
れた時には標本画素データＳＤの50％の値が出力され
る。同様にＧ２〜Ｇ３を選択することによりそれぞれ、
Ｓ２の25％、12.5％、6.25％の値が出力されるように入
力系が接続されている。
ものである。本実施例では簡単のため乗算器などを用い
ずにゲートＧ１〜Ｇ４を、デコーダＤＥで選択すること
により、特定の判定レベルが得られるようになつてい
る。又、比例分設定値は２ビツトとしている。ゲートＧ
１の入力は最上位ビツトはLOWに接続、下位７ビツトを
標本画素データＳＤの上位７ビツト（残り１ビツトは無
接続）と接続することにより、このゲートＧ１が選択さ
れた時には標本画素データＳＤの50％の値が出力され
る。同様にＧ２〜Ｇ３を選択することによりそれぞれ、
Ｓ２の25％、12.5％、6.25％の値が出力されるように入
力系が接続されている。
印刷機巻返し検査装置などの印刷物１の搬送系を考える
とき、第15に示すように搬送系の走行精度によつてはか
なりの幅方向位置ずれが生じる。又、本質的に印刷工程
においては、給紙部より供給されるウエブの流れが場合
によつては、幅方向にシフトするため印刷段階で印刷シ
リンダを幅方向へ動かすことが多い。この時には当然、
試料行データは幅方向へ大きく移動することになる。従
つて、走査位置ａ，ｃ間のような長期間については、か
なりの量の幅方向位置ずれが生じることが予想される。
一方、カメラの１走査期間に相当するａ，ｂ間のような
極めて短期間については、ほとんど、幅方向位置ずれは
生じていない（１〜２画素程度の余裕を見れば充分であ
る。）従つて、長期的な幅方向位置ずれの対策がより必
要であるが、このために多数の標本行データを用意する
ことは、ハードウエアに対する負荷が非常に大きいもの
になつてしまう。
とき、第15に示すように搬送系の走行精度によつてはか
なりの幅方向位置ずれが生じる。又、本質的に印刷工程
においては、給紙部より供給されるウエブの流れが場合
によつては、幅方向にシフトするため印刷段階で印刷シ
リンダを幅方向へ動かすことが多い。この時には当然、
試料行データは幅方向へ大きく移動することになる。従
つて、走査位置ａ，ｃ間のような長期間については、か
なりの量の幅方向位置ずれが生じることが予想される。
一方、カメラの１走査期間に相当するａ，ｂ間のような
極めて短期間については、ほとんど、幅方向位置ずれは
生じていない（１〜２画素程度の余裕を見れば充分であ
る。）従つて、長期的な幅方向位置ずれの対策がより必
要であるが、このために多数の標本行データを用意する
ことは、ハードウエアに対する負荷が非常に大きいもの
になつてしまう。
そこで、本発明では、短期的なずれ（ａ，ｂ間で生じる
位置ずれ）に対しては少数の標本行データ（本実施例で
は±３画素）で対応し、長期的な位置ずれ（ａ，ｃ間で
生じる位置ずれ）に対しては、カメラの各走査前に走査
開始アドレスを、一番位置ずれ量の少ないアドレスへ補
正することでハードウエア負荷を大幅に軽減している。
位置ずれ）に対しては少数の標本行データ（本実施例で
は±３画素）で対応し、長期的な位置ずれ（ａ，ｃ間で
生じる位置ずれ）に対しては、カメラの各走査前に走査
開始アドレスを、一番位置ずれ量の少ないアドレスへ補
正することでハードウエア負荷を大幅に軽減している。
第16図はこのカメラ走査前に行われるアドレス補正をど
のタイミングで行なうかを示している。この補正動作は
カメラ走査の開始点、終了点を基準にして行う。ロータ
リー・エンコーダ４の信号を元に、シリンダ３の回転方
向を分割し、カメラ走査開始点をまとめたのが例えばN
1，N2であり、対応する終了点がED1，ED2である。カメ
ラの走査開始点N1，N2ごとに、開始信号SZEROが発生
し、走査終了点ED1，E2ごとに終了信号SENDが発生す
る。
のタイミングで行なうかを示している。この補正動作は
カメラ走査の開始点、終了点を基準にして行う。ロータ
リー・エンコーダ４の信号を元に、シリンダ３の回転方
向を分割し、カメラ走査開始点をまとめたのが例えばN
1，N2であり、対応する終了点がED1，ED2である。カメ
ラの走査開始点N1，N2ごとに、開始信号SZEROが発生
し、走査終了点ED1，E2ごとに終了信号SENDが発生す
る。
この走査終了点SENDから、走査開始点SZEROまでの間、
カメラは光量を蓄積しており、検査装置自身は何の演算
動作も行なつていない。この期間に、判定回路23から得
られるＳＴ信号（試料行データと最も位相の近い標本行
データのアドレスを与える）を元に、次のカメラ走査開
始アドレスを補正してやることによりリアルタイムでの
位置ずれ補正を可能としている。
カメラは光量を蓄積しており、検査装置自身は何の演算
動作も行なつていない。この期間に、判定回路23から得
られるＳＴ信号（試料行データと最も位相の近い標本行
データのアドレスを与える）を元に、次のカメラ走査開
始アドレスを補正してやることによりリアルタイムでの
位置ずれ補正を可能としている。
第17図は判定回路23から出力されるＳＴ信号の位置ずれ
量の定義を説明したもので、Ｇ１は標本行データを取り
込んだ際の画素位置を表わし、Ｇ２，Ｇ３は、試料行デ
ータに位相を合わせるために標本行データＧ１をシフト
したデータであり、Ｇ２を方向シフト、Ｇ３を方向
シフトと定義している。即ち、本実施例では３ビツトの
情報を持つＳＴ信号を解読してやることにより、現在取
り込んでいる試料行データが標本行データに対し±３画
素の中でどれに最も近く位置しているかが判かる。これ
を整理すると下表のようになる。
量の定義を説明したもので、Ｇ１は標本行データを取り
込んだ際の画素位置を表わし、Ｇ２，Ｇ３は、試料行デ
ータに位相を合わせるために標本行データＧ１をシフト
したデータであり、Ｇ２を方向シフト、Ｇ３を方向
シフトと定義している。即ち、本実施例では３ビツトの
情報を持つＳＴ信号を解読してやることにより、現在取
り込んでいる試料行データが標本行データに対し±３画
素の中でどれに最も近く位置しているかが判かる。これ
を整理すると下表のようになる。
第18図に、アドレス補正回路24の具体的回路構成例を示
す。この回路は、３種類のカウンタＣ１〜Ｃ３、ラツチ
LA5、インバータＩＮＶ、アンド回路ＡＮＤおよびオア
回路ＯＲから構成されている。ここで、SCLK信号はカメ
ラより出力される信号で、これらの１クロツクに同期し
て一画素の情報が検査装置へ取り込まれる。そして、検
査装置内でこの信号から内部タイミングを制御するため
にCLK信号を発生させている。SCLK信号はカメラが発生
している信号なのでアドレスが発生していない時、即
ち、SEND信号からSZERO信号の間にも発生しているが、C
LK信号は、検査装置内で作つている信号なのでこの信号
SZEROとSENDの間の期間の出力はない。従つて、アドレ
ス補正のタイミング信号として利用できるクロツクはSC
LK信号となる。
す。この回路は、３種類のカウンタＣ１〜Ｃ３、ラツチ
LA5、インバータＩＮＶ、アンド回路ＡＮＤおよびオア
回路ＯＲから構成されている。ここで、SCLK信号はカメ
ラより出力される信号で、これらの１クロツクに同期し
て一画素の情報が検査装置へ取り込まれる。そして、検
査装置内でこの信号から内部タイミングを制御するため
にCLK信号を発生させている。SCLK信号はカメラが発生
している信号なのでアドレスが発生していない時、即
ち、SEND信号からSZERO信号の間にも発生しているが、C
LK信号は、検査装置内で作つている信号なのでこの信号
SZEROとSENDの間の期間の出力はない。従つて、アドレ
ス補正のタイミング信号として利用できるクロツクはSC
LK信号となる。
第19図は各種のクロツクφ１〜φ７の発生タイミングを
示したもので、SEND信号とSZERO信号の間にアドレス補
正が正確に行なわれるようになつている。
示したもので、SEND信号とSZERO信号の間にアドレス補
正が正確に行なわれるようになつている。
各カウンタＣ１〜Ｃ３は、プリセツト機能付であり、Lo
ad端子がLOWのときには、プリセツト・データが出力さ
れる。Ｃ１は判定回路23よりのＳＴ信号をプリセツト・
データとし、位置ずれ画素数をカウントする。Ｃ２は、
アツプ・ダウン・カウンタであり、１走査前の走査終了
点でのアドレスをプリセツト・データとし、Ｃ１でカウ
ントされた画素数分SCLK信号をカウント・アツプあるい
はカウント・ダウンしたアドレスを現在の試料行データ
と位相の一番近いアドレスとして内部アドレス発生用カ
ウンタＣ３のプリセツト・データへ出力する。Ｃ３はＣ
２よりのプリセツト・データを元に、カメラの走査開始
アドレスが最適に補正された内部アドレスを発生してい
く。ここでは、内部アドレスを16ビツトとして扱つてい
る。この出力は、メモリへのデータの書込み、読出し用
アドレスとして使用される。
ad端子がLOWのときには、プリセツト・データが出力さ
れる。Ｃ１は判定回路23よりのＳＴ信号をプリセツト・
データとし、位置ずれ画素数をカウントする。Ｃ２は、
アツプ・ダウン・カウンタであり、１走査前の走査終了
点でのアドレスをプリセツト・データとし、Ｃ１でカウ
ントされた画素数分SCLK信号をカウント・アツプあるい
はカウント・ダウンしたアドレスを現在の試料行データ
と位相の一番近いアドレスとして内部アドレス発生用カ
ウンタＣ３のプリセツト・データへ出力する。Ｃ３はＣ
２よりのプリセツト・データを元に、カメラの走査開始
アドレスが最適に補正された内部アドレスを発生してい
く。ここでは、内部アドレスを16ビツトとして扱つてい
る。この出力は、メモリへのデータの書込み、読出し用
アドレスとして使用される。
次に第19図のタイミングで発生するクロツクφ１〜φ７
それぞれの機能を説明する。
それぞれの機能を説明する。
判定回路23よりSEND信号に同期してＳＴ信号が出力され
る。このデータが確定する時間的余裕でクロツクφ２に
てラツチLA5に取り込む。ラツチLA5の出力の最上位ビツ
トは試料行データのシフト方向を示すデータとして、ア
ツプ・ダウン・カウンタＣ２に入力される。Ｃ２ではア
ツプ状態、ダウン状態が確定した後、クロツクφ３にて
プリセツトデータ（１走査前の走査終了アドレス）を出
力する。但し、クロツクφ１がLow（プリセツト・モー
ド）の間はカウントは行なわれない。一方、ラツチLA5
の下位２ビツト出力はインバータINVを通してプリセツ
ト・データとして位置ずれ画素数検出カウンタＣ１に入
力される。ここでは試料行データが標本行データから何
画素ずれているかをカウントしφ７信号を発生させる。
このφ７信号を元にφ４信号が作られ、位置ずれの画素
数分だけ、SCLK信号をアツプ・ダウン・カウンタＣ７の
クロツク入力へ通過させる。これにより、カウンタＣ２
は、位置ずれ量に応じて内部アドレスをシフトさせ走査
開始アドレスを現在のカメラ走査と最も位相が近いとこ
ろに補正している。クロツクφ５，φ６は、補正された
アドレスを内部アドレスと置換させるためのタイミング
・クロツクを示している。
る。このデータが確定する時間的余裕でクロツクφ２に
てラツチLA5に取り込む。ラツチLA5の出力の最上位ビツ
トは試料行データのシフト方向を示すデータとして、ア
ツプ・ダウン・カウンタＣ２に入力される。Ｃ２ではア
ツプ状態、ダウン状態が確定した後、クロツクφ３にて
プリセツトデータ（１走査前の走査終了アドレス）を出
力する。但し、クロツクφ１がLow（プリセツト・モー
ド）の間はカウントは行なわれない。一方、ラツチLA5
の下位２ビツト出力はインバータINVを通してプリセツ
ト・データとして位置ずれ画素数検出カウンタＣ１に入
力される。ここでは試料行データが標本行データから何
画素ずれているかをカウントしφ７信号を発生させる。
このφ７信号を元にφ４信号が作られ、位置ずれの画素
数分だけ、SCLK信号をアツプ・ダウン・カウンタＣ７の
クロツク入力へ通過させる。これにより、カウンタＣ２
は、位置ずれ量に応じて内部アドレスをシフトさせ走査
開始アドレスを現在のカメラ走査と最も位相が近いとこ
ろに補正している。クロツクφ５，φ６は、補正された
アドレスを内部アドレスと置換させるためのタイミング
・クロツクを示している。
第20図は、第19図のタイミング・チャートに基づいて、
クロツクφ１〜φ６を実際に発生させるための実施例で
ある。このクロツク発生回路はＤ型フリツプフロツプDF
1〜DF5、カウンタＣ４，Ｃ５、インバータINVから構成
される。
クロツクφ１〜φ６を実際に発生させるための実施例で
ある。このクロツク発生回路はＤ型フリツプフロツプDF
1〜DF5、カウンタＣ４，Ｃ５、インバータINVから構成
される。
フリツプフロツプDF1にて、SEND信号からSZERO信号の
間、カウンタＣ４，Ｃ５をカウント・モードにすること
により、クロツクφ２，φ３を出力させる。クロツクφ
３をフリツプフロツプDF2，DF3の入力として用いること
によりクロツクφ１を得ている。φ１はφ３をインバー
タINVで反転させて得ている。さらに、カウンタＣ１の
φ７出力をフリツプフロツプDF4，DF5の入力として用い
ることにより、クロツクφ５，φ６を得ている。
間、カウンタＣ４，Ｃ５をカウント・モードにすること
により、クロツクφ２，φ３を出力させる。クロツクφ
３をフリツプフロツプDF2，DF3の入力として用いること
によりクロツクφ１を得ている。φ１はφ３をインバー
タINVで反転させて得ている。さらに、カウンタＣ１の
φ７出力をフリツプフロツプDF4，DF5の入力として用い
ることにより、クロツクφ５，φ６を得ている。
以上のような構成により印刷部の絵柄がある程度位置ず
れを伴つていても、正確に絵柄の良否判別を行うことが
でき、高速検査が可能で装置の低コスト化ができる。ま
た、標本行データと試料行データとの比較を行うため、
絵柄同士を全体的に比較する場合に比べ格段に高精度の
検査を行うことができる。
れを伴つていても、正確に絵柄の良否判別を行うことが
でき、高速検査が可能で装置の低コスト化ができる。ま
た、標本行データと試料行データとの比較を行うため、
絵柄同士を全体的に比較する場合に比べ格段に高精度の
検査を行うことができる。
さらに、印刷物の走行方向への位置ずれについても、第
６図に示した判定回路を一部変更したような第21図の回
路で対応できる。これは判定エレメントJC1〜JC7、シフ
トレジスタＳＲ１〜ＳＲ６及び、総合判定回路ＴＪＵに
よつて構成されている。シフトレジスタＳＲはカメラ２
（第１図）のセンサ・アレイビツト数に等しいビツト数
であり標本行データＳＤ、判定レベルＭＤ及び試料行デ
ータＴＤを第６図におけるラツチのように、１画素づつ
遅らせて、判定エレメントJC1〜J7に与え、これら判定
エレメントJC1〜JC7の各出力ｊ１〜ｊ７は総合判定回路
ＴＪＵに与えられて、最小値が検出される。
６図に示した判定回路を一部変更したような第21図の回
路で対応できる。これは判定エレメントJC1〜JC7、シフ
トレジスタＳＲ１〜ＳＲ６及び、総合判定回路ＴＪＵに
よつて構成されている。シフトレジスタＳＲはカメラ２
（第１図）のセンサ・アレイビツト数に等しいビツト数
であり標本行データＳＤ、判定レベルＭＤ及び試料行デ
ータＴＤを第６図におけるラツチのように、１画素づつ
遅らせて、判定エレメントJC1〜J7に与え、これら判定
エレメントJC1〜JC7の各出力ｊ１〜ｊ７は総合判定回路
ＴＪＵに与えられて、最小値が検出される。
本発明は上述のように、試料行データを予めメモリに記
憶されている標本行データと各行毎に対比するにつき、
これら両データの一方を他方に対し適当な画素数分位置
をずらせた複数のデータとして他方のデータと逐一比較
し、その中で最もレベル差の少いときの両データ間の位
置ずれ量を検出してこの位置ずれ量に応じ前記一方のデ
ータのアドレス補正を行うようにしたため、印刷機械送
系において予想される印刷物の位置ずれに対応するため
の最小限のハードウエアで構成できる。そしてハードウ
エアが簡単でありながら、高精度の検査をリアルタイム
で行うことができる。
憶されている標本行データと各行毎に対比するにつき、
これら両データの一方を他方に対し適当な画素数分位置
をずらせた複数のデータとして他方のデータと逐一比較
し、その中で最もレベル差の少いときの両データ間の位
置ずれ量を検出してこの位置ずれ量に応じ前記一方のデ
ータのアドレス補正を行うようにしたため、印刷機械送
系において予想される印刷物の位置ずれに対応するため
の最小限のハードウエアで構成できる。そしてハードウ
エアが簡単でありながら、高精度の検査をリアルタイム
で行うことができる。
第１図は本発明の対象である絵柄検査装置の画像情報検
出部の構成を示す図、第２図は絵柄検査のための試料画
素データと標本画素データの記録方式の模型的説明図、
第３図は印刷物搬送系等に起因した絵柄の位置ずれが生
じた場合の説明用特性図、第４図(a)，(b)，(c)は本発
明方法の基本的な検査方法および絵柄エツジの検査方法
を示す特性図、第５図は本発明方法を実施するための装
置構成を示すブロツク線図、第６図は第５図の装置にお
ける判定回路のより具体的構成を示すブロツク線図、第
７図は第６図の判定回路における判定エレメントのより
具体的構成を示すブロツク線図、第８図は第７図の判定
エレメントにおける差の絶対値検出回路のより具体的構
成を示すブロツク線図、第９図は第６図の判定回路にお
ける総合判定回路のより具体的構成を示すブロツク線
図、第10図は第９図の総合判定回路における低値検出回
路のより具体的構成を示すブロツク線図、第11図は第９
図の総合判定回路における判定エレメント識別回路の動
作説明図、第12図は同判定エレメント識別回路のより具
体的構成を示す結線図、第13図は第５図の装置における
判定レベル設定回路のより具体的構成を示すブロツク線
図、第14図は第13図の判定レベル設定回路における比例
分設定回路のより具体的構成を示すブロツク線図、第15
図は印刷物搬送系における印刷物の幅方向位置ずれの説
明図、第16図は第５図の装置におけるカメラの画像信号
アドレス補正動作の説明図、第17図は第５図の装置にお
ける標本画素データにおける読出し時のシフト動作を説
明する図、第18図は第５図の装置におけるアドレス補正
回路24のより具体的構成を示すブロツク線図、第19図は
第18図の回路各部の信号のタイミングチヤート、第20図
は第18図の回路に用いるクロツクを発生する回路を示す
図、第21図は第５図の装置における判定回路の他の例を
示すブロツク線図である。 １……印刷物、２……カメラ、３……シリンダ、４……
ロータリーエンコーダ、５，７，９，17……試料絵柄
（試料行）データ、６，８，10，18……標本絵柄（標本
行）データ。 ＴＤ……試料行データ、ＳＤ……標本行データ、ＭＤ…
…画素制御データ、ＪＣ……判定回路、ＪＥ……判定エ
レメント、Ｌ……ラツチ、ＳＲ……シフトレジスタ、Ｔ
ＪＵ……総合判定回路。
出部の構成を示す図、第２図は絵柄検査のための試料画
素データと標本画素データの記録方式の模型的説明図、
第３図は印刷物搬送系等に起因した絵柄の位置ずれが生
じた場合の説明用特性図、第４図(a)，(b)，(c)は本発
明方法の基本的な検査方法および絵柄エツジの検査方法
を示す特性図、第５図は本発明方法を実施するための装
置構成を示すブロツク線図、第６図は第５図の装置にお
ける判定回路のより具体的構成を示すブロツク線図、第
７図は第６図の判定回路における判定エレメントのより
具体的構成を示すブロツク線図、第８図は第７図の判定
エレメントにおける差の絶対値検出回路のより具体的構
成を示すブロツク線図、第９図は第６図の判定回路にお
ける総合判定回路のより具体的構成を示すブロツク線
図、第10図は第９図の総合判定回路における低値検出回
路のより具体的構成を示すブロツク線図、第11図は第９
図の総合判定回路における判定エレメント識別回路の動
作説明図、第12図は同判定エレメント識別回路のより具
体的構成を示す結線図、第13図は第５図の装置における
判定レベル設定回路のより具体的構成を示すブロツク線
図、第14図は第13図の判定レベル設定回路における比例
分設定回路のより具体的構成を示すブロツク線図、第15
図は印刷物搬送系における印刷物の幅方向位置ずれの説
明図、第16図は第５図の装置におけるカメラの画像信号
アドレス補正動作の説明図、第17図は第５図の装置にお
ける標本画素データにおける読出し時のシフト動作を説
明する図、第18図は第５図の装置におけるアドレス補正
回路24のより具体的構成を示すブロツク線図、第19図は
第18図の回路各部の信号のタイミングチヤート、第20図
は第18図の回路に用いるクロツクを発生する回路を示す
図、第21図は第５図の装置における判定回路の他の例を
示すブロツク線図である。 １……印刷物、２……カメラ、３……シリンダ、４……
ロータリーエンコーダ、５，７，９，17……試料絵柄
（試料行）データ、６，８，10，18……標本絵柄（標本
行）データ。 ＴＤ……試料行データ、ＳＤ……標本行データ、ＭＤ…
…画素制御データ、ＪＣ……判定回路、ＪＥ……判定エ
レメント、Ｌ……ラツチ、ＳＲ……シフトレジスタ、Ｔ
ＪＵ……総合判定回路。
Claims (3)
- 【請求項１】試料印刷物から取り出された絵柄データを
標本印刷物から予め取り出されたメモリに記憶されてい
る絵柄データと比較し印刷絵柄の良否判定を行う印刷物
の良否判定を行う印刷物の絵柄検査方法において、 前記試料から１行毎に検出した試料行データおよび前記
メモリに記憶されている標本行データのいづれか一方を
他方に対して相対的に１画素単位で位置ずれさせて複数
のデータを形成し、 この複数のデータを用いて前記試料行データと標本行デ
ータとの画素毎のレベル対比を行って各行データ毎の欠
陥画素数を求め、 その欠陥画素数が最小値になったときの前記両行データ
の位置関係からこれら両データ間の位置ずれ量を求め、 この位置ずれ量に基づいて前記量データのいづれか一方
のアドレスを補正するようにしたことを特徴とする印刷
物の絵柄検査方法。 - 【請求項２】試料行データから取り出された絵柄データ
を標本印刷物から予め取り出されメモリに記憶されてい
る絵柄データと比較し印刷絵柄の良否判定を行う印刷物
の絵柄検査方法において、 前記試料から１行毎に検出した試料行データおよび前記
メモリに記憶されている標本行データのいづれか一方を
他方に対し相対的に１画素単位で位置ずれさせて複数の
データを形成し、 この複数のデータを用いて前記試料行データと標本行デ
ータとの画素毎のレベル対比を行い、 得られたレベル差が、固定値として与えられたもの、前
記標本行データに所定係数が乗ぜられたもの、濃度急変
部での濃度差としてのものの中から選ばれた１つの判定
レベルに対しいかなる関係にあるかによって前記絵柄の
欠陥画素数を求め、 前記欠陥画素数が最小値となったときの前記両データの
位置関係からこれら両データ間の位置ずれ量を求め、 この位置ずれ量に基づいて前記両データのいづれか一方
にアドレスを補正するようにしたことを特徴とする印刷
物の絵柄検査方法。 - 【請求項３】印刷物の搬送動作に応じて同期信号を形成
する装置と、 前記同期信号に基づき前記印刷物の絵柄を走査して画像
情報を取り出すカメラと、 このカメラにより標本印刷物から取り出した画像情報が
書き込まれる標本画素データメモリと、 予め設定されている複数の判定レベル中から１つを選択
し、この選択された判定レベルにより前記標本画素デー
タメモリから読み出された画素毎の画像情報にレベル設
定を行って出力する判定レベル設定回路と、 この判定レベル設定回路からの画像情報と前記カメラか
らの試料印刷物の画像情報とをレベル比較し、画素毎に
画像欠陥の判定を行う判定回路と、 前記同期回路の出力に基づき前記標本画素データメモリ
の読み出しアドレス信号を形成し、かつ前記判定回路の
出力に基づき前記アドレス信号のアドレス補正を行うア
ドレス補正回路とをそなえた印刷物の絵柄検査装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58108224A JPH0625657B2 (ja) | 1983-06-16 | 1983-06-16 | 印刷物の絵柄検査方法および装置 |
| US06/527,947 US4677680A (en) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Method and device for inspecting image |
| EP83108547A EP0104477B1 (en) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Method for inspecting image |
| DE8383108547T DE3380997D1 (de) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Verfahren zur bilduntersuchung. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58108224A JPH0625657B2 (ja) | 1983-06-16 | 1983-06-16 | 印刷物の絵柄検査方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60309A JPS60309A (ja) | 1985-01-05 |
| JPH0625657B2 true JPH0625657B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=14479190
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58108224A Expired - Lifetime JPH0625657B2 (ja) | 1982-08-31 | 1983-06-16 | 印刷物の絵柄検査方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0625657B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0621769B2 (ja) * | 1985-12-13 | 1994-03-23 | 大日本スクリ−ン製造株式会社 | パタ−ン欠陥検出方法およびその装置 |
| JP2512871B2 (ja) * | 1987-04-23 | 1996-07-03 | 株式会社ニコン | パタ−ン測定装置 |
| JP4654693B2 (ja) * | 2005-01-19 | 2011-03-23 | パナソニック株式会社 | 検査画像撮像装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5951029B2 (ja) * | 1980-04-25 | 1984-12-12 | 株式会社日立製作所 | パタ−ン欠陥検査方法 |
-
1983
- 1983-06-16 JP JP58108224A patent/JPH0625657B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60309A (ja) | 1985-01-05 |
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