JPH0120477B2 - - Google Patents
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- JPH0120477B2 JPH0120477B2 JP57208850A JP20885082A JPH0120477B2 JP H0120477 B2 JPH0120477 B2 JP H0120477B2 JP 57208850 A JP57208850 A JP 57208850A JP 20885082 A JP20885082 A JP 20885082A JP H0120477 B2 JPH0120477 B2 JP H0120477B2
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は印刷物の絵柄を検査する方法および装
置に関する。
置に関する。
従来の印刷物絵柄検査装置は、第１図に示すよ
うに印刷物１をラインセンサカメラ２により幅方
向に検査しつつ画像情報を取出し、一方搬送系の
シリンダ３に取付けたロータリーエンコーダ４の
出力によつてカメラ２の走査を同期化することに
より試料絵柄５（第２図）をマトリクス状の多数
の小画素に分割する。
うに印刷物１をラインセンサカメラ２により幅方
向に検査しつつ画像情報を取出し、一方搬送系の
シリンダ３に取付けたロータリーエンコーダ４の
出力によつてカメラ２の走査を同期化することに
より試料絵柄５（第２図）をマトリクス状の多数
の小画素に分割する。
これら各画素は、同様に分割してメモリに記録
した標本絵柄６（第２図）の対応する小画素と順
次濃度比較されて欠陥有無が検出される。
した標本絵柄６（第２図）の対応する小画素と順
次濃度比較されて欠陥有無が検出される。
このような絵柄検査において、第３図に示すよ
うに搬送系の幅方向位置ずれがあると試料から得
られた階調７のうちの〇印を付した３画素につき
標本から得られた階調８の該当する３画素分と比
較した場合、試料絵柄に欠陥がなくても欠陥あり
との誤判定が行われる。
うに搬送系の幅方向位置ずれがあると試料から得
られた階調７のうちの〇印を付した３画素につき
標本から得られた階調８の該当する３画素分と比
較した場合、試料絵柄に欠陥がなくても欠陥あり
との誤判定が行われる。
これを防ぐ一法として、試料と標本との階調差
に対して大きな許容値を設定することが考えられ
る。
に対して大きな許容値を設定することが考えられ
る。
しかしながら、これは欠陥検出精度の低下をも
たらすもので対策としては必ずしも良好なもので
はない。
たらすもので対策としては必ずしも良好なもので
はない。
このような問題のない方法としては、標本絵柄
に対する試料絵柄の位置ずれを補正するものとい
うことになり、各種の方法が考案されている。
に対する試料絵柄の位置ずれを補正するものとい
うことになり、各種の方法が考案されている。
その１は本願出願人による特願56−146355号に
示すような、印刷物の絵柄が幅方向に関しいかな
る位置にあるかを検出し、この位置変化が標本絵
柄のデータを基準値メモリに書込むときと試料絵
柄のデータを検出値メモリに書込むときとで所定
値以上異なるときは、そのときの試料絵柄データ
を基準値メモリに書込むものである。
示すような、印刷物の絵柄が幅方向に関しいかな
る位置にあるかを検出し、この位置変化が標本絵
柄のデータを基準値メモリに書込むときと試料絵
柄のデータを検出値メモリに書込むときとで所定
値以上異なるときは、そのときの試料絵柄データ
を基準値メモリに書込むものである。
しかしながら、この方法によると、印刷物の幅
方向の位置変化検出、および位置変化情報にした
がつて位置ずれ補正のための装置が必要となり、
ハードウエアの複雑化、コスト高等の問題を生じ
る。
方向の位置変化検出、および位置変化情報にした
がつて位置ずれ補正のための装置が必要となり、
ハードウエアの複雑化、コスト高等の問題を生じ
る。
その２は特公昭55−45948号等に示すもので、
試料画素とこれに対応する標本画素の近傍数点の
画素とを比較する方法である。
試料画素とこれに対応する標本画素の近傍数点の
画素とを比較する方法である。
しかしながら、この方法では検査精度の低下を
避け得ない点で問題がある。
避け得ない点で問題がある。
本発明は上述の点に鑑みてなされたもので、印
刷物搬送系に位置ずれがあつても高精度で絵柄検
査でき、しかも装置を安価に構成し得る印刷物の
絵柄検査方法および装置を提供することを目的と
する。
刷物搬送系に位置ずれがあつても高精度で絵柄検
査でき、しかも装置を安価に構成し得る印刷物の
絵柄検査方法および装置を提供することを目的と
する。
上記目的達成のため、
本願第１の発明では、
印刷物の試料絵柄を画素マトリクスに分解して
検出した試料データを、標本印刷物から予め取出
されメモリーに記憶されている標本データと１画
素づつ比較し絵柄の良否判定を行う印刷物の絵柄
検査方法において、前記試料データおよび標本デ
ータの一方を１画素づつ印刷物の横方向に位置ず
れさせて前記両データの他方と比較し、両データ
が最も一致に近付いたときの前記両データ間の位
置ずれ量により前記試料データまたは標本データ
を印刷物の横方向に関し位置ずれ補正したうえ
で、前記標本データと比較するようにしたことを
特徴とする印刷物の絵柄検査方法を提供し、 また本願第２の発明では、 印刷物の搬送動作に応じて同期信号を形成する
装置と、前記同期信号に基づき前記印刷物の絵柄
を１画素づつ走査して画像データを取出すカメラ
と、このカメラにより標本印刷物から取出した画
像データが書込まれる標本データメモリと、前記
カメラからの試料データと前記標本データメモリ
からのデータとを前記両データの一方を他方に対
し１画素づつ位置ずれさせつつ比較し両データが
最も一致に近付いた位置ずれ量を検出する回路
と、この位置ずれ量検出回路の出力に基づく位置
ずれ補正を行つて前記両データを１画素づつ比較
し試料印刷物の絵柄良否判定を行う回路とをそな
えた印刷物の絵柄検査装置を提供する。
検出した試料データを、標本印刷物から予め取出
されメモリーに記憶されている標本データと１画
素づつ比較し絵柄の良否判定を行う印刷物の絵柄
検査方法において、前記試料データおよび標本デ
ータの一方を１画素づつ印刷物の横方向に位置ず
れさせて前記両データの他方と比較し、両データ
が最も一致に近付いたときの前記両データ間の位
置ずれ量により前記試料データまたは標本データ
を印刷物の横方向に関し位置ずれ補正したうえ
で、前記標本データと比較するようにしたことを
特徴とする印刷物の絵柄検査方法を提供し、 また本願第２の発明では、 印刷物の搬送動作に応じて同期信号を形成する
装置と、前記同期信号に基づき前記印刷物の絵柄
を１画素づつ走査して画像データを取出すカメラ
と、このカメラにより標本印刷物から取出した画
像データが書込まれる標本データメモリと、前記
カメラからの試料データと前記標本データメモリ
からのデータとを前記両データの一方を他方に対
し１画素づつ位置ずれさせつつ比較し両データが
最も一致に近付いた位置ずれ量を検出する回路
と、この位置ずれ量検出回路の出力に基づく位置
ずれ補正を行つて前記両データを１画素づつ比較
し試料印刷物の絵柄良否判定を行う回路とをそな
えた印刷物の絵柄検査装置を提供する。
試料印刷物から試料データを取出す。この試料
データは、予めメモリに蓄えられている標本デー
タと比較される。この比較は試料データと標本デ
ータとの両データにつき、一方を他方に対して印
刷物の横方向に１画素づつ移行させながら行う。
このような比較により両データが最も近付いたと
きの移行量から位置ずれ量を知る。そしてこの位
置ずれ量を利用して位置ずれ補正を行つてから試
料データと標本データとを比較し試料印刷物の絵
柄良否判定を行う。
データは、予めメモリに蓄えられている標本デー
タと比較される。この比較は試料データと標本デ
ータとの両データにつき、一方を他方に対して印
刷物の横方向に１画素づつ移行させながら行う。
このような比較により両データが最も近付いたと
きの移行量から位置ずれ量を知る。そしてこの位
置ずれ量を利用して位置ずれ補正を行つてから試
料データと標本データとを比較し試料印刷物の絵
柄良否判定を行う。
第４図ａ，ｂないし第８図は本発明の一実施例
を示したものである。
を示したものである。
第４図ａ，ｂは試料データと標本データとを示
したもので、同図ａは本発明方法において取扱わ
れる試料データと標本データとの基本的な関係を
示し、同図ｂは印刷物の絵柄エツジをはじめとす
る特殊な部分における試料データと標本データと
の関係を示したものである。
したもので、同図ａは本発明方法において取扱わ
れる試料データと標本データとの基本的な関係を
示し、同図ｂは印刷物の絵柄エツジをはじめとす
る特殊な部分における試料データと標本データと
の関係を示したものである。
まず同図ａによれば、１つの試料データ９に対
し複数の標本データ１０〜１６を参照する。これ
ら標本データ１０〜１６は基本となる標本データ
１３を予想される位置ずれ分だけ１画素分ずつ左
右にシフトして得たものである。
し複数の標本データ１０〜１６を参照する。これ
ら標本データ１０〜１６は基本となる標本データ
１３を予想される位置ずれ分だけ１画素分ずつ左
右にシフトして得たものである。
そして、試料データ９を標本データ１０〜１６
の中で最も試料データ９と位相が近いもの１２と
濃度比較することができ、これによつて欠陥検出
が行われる。
の中で最も試料データ９と位相が近いもの１２と
濃度比較することができ、これによつて欠陥検出
が行われる。
これにより試料データ９が印刷物の幅方向に位
置ずれしていてもデータ同士を内容的に比較する
ことができるから精度よく欠陥検出することがで
きる。
置ずれしていてもデータ同士を内容的に比較する
ことができるから精度よく欠陥検出することがで
きる。
次に同図ｂによれば、試料データ１７に対し最
も位相の近い標本データ１８を対比すると共に、
階調差許容値を大きくとつたものである。これに
より絵柄エツジ部分のように階調差が極めて大き
な場合に適した欠陥検査を行い得る。すなわち、
標本データ１８は試料データ１７に最も位相の近
いものであるため、両者の位相差は1/2画素幅分
である。従つて1/2画素幅分の位置ずれが生じた
場合のエツジに相当する画素における試料と標本
との階調差をその画素に対する許容値とすればよ
い。この各画素毎の許容値設定については種々の
方法を採ることができ（特願昭56−179599号参
照）、あるいはエツジに相当する画素をマスキン
グすることにより判定対象外としてもよい。
も位相の近い標本データ１８を対比すると共に、
階調差許容値を大きくとつたものである。これに
より絵柄エツジ部分のように階調差が極めて大き
な場合に適した欠陥検査を行い得る。すなわち、
標本データ１８は試料データ１７に最も位相の近
いものであるため、両者の位相差は1/2画素幅分
である。従つて1/2画素幅分の位置ずれが生じた
場合のエツジに相当する画素における試料と標本
との階調差をその画素に対する許容値とすればよ
い。この各画素毎の許容値設定については種々の
方法を採ることができ（特願昭56−179599号参
照）、あるいはエツジに相当する画素をマスキン
グすることにより判定対象外としてもよい。
第５図は第４図に示した思想に基き構成した本
発明方法を実施するための装置構成を示したもの
である。この構成では、印刷物１上の絵柄がカメ
ラ２によつて走査されて画像情報が取出される。
この際、搬送系シリンダ３の回転量がロータリエ
ンコーダ４により取出され同期回路２１に与えら
れる。同期回路２１は、カメラ２、Ａ／Ｄ変換回
路２２およびアドレス回路２４にその出力を与
え、カメラ２の走査同期化、カメラ２により取出
した画像情報のＡ／Ｄ変換同期化、ならびに標本
データメモリ２５および画素制御データメモリ２
６のアドレス割当てを行う。
発明方法を実施するための装置構成を示したもの
である。この構成では、印刷物１上の絵柄がカメ
ラ２によつて走査されて画像情報が取出される。
この際、搬送系シリンダ３の回転量がロータリエ
ンコーダ４により取出され同期回路２１に与えら
れる。同期回路２１は、カメラ２、Ａ／Ｄ変換回
路２２およびアドレス回路２４にその出力を与
え、カメラ２の走査同期化、カメラ２により取出
した画像情報のＡ／Ｄ変換同期化、ならびに標本
データメモリ２５および画素制御データメモリ２
６のアドレス割当てを行う。
このアドレス割当てに基き、検査開始時に切換
スイツチSWによつて標本絵柄のデータを取込ん
だ標本データメモリ２５から各試料データＴに対
応する標本データＳを読出し、また画素制御メモ
リ２６から画素制御データＭを読出す。画素制御
データＭは各画素毎に許容値を与えるためのデー
タである。
スイツチSWによつて標本絵柄のデータを取込ん
だ標本データメモリ２５から各試料データＴに対
応する標本データＳを読出し、また画素制御メモ
リ２６から画素制御データＭを読出す。画素制御
データＭは各画素毎に許容値を与えるためのデー
タである。
これらメモリ２５，２６における標本データ
Ｓ、画素制御データＭおよびＡ／Ｄ変換回路２２
を介して与えられる試料データＴは位置ずれ補正
回路２３に入力されて補正されそれぞれS′，M′，
T′となる。そして判定回路２７によりこれら補
正後のデータS′，M′，T′による試料印刷物の絵
柄欠陥検出が行われる。
Ｓ、画素制御データＭおよびＡ／Ｄ変換回路２２
を介して与えられる試料データＴは位置ずれ補正
回路２３に入力されて補正されそれぞれS′，M′，
T′となる。そして判定回路２７によりこれら補
正後のデータS′，M′，T′による試料印刷物の絵
柄欠陥検出が行われる。
第６図は第５図における位置ずれ補正回路２３
の一部をなす相関器の構成を示すもので、この相
関器を用いて位置ずれ量検出回路（第７図）が構
成され、この検出信号に基き補正回路（第８図）
が位置ずれ補正動作を行うように構成される。
の一部をなす相関器の構成を示すもので、この相
関器を用いて位置ずれ量検出回路（第７図）が構
成され、この検出信号に基き補正回路（第８図）
が位置ずれ補正動作を行うように構成される。
相関器３０は例えばTRW社製TDC1023Jを用
いればよく、この相関器は２つの64ビツトシフト
レジスタ３１，３２および１つの64ビツトラツチ
３３、エクスクルーシブノアゲートENOR1〜
ENOR64、それに加算器３４からなる。
いればよく、この相関器は２つの64ビツトシフト
レジスタ３１，３２および１つの64ビツトラツチ
３３、エクスクルーシブノアゲートENOR1〜
ENOR64、それに加算器３４からなる。
そして、シフトレジスタ３２には標本データの
１ビツトシリアル入力BIN（64ビツト）およびシリ
アル入力のためのクロツクCLKBが与えられ、そ
の各ビツト出力がラツチ３３（R1〜R64）に与え
られラツチ信号LDRがこれらラツチに与えられ
てラツチされる。また、シフトレジスタ３１には
試料データの１ビツトシリアル入力AIN（64ビツ
ト）およびシリアル入力のためのクロツクCLKA
が与えられ、その各ビツト出力がエクスクルーシ
ブノアゲートENOR1〜ENOR64の一方の入力と
なり、他方の入力にはラツチ３３（R1〜R64）の
各ビツト出力が与えられる。エクスクルーシブノ
アゲートENOR1〜ENOR64の各出力は加算器３
４に与えられ、加算器３４はクロツクCLKSが与
えられる毎にエクスクルーシブノアゲート出力の
数つまり相関値（Corr）が７ビツトで出力する
ような構成となつている。
１ビツトシリアル入力BIN（64ビツト）およびシリ
アル入力のためのクロツクCLKBが与えられ、そ
の各ビツト出力がラツチ３３（R1〜R64）に与え
られラツチ信号LDRがこれらラツチに与えられ
てラツチされる。また、シフトレジスタ３１には
試料データの１ビツトシリアル入力AIN（64ビツ
ト）およびシリアル入力のためのクロツクCLKA
が与えられ、その各ビツト出力がエクスクルーシ
ブノアゲートENOR1〜ENOR64の一方の入力と
なり、他方の入力にはラツチ３３（R1〜R64）の
各ビツト出力が与えられる。エクスクルーシブノ
アゲートENOR1〜ENOR64の各出力は加算器３
４に与えられ、加算器３４はクロツクCLKSが与
えられる毎にエクスクルーシブノアゲート出力の
数つまり相関値（Corr）が７ビツトで出力する
ような構成となつている。
この相関器において、まず64ビツトの標本デー
タB1……B64がクロツクCLKBによつてシフトレ
ジスタＢに入力された後、ラツチ信号LDRによ
つてシフトレジスタ３２の各ビツトの内容はラツ
チ３３（R1〜R64）に保持される。次いでシフト
レジスタ３１とラツチ３３の各出力の間で相関値
が計算され、この計算時間中にシフトレジスタ３
２に次の標本データを入力することができる。
タB1……B64がクロツクCLKBによつてシフトレ
ジスタＢに入力された後、ラツチ信号LDRによ
つてシフトレジスタ３２の各ビツトの内容はラツ
チ３３（R1〜R64）に保持される。次いでシフト
レジスタ３１とラツチ３３の各出力の間で相関値
が計算され、この計算時間中にシフトレジスタ３
２に次の標本データを入力することができる。
ラツチ３３に保持された標本データR1……R64
とクロツクCLKAによつてシフトレジスタ３１に
入力された試料データA1……A64との間で対応す
るビツト毎にエクスクルーシブノアがとられ、
AoとRoとが一致するときはENORo＝１、不一致
のときENORo＝０が得られる。このうちENORo
＝１となつたビツトの個数が加算器３４により相
関値Corrとして出力される。相関値Corrの最大
値は64である。
とクロツクCLKAによつてシフトレジスタ３１に
入力された試料データA1……A64との間で対応す
るビツト毎にエクスクルーシブノアがとられ、
AoとRoとが一致するときはENORo＝１、不一致
のときENORo＝０が得られる。このうちENORo
＝１となつたビツトの個数が加算器３４により相
関値Corrとして出力される。相関値Corrの最大
値は64である。
相関値Corrは試料データＡがシフトされる度
に異つた値をとるが試料データＡと標本データＲ
との位相が一致することは相関値Corrが最大値
をとることと等価であり相関値Corrが最大値を
とる位相を調べることによつて位置ずれ量を検出
することができる。
に異つた値をとるが試料データＡと標本データＲ
との位相が一致することは相関値Corrが最大値
をとることと等価であり相関値Corrが最大値を
とる位相を調べることによつて位置ずれ量を検出
することができる。
第７図は第６図に示した相関器３０を用いて構
成された位置ずれ量検出回路を示している。
成された位置ずれ量検出回路を示している。
まず概念的な説明を行うと、この回路は位置ず
れ量Ｄを出力するもので、Ｄは−８〜＋７の値を
とり、Ｄ＜０であれば試料データＴの位相が進ん
でいる状態、Ｄ＝０であれば試料データＴと標本
データＳの位相が等しい状態、Ｄ＞０であれば標
本データＳの位相が進んでいる状態を表わす。つ
まり試料データＴが８ビツト進んでいる状態がＤ
＝−８、試料データＴが７ビツト遅れている状態
がＤ＝＋７に対応する。検出できる位置ずれ幅は
後述するように容易に拡張できる。
れ量Ｄを出力するもので、Ｄは−８〜＋７の値を
とり、Ｄ＜０であれば試料データＴの位相が進ん
でいる状態、Ｄ＝０であれば試料データＴと標本
データＳの位相が等しい状態、Ｄ＞０であれば標
本データＳの位相が進んでいる状態を表わす。つ
まり試料データＴが８ビツト進んでいる状態がＤ
＝−８、試料データＴが７ビツト遅れている状態
がＤ＝＋７に対応する。検出できる位置ずれ幅は
後述するように容易に拡張できる。
標本データＳと試料データＴの位相を比較する
ために各データのMSBS7，T7の時系列１／０パ
ターンの相関を相関器３０によつてとる。ここ
で、標本データＳ、試料データＴはともに８ビツ
ト、０〜＋255の値をとるデータである。したが
つて標本データＳ（試料データＴ）が＋128以上の
値になるとS7＝１（T7＝１）、128未満でS7＝０と
なる。すなわち階調128を閾値として閾値以上の
画素に１、閾値未満の階調の画素にφを対応させ
ることに相当する。
ために各データのMSBS7，T7の時系列１／０パ
ターンの相関を相関器３０によつてとる。ここ
で、標本データＳ、試料データＴはともに８ビツ
ト、０〜＋255の値をとるデータである。したが
つて標本データＳ（試料データＴ）が＋128以上の
値になるとS7＝１（T7＝１）、128未満でS7＝０と
なる。すなわち階調128を閾値として閾値以上の
画素に１、閾値未満の階調の画素にφを対応させ
ることに相当する。
この方法では１走査にわたつて両データＳ，Ｔ
の階調が全て128以上または全て128未満であると
両データＳ，Ｔの相関がとれず、位置ずれ量の検
出が不可能となるが、一般の絵柄では暗レベルか
ら明レベルまで様々の階調をとり、上記のような
場合は殆んどないことからここで述べた方法がハ
ードウエア上最も簡単な構成であるにも拘らず効
果は大きい。
の階調が全て128以上または全て128未満であると
両データＳ，Ｔの相関がとれず、位置ずれ量の検
出が不可能となるが、一般の絵柄では暗レベルか
ら明レベルまで様々の階調をとり、上記のような
場合は殆んどないことからここで述べた方法がハ
ードウエア上最も簡単な構成であるにも拘らず効
果は大きい。
このような検出方法では問題がある場合には次
のような方法を採用すればよい。
のような方法を採用すればよい。
(i) 閾値を128に固定せず、両データＳ，Ｔに応
じて浮動的に与える。例えば１走査にわたる両
データＳ，Ｔの平均値を閾値にする等の方法が
考えられる。
じて浮動的に与える。例えば１走査にわたる両
データＳ，Ｔの平均値を閾値にする等の方法が
考えられる。
(ii) 両データＳ，Ｔを微分することにより絵柄の
エツジを求め、そのエツジに対応させた時系列
１／０パターンS′，T′をS7，T7の代りに用い
てS′，T′の相関をとる。
エツジを求め、そのエツジに対応させた時系列
１／０パターンS′，T′をS7，T7の代りに用い
てS′，T′の相関をとる。
次に第７図の回路の具体的動作を説明すると、
いま同時に同アドレスを持つ標本データＳと試料
データＴが入力されるとし、試料データＴの位相
が進んでいる状態を検出するために試料データ
T7を８ビツトのシフトレジスタ４１に入力しそ
の位相を８ビツト遅らせておく。シフトレジスタ
４１をシフトするクロツクはカメラの走査クロツ
クCLKを用いればよい。
いま同時に同アドレスを持つ標本データＳと試料
データＴが入力されるとし、試料データＴの位相
が進んでいる状態を検出するために試料データ
T7を８ビツトのシフトレジスタ４１に入力しそ
の位相を８ビツト遅らせておく。シフトレジスタ
４１をシフトするクロツクはカメラの走査クロツ
クCLKを用いればよい。
標本となるべき64ビツトの時系列１／０パター
ンS7が相関器３０に入力されるとそのパターンを
ラツチする信号LDRをカウンタ４２が出力する。
ラツチ４４は相関値Corrを保持する。ラツチ４
４のカメラ走査開始時の初期値は０であり、シス
テムが発生する走査開始信号Ｓ ZEROによつて
初期化される。そして相関器３０からより大きい
相関値Corrが出力されるたびにコンパレータ４
５の出力によつてより大きい方の値に更新され
る。
ンS7が相関器３０に入力されるとそのパターンを
ラツチする信号LDRをカウンタ４２が出力する。
ラツチ４４は相関値Corrを保持する。ラツチ４
４のカメラ走査開始時の初期値は０であり、シス
テムが発生する走査開始信号Ｓ ZEROによつて
初期化される。そして相関器３０からより大きい
相関値Corrが出力されるたびにコンパレータ４
５の出力によつてより大きい方の値に更新され
る。
カウンタ４３はカメラの走査クロツクCLKを
計数しその値（４ビツト、０〜15の値）をラツチ
４６が保持する。ラツチ４６の値はより大きい相
関値Corrが出力される度にコンパレータ４５の
出力によつて更新されるから、相関値Corrが最
大値をとつたときの位相がラツチ４６によつて保
持されることになる。このラツチ４６に保持され
た最大相関値Corrから減算器４７により「８」
を減じることにより位置ずれ量Ｄ（−８〜＋７）
を得ることができる。「８」を減算するのはカウ
ンタ４３がクロツクパルスCLKを８個カウント
する分だけシフトレジスタ４１で遅れを生じてい
るのを修正するためである。
計数しその値（４ビツト、０〜15の値）をラツチ
４６が保持する。ラツチ４６の値はより大きい相
関値Corrが出力される度にコンパレータ４５の
出力によつて更新されるから、相関値Corrが最
大値をとつたときの位相がラツチ４６によつて保
持されることになる。このラツチ４６に保持され
た最大相関値Corrから減算器４７により「８」
を減じることにより位置ずれ量Ｄ（−８〜＋７）
を得ることができる。「８」を減算するのはカウ
ンタ４３がクロツクパルスCLKを８個カウント
する分だけシフトレジスタ４１で遅れを生じてい
るのを修正するためである。
カウンタ４３、ラツチ４４は標本データの
MSBであるS7が相関器３０へ64ビツト入力され
る度に初期化されるので64画素ごとに標本データ
Ｓと試料データＴとの位置ずれ量Ｄが出力され
る。すなわちラインセンサカメラの全画素数が
512であれば64画素づつに分割された８個のブロ
ツク毎に標本データＳと試料データＴとの位置ず
れ補正を行うことができる。
MSBであるS7が相関器３０へ64ビツト入力され
る度に初期化されるので64画素ごとに標本データ
Ｓと試料データＴとの位置ずれ量Ｄが出力され
る。すなわちラインセンサカメラの全画素数が
512であれば64画素づつに分割された８個のブロ
ツク毎に標本データＳと試料データＴとの位置ず
れ補正を行うことができる。
ここで位置ずれ量Ｄの値（−８〜＋７）をより
広範囲に検出したい場合たとえばシフトレジスタ
４５を16ビツトに変更すると共にカウンタ４３を
８ビツト出力に変更し、減算器４７にて「16」を
減ずることによつて位置ずれ量Ｄ（−16〜＋15）
を得る。以下同様にして広範囲の位置ずれ量を検
出できる。
広範囲に検出したい場合たとえばシフトレジスタ
４５を16ビツトに変更すると共にカウンタ４３を
８ビツト出力に変更し、減算器４７にて「16」を
減ずることによつて位置ずれ量Ｄ（−16〜＋15）
を得る。以下同様にして広範囲の位置ずれ量を検
出できる。
第８図ａ，ｂは第７図の位置ずれ量検出回路の
出力Ｄに基いて位置ずれ補正を行う回路を示した
もので同図ａは試料データＴを取扱う回路を、同
図ｂは標本データＳを取扱う回路をそれぞれ示し
ており、これら両回路は共に略々同一の構成を持
つている。すなわち、８ビツトシフトレジスタ５
１および16対１セレクタ５２によつて試料データ
Ｔの第ｎビツトToの位置ずれ補正値To′が得られ
る。この構成を８ビツト並列にすれば試料データ
Ｔを位置ずれ補正したデータT′が得られる。こ
こでＤ≧０のときT′＝t0（t0：シフトなし）、Ｄ＜
０のときT′＝t1、……t8（１ビツト〜８ビツトの
シフト）となる。
出力Ｄに基いて位置ずれ補正を行う回路を示した
もので同図ａは試料データＴを取扱う回路を、同
図ｂは標本データＳを取扱う回路をそれぞれ示し
ており、これら両回路は共に略々同一の構成を持
つている。すなわち、８ビツトシフトレジスタ５
１および16対１セレクタ５２によつて試料データ
Ｔの第ｎビツトToの位置ずれ補正値To′が得られ
る。この構成を８ビツト並列にすれば試料データ
Ｔを位置ずれ補正したデータT′が得られる。こ
こでＤ≧０のときT′＝t0（t0：シフトなし）、Ｄ＜
０のときT′＝t1、……t8（１ビツト〜８ビツトの
シフト）となる。
これと同様にシフトレジスタ５３，５５、セレ
クタ５４，５６によりＤ≦０のときS′＝s0、M′＝
m0、Ｄ＞０のときS′＝s1〜s8、M′＝m1〜m8（１
ビツト〜８ビツトのシフト）となる。シフトレジ
スタ５１，５３，５５はカメラ走査開始時にシス
テムの発生する走査開始信号Ｓ ZEROによつて
０に初期化される。
クタ５４，５６によりＤ≦０のときS′＝s0、M′＝
m0、Ｄ＞０のときS′＝s1〜s8、M′＝m1〜m8（１
ビツト〜８ビツトのシフト）となる。シフトレジ
スタ５１，５３，５５はカメラ走査開始時にシス
テムの発生する走査開始信号Ｓ ZEROによつて
０に初期化される。
以上によつて位置ずれ量Ｄにしたがつて位置ず
れを補正された標本データS′、試料データT′画素
制御データM′が得られる。これら補正されたS′，
T′，M′は判定回路２７（第５図）に入力され欠
陥検出される。
れを補正された標本データS′、試料データT′画素
制御データM′が得られる。これら補正されたS′，
T′，M′は判定回路２７（第５図）に入力され欠
陥検出される。
第９図は判定回路２７の一実施例で、５７〜６
２は８ビツトのデータラツチ回路、６３は同じく
８ビツトの入力が可能なように構成されたオアゲ
ートアレイ、６４は同じくシフトレジスタ、６５
は同じく選択回路、６６，６９は同じく加算回
路、６７は同じくインバータ、６８は同じくエク
スクルーシブオアゲート、７０は同じくコンパレ
ータである。
２は８ビツトのデータラツチ回路、６３は同じく
８ビツトの入力が可能なように構成されたオアゲ
ートアレイ、６４は同じくシフトレジスタ、６５
は同じく選択回路、６６，６９は同じく加算回
路、６７は同じくインバータ、６８は同じくエク
スクルーシブオアゲート、７０は同じくコンパレ
ータである。
次に、この実施例の動作について説明する。
印刷動作が開始してその検査動作に入ると、位
置ずれ補正された標本データS′、試料データT′、
画素制御データM′は順次各ラツチ５７〜６０に
取込まれる。
置ずれ補正された標本データS′、試料データT′、
画素制御データM′は順次各ラツチ５７〜６０に
取込まれる。
そこで、このうち、ラツチ５９に入力されたポ
ジ状態の標本データS′とラツチ６０に入力された
ネガ状態の試料データT′とが加算回路６６、イ
ンバータ６７、エクスクルーシブオアゲート６
８、加算回路６９からなる回路で処理されて試料
データT′と標本データS′の差の絶対値を表わすデ
ータＤとなり、ラツチ６２に書込まれる。即ちＤ
＝｜T′−S′｜が取出される。そして、このデータ
Ｄはラツチ６２からコンパレータ７０の一方の入
力Ｂに供給される。
ジ状態の標本データS′とラツチ６０に入力された
ネガ状態の試料データT′とが加算回路６６、イ
ンバータ６７、エクスクルーシブオアゲート６
８、加算回路６９からなる回路で処理されて試料
データT′と標本データS′の差の絶対値を表わすデ
ータＤとなり、ラツチ６２に書込まれる。即ちＤ
＝｜T′−S′｜が取出される。そして、このデータ
Ｄはラツチ６２からコンパレータ７０の一方の入
力Ｂに供給される。
また、ラツチ５８から取出された基準データ
S′はシフトレジスタ６４に入力され、ここで所定
のビツト数だけシフトされて所定の係数Ｋ（１よ
り小さい）が乗算されたデータKS′となつて選択
回路６５の一方の入力Ｂに供給される。
S′はシフトレジスタ６４に入力され、ここで所定
のビツト数だけシフトされて所定の係数Ｋ（１よ
り小さい）が乗算されたデータKS′となつて選択
回路６５の一方の入力Ｂに供給される。
一方、ラツチ５７に取込まれた画素制御データ
M′はそのまま読出されて選択回路６５の他方の
入力Ａに供給されると共に、オアゲート６３を介
して選択回路６５の選択入力Ｓに供給される。な
お、この選択回路６５は、その選択入力Ｓが
“Ｈ”レベルのとき入力Ｂに供給されているデー
タを出力し、“Ｌ”レベルのときには入力Ａのデ
ータを出力する働きをする。
M′はそのまま読出されて選択回路６５の他方の
入力Ａに供給されると共に、オアゲート６３を介
して選択回路６５の選択入力Ｓに供給される。な
お、この選択回路６５は、その選択入力Ｓが
“Ｈ”レベルのとき入力Ｂに供給されているデー
タを出力し、“Ｌ”レベルのときには入力Ａのデ
ータを出力する働きをする。
コンパレータ７０は入力ＡのデータJLと入力
ＢのデータＤとを比較し、入力Ｂのデータが入力
Ａのデータより大きかつたときだけ“Ｈ”レベル
となる出力Ｊを発生する。即ち、データJLを判
定レベルとした比較動作が行なわれて出力Ｊが得
られることになる。
ＢのデータＤとを比較し、入力Ｂのデータが入力
Ａのデータより大きかつたときだけ“Ｈ”レベル
となる出力Ｊを発生する。即ち、データJLを判
定レベルとした比較動作が行なわれて出力Ｊが得
られることになる。
以上のような構成により印刷物の絵柄がある程
度位置ずれを伴つていても、正確に絵柄の良否判
別を行うことができ、高速検査が可能で装置の低
コスト化ができる。また、標本データと試料デー
タとの比較を行うため、絵柄同士を全体的に比較
する場合に比べ格段に高精度の検査を行うことが
できる。
度位置ずれを伴つていても、正確に絵柄の良否判
別を行うことができ、高速検査が可能で装置の低
コスト化ができる。また、標本データと試料デー
タとの比較を行うため、絵柄同士を全体的に比較
する場合に比べ格段に高精度の検査を行うことが
できる。
上記実施例では、試料データはメモリに記憶し
ていないか、試料データ用メモリを設けてもよ
い。また、位置ずれ検出に際し試料データを印刷
物横方向に１画素づつ位置ずれさせてもよい。
ていないか、試料データ用メモリを設けてもよ
い。また、位置ずれ検出に際し試料データを印刷
物横方向に１画素づつ位置ずれさせてもよい。
本発明は上述のように、試料印刷物から取出し
た試料データをメモリに蓄えられている標本デー
タと比較するにつき、この試料データおよび標本
データの一方を他方に対し印刷物横方向に１画素
づつ移行させて比較し、両データが最も一致に近
付いた移行量をもつて位置ずれ量を知り、この位
置ずれ量に基き位置ずれ補正を行つた上で試料デ
ータと標本データとを比較し試料印刷物の絵柄検
査を行うようにしたため、印刷物搬送系に位置ず
れがあつても高精度で絵柄検査を行うことがで
き、しかもその装置構成は安価に行うことができ
る。
た試料データをメモリに蓄えられている標本デー
タと比較するにつき、この試料データおよび標本
データの一方を他方に対し印刷物横方向に１画素
づつ移行させて比較し、両データが最も一致に近
付いた移行量をもつて位置ずれ量を知り、この位
置ずれ量に基き位置ずれ補正を行つた上で試料デ
ータと標本データとを比較し試料印刷物の絵柄検
査を行うようにしたため、印刷物搬送系に位置ず
れがあつても高精度で絵柄検査を行うことがで
き、しかもその装置構成は安価に行うことができ
る。
第１図は本発明の対象である絵柄検査装置の画
像情報検出部の構成を示す図、第２図は絵柄検査
のための試料絵柄データと標本絵柄データの記録
方式の模型的説明図、第３図は印刷物搬送系等に
起因して絵柄の位置ずれが生じた場合の説明用特
性図、第４図ａ，ｂは本発明方法の基本的な検査
方法および絵柄エツジの検査方法を示す特性図、
第５図は本発明方法を実施するための装置構成を
示すブロツク線図、第６図は本発明装置を構成す
るために用いる相関器の内部構成を示すブロツク
線図、第７図は第６図の相関器を用いて構成した
位置ずれ量検出回路の構成を示す接続図、第８図
は第７図の回路と組合わされて位置ずれ補正を行
う回路の内部構成を示すブロツク線図、第９図は
第５図の装置における判定回路のより具体的構成
を示すブロツク線図である。 １……印刷物、２……カメラ、３……シリン
ダ、４……ロータリーエンコーダ、５，７，９，
１７……試料絵柄（試料行）データ、６，８，１
０，１８……標本絵柄（標本行）データ、３１，
３２，４１，５１，５３，５５……シフトレジス
タ、Ｔ……試料データ、Ｓ……標本データ、Ｍ…
…画素制御データ、JC……判定回路、Ｌ……ラ
ツチ、SR……シフトレジスタ。
像情報検出部の構成を示す図、第２図は絵柄検査
のための試料絵柄データと標本絵柄データの記録
方式の模型的説明図、第３図は印刷物搬送系等に
起因して絵柄の位置ずれが生じた場合の説明用特
性図、第４図ａ，ｂは本発明方法の基本的な検査
方法および絵柄エツジの検査方法を示す特性図、
第５図は本発明方法を実施するための装置構成を
示すブロツク線図、第６図は本発明装置を構成す
るために用いる相関器の内部構成を示すブロツク
線図、第７図は第６図の相関器を用いて構成した
位置ずれ量検出回路の構成を示す接続図、第８図
は第７図の回路と組合わされて位置ずれ補正を行
う回路の内部構成を示すブロツク線図、第９図は
第５図の装置における判定回路のより具体的構成
を示すブロツク線図である。 １……印刷物、２……カメラ、３……シリン
ダ、４……ロータリーエンコーダ、５，７，９，
１７……試料絵柄（試料行）データ、６，８，１
０，１８……標本絵柄（標本行）データ、３１，
３２，４１，５１，５３，５５……シフトレジス
タ、Ｔ……試料データ、Ｓ……標本データ、Ｍ…
…画素制御データ、JC……判定回路、Ｌ……ラ
ツチ、SR……シフトレジスタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 印刷物の試料絵柄を画素マトリクスに分解し
て検出した試料データを、標本印刷物から予め取
出されメモリに記録されている標本データと１画
素づつ比較し絵柄の良否判定を行う印刷物の絵柄
検査方法において、前記試料データおよび標本デ
ータの一方を１画素づつ印刷物の横方向に位置ず
れさせて前記両データの他方と比較し、両データ
が最も一致に近づいたときの前記両データ間の位
置ずれ量により前記試料データまたは標本データ
を印刷物横方向に関し位置ずれ補正した上で、前
記標本データと比較するようにしたことを特徴と
する印刷物の絵柄検査方法。 ２ 印刷物の搬送動作に応じて同期信号を形成す
る装置と、前記同期信号に基き前記印刷物の絵柄
を１画素づつ走査して画像データを取出すカメラ
と、このカメラにより標本印刷物から取出した画
像データが書込まれる標本データメモリと、前記
カメラからの試料データと前記標本データメモリ
からのデータとを前記両データの一方を他方に対
し１画素づつ印刷物横方向に位置ずれさせつつ比
較し両データが最も一致に近づく位置ずれ量を検
出する回路と、この位置ずれ量検出回路の出力に
基く位置ずれ補正を行つて前記両データを１画素
づつ比較し試料印刷物の絵柄良否判定を行う回路
とをそなえた印刷物の絵柄検査装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57208850A JPS5999592A (ja) | 1982-11-29 | 1982-11-29 | 印刷物の絵柄検査方法および装置 |
| US06/527,947 US4677680A (en) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Method and device for inspecting image |
| EP83108547A EP0104477B1 (en) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Method for inspecting image |
| DE8383108547T DE3380997D1 (de) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Verfahren zur bilduntersuchung. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57208850A JPS5999592A (ja) | 1982-11-29 | 1982-11-29 | 印刷物の絵柄検査方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5999592A JPS5999592A (ja) | 1984-06-08 |
| JPH0120477B2 true JPH0120477B2 (ja) | 1989-04-17 |
Family
ID=16563137
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57208850A Granted JPS5999592A (ja) | 1982-08-31 | 1982-11-29 | 印刷物の絵柄検査方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5999592A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2546876B2 (ja) * | 1988-03-14 | 1996-10-23 | 富士通株式会社 | ディジタル線分作成方法及び紙葉類鑑別システム |
| JPH01233592A (ja) * | 1988-03-14 | 1989-09-19 | Fujitsu Ltd | 移動原点選択方式および移動原点選択方式を用いた紙葉類鑑別システム |
| JPH01233593A (ja) * | 1988-03-14 | 1989-09-19 | Fujitsu Ltd | 移動原点推定方式および移動原点推定方式を用いた紙葉鑑別システム |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6015997B2 (ja) * | 1976-09-22 | 1985-04-23 | オムロン株式会社 | 印刷物の真偽識別方式 |
| JPS559284A (en) * | 1978-07-05 | 1980-01-23 | Omron Tateisi Electronics Co | Counterfeit bill detecting method |
| US4311914A (en) * | 1978-12-18 | 1982-01-19 | Gretag Aktiengesellschaft | Process for assessing the quality of a printed product |
-
1982
- 1982-11-29 JP JP57208850A patent/JPS5999592A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5999592A (ja) | 1984-06-08 |
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