JPH0374807A - 抵抗器の抵抗値修正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は角形チップ抵抗器等の抵抗器に釦いて、抵抗値
修正距離を短かくして抵抗値精度を向上するための抵抗
値修正方法に関するものである。

従来の技術 従来、この種の抵抗値修正方法はレーザー光線やサンド
ブラストによって、第２図や第３図のように抵抗体皮膜
を切削して抵抗値修正を行なっていた。

図において、１は抵抗体皮膜、２は電極、３はセラミッ
ク基板である。

第２図に示すものはシングルカットと呼ばれ、切削初め
から切削路ｂｔで等巾の切削溝６を設けるもので、了の
切削距離が長い程修正率が二次曲線的に抵抗値が上昇す
る加工方法である。

第３図に示すものは、Ｌカットと呼ばれ、抵抗値修正が
二次曲線的に変化するものを途中から、ゆっくシと抵抗
値が上昇するように電極方向に切削した切削溝ｅを設け
るもので、抵抗値精度を上げるための加工方法である。

発明が解決しようとする課題 第２図において７の切削距離長さは抵抗器の特性から切
削方向に全長の％以下とされており、抵抗値修正率を大
きくするためには切削溝巾を大きくしなければならなく
、切削溝巾が大きいと最終レーザービームによって抵抗
値変化が大きくなって抵抗値精度が上がらなくなる。そ
のために第３図のように電極方向に途中から修正率をゆ
っくシする方法が用いられているが、これは切削距離が
長いために抵抗値修正時間が長くなシ加工面積が大きい
ために工程変化が大きくなるという課題があった。

課題を解決するための手段 抵抗値の修正精度は、修正終了最後の１ビームによって
決定されるため、この最終修正率を小さくした方が抵抗
値修正精度が上がる。そのためにはビームスポット径を
小さくする必要があるが、最初からビーム径を小さくす
ると、全体的な修正長が長くなシ過ぎ、ビーム径を小さ
くできないために修正開始近辺は修正率を大きくして、
修正終了時は小さくする方法が必要とされる。

そのために本発明は、レーザービームスポット径を可変
して抵抗値修正を行なう構成としたものである。

作用 この構成によシ切削開始ビームスポット径を大きくする
と抵抗値修正率が大きくなり、目的修正抵抗値に達する
前のビームスポット径を小さくすると切削面積が小さい
ために抵抗値変化率が小さくなり、抵抗値精度が向上す
ると共に修正距離が短かくなる。

実施例 第１図において抵抗体皮膜１はセラミック基板３に印刷
されて釦シ、両端に二つの回路構成のための電極２が設
けられている。このチップ抵抗器の抵抗値は両端に設け
られた電極２間の抵抗体皮膜１の体積で決筐る。この抵
抗値は抵抗液を印刷によって構成され、抵抗体成分、膜
厚の変動によって抵抗値がバラツキ、必要な抵抗値を得
ることができない。そのために抵抗値の修正が必要で、
高速加工をするためにレーザー光線の熱エネルギーによ
って切削溝巾を細くし、抵抗値修正を行なっている。こ
の抵抗値修正率を大きくして修正長さを短かくするため
に第１図の修正溝４のように切削初めのビームスポット
径を大きくして、目標修正値に近づくに従ってビームス
ポット径を小さくなる様に可変して抵抗値修正を行なう
。これによう切削距離が短かいため、修正時間も短かく
なり、抵抗値修正精度が向上することとなる。

発明の効果 以上のように本発明によれば、切削距離が短かいため工
程変化も少なく、切削時間が短かくなって抵抗値修正精
度も向上するため設備加工能力が上がシ、安定した抵抗
値修正が行なえる効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例による方法によって修正され
たチップ抵抗器の抵抗値修正溝を示す斜視図、第２図は
シングルカットと呼ばれる切削溝巾が一定の場合の斜視
図、第３図は抵抗値修正精度を上げるためにＬカット状
に修正した場合の斜視図である。 １・・・・・・抵抗体皮膜、２・・・・・・電極、３・
・・・・・セラミック基板、４・・・・・・修正溝。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　角形チップ抵抗器の抵抗値修正において、レーザー光
   線等の光学熱エネルギーによって抵抗値修正を行なう際
   に、抵抗値修正開始のビームスポット径を大きくし、目
   標修正抵抗値に近づくに従ってビームスポット径を小さ
   くする抵抗器の抵抗値修正方法。