JPH0376406B2 - - Google Patents
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- JPH0376406B2 JPH0376406B2 JP5675282A JP5675282A JPH0376406B2 JP H0376406 B2 JPH0376406 B2 JP H0376406B2 JP 5675282 A JP5675282 A JP 5675282A JP 5675282 A JP5675282 A JP 5675282A JP H0376406 B2 JPH0376406 B2 JP H0376406B2
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- Japan
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- laser spot
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 6
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 7
- 238000003705 background correction Methods 0.000 description 6
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、たとえば光デイスク用ピツクアツプ
等におけるレーザスポツトの輝度分布を検査する
に適したレーザスポツト検査方法に関するもので
ある。
等におけるレーザスポツトの輝度分布を検査する
に適したレーザスポツト検査方法に関するもので
ある。
光デイスク用ピツクアツプ等におけるレーザス
ポツトの輝度分布はガウシヤン分布に近く、その
分布曲線の評価がこの種のレーザビームの検査上
重要項目の一つとなつている。たとえば、その輝
度分布において、光デイスクのラジアル方向にサ
イドローブがある場合には、隣接トラツクからの
クロストークの増加となり、タンジエンシヤル方
向にサイドローブあある場合には、アイパターン
波形の劣化となる。
ポツトの輝度分布はガウシヤン分布に近く、その
分布曲線の評価がこの種のレーザビームの検査上
重要項目の一つとなつている。たとえば、その輝
度分布において、光デイスクのラジアル方向にサ
イドローブがある場合には、隣接トラツクからの
クロストークの増加となり、タンジエンシヤル方
向にサイドローブあある場合には、アイパターン
波形の劣化となる。
従来、この種のレーザスポツトを検査するに当
り、レーザスポツトの輝度分布をテレビジヨンカ
メラで受光して得た映像信号に、アナログ的なシ
エイデイング補正を施すと同時に、画面の垂直方
向の任意の線上における輝度レベルを求め、この
二次元分布曲線を前記輝度分布に相当する画像に
重ねて表示し、これらの画像からレーザスポツト
の評価を行なつていた。
り、レーザスポツトの輝度分布をテレビジヨンカ
メラで受光して得た映像信号に、アナログ的なシ
エイデイング補正を施すと同時に、画面の垂直方
向の任意の線上における輝度レベルを求め、この
二次元分布曲線を前記輝度分布に相当する画像に
重ねて表示し、これらの画像からレーザスポツト
の評価を行なつていた。
このような従来の検査方法では、一般に最大輝
度レベルが個々のピツクアツプによつて異なるの
で、レーザスポツトの検査に当つては最大輝度レ
ベルで基準化した輝度分布曲線を必要とするが、
このような要望には応えられなかつた。また、レ
ーザビームのその他の検査方法として、前記従来
の方法におけるテレビジヨンカメラから得た映像
信号をデイジタル化して、フレームメモリ等に記
憶させ、ミニコン級の計算機を用い、適当なソフ
トウエアーによつて所望する画像処理を行なう方
法も考えられるが、完全なリアルタイム処理は困
難であることや、コストを考えると実用的ではな
い。
度レベルが個々のピツクアツプによつて異なるの
で、レーザスポツトの検査に当つては最大輝度レ
ベルで基準化した輝度分布曲線を必要とするが、
このような要望には応えられなかつた。また、レ
ーザビームのその他の検査方法として、前記従来
の方法におけるテレビジヨンカメラから得た映像
信号をデイジタル化して、フレームメモリ等に記
憶させ、ミニコン級の計算機を用い、適当なソフ
トウエアーによつて所望する画像処理を行なう方
法も考えられるが、完全なリアルタイム処理は困
難であることや、コストを考えると実用的ではな
い。
本発明は前述の要望に応えてなされたものであ
つて、その目的とするところは、最大輝度レベル
で基準化して輝度分布をほぼリアルタイムで表示
し得るレーザスポツト検査方法を提供せんとする
ものである。
つて、その目的とするところは、最大輝度レベル
で基準化して輝度分布をほぼリアルタイムで表示
し得るレーザスポツト検査方法を提供せんとする
ものである。
本発明のレーザスポツト検査方法は、輝度分布
を検査すべきレーザスポツトをテレビジヨンカメ
ラで受光して映像信号に変換し、少なくとも１フ
レーム周期で前記輝度分布中の最大輝度レベルを
検出して複数の輝度レベルに分割し、これら複数
の輝度レベルと前記映像信号とを比較し、その比
較出力を二次微分して得られる出力を前記フレー
ム周期で表示することにより前記輝度分布を前記
複数の輝度レベルに対応した等高線像に変換して
表示することを特徴とするものである。
を検査すべきレーザスポツトをテレビジヨンカメ
ラで受光して映像信号に変換し、少なくとも１フ
レーム周期で前記輝度分布中の最大輝度レベルを
検出して複数の輝度レベルに分割し、これら複数
の輝度レベルと前記映像信号とを比較し、その比
較出力を二次微分して得られる出力を前記フレー
ム周期で表示することにより前記輝度分布を前記
複数の輝度レベルに対応した等高線像に変換して
表示することを特徴とするものである。
以下本発明方法について図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
第１図は、本発明の実施例にあつて、特に本発
明の主要部をなす映像信号処理回路の構成の一例
を示すブロツク線図である。
明の主要部をなす映像信号処理回路の構成の一例
を示すブロツク線図である。
１は複合映像信号入力端子である。この端子１
には、図示しない周知のテレビジヨンカメラによ
り被検レーザスポツトの輝度分布を受光して得た
複合映像信号が加えられる。その複合映像信号は
二分されてその一方は、まず同期分離回路２によ
つて同期信号が検出されて垂直同期分離回路３に
導かれ、ここで同期信号は積分されて第２図ａに
示した如き垂直同期信号が得られる。この垂直同
期信号を４で示した1/2分周器に導いて第２図ｂ
に示したフレーム同期パルスを得て、これをつぎ
の単安定マルチバイブレータ５に供給して第２図
ｃに示したサンプリングパルスを形成するととも
に、さらにそのサンプリングパルスを遅延回路６
を介して単安定マルチバイブレータ７を加えるこ
とにより、その出力として第２図ｄに示した垂直
帰線期間中のタイミングを有するリセツトパルス
を得る。
には、図示しない周知のテレビジヨンカメラによ
り被検レーザスポツトの輝度分布を受光して得た
複合映像信号が加えられる。その複合映像信号は
二分されてその一方は、まず同期分離回路２によ
つて同期信号が検出されて垂直同期分離回路３に
導かれ、ここで同期信号は積分されて第２図ａに
示した如き垂直同期信号が得られる。この垂直同
期信号を４で示した1/2分周器に導いて第２図ｂ
に示したフレーム同期パルスを得て、これをつぎ
の単安定マルチバイブレータ５に供給して第２図
ｃに示したサンプリングパルスを形成するととも
に、さらにそのサンプリングパルスを遅延回路６
を介して単安定マルチバイブレータ７を加えるこ
とにより、その出力として第２図ｄに示した垂直
帰線期間中のタイミングを有するリセツトパルス
を得る。
一方、入力端子１に加わつて２分された複合映
像信号の他方は、８の輝度信号分離回路により同
期信号が除かれた後、８のシエイデイング補正回
路９によつて、図示しないテレビジヨンカメラ内
の撮像素子の感度むらが補正される。このように
してシエイデイング補正された映像信号は、ピー
ク値ホールド回路１０によつてピーク値が保存さ
れる。このピーク値ホールド回路１０、リセツト
パルスにより保存したピーク値を更新し得るよう
に構成されている。すなわち、そのリセツトパル
スとして単安定マルチバイブレータ７で形成した
たとえばさきに説明した第２図ｄに示す１フレー
ム周期のサンプルパルスを前記ピーク値ホールド
回路１０に供給し、垂直帰線期間内に過去に保存
したピーク値をリセツトすると同時に、そのリセ
ツト直後の略１フレーム期間中のピーク値を新た
に保存することをフイールド周期ごとに順次繰り
返すようにしている。
像信号の他方は、８の輝度信号分離回路により同
期信号が除かれた後、８のシエイデイング補正回
路９によつて、図示しないテレビジヨンカメラ内
の撮像素子の感度むらが補正される。このように
してシエイデイング補正された映像信号は、ピー
ク値ホールド回路１０によつてピーク値が保存さ
れる。このピーク値ホールド回路１０、リセツト
パルスにより保存したピーク値を更新し得るよう
に構成されている。すなわち、そのリセツトパル
スとして単安定マルチバイブレータ７で形成した
たとえばさきに説明した第２図ｄに示す１フレー
ム周期のサンプルパルスを前記ピーク値ホールド
回路１０に供給し、垂直帰線期間内に過去に保存
したピーク値をリセツトすると同時に、そのリセ
ツト直後の略１フレーム期間中のピーク値を新た
に保存することをフイールド周期ごとに順次繰り
返すようにしている。
そのピーク値ホールド回路１０の出力は、次段
のサンプルホールド回路１１に導かれて、単安定
マルチバイブレータ５によつて形成した第２図ｃ
に示すサンプルパルスによりサンプルホールドさ
れる。そのサンプルパルスは第２図ｄに示した前
記リセツトパルスの直前のタイミングを有するの
で、前記サンプルホールド回路１１の出力は、ピ
ーク値ホールド回路１０がリセツトされる直前の
１フレーム期間における映像信号のピーク値であ
る。すなわち、その映像信号は、被検レーザスポ
ツトを受光して得た信号であるから前記のピーク
値は被検レーザスポツトの輝度分布中の最高輝度
レベルに相当していることとなる。
のサンプルホールド回路１１に導かれて、単安定
マルチバイブレータ５によつて形成した第２図ｃ
に示すサンプルパルスによりサンプルホールドさ
れる。そのサンプルパルスは第２図ｄに示した前
記リセツトパルスの直前のタイミングを有するの
で、前記サンプルホールド回路１１の出力は、ピ
ーク値ホールド回路１０がリセツトされる直前の
１フレーム期間における映像信号のピーク値であ
る。すなわち、その映像信号は、被検レーザスポ
ツトを受光して得た信号であるから前記のピーク
値は被検レーザスポツトの輝度分布中の最高輝度
レベルに相当していることとなる。
前記サンプルホールド回路１１の出力は、抵抗
R1，R2，…Roからなる直列抵抗に供給して、そ
れら各抵抗R1，R2，…Roによつて得た分圧電圧
をしきい値電圧として前記最高輝度レベルの分割
数に応じて設けた複数の比較器１２−１，１２−
２，…１２−ｎの一方の入力端子にそれぞれ供給
する。また、これら比較器１２−１，１２−２，
…１２−ｎの他方の入力端子には、前記シエイデ
イング補正回路９の出力から分岐した映像信号を
それぞれ供給する。このようにすることによつて
第２図ｃに示したサンプルパルスのタイミングか
ら過去略１フレーム期間における映像信号のピー
ク値を基準にした複数の輝度レベルに相当する各
しきい値と、当該映像信号レベルを比較すること
ができる。各比較器１２−１，１２−２，…１２
−ｎの後段には２次微分器１３−１，１３−２，
…１３−ｎが接続してあり、これによつて各比較
器１２−１，１２−２，…１２−ｎの各出力の立
ち上りと、立ち下り時にそれぞれ正のパルスが作
られる。これらのパルスはレーザスポツトを受光
して得た映像信号について、フレーム周期でピー
ク値を基準にして得た複数のしきい値と比較して
得たものである。従つてそれらのパルスは、レー
ザスポツトの最高輝度レベルを基準にした複数の
輝度レベルと、レーザスポツトの投写面における
各部の輝度を比較した等価なレーザスポツトの各
輝度レベルに対応した等高線を表わすこととな
る。
R1，R2，…Roからなる直列抵抗に供給して、そ
れら各抵抗R1，R2，…Roによつて得た分圧電圧
をしきい値電圧として前記最高輝度レベルの分割
数に応じて設けた複数の比較器１２−１，１２−
２，…１２−ｎの一方の入力端子にそれぞれ供給
する。また、これら比較器１２−１，１２−２，
…１２−ｎの他方の入力端子には、前記シエイデ
イング補正回路９の出力から分岐した映像信号を
それぞれ供給する。このようにすることによつて
第２図ｃに示したサンプルパルスのタイミングか
ら過去略１フレーム期間における映像信号のピー
ク値を基準にした複数の輝度レベルに相当する各
しきい値と、当該映像信号レベルを比較すること
ができる。各比較器１２−１，１２−２，…１２
−ｎの後段には２次微分器１３−１，１３−２，
…１３−ｎが接続してあり、これによつて各比較
器１２−１，１２−２，…１２−ｎの各出力の立
ち上りと、立ち下り時にそれぞれ正のパルスが作
られる。これらのパルスはレーザスポツトを受光
して得た映像信号について、フレーム周期でピー
ク値を基準にして得た複数のしきい値と比較して
得たものである。従つてそれらのパルスは、レー
ザスポツトの最高輝度レベルを基準にした複数の
輝度レベルと、レーザスポツトの投写面における
各部の輝度を比較した等価なレーザスポツトの各
輝度レベルに対応した等高線を表わすこととな
る。
各２次微分器１３−１，１３−２…１３−ｎか
らの各パルスはOR回路１４を介して複数の輝度
レベルの等高線を表わす映像信号とし、これを加
算器１５に導き、ここで同期分離回路２からの同
期信号を付加した後、バツフア増幅器１６および
出力端子１７を経て、図示しない画像表示装置た
とえばテレビジヨンモニタに導き画像再生すれ
ば、たとえば第３図Ａの如き輝度分布断面を有す
るレーザスポツトは、たとえば同図Ｂに示したよ
うに複数の輝度レベルの等高線により表示するこ
とができる。
らの各パルスはOR回路１４を介して複数の輝度
レベルの等高線を表わす映像信号とし、これを加
算器１５に導き、ここで同期分離回路２からの同
期信号を付加した後、バツフア増幅器１６および
出力端子１７を経て、図示しない画像表示装置た
とえばテレビジヨンモニタに導き画像再生すれ
ば、たとえば第３図Ａの如き輝度分布断面を有す
るレーザスポツトは、たとえば同図Ｂに示したよ
うに複数の輝度レベルの等高線により表示するこ
とができる。
なお１８は等高線出力スイツチであり、このス
イツチ１８を介してOR回路１４の出力を加算器
１５に導くようにしている。また１９はシエイデ
イング補正回路から分岐した映像信号を前記加算
器１５に導くためのスイツチであつて、このスイ
ツチ１９を投入することにより図示しない画像表
示装置に、前記等高線表示に重畳してレーザスポ
ツトの輝度分布像が同時表示できるようになつて
いる。この場合、等高線出力スイツチ１８を断に
すれば、当然レーザスポツトの光像のみが表示さ
れることとなる。なお、２０はピーク値測定用の
端子でこの端子２０の電圧を測定することにより
ピーク値の絶対値を測定することができる。
イツチ１８を介してOR回路１４の出力を加算器
１５に導くようにしている。また１９はシエイデ
イング補正回路から分岐した映像信号を前記加算
器１５に導くためのスイツチであつて、このスイ
ツチ１９を投入することにより図示しない画像表
示装置に、前記等高線表示に重畳してレーザスポ
ツトの輝度分布像が同時表示できるようになつて
いる。この場合、等高線出力スイツチ１８を断に
すれば、当然レーザスポツトの光像のみが表示さ
れることとなる。なお、２０はピーク値測定用の
端子でこの端子２０の電圧を測定することにより
ピーク値の絶対値を測定することができる。
以上の実施例の説明から明らかなように、本発
明によれば、レーザスポツトの輝度分布を輝度レ
ベルの等高線で表示して観察することができるの
で、輝度の二次元分布を測定することができ被検
レーザスポツトの評価が容易となる。またレーザ
スポツトの最大輝度レベルをピークにして等高線
が形成されるので、全体の輝度が変つていても、
相似的な輝度分布であれば相似の等高線が得られ
ることとなり、従つて全体の輝度の大小の影響を
受けることなくレーザビームの輝度分布を観測す
ることができる。
明によれば、レーザスポツトの輝度分布を輝度レ
ベルの等高線で表示して観察することができるの
で、輝度の二次元分布を測定することができ被検
レーザスポツトの評価が容易となる。またレーザ
スポツトの最大輝度レベルをピークにして等高線
が形成されるので、全体の輝度が変つていても、
相似的な輝度分布であれば相似の等高線が得られ
ることとなり、従つて全体の輝度の大小の影響を
受けることなくレーザビームの輝度分布を観測す
ることができる。
さらに、第１図に示した実施例の構成のものに
よれば、映像信号のピーク値をホールドし、これ
をサンプルホールドするようにしているので、観
測中は、絶対的なピーク値が保存されている。従
つて同一レーザビームについては、仮に観測休止
後、再度観測する場合など速やかにいつでも測定
することが可能である。
よれば、映像信号のピーク値をホールドし、これ
をサンプルホールドするようにしているので、観
測中は、絶対的なピーク値が保存されている。従
つて同一レーザビームについては、仮に観測休止
後、再度観測する場合など速やかにいつでも測定
することが可能である。
第１図は、本発明方法の実施例の映像信号処理
回路の構成の一例を示すブロツク線図、第２図
は、その動作を説明するための波形図、第３図Ａ
は、従来の方法により表示した二次元的表示によ
る輝度分布の一例図、同図Ｂはその輝度分布図に
対応した本発明方法による等高線表示画像の一例
である。 １……複合映像信号入力端子、２……同期分離
回路、３……垂直同期分離回路、４……1/2分周
器、５，７……単安定マルチバイブレータ、６…
…遅延回路、８……輝度信号分離回路、９……シ
エイデイング補正回路、１０……ピーク値ホール
ド回路、１１……サンプルホールド回路、１２−
１〜１２−ｎ……比較器、１３−１〜１３−ｎ…
…２次微分器、１４……OR回路、１５……加算
器、１６……バツフア増幅器、１７……出力端
子、１８……等高線出力スイツチ、１９……映像
信号出力スイツチ、２０……ピーク値測定用端
子、R1〜Ro……基準電圧設定用分圧抵抗。
回路の構成の一例を示すブロツク線図、第２図
は、その動作を説明するための波形図、第３図Ａ
は、従来の方法により表示した二次元的表示によ
る輝度分布の一例図、同図Ｂはその輝度分布図に
対応した本発明方法による等高線表示画像の一例
である。 １……複合映像信号入力端子、２……同期分離
回路、３……垂直同期分離回路、４……1/2分周
器、５，７……単安定マルチバイブレータ、６…
…遅延回路、８……輝度信号分離回路、９……シ
エイデイング補正回路、１０……ピーク値ホール
ド回路、１１……サンプルホールド回路、１２−
１〜１２−ｎ……比較器、１３−１〜１３−ｎ…
…２次微分器、１４……OR回路、１５……加算
器、１６……バツフア増幅器、１７……出力端
子、１８……等高線出力スイツチ、１９……映像
信号出力スイツチ、２０……ピーク値測定用端
子、R1〜Ro……基準電圧設定用分圧抵抗。
Claims (1)
- １ 輝度分布を検査すべきレーザスポツトをテレ
ビジヨンカメラで受光して映像信号に変換し、少
なくとも１フレーム周期で前記輝度分布中の最大
輝度レベルを検出しで複数の輝度レベルに分割
し、これら複数の輝度レベルと映像信号とを比較
して得た比較出力を二次微分することにより得ら
れる出力を前記フレーム周期で表示することによ
り前記輝度分布を前記複数の輝度レベルに対応し
た等高線像に変換して表示することを特徴とする
レーザスポツト検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5675282A JPS58174820A (ja) | 1982-04-07 | 1982-04-07 | レ−ザスポツト検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5675282A JPS58174820A (ja) | 1982-04-07 | 1982-04-07 | レ−ザスポツト検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58174820A JPS58174820A (ja) | 1983-10-13 |
| JPH0376406B2 true JPH0376406B2 (ja) | 1991-12-05 |
Family
ID=13036249
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5675282A Granted JPS58174820A (ja) | 1982-04-07 | 1982-04-07 | レ−ザスポツト検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58174820A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3246021B2 (ja) * | 1993-01-06 | 2002-01-15 | ミノルタ株式会社 | 二次元測色計 |
| JP2007212241A (ja) * | 2006-02-08 | 2007-08-23 | Ministry Of Public Management Home Affairs Posts & Telecommunications | 電波発射源可視化装置及びその方法 |
-
1982
- 1982-04-07 JP JP5675282A patent/JPS58174820A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58174820A (ja) | 1983-10-13 |
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