JPH0385645U - - Google Patents

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JPH0385645U
JPH0385645U JP14699589U JP14699589U JPH0385645U JP H0385645 U JPH0385645 U JP H0385645U JP 14699589 U JP14699589 U JP 14699589U JP 14699589 U JP14699589 U JP 14699589U JP H0385645 U JPH0385645 U JP H0385645U
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JP
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electron beam
stage
electron
measuring machine
coordinate measuring
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【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の構成図、第2図は
補正原理図、第3図は静電偏向板を使用した実施
例の構成図である。 3……偏向コイル、4……補正コイル、6……
試料、6a……パターン、7……XYステージ、
9……レーザ干渉測定器、13……二次電子検出
器、14……倍率切換回路、15……静電偏向板

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 1 電子線を発生する手段と、前記電子線を収束
    するための電子レンズと、前記電子線を偏向する
    ための偏向器と、前記電子線を試料に照射したと
    きに発生する二次電子信号を検出する手段と、前
    記試料をXY平面上の任意の位置に移動するXY
    ステージと、前記二次電子信号と前記XYステー
    ジの位置とにより試料の位置を検出する手段とか
    らなる電子線座標測定機において、XYステージ
    の停止位置誤差量を補正するための補正偏向器を
    設けることにより、正確な位置測定を可能にした
    ことを特徴とする電子線座標測定機。 2 請求の範囲第1項において、補正偏向器によ
    り、XYステージの停止位置誤差量をリアルタイ
    ムで補正することを特徴とする電子線座標測定機
JP14699589U 1989-12-22 1989-12-22 Pending JPH0385645U (ja)

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JP14699589U JPH0385645U (ja) 1989-12-22 1989-12-22

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JPH0385645U true JPH0385645U (ja) 1991-08-29

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