JPH038759A - 半導体磁器物質 - Google Patents
半導体磁器物質Info
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- JPH038759A JPH038759A JP1196285A JP19628589A JPH038759A JP H038759 A JPH038759 A JP H038759A JP 1196285 A JP1196285 A JP 1196285A JP 19628589 A JP19628589 A JP 19628589A JP H038759 A JPH038759 A JP H038759A
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- mol
- semiconductor ceramic
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
本発明は粒界絶縁形半導体磁器コンデンサ、容量性バリ
スタ等の電子材料に用いられる半導体磁器物質に関する
。
スタ等の電子材料に用いられる半導体磁器物質に関する
。
近年、チタン酸ストロンチウム(SrTiOs)又はチ
タン酸ストロンチウムカルシウム固溶体(Sr+−xC
ayTiO,、)を主体とする半導体磁器の粒界に、誘
電体とじて高絶縁層を設けてなる粒界層型半導体磁器コ
ンデンサが広く用いられている。従来、このような半導
体磁器物質は、まず主成分であるチタン酸ストロンチウ
ム(SrTi03)又はチタン酸ストロンチウムカルシ
ウム固溶体(Sr、□Ca、Ti、Os)に、酸化ニオ
ブ(Nb20.)、酸化イツトリウム(Y2O2)等の
原子化制御剤及び酸化ケイ素(SiO2)、酸化アルミ
ニウム(八2□03)等の焼結助剤を夫々添加し、中性
又は還元雰囲気中にて焼成して半導体磁器を得、次にこ
の半導体磁器の粒界に誘電体層を設けるべく酸化マンガ
ン(MnOz) +酸化銅(Cub)、酸化ビスマス(
Biz03)等の金属酸化物の1つ又は複数組み合せた
拡散物質を熱拡散させることによって得られていた(特
開昭56−144522号)。
タン酸ストロンチウムカルシウム固溶体(Sr+−xC
ayTiO,、)を主体とする半導体磁器の粒界に、誘
電体とじて高絶縁層を設けてなる粒界層型半導体磁器コ
ンデンサが広く用いられている。従来、このような半導
体磁器物質は、まず主成分であるチタン酸ストロンチウ
ム(SrTi03)又はチタン酸ストロンチウムカルシ
ウム固溶体(Sr、□Ca、Ti、Os)に、酸化ニオ
ブ(Nb20.)、酸化イツトリウム(Y2O2)等の
原子化制御剤及び酸化ケイ素(SiO2)、酸化アルミ
ニウム(八2□03)等の焼結助剤を夫々添加し、中性
又は還元雰囲気中にて焼成して半導体磁器を得、次にこ
の半導体磁器の粒界に誘電体層を設けるべく酸化マンガ
ン(MnOz) +酸化銅(Cub)、酸化ビスマス(
Biz03)等の金属酸化物の1つ又は複数組み合せた
拡散物質を熱拡散させることによって得られていた(特
開昭56−144522号)。
ところで、こうして得られる半導体磁器物質の比誘電率
(εA)、誘電正接(tanδ)、絶縁抵抗率(ρ)等
の電気的特性は、前記拡散物質としてどのような物質を
用いるかによって異なる。例えば、拡散′+!!J質と
して酸化マンガン(MnOz)又は酸化銅(Cub)を
用いて得られる半導体磁器物質にあっては、誘電正接が
高く、また比誘電率が低くなる。
(εA)、誘電正接(tanδ)、絶縁抵抗率(ρ)等
の電気的特性は、前記拡散物質としてどのような物質を
用いるかによって異なる。例えば、拡散′+!!J質と
して酸化マンガン(MnOz)又は酸化銅(Cub)を
用いて得られる半導体磁器物質にあっては、誘電正接が
高く、また比誘電率が低くなる。
一方、拡散物質として酸化ビスマス(Biz(h)及び
酸化銅(Cub)の混合物を用いる場合には、それらを
単一で使用する場合に比べて平均的に各電気的特性が向
上するが、充分な特性値を達成しているとはいえなかっ
た。
酸化銅(Cub)の混合物を用いる場合には、それらを
単一で使用する場合に比べて平均的に各電気的特性が向
上するが、充分な特性値を達成しているとはいえなかっ
た。
そこで、本発明者らは、拡散物質として種々の材料を用
いた場合の半導体磁器物質の電気特性を調査し、その結
果、拡散物質として20〜98モル%の酸化ビスマス(
Big(h)と1〜30モル%の酸化銅(Cub)と、
1〜70モル%の炭酸ナトリウム(NagCQ3)又は
酸化ナトリウム(NazO)との混合物を用いた場合に
は、すべての電気的特性が良好である半導体磁器物質が
得られることを知見した(特願昭62248913号)
。
いた場合の半導体磁器物質の電気特性を調査し、その結
果、拡散物質として20〜98モル%の酸化ビスマス(
Big(h)と1〜30モル%の酸化銅(Cub)と、
1〜70モル%の炭酸ナトリウム(NagCQ3)又は
酸化ナトリウム(NazO)との混合物を用いた場合に
は、すべての電気的特性が良好である半導体磁器物質が
得られることを知見した(特願昭62248913号)
。
(発明が解決しようとする課題]
しかしながら最近、上述した混合物を拡散物質として用
いた場合でも、半導体磁器のロフトによって充分な絶縁
抵抗率を有する半導体磁器物質が得られない場合がある
ことが明らかとなった。これは、例えば、チタン酸スト
ロンチウム(SrTi(h)又はチタン酸ストロンチウ
ムカルシウム固溶体(Sr+−xcayT+01)を主
成分とする半導体磁器において、ストロンチウム(Sr
)とチタン(Ti)とのモル比のごくわずかな変動が半
導体磁器の性状に大きな影響を与えているためである。
いた場合でも、半導体磁器のロフトによって充分な絶縁
抵抗率を有する半導体磁器物質が得られない場合がある
ことが明らかとなった。これは、例えば、チタン酸スト
ロンチウム(SrTi(h)又はチタン酸ストロンチウ
ムカルシウム固溶体(Sr+−xcayT+01)を主
成分とする半導体磁器において、ストロンチウム(Sr
)とチタン(Ti)とのモル比のごくわずかな変動が半
導体磁器の性状に大きな影響を与えているためである。
しかもそのごくわずかな変動を完全に防止することは非
常に困難であり、従って半導体磁器の結晶粒界に形成さ
れている誘電体層もその変動の影響を受けるという問題
があった。
常に困難であり、従って半導体磁器の結晶粒界に形成さ
れている誘電体層もその変動の影響を受けるという問題
があった。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、拡散
物質として、旧、 Pb、 Cu、 B 、 Na又は
Kの化合物のうちの1種又は2種以上の混合物と酸化チ
タンとを含む組成物を用いることにより半導体磁器の組
成変動があっても、良好な比誘電率、誘電正接及び絶縁
抵抗率の電気特性が安定して得られる半導体磁器物質を
提供することを目的とする。
物質として、旧、 Pb、 Cu、 B 、 Na又は
Kの化合物のうちの1種又は2種以上の混合物と酸化チ
タンとを含む組成物を用いることにより半導体磁器の組
成変動があっても、良好な比誘電率、誘電正接及び絶縁
抵抗率の電気特性が安定して得られる半導体磁器物質を
提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明に係る半導体磁器物質は、半導体磁器の結晶粒界
に拡散物質を1拡散させ、その結晶粒界に誘電体層を形
成せしめてなる半導体磁器物質において、前記拡散物質
には、酸化チタン(TiO2)1〜30モル%と、Bi
、 Pb、 Cu、 B 、 Na又はKの化合物の
うちの1種又は2種以上の混合物70〜99モル%とが
含まれていることを特徴とする。
に拡散物質を1拡散させ、その結晶粒界に誘電体層を形
成せしめてなる半導体磁器物質において、前記拡散物質
には、酸化チタン(TiO2)1〜30モル%と、Bi
、 Pb、 Cu、 B 、 Na又はKの化合物の
うちの1種又は2種以上の混合物70〜99モル%とが
含まれていることを特徴とする。
本発明の半導体磁器物質にあっては、半導体磁器の結晶
粒界に拡散させる物質として、酸化チタンが1〜30モ
ル%含まれている組成物を用いるので結晶粒界に薄(欠
陥が少ない誘電体層が形成される。これにより、半導体
磁器物質の絶縁抵抗率が安定に保持せしめられ、半導体
磁器の組成変動があっても、良好な比誘電率、誘電正接
及び絶縁抵抗率等の電気特性が安定して得られる。
粒界に拡散させる物質として、酸化チタンが1〜30モ
ル%含まれている組成物を用いるので結晶粒界に薄(欠
陥が少ない誘電体層が形成される。これにより、半導体
磁器物質の絶縁抵抗率が安定に保持せしめられ、半導体
磁器の組成変動があっても、良好な比誘電率、誘電正接
及び絶縁抵抗率等の電気特性が安定して得られる。
以下本発明を、コンデンサの製造に用いた場合の実施例
について具体的に説明する。
について具体的に説明する。
まず本発明の半導体磁器物質の製造方法について説明す
る。半導体磁器の主成分となるチタン酸ストロンチウム
(SrTiO+)に酸化ニオブ(NbzOs)及び酸化
銅(Cub)を夫々0.05〜2モル%の範囲で添加し
、十分に混合した後、直径10mm、厚さ0.71ηm
の円板状に成形する。この後、水素1〜15体積%、窒
素99〜85体積%からなる雰囲気中で、1440°C
〜1540°Cの範囲で4〜6時間焼成して半導体磁器
を製造する。
る。半導体磁器の主成分となるチタン酸ストロンチウム
(SrTiO+)に酸化ニオブ(NbzOs)及び酸化
銅(Cub)を夫々0.05〜2モル%の範囲で添加し
、十分に混合した後、直径10mm、厚さ0.71ηm
の円板状に成形する。この後、水素1〜15体積%、窒
素99〜85体積%からなる雰囲気中で、1440°C
〜1540°Cの範囲で4〜6時間焼成して半導体磁器
を製造する。
次にこうして得られた半導体もd器の片面に、酸化チタ
ン(TiO2)が1〜30モル%含まれており、旧11
blcul B 、Na又はKの化合物のうちの1種又
は2種以上の混合物が70〜99モル%含まれている拡
散物質を塗布し、1000°C〜1300°Cで1〜2
時間加熱して、拡散物質を熱拡散させ、誘電体層を形成
させる。最後に、このようにして得られた半導体磁器物
質の両面に銀ペーストを印刷し、800°C程度で焼付
けて銀電極とし、コンデンサを得る。
ン(TiO2)が1〜30モル%含まれており、旧11
blcul B 、Na又はKの化合物のうちの1種又
は2種以上の混合物が70〜99モル%含まれている拡
散物質を塗布し、1000°C〜1300°Cで1〜2
時間加熱して、拡散物質を熱拡散させ、誘電体層を形成
させる。最後に、このようにして得られた半導体磁器物
質の両面に銀ペーストを印刷し、800°C程度で焼付
けて銀電極とし、コンデンサを得る。
第1表及び第2表は、種々の組成比の拡散物質を半導体
磁器に塗布し、上述の如く熱拡散させて得た半導体磁器
物質について、その電気的特性を調べた結果を示したも
のである。特に、第1表はBi、Cu、Na、Tiの組
成比を変化させた拡散物質を10ロフトの半導体磁器に
塗布した場合に得られた夫々の電気特性の値を示してお
り、また第2表は旧。
磁器に塗布し、上述の如く熱拡散させて得た半導体磁器
物質について、その電気的特性を調べた結果を示したも
のである。特に、第1表はBi、Cu、Na、Tiの組
成比を変化させた拡散物質を10ロフトの半導体磁器に
塗布した場合に得られた夫々の電気特性の値を示してお
り、また第2表は旧。
P b 、Cu + B + N a + K 、T
iのうちの2種以上を含む拡散物質を半導体磁器に塗布
した場合に得られた電気特性の平均値を示している。な
お、第1表及び第2表の最左欄に※印を付したものは前
記拡散物質の組成比が本発明の条件から逸脱したものを
示している。また、第1表の電気特性の欄において、上
段の数値は比誘電率(εA)、中段の数値は誘電正接(
tanδ3%)、下段の数値は絶縁抵抗率(ρ。
iのうちの2種以上を含む拡散物質を半導体磁器に塗布
した場合に得られた電気特性の平均値を示している。な
お、第1表及び第2表の最左欄に※印を付したものは前
記拡散物質の組成比が本発明の条件から逸脱したものを
示している。また、第1表の電気特性の欄において、上
段の数値は比誘電率(εA)、中段の数値は誘電正接(
tanδ3%)、下段の数値は絶縁抵抗率(ρ。
Ωcm)を示している。前記比誘電率及び誘電正接は、
周波数(1kHz、電圧IV)の交流にて測定した値で
あり、絶縁抵抗率(ρ、Ωan )はDC25V1分値
により求めた値である。
周波数(1kHz、電圧IV)の交流にて測定した値で
あり、絶縁抵抗率(ρ、Ωan )はDC25V1分値
により求めた値である。
(以下余白)
第
2
表
試料番号13は欠番
(以下余白)
第1表で示されているように、酸化ビスマス(Biz0
3)、酸化銅(Cub)及び炭酸ナトリウム(Na2C
O3)の混合物100モル%からなる拡散物質を用いた
場合、即ち、酸化チタンを全く含まない拡散物質を用い
た場合、ロット3及び10を除く半導体磁器物質では比
誘電率が150000程度、誘電正接0.4%程度、絶
縁抵抗率が4X10”Ωcm程度とすべての電気特性に
ついて良好な結果が得られているのに対し、ロット3及
び10では、絶縁抵抗率が109Ωcm台と、他のロフ
トと比べて1桁程度低下している。
3)、酸化銅(Cub)及び炭酸ナトリウム(Na2C
O3)の混合物100モル%からなる拡散物質を用いた
場合、即ち、酸化チタンを全く含まない拡散物質を用い
た場合、ロット3及び10を除く半導体磁器物質では比
誘電率が150000程度、誘電正接0.4%程度、絶
縁抵抗率が4X10”Ωcm程度とすべての電気特性に
ついて良好な結果が得られているのに対し、ロット3及
び10では、絶縁抵抗率が109Ωcm台と、他のロフ
トと比べて1桁程度低下している。
一方、酸化チタン(TiO2)を1モル%以上含む拡散
物質を用いた場合は、ロット3及び10においても絶縁
抵抗率−が10−0Ωcm以上であり、すべての電気特
性について良好な結果が得られている。
物質を用いた場合は、ロット3及び10においても絶縁
抵抗率−が10−0Ωcm以上であり、すべての電気特
性について良好な結果が得られている。
これは、酸化ビスマス(Biz(h)+酸化銅(Cub
)及び炭酸ナトリウム(Na2CO3)内の配合比を変
えても同様に言うことができ、酸化チタン(TiO2)
を1モル以上添加することで絶縁抵抗率の安定化が図れ
ることがわかる。
)及び炭酸ナトリウム(Na2CO3)内の配合比を変
えても同様に言うことができ、酸化チタン(TiO2)
を1モル以上添加することで絶縁抵抗率の安定化が図れ
ることがわかる。
また、第2表でも示されているように酸化チタン(Ti
(h)を1〜30モル%含む拡散物質を用いた場合は、
拡散物質の他の成分に拘わらず、酸化チタン(Ti(h
)を含まない場合と比べてほぼ同等の比誘電率を維持し
たまま絶縁抵抗率が1桁以上向上している。このことか
らも、酸化チタン(TiO2)を1モル以上添加するこ
とで絶縁抵抗率の安定化が図れ、例えば粒界絶縁型半導
体磁器コンデンサに応用した場合、小型大容量を図る上
で非常に有効であることがわかる。
(h)を1〜30モル%含む拡散物質を用いた場合は、
拡散物質の他の成分に拘わらず、酸化チタン(Ti(h
)を含まない場合と比べてほぼ同等の比誘電率を維持し
たまま絶縁抵抗率が1桁以上向上している。このことか
らも、酸化チタン(TiO2)を1モル以上添加するこ
とで絶縁抵抗率の安定化が図れ、例えば粒界絶縁型半導
体磁器コンデンサに応用した場合、小型大容量を図る上
で非常に有効であることがわかる。
また、第1表及び第2表では、拡散物質中の酸化チタン
(Ti12)が30モル%を超えた場合は、比誘電率の
低下が大きく、また静電正接も1%を超えることが示さ
れている。
(Ti12)が30モル%を超えた場合は、比誘電率の
低下が大きく、また静電正接も1%を超えることが示さ
れている。
従って、第1表及び第2表から酸化チタン(TiO7)
1〜30モル%とBi、 Pb、 Cu、 B 、 N
a又はKの化合物のうちの1種又は2種以上の混合物7
0〜99モル%とが含まれている拡散物質を用いれば、
組成変動により電気特性が異なっても、すべての電気特
性が良好な半導体磁器物質を安定に得ることができるこ
とが明らかである。
1〜30モル%とBi、 Pb、 Cu、 B 、 N
a又はKの化合物のうちの1種又は2種以上の混合物7
0〜99モル%とが含まれている拡散物質を用いれば、
組成変動により電気特性が異なっても、すべての電気特
性が良好な半導体磁器物質を安定に得ることができるこ
とが明らかである。
なお、上述の実施例では、前記半導体磁器物質の両面に
銀ペーストを印刷してこれを焼付け、銀電極としたが、
その他の公知の電極材料を用いてもよいのはいうまでも
ない。また、半導体磁器製造時の焼成雰囲気は、上述の
実施例の如く水素l〜15体積%、窒素99〜85体積
%からなる雰囲気に限定されるものではなく、試料が十
分に半導体化され得る雰囲気であれば他の雰囲気であっ
ても差し支えないのはいうまでもない。
銀ペーストを印刷してこれを焼付け、銀電極としたが、
その他の公知の電極材料を用いてもよいのはいうまでも
ない。また、半導体磁器製造時の焼成雰囲気は、上述の
実施例の如く水素l〜15体積%、窒素99〜85体積
%からなる雰囲気に限定されるものではなく、試料が十
分に半導体化され得る雰囲気であれば他の雰囲気であっ
ても差し支えないのはいうまでもない。
〔発明の効果]
以上詳述した如く、本発明の半導体磁器物質にあっては
、酸化チタン(TiO2)1〜30モル%と、Bi。
、酸化チタン(TiO2)1〜30モル%と、Bi。
Pb、Cu+ B 、Na又はKの化合物のうちの1種
又は2種以上の混合物70〜99モル%とが含まれる拡
散物質を用い、半導体磁器の結晶粒界に拡散させるので
、良好な比誘電率、誘電正接、絶縁抵抗率の電気特性が
安定して得られる。そして、得られた半導体磁器物質は
、粒界絶縁型半導体も磁器コンデンサ、容量性バリスタ
等の電子材料に用いることができる等本発明は優れた効
果を奏する。
又は2種以上の混合物70〜99モル%とが含まれる拡
散物質を用い、半導体磁器の結晶粒界に拡散させるので
、良好な比誘電率、誘電正接、絶縁抵抗率の電気特性が
安定して得られる。そして、得られた半導体磁器物質は
、粒界絶縁型半導体も磁器コンデンサ、容量性バリスタ
等の電子材料に用いることができる等本発明は優れた効
果を奏する。
Claims (1)
- 1.半導体磁器の結晶粒界に拡散物質を拡散させ、その
結晶粒界に誘電体層を形成せしめてなる半導体磁器物質
において、 前記拡散物質には、酸化チタン(TiO_2)1〜30
モル%と、Bi,Pb,Cu,B,Na又はKの化合物
のうちの1種又は2種以上の混合物70〜99モル%と
が含まれていることを特徴とする半導体磁器物質。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1-65199 | 1989-03-16 | ||
| JP6519989 | 1989-03-16 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH038759A true JPH038759A (ja) | 1991-01-16 |
Family
ID=13280008
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1196285A Pending JPH038759A (ja) | 1989-03-16 | 1989-07-27 | 半導体磁器物質 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH038759A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4824572B2 (ja) * | 2004-10-01 | 2011-11-30 | 独立行政法人理化学研究所 | エレメント、液体クロマトグラフおよび液体クロマトグラフィー |
| US8845892B2 (en) | 2004-08-19 | 2014-09-30 | Waters Technologies Corporation | Device, method and apparatus for performing separations |
| US10662237B2 (en) | 2009-08-06 | 2020-05-26 | Genentech, Inc. | Method to improve virus filtration capacity |
-
1989
- 1989-07-27 JP JP1196285A patent/JPH038759A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8845892B2 (en) | 2004-08-19 | 2014-09-30 | Waters Technologies Corporation | Device, method and apparatus for performing separations |
| JP4824572B2 (ja) * | 2004-10-01 | 2011-11-30 | 独立行政法人理化学研究所 | エレメント、液体クロマトグラフおよび液体クロマトグラフィー |
| US10662237B2 (en) | 2009-08-06 | 2020-05-26 | Genentech, Inc. | Method to improve virus filtration capacity |
| US11225513B2 (en) | 2009-08-06 | 2022-01-18 | Genentech, Inc. | Method to improve virus filtration capacity |
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