JPH0390985A - Ｉｃカードのテスト装置 - Google Patents
Ｉｃカードのテスト装置Info
- Publication number
- JPH0390985A JPH0390985A JP1226528A JP22652889A JPH0390985A JP H0390985 A JPH0390985 A JP H0390985A JP 1226528 A JP1226528 A JP 1226528A JP 22652889 A JP22652889 A JP 22652889A JP H0390985 A JPH0390985 A JP H0390985A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- cards
- card
- boards
- board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はＩＣカードのテスト装置、特に多数多種類のＩ
Ｃカードを所定の温度条件下で同時にテストすることの
できるＩＣカードのテスト装置に関する。
Ｃカードを所定の温度条件下で同時にテストすることの
できるＩＣカードのテスト装置に関する。
磁気カードに代わる新しい媒体として１． Ｃカドが注
目されつつあるが、このＩＣカードは磁気カードに比べ
て非常に複雑な機能を有するため、製品出荷時には厳密
なテストか要求される。ＩＣカードに対するテストは、
通常、外部から所定のデータをＩＣカードに与え、これ
に応答してＩＣカード側から出力される応答データが期
待どおりのものであるか否かを判定することによって行
われる。このようなＩＣカードのテストを行うための装
置としては、パソコンにテスト用モジュールを接続した
ものが一般的に用いられている。
目されつつあるが、このＩＣカードは磁気カードに比べ
て非常に複雑な機能を有するため、製品出荷時には厳密
なテストか要求される。ＩＣカードに対するテストは、
通常、外部から所定のデータをＩＣカードに与え、これ
に応答してＩＣカード側から出力される応答データが期
待どおりのものであるか否かを判定することによって行
われる。このようなＩＣカードのテストを行うための装
置としては、パソコンにテスト用モジュールを接続した
ものが一般的に用いられている。
ＩＣカードを現在の磁気カード並みに普及させるには、
量産化を図る必要がある。しかしながら、前述したパソ
コンを用いたテスト装置では、ＩＣカードを１枚ずつテ
ストすることしかできず、量産工程にとうてい対応でき
るものではない。また、所定の温度条件下におけるテス
トを行うことも困難である。
量産化を図る必要がある。しかしながら、前述したパソ
コンを用いたテスト装置では、ＩＣカードを１枚ずつテ
ストすることしかできず、量産工程にとうてい対応でき
るものではない。また、所定の温度条件下におけるテス
トを行うことも困難である。
そこで本発明は、多数多種類のＩＣカードを所定の温度
条件下で一度にテストでき、量産化に対応できるＩＣカ
ードのテスト装置を提供することを目的とする。
条件下で一度にテストでき、量産化に対応できるＩＣカ
ードのテスト装置を提供することを目的とする。
本発明はＩＣカードのテスト装置において、テスト対象
となるＩＣカードを保持することができ、テストに必要
な電気信号をＩＣカードに対して入出力させるための配
線を備えたテストボードと、 このテストボードをドライブするためのドライバボード
と、 このドライバボードを介してＩＣカードにテストデータ
を与えるとともに、このテストデータに応じてＩＣカー
ドが出力する応答データをドライバボードを介して受取
り、この応答データを期待データと比較することにより
ＩＣカードの良否を判定するテストユニットと、 によって１つのテストグループを構成し、このようなテ
ストグループを複数用意し、 各テストグループに所属するテストボードを同一のチャ
ンバー内にまとめて収容し、 チャンバー内の温度を一定に制御するとともに、各テス
トグループに所属するテストユニットを統括制御する機
能を有するシステムコントローラを設け、各テストグル
ープごとに独立したテストが行えるようにしたものであ
る。
となるＩＣカードを保持することができ、テストに必要
な電気信号をＩＣカードに対して入出力させるための配
線を備えたテストボードと、 このテストボードをドライブするためのドライバボード
と、 このドライバボードを介してＩＣカードにテストデータ
を与えるとともに、このテストデータに応じてＩＣカー
ドが出力する応答データをドライバボードを介して受取
り、この応答データを期待データと比較することにより
ＩＣカードの良否を判定するテストユニットと、 によって１つのテストグループを構成し、このようなテ
ストグループを複数用意し、 各テストグループに所属するテストボードを同一のチャ
ンバー内にまとめて収容し、 チャンバー内の温度を一定に制御するとともに、各テス
トグループに所属するテストユニットを統括制御する機
能を有するシステムコントローラを設け、各テストグル
ープごとに独立したテストが行えるようにしたものであ
る。
本発明のテスト装置によれば、各テストユニットがそれ
ぞれ独立してテストを行う機能を有するため、各グルー
プごとに電気的には独立したテストを行うことができる
。ただ、チャンバーはグループごとに分けることはせず
、全グループのＩＣカードは同一のチャンバー内に置か
れ、同一の温度条件下でテストが行われる。このような
ＷＩ或はＩＣカードのテスト装置としては非常に合理的
な構成である。一般にＩＣカードの機能は、発行元の要
求にしたがって種々雑多であり、このように多数種類の
ＩＣカードを同時にテストするためには、電気的に独立
した複数のテストグループを備えた装置が便利である。
ぞれ独立してテストを行う機能を有するため、各グルー
プごとに電気的には独立したテストを行うことができる
。ただ、チャンバーはグループごとに分けることはせず
、全グループのＩＣカードは同一のチャンバー内に置か
れ、同一の温度条件下でテストが行われる。このような
ＷＩ或はＩＣカードのテスト装置としては非常に合理的
な構成である。一般にＩＣカードの機能は、発行元の要
求にしたがって種々雑多であり、このように多数種類の
ＩＣカードを同時にテストするためには、電気的に独立
した複数のテストグループを備えた装置が便利である。
各テストグループごとに別個のテストを行えるため、多
数種類のＩＣカドの同時テストが可能になる。ところが
、温度条件に関しては、種類の異なるＩＣカード間でも
共通している。一般に、加熱条件では５０℃、冷却条件
では０℃という温度条件が設定される。したがって、塩
度条件に関しては、全テストグループのＩＣカードを同
一のチャンバー内に収容しても問題は生じない。このよ
うに、本発明の装置によれば、極めて合理的な構成によ
って、多種類のＩＣカードを所定の温度条件下で一度に
テストできるＩＣカードのテスト装置が実現できる。
数種類のＩＣカドの同時テストが可能になる。ところが
、温度条件に関しては、種類の異なるＩＣカード間でも
共通している。一般に、加熱条件では５０℃、冷却条件
では０℃という温度条件が設定される。したがって、塩
度条件に関しては、全テストグループのＩＣカードを同
一のチャンバー内に収容しても問題は生じない。このよ
うに、本発明の装置によれば、極めて合理的な構成によ
って、多種類のＩＣカードを所定の温度条件下で一度に
テストできるＩＣカードのテスト装置が実現できる。
以下本発明を図示する実施例に基づいて説明する。図は
本発明の一実施例に係るＩＣカードのテスト装置の構成
を示すブロック図である。システムコントローラ１０は
、この装置全体を統括制御する機能をもち、チャンバー
５０内の温度制御を行うとともに、４つのテストユニッ
ト２１〜２４に対する統括制御を行う。テストユニット
２１〜２４は、それぞれ第１グループ〜第４グループの
テストをそれぞれ独立して実行する。各テストユニット
２１〜２４には、それぞれドライバボード３１〜３４を
介してテストボード４１〜４４が接続されている。テス
ト対象となるＩＣカードは、テストボード４１〜４４上
に装着される。このテストボード上には、テストに必要
な電気信号を各ＩＣカードに入出力させるための配線が
なされている。テストボード４１〜４４はチャンバー５
０内に収容されるため、ＩＣカードは所定の温度条件下
におかれる。
本発明の一実施例に係るＩＣカードのテスト装置の構成
を示すブロック図である。システムコントローラ１０は
、この装置全体を統括制御する機能をもち、チャンバー
５０内の温度制御を行うとともに、４つのテストユニッ
ト２１〜２４に対する統括制御を行う。テストユニット
２１〜２４は、それぞれ第１グループ〜第４グループの
テストをそれぞれ独立して実行する。各テストユニット
２１〜２４には、それぞれドライバボード３１〜３４を
介してテストボード４１〜４４が接続されている。テス
ト対象となるＩＣカードは、テストボード４１〜４４上
に装着される。このテストボード上には、テストに必要
な電気信号を各ＩＣカードに入出力させるための配線が
なされている。テストボード４１〜４４はチャンバー５
０内に収容されるため、ＩＣカードは所定の温度条件下
におかれる。
この装置では、１枚のテストボードは、テスト対象とな
る複数枚のＩＣカードを保持することができる。しかも
、テストボード４１〜４４は、それぞれ別個のテストユ
ニット２１〜２４によってコントロールされるので、各
テストボードごとにそれぞれ別個のテストが可能である
。ただ、すべてのテストボードは同一のチャンバー内に
収容されるため、すべて同一の温度条件下におかれる。
る複数枚のＩＣカードを保持することができる。しかも
、テストボード４１〜４４は、それぞれ別個のテストユ
ニット２１〜２４によってコントロールされるので、各
テストボードごとにそれぞれ別個のテストが可能である
。ただ、すべてのテストボードは同一のチャンバー内に
収容されるため、すべて同一の温度条件下におかれる。
いま、Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄという４種類のＩＣカードについ
てのテストを行う場合を例にとって、この装置の動作を
説明する。はじめに、ＩＣカードＡをテストボード４１
にセットする。前述のように、１枚のテストボード上に
は複数枚のｒｃ％−ドをセットすることができる。同様
に、ＩＣカードＢ、Ｃ，Ｄを、それぞれテストボード４
２，４３．４４にセットする。こうしてＩＣカードをセ
ットしたテストボード４１〜４４をチャンバー５０内に
収容ずれば、テスト準備完了である。オペレータは、シ
ステムコントローラ１０に対してテスト開始の指示を与
える。システムコントローラ］Ｏは、チャンバー５０内
の温度が所定の温度（加熱条件下では５０℃、冷却条件
下では０℃）になるように温度制御するとともに、テス
トユニット２工〜２４に対してテスト開始の指令を出す
。
てのテストを行う場合を例にとって、この装置の動作を
説明する。はじめに、ＩＣカードＡをテストボード４１
にセットする。前述のように、１枚のテストボード上に
は複数枚のｒｃ％−ドをセットすることができる。同様
に、ＩＣカードＢ、Ｃ，Ｄを、それぞれテストボード４
２，４３．４４にセットする。こうしてＩＣカードをセ
ットしたテストボード４１〜４４をチャンバー５０内に
収容ずれば、テスト準備完了である。オペレータは、シ
ステムコントローラ１０に対してテスト開始の指示を与
える。システムコントローラ］Ｏは、チャンバー５０内
の温度が所定の温度（加熱条件下では５０℃、冷却条件
下では０℃）になるように温度制御するとともに、テス
トユニット２工〜２４に対してテスト開始の指令を出す
。
テストユニット２１〜２４には、予めテストパターンが
設定されている。テストユニット２１には、ＩＣカード
Ａのテストに適したテストパターンが設定されており、
同様にテストユニ・ソト２２〜２４には、ＩＣカードＢ
、Ｃ，Ｄのテストに適したテストパターンが設定されて
いる。各テストユニット２１〜２４は、それぞれテスト
パターンをドライバボード３１〜３４に与える。ドライ
バボード３１〜３４は、このテストパターンに基づいて
、それぞれＩＣカードＡ−Ｄのテストに適した電圧値を
もった電気信号を発生し、これをテストボード４１〜４
４にセットされたＩＣカードＡ−Ｄの入力端子に与える
。各ＩＣカードＡ−Ｄは、人力したテストパターンに基
づいて所定の演算を行い、これに応した応答データを出
力端子に出力する。
設定されている。テストユニット２１には、ＩＣカード
Ａのテストに適したテストパターンが設定されており、
同様にテストユニ・ソト２２〜２４には、ＩＣカードＢ
、Ｃ，Ｄのテストに適したテストパターンが設定されて
いる。各テストユニット２１〜２４は、それぞれテスト
パターンをドライバボード３１〜３４に与える。ドライ
バボード３１〜３４は、このテストパターンに基づいて
、それぞれＩＣカードＡ−Ｄのテストに適した電圧値を
もった電気信号を発生し、これをテストボード４１〜４
４にセットされたＩＣカードＡ−Ｄの入力端子に与える
。各ＩＣカードＡ−Ｄは、人力したテストパターンに基
づいて所定の演算を行い、これに応した応答データを出
力端子に出力する。
この応答データは、ドライバボード３１〜３４を介して
テストユニット２１〜２４へと伝えられる。
テストユニット２１〜２４へと伝えられる。
テストユニット２１〜２４は、それぞれコンパレータ回
路を有し、応答データを期待データと比較してＩＣカー
ドの良否ｔ、１１定を行う。応答データが期待データに
一致すれば良、不一致であれば不良である。ＩＣカード
Ａ−Ｄから出力されるべき期待データは、それぞれ異な
るので、テストユニット２１〜２４のもつ期待データも
それぞれ異なる。
路を有し、応答データを期待データと比較してＩＣカー
ドの良否ｔ、１１定を行う。応答データが期待データに
一致すれば良、不一致であれば不良である。ＩＣカード
Ａ−Ｄから出力されるべき期待データは、それぞれ異な
るので、テストユニット２１〜２４のもつ期待データも
それぞれ異なる。
このように、各テストユニットごとに、テストは全く独
立して行われる。最終的なテスト結果は、各テストユニ
ット２１〜２４からシステムコントローラ１０へと報告
され、オペレータはこのシステムコントローラ１０から
テストの最終結果を得ることができる。
立して行われる。最終的なテスト結果は、各テストユニ
ット２１〜２４からシステムコントローラ１０へと報告
され、オペレータはこのシステムコントローラ１０から
テストの最終結果を得ることができる。
以上本発明を図示する一実施例に基づいて説明したが、
本発明の要点は、複数のテストグループごとに独立して
ＩＣカードのテストを行えるように構成しつつ、温度条
件に関しては、全グループ共通した温度環境におくよう
に構成した点にある。
本発明の要点は、複数のテストグループごとに独立して
ＩＣカードのテストを行えるように構成しつつ、温度条
件に関しては、全グループ共通した温度環境におくよう
に構成した点にある。
したがって、この技術思想を実現しうる形態であれば、
どのような態様で本発明を実現してもかまわない。たと
えば、上述の実施例では、１つのテストユニットに、１
−枚のドライバボードおよび１枚のテストボードを接続
しているが、１一つのテストユニットに、複数のドライ
バボードおよび複数のテストボードを接続してもかまわ
ない。
どのような態様で本発明を実現してもかまわない。たと
えば、上述の実施例では、１つのテストユニットに、１
−枚のドライバボードおよび１枚のテストボードを接続
しているが、１一つのテストユニットに、複数のドライ
バボードおよび複数のテストボードを接続してもかまわ
ない。
以上のとおり本発明のＩＣカードのテスト装置によれば
、複数のテストグループごとに独立してＩＣカードのテ
ストを行えるように構成しつつ、温度条件に関しては、
全グループ共通した温度環境におくように構成したため
、多数多種類のＩＣカードを所定の温度条件下で一度に
テストでき、量産化に対応できるようになる。
、複数のテストグループごとに独立してＩＣカードのテ
ストを行えるように構成しつつ、温度条件に関しては、
全グループ共通した温度環境におくように構成したため
、多数多種類のＩＣカードを所定の温度条件下で一度に
テストでき、量産化に対応できるようになる。
４、
図は本発明の一実施例に係るＩＣカードのテスト装置の
基本構成を示すブ０ツク図である。
基本構成を示すブ０ツク図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 テスト対象となるＩＣカードを保持することができ、テ
ストに必要な電気信号をＩＣカードに対して入出力させ
るための配線を備えたテストボードと、 前記テストボードをドライブするためのドライバボード
と、 前記ドライバボードを介して前記ＩＣカードにテストデ
ータを与えるとともに、このテストデータに応じて前記
ＩＣカードが出力する応答データを前記ドライバボード
を介して受取り、この応答データを期待データと比較す
ることによりＩＣカードの良否を判定するテストユニッ
トと、 によって構成されるテストグループを複数用意各テスト
グループに所属するテストボードを同一のチャンバー内
にまとめて収容し、 前記チャンバー内の温度を一定に制御するとともに、各
テストグループに所属するテストユニットを統括制御す
る機能を有するシステムコントローラを設け、各テスト
グループごとに独立したテストを行いうるようにしたこ
とを特徴とするＩＣカードのテスト装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1226528A JPH0390985A (ja) | 1989-09-01 | 1989-09-01 | Ｉｃカードのテスト装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1226528A JPH0390985A (ja) | 1989-09-01 | 1989-09-01 | Ｉｃカードのテスト装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0390985A true JPH0390985A (ja) | 1991-04-16 |
Family
ID=16846547
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1226528A Pending JPH0390985A (ja) | 1989-09-01 | 1989-09-01 | Ｉｃカードのテスト装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0390985A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5158353A (en) * | 1990-06-18 | 1992-10-27 | Nifco Inc. | Card case for automobile |
| CN109459678A (zh) * | 2018-10-10 | 2019-03-12 | 北京艾博唯科技有限公司 | 一种板卡测试系统、板卡测试机 |
| CN109959860A (zh) * | 2017-12-26 | 2019-07-02 | 新智数字科技有限公司 | 一种ic卡检测的方法、装置 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59127158A (ja) * | 1983-01-12 | 1984-07-21 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Ｍｐｕ素子の選別試験装置 |
| JPS63250575A (ja) * | 1987-04-07 | 1988-10-18 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | プリント基板の試験装置 |
| JPH01140241A (ja) * | 1987-11-26 | 1989-06-01 | Nec Corp | 集積回路の試験装置 |
| JPH01156853A (ja) * | 1987-12-14 | 1989-06-20 | Pfu Ltd | メモリカード試験装置 |
| JPH01207889A (ja) * | 1988-02-16 | 1989-08-21 | Advantest Corp | Ｉｃカード試験装置 |
-
1989
- 1989-09-01 JP JP1226528A patent/JPH0390985A/ja active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59127158A (ja) * | 1983-01-12 | 1984-07-21 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Ｍｐｕ素子の選別試験装置 |
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| JPH01140241A (ja) * | 1987-11-26 | 1989-06-01 | Nec Corp | 集積回路の試験装置 |
| JPH01156853A (ja) * | 1987-12-14 | 1989-06-20 | Pfu Ltd | メモリカード試験装置 |
| JPH01207889A (ja) * | 1988-02-16 | 1989-08-21 | Advantest Corp | Ｉｃカード試験装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5158353A (en) * | 1990-06-18 | 1992-10-27 | Nifco Inc. | Card case for automobile |
| CN109959860A (zh) * | 2017-12-26 | 2019-07-02 | 新智数字科技有限公司 | 一种ic卡检测的方法、装置 |
| CN109459678A (zh) * | 2018-10-10 | 2019-03-12 | 北京艾博唯科技有限公司 | 一种板卡测试系统、板卡测试机 |
| CN109459678B (zh) * | 2018-10-10 | 2024-04-12 | 朝阳晋慧智能科技有限公司 | 一种板卡测试系统、板卡测试机 |
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