JPH039162B2 - - Google Patents
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- JPH039162B2 JPH039162B2 JP4215387A JP4215387A JPH039162B2 JP H039162 B2 JPH039162 B2 JP H039162B2 JP 4215387 A JP4215387 A JP 4215387A JP 4215387 A JP4215387 A JP 4215387A JP H039162 B2 JPH039162 B2 JP H039162B2
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Landscapes
- Manufacture Of Iron (AREA)
- Blast Furnaces (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、高炉の安定な操業を行なうための
高炉炉熱低下予測方法に関する。
高炉炉熱低下予測方法に関する。
(従来の技術とその問題点)
高炉の安定操業の維持のためには、溶銑温度を
一定にすることが必要であることが従来より知ら
れている。このため、高炉操業者は常に高炉炉熱
変化を予測する必要性があつた。
一定にすることが必要であることが従来より知ら
れている。このため、高炉操業者は常に高炉炉熱
変化を予測する必要性があつた。
高炉炉熱変化において、特に温度低下によつて
溶銑が凝固し、高炉から流出しなくなる可能性が
あるため、温度低下の予測は極めて重要なものと
なる。
溶銑が凝固し、高炉から流出しなくなる可能性が
あるため、温度低下の予測は極めて重要なものと
なる。
高炉炉熱の予測方法としては、特開昭60−
39107に開示されたものがある。この方法は炉腹
部周辺装入物温度が溶銑温度と強い相関関係を持
つという見地から、予め第14図に示す様に高炉
1に設置したセンサ(炉腹ゾンデ)2により検出
される炉腹部周辺部温度と溶銑温度との関係を第
15図に示す如く直線回帰する。この直線式に基
づき、炉腹部周辺部温度から溶銑温度Tpigを予測
するのである。
39107に開示されたものがある。この方法は炉腹
部周辺装入物温度が溶銑温度と強い相関関係を持
つという見地から、予め第14図に示す様に高炉
1に設置したセンサ(炉腹ゾンデ)2により検出
される炉腹部周辺部温度と溶銑温度との関係を第
15図に示す如く直線回帰する。この直線式に基
づき、炉腹部周辺部温度から溶銑温度Tpigを予測
するのである。
しかしながら、この方法では炉内の内壁近傍の
温度を測定するために炉腹ゾンデ2を挿入する必
要があり、このため温度測定を間欠時点でしか行
なえず、溶銑温度予測精度も当然悪化してしまう
という問題点があつた。
温度を測定するために炉腹ゾンデ2を挿入する必
要があり、このため温度測定を間欠時点でしか行
なえず、溶銑温度予測精度も当然悪化してしまう
という問題点があつた。
また、溶銑温度が同じ値でも、生産計画や原料
装入条件等の変化により、炉内温度が変化する場
合がある。したがつて第15図で示した炉壁温度
の絶対値に基づく直線式では、必ずしも正確な予
測ができないという問題点があつた。
装入条件等の変化により、炉内温度が変化する場
合がある。したがつて第15図で示した炉壁温度
の絶対値に基づく直線式では、必ずしも正確な予
測ができないという問題点があつた。
一方、従来より、高炉の還元状態の良否を示す
ソリユーシヨンロスカーボン量(以下「ソルロス
C量」と言う)の増減により、高炉炉熱温度の予
測が別の予測方法として行なわれている。ソルロ
スC量の増加は、以下に示すいわゆるソルロス反
応が促進することを示している。
ソリユーシヨンロスカーボン量(以下「ソルロス
C量」と言う)の増減により、高炉炉熱温度の予
測が別の予測方法として行なわれている。ソルロ
スC量の増加は、以下に示すいわゆるソルロス反
応が促進することを示している。
C+CO2→2CO
この反応は、吸熱反応であるため高炉炉熱が低
下することが予測できる。
下することが予測できる。
ソルロスC量は、通常炉頂ガスの組成を分析す
るガスクロマトグラフイーの分析周期(3分程
度)毎に、灯頂ガス中のCO、CO2、N2等の割合
や送風条件や原料装入条件をもとに計算され、従
来は1時間毎のソルロスC量の平均値により炉熱
低下を管理していた。
るガスクロマトグラフイーの分析周期(3分程
度)毎に、灯頂ガス中のCO、CO2、N2等の割合
や送風条件や原料装入条件をもとに計算され、従
来は1時間毎のソルロスC量の平均値により炉熱
低下を管理していた。
第16図a,bにおいて、同図aは、3分毎の
ソルロスC量l1、1時間毎のソルロスC量平均
値l2の経時変化を示し、同図bは溶銑温度の経
時変化を示すグラフである。同図において、時刻
17時に閾値ε1を越えているが昇熱アクシヨンをと
らず、その後のように溶銑温度は大幅低下して
いる。第17図は、閾値ε2を越えた時刻13時に昇
熱アクシヨンAを起した時の各々の経時変化を示
している。なお第16図と同様、図中l1が3分
毎の瞬時値、l2が1時間平均のソルロスC量を
示している。第16図、第17図を比較すること
により、昇熱アクシヨンAにより第16図bの
のような溶銑温度低下が、第17図で示すように
ある程度回避できているのがわかる。
ソルロスC量l1、1時間毎のソルロスC量平均
値l2の経時変化を示し、同図bは溶銑温度の経
時変化を示すグラフである。同図において、時刻
17時に閾値ε1を越えているが昇熱アクシヨンをと
らず、その後のように溶銑温度は大幅低下して
いる。第17図は、閾値ε2を越えた時刻13時に昇
熱アクシヨンAを起した時の各々の経時変化を示
している。なお第16図と同様、図中l1が3分
毎の瞬時値、l2が1時間平均のソルロスC量を
示している。第16図、第17図を比較すること
により、昇熱アクシヨンAにより第16図bの
のような溶銑温度低下が、第17図で示すように
ある程度回避できているのがわかる。
しかしながら、1時間毎のソルロスC量の平均
値の予測では、急激なソルロスC量の増加があつ
た時、最悪の場合、ほぼ1時間程度も炉熱低下の
予測に遅れが生じてしまう問題点があつた。例え
ば第17図の場合にしても、予測遅れのため昇熱
アクシヨンAをとるのは溶銑温度が管理温度Tc
をある程度下まわつてからになつてしまつてい
る。そこで、この問題点を回避するため、3分程
度の間隔で測定したソルロスC量の瞬時値で炉熱
低下予測した場合、第16図、第17図のl1で
示したように個々のバラツキが大きく、ノイズ成
分が大きいためデータの持続性がない。したがつ
てソルロスC量の瞬時値では炉熱低下予測が不可
能に近い。
値の予測では、急激なソルロスC量の増加があつ
た時、最悪の場合、ほぼ1時間程度も炉熱低下の
予測に遅れが生じてしまう問題点があつた。例え
ば第17図の場合にしても、予測遅れのため昇熱
アクシヨンAをとるのは溶銑温度が管理温度Tc
をある程度下まわつてからになつてしまつてい
る。そこで、この問題点を回避するため、3分程
度の間隔で測定したソルロスC量の瞬時値で炉熱
低下予測した場合、第16図、第17図のl1で
示したように個々のバラツキが大きく、ノイズ成
分が大きいためデータの持続性がない。したがつ
てソルロスC量の瞬時値では炉熱低下予測が不可
能に近い。
(発明の目的)
この発明の目的は、上記従来技術の問題点を解
消し、予測ができるたけ早く得られ、しかも溶銑
温度の低下を正確に予測することのできる高炉炉
熱低下予測方法を提供することである。
消し、予測ができるたけ早く得られ、しかも溶銑
温度の低下を正確に予測することのできる高炉炉
熱低下予測方法を提供することである。
(目的を達成するための手段)
上記目的を達成するため、この発明における高
炉炉熱低下予測方法は、高炉の所定箇所に内壁温
度計を設置し、該内壁温度計にて、所定時間間隔
ごとの内壁温度差を測定し、ある時刻における前
記内壁温度差の正の値を示す部分の合計値が閾値
を越えた時に所定期間評価点を与える第1の予測
手段と、ある時刻における前記内壁温度差の負の
値を示す部分の合計値が閾値を越えた時に所定期
間評価点を与える第2の予測手段と、ある時刻に
おける前記内壁温度差の正の値を示す部分の時間
幅の移動平均値の総和が閾値を越えた時に所定期
間評価点を与える第3の予測手段とのうちの少な
くとも1つ備え、かつ、ソリユーシヨンロスカー
ボン量を所定時間間隔ごとに求め、この求めた値
の所定時間幅における移動平均値が閾値を越えた
時に評価点を与える第4の予測手段と、炉頂ガス
成分中の窒素量を所定時間間隔ごとに求め、この
求めた値の所定時間幅における移動平均値が閾値
を下回つた時に評価点を与える第5の予測手段の
うちの少なくとも1つをさらに備え、前記第1〜
第3の予測手段のうちの少なくとも1つの評価点
と前記第4、第5の予測手段のうちの少なくとも
1つの評価点の総合評価に従い高炉炉熱低下予測
を行なうようにしている。
炉炉熱低下予測方法は、高炉の所定箇所に内壁温
度計を設置し、該内壁温度計にて、所定時間間隔
ごとの内壁温度差を測定し、ある時刻における前
記内壁温度差の正の値を示す部分の合計値が閾値
を越えた時に所定期間評価点を与える第1の予測
手段と、ある時刻における前記内壁温度差の負の
値を示す部分の合計値が閾値を越えた時に所定期
間評価点を与える第2の予測手段と、ある時刻に
おける前記内壁温度差の正の値を示す部分の時間
幅の移動平均値の総和が閾値を越えた時に所定期
間評価点を与える第3の予測手段とのうちの少な
くとも1つ備え、かつ、ソリユーシヨンロスカー
ボン量を所定時間間隔ごとに求め、この求めた値
の所定時間幅における移動平均値が閾値を越えた
時に評価点を与える第4の予測手段と、炉頂ガス
成分中の窒素量を所定時間間隔ごとに求め、この
求めた値の所定時間幅における移動平均値が閾値
を下回つた時に評価点を与える第5の予測手段の
うちの少なくとも1つをさらに備え、前記第1〜
第3の予測手段のうちの少なくとも1つの評価点
と前記第4、第5の予測手段のうちの少なくとも
1つの評価点の総合評価に従い高炉炉熱低下予測
を行なうようにしている。
(実施例)
A 第1の炉熱低下理由
高炉の炉熱低下の一因として、以下に示すも
のが考えられる。
のが考えられる。
高炉羽口から吹き上げる溶銑温度及び溶銑量
調整のための高温空気(ガス流)は通常、炉内
中央部に吹き込んでいる。ところが原料装入条
件、装入物分布等の理由により、急にガス流が
炉内周辺部に多く流れる場合がある。その結
果、 FeO+C→Fe+CO の吸熱反応が促進され、炉熱低下が起こる。
調整のための高温空気(ガス流)は通常、炉内
中央部に吹き込んでいる。ところが原料装入条
件、装入物分布等の理由により、急にガス流が
炉内周辺部に多く流れる場合がある。その結
果、 FeO+C→Fe+CO の吸熱反応が促進され、炉熱低下が起こる。
ところで、ガス流が多量に炉内周辺部に流れ
ると、Na、K、Pb等の炉内付着物及び停滞層
が剥離し、壁落ちすることにより、その部分の
炉壁温度が急激に上昇する。この急激な温度上
昇を検知すれば炉熱低下が予測できる。
ると、Na、K、Pb等の炉内付着物及び停滞層
が剥離し、壁落ちすることにより、その部分の
炉壁温度が急激に上昇する。この急激な温度上
昇を検知すれば炉熱低下が予測できる。
B 第2の炉熱低下理由
また、高炉の炉熱低下の一因として、以下に
示すものが考えられる。
示すものが考えられる。
高炉内の荷下がり速度がAと同様の理由で上
がると、いわゆる生鉱下りにより高炉内の融着
帯レベルが下がり、炉熱低下が起こる。
がると、いわゆる生鉱下りにより高炉内の融着
帯レベルが下がり、炉熱低下が起こる。
ところで、融着帯レベルが下がると、該当部
分における炉壁温度も急激に下降する。この急
激な温度下降を検知すれば炉熱低下が予測でき
る。
分における炉壁温度も急激に下降する。この急
激な温度下降を検知すれば炉熱低下が予測でき
る。
C 第3の炉熱低下理由
さらに、高炉の炉熱低下の一因として、以下
に示すものが考えられる。
に示すものが考えられる。
高炉羽口から吹き上げる溶銑温度及び溶銑量
調整のための高温空気(ガス流)は通常、炉内
中央部に吹き込んでいる。ところが、A、Bと
同様の理由により、ガス流の一部が炉内周辺部
に流れる場合がある。この状態が長時間続く
と、高炉の炉壁からのガス流の熱放散が正常操
業時より多くなり、その結果、炉熱低下が起こ
る。
調整のための高温空気(ガス流)は通常、炉内
中央部に吹き込んでいる。ところが、A、Bと
同様の理由により、ガス流の一部が炉内周辺部
に流れる場合がある。この状態が長時間続く
と、高炉の炉壁からのガス流の熱放散が正常操
業時より多くなり、その結果、炉熱低下が起こ
る。
ところで、ガス流の一部が定常的に炉内周辺
部に流れると、炉壁温度が徐々に上昇する。こ
のような比較的長時間のゆるやかな温度上昇を
検知すれば炉熱低下が予測できる。
部に流れると、炉壁温度が徐々に上昇する。こ
のような比較的長時間のゆるやかな温度上昇を
検知すれば炉熱低下が予測できる。
D 第1〜第3の予測手段
第1図a,bは、各々この発明の一実施例で
用いられる内壁温度計の配置を示す側面断面
図、平面断面図である。内壁温度計3は同図a
に示すように、高炉1の高さ方向に7個(背部
3個、腹部2個、朝顔部2個)、同図bに示す
ように高炉1の周方向に4個設置する。つま
り、4方向7レベルで計28個の内壁温度計3を
設置する訳である。
用いられる内壁温度計の配置を示す側面断面
図、平面断面図である。内壁温度計3は同図a
に示すように、高炉1の高さ方向に7個(背部
3個、腹部2個、朝顔部2個)、同図bに示す
ように高炉1の周方向に4個設置する。つま
り、4方向7レベルで計28個の内壁温度計3を
設置する訳である。
内壁温度計は例えば、本出願人による実開昭
57−81531、実公昭59−16816に開示されたもの
を用いてもよく、第2図は後者に開示された内
壁温度計(以下これを「FMセンサ」という。)
を示す概念図である。
57−81531、実公昭59−16816に開示されたもの
を用いてもよく、第2図は後者に開示された内
壁温度計(以下これを「FMセンサ」という。)
を示す概念図である。
同図において、4は2本の導線5が絶縁的に
平行して埋設され前方端側に感温部6を有する
シース型測温体であり、シース型測温体4は複
数本を、夫々の感温部6が長さ方向の異なる部
位に配置される様に平行配列されており、さら
にシース型ダミー棒7を感温部6の先端に接続
して、最先端を揃えている。シース型ダミー棒
7は2本の導線5が絶縁的に平行して埋設さ
れ、シース型測温体4と実質的に同一の熱伝導
性を有する。FMセンサ3はこのシース型測温
体4を絶縁材8で相互に非接触に保ち、シース
管9内に収納することにより形成される。
平行して埋設され前方端側に感温部6を有する
シース型測温体であり、シース型測温体4は複
数本を、夫々の感温部6が長さ方向の異なる部
位に配置される様に平行配列されており、さら
にシース型ダミー棒7を感温部6の先端に接続
して、最先端を揃えている。シース型ダミー棒
7は2本の導線5が絶縁的に平行して埋設さ
れ、シース型測温体4と実質的に同一の熱伝導
性を有する。FMセンサ3はこのシース型測温
体4を絶縁材8で相互に非接触に保ち、シース
管9内に収納することにより形成される。
第3図はFMセンサ3の設置説明図である。
同図において、10〜13は高炉の炉壁であ
り、10はレンガ、11はステーブ、12はス
タンプ、13は鉄皮である。FMセンサ3は同
図に示すように、パツキン14及び溶接部15
への溶接により、炉壁内部に設置されている。
なお、16は充填材であり、17はミクロ注入
口であり充填材16を注ぎ込む箇所である。
同図において、10〜13は高炉の炉壁であ
り、10はレンガ、11はステーブ、12はス
タンプ、13は鉄皮である。FMセンサ3は同
図に示すように、パツキン14及び溶接部15
への溶接により、炉壁内部に設置されている。
なお、16は充填材であり、17はミクロ注入
口であり充填材16を注ぎ込む箇所である。
なお、ここで説明したFMセンサ3はその設
置及び構造上、炉壁の侵食と共にFMセンサ3
自体も侵食され、シース型測温体4が炉壁近傍
の炉内に露出する場合もあり、実際には「炉壁
温度」と共に「炉壁近傍の炉内温度」を測定し
ていることになる。以下、両者を含めた概念を
「炉壁温度」として述べる。FMセンサ3は上
述のように従来のシース熱電対等の温度計に比
べ、多数の測定点を有し、迅速な測温応答を満
足し、長期の連続的な温度測定が可能であり、
信頼性の向上、耐久性の向上、施工性の向上等
が計られている。
置及び構造上、炉壁の侵食と共にFMセンサ3
自体も侵食され、シース型測温体4が炉壁近傍
の炉内に露出する場合もあり、実際には「炉壁
温度」と共に「炉壁近傍の炉内温度」を測定し
ていることになる。以下、両者を含めた概念を
「炉壁温度」として述べる。FMセンサ3は上
述のように従来のシース熱電対等の温度計に比
べ、多数の測定点を有し、迅速な測温応答を満
足し、長期の連続的な温度測定が可能であり、
信頼性の向上、耐久性の向上、施工性の向上等
が計られている。
各FMセンサ3は、第4図に示すように所定
サンプリング時間Δtごとに高炉1の内壁温度
を測定している。ここで、時刻jのi番目の
FMセンサ3の内壁温度をTj,iとし、時刻jの
1サンプリング時間Δt前の内壁温度をTj-1,iと
すると、Tj,iとTj-1,iとの内壁温度差(差分値)
ΔTj,iは、 ΔTj,i=Tj,i−Tj-1,i ……(1) となる。この状態を第5図に示す。
サンプリング時間Δtごとに高炉1の内壁温度
を測定している。ここで、時刻jのi番目の
FMセンサ3の内壁温度をTj,iとし、時刻jの
1サンプリング時間Δt前の内壁温度をTj-1,iと
すると、Tj,iとTj-1,iとの内壁温度差(差分値)
ΔTj,iは、 ΔTj,i=Tj,i−Tj-1,i ……(1) となる。この状態を第5図に示す。
この差分値ΔTj,iに、各FMセンサ3毎の高
さ、周方向等を考慮して重みwiを乗ずる。さら
に、差分値ΔTj,iが負のものに対しては、vi=
0、それ以外のものに対しては、vi=1を示す
正負パラメータviも乗じ、時刻jの補正差分値
(正の差分値)CTj,iを得る。
さ、周方向等を考慮して重みwiを乗ずる。さら
に、差分値ΔTj,iが負のものに対しては、vi=
0、それ以外のものに対しては、vi=1を示す
正負パラメータviも乗じ、時刻jの補正差分値
(正の差分値)CTj,iを得る。
CTj,i=wi・vi・ΔTj,i ……(2)
次に、補正差分値CTj,iの全FMセンサ3に対
する総和をとり、これをST1jとする。
する総和をとり、これをST1jとする。
ST1j=28
〓i=1
CTj,i ……(3)
そして次(4)式に従い、この差分値総和ST1jの
値が予め定められた閾値ε1より大きくなれば、急
激な温度上昇があつたとみなし所定期間評価点1
を与える。
値が予め定められた閾値ε1より大きくなれば、急
激な温度上昇があつたとみなし所定期間評価点1
を与える。
ST1j≧ε1 ……(4)
以上がAの理由に基づく第1の予測手段であ
る。
る。
Bの理由に基づく第2の予測手段は、以下に示
す通りである。
す通りである。
(2)式において、正負パラメータviは差分値ΔTj,i
が正のものに対しては、vi=0、それ以外のもの
に対しては、vi=1とし、次に、補正差分値CTj,i
の絶対値の全FMセンサ3に対する総和をとり、
これをST2jとする。
が正のものに対しては、vi=0、それ以外のもの
に対しては、vi=1とし、次に、補正差分値CTj,i
の絶対値の全FMセンサ3に対する総和をとり、
これをST2jとする。
ST2j=28
〓i=1
|CTj,i| ……(3)′
そして次(4)′式に従い、(3)′式に基づく差分値総
和ST2jの値が予め定められた閾値ε2より大きく
なれば、生鉱下りによる急激な温度下降があつた
とみなし、所定期間備価点1を与える。
和ST2jの値が予め定められた閾値ε2より大きく
なれば、生鉱下りによる急激な温度下降があつた
とみなし、所定期間備価点1を与える。
ST2j≧ε2 ……(4)′
Cの理由に基づく第3の予測手段は、以下に示
す通りである。
す通りである。
(2)式の正負パラメータviは第1の予測手段と同
様、差分値ΔTj,iが負のものに対しては、vi=0、
それ以外のものに対してはvi=1とする。また時
刻jのkサンプリング時間前(すなわちΔt×k
時間前)の補正差分値をCTj-k,iとし、この補正差
分値の所定の時間幅nΔtの移動平均の時間jにお
ける値の全FMセンサ3に対する総和をとり、こ
れをST3jとする。
様、差分値ΔTj,iが負のものに対しては、vi=0、
それ以外のものに対してはvi=1とする。また時
刻jのkサンプリング時間前(すなわちΔt×k
時間前)の補正差分値をCTj-k,iとし、この補正差
分値の所定の時間幅nΔtの移動平均の時間jにお
ける値の全FMセンサ3に対する総和をとり、こ
れをST3jとする。
ST3j
=28
〓i=1
{(1/(n+1))o
〓k=0
CTj-k,i} ……(3)″
そして次(4)″式に従い、この移動平均総和ST3j
の値が予め定められた閾値ε3より大きくなれば、
ゆるやかな温度上昇が長期間あつたとみなし、所
定期間評価点1を与える。
の値が予め定められた閾値ε3より大きくなれば、
ゆるやかな温度上昇が長期間あつたとみなし、所
定期間評価点1を与える。
ST3j≧ε3 ……(4)″
上記した第1〜第3の予測手段は、各々炉壁温
度差(差分値)により行なつているため、炉壁温
度の絶対値の上下によらず、正確な予測を行なう
ことができる。しかも、FMセンサ3はその施工
性の良さ及び測温応答性の良さから、高炉全周を
覆うように配置でき、連続的な内壁温度差が把握
できることで、さらに正確な予測を行なうことが
できる。
度差(差分値)により行なつているため、炉壁温
度の絶対値の上下によらず、正確な予測を行なう
ことができる。しかも、FMセンサ3はその施工
性の良さ及び測温応答性の良さから、高炉全周を
覆うように配置でき、連続的な内壁温度差が把握
できることで、さらに正確な予測を行なうことが
できる。
また、上記した第1〜第3の予測手段は、コン
ピユータにより実現が可能となる。第6図は第1
の予測手段の処理の流れを示すフローチヤートで
ある。同図において、ステツプS1で各FMセンサ
3の炉壁温度Tj,iをサンプリング時間Δt毎に測定
する。次に、ステツプS2において各FMセンサ3
の差分値を(1)式に基づき計算する。
ピユータにより実現が可能となる。第6図は第1
の予測手段の処理の流れを示すフローチヤートで
ある。同図において、ステツプS1で各FMセンサ
3の炉壁温度Tj,iをサンプリング時間Δt毎に測定
する。次に、ステツプS2において各FMセンサ3
の差分値を(1)式に基づき計算する。
そして、ステツプS3において、(2)、(3)式に基
づく正の差分値総和ST1jを求める。さらに、ス
テツプS4において、この正の差分値総和ST1jと
予め定められた閾値ε1との比較を行い、(4)式を満
足すればステツプS5においてガス流の急激な炉
内周辺流化による炉熱低下が起こるであろうとみ
なし、所定期間評価点1を与える。一方、(4)式を
満足しない場合は、異常なしとみなしステツプ
S1に戻り、以下ステツプS1〜ステツプS4を繰り
返すことで炉熱低下評価を行なう。
づく正の差分値総和ST1jを求める。さらに、ス
テツプS4において、この正の差分値総和ST1jと
予め定められた閾値ε1との比較を行い、(4)式を満
足すればステツプS5においてガス流の急激な炉
内周辺流化による炉熱低下が起こるであろうとみ
なし、所定期間評価点1を与える。一方、(4)式を
満足しない場合は、異常なしとみなしステツプ
S1に戻り、以下ステツプS1〜ステツプS4を繰り
返すことで炉熱低下評価を行なう。
第7図は第2の予測手段の処理の流れを示すフ
ローチヤートである。同図において、ステツプ
S11で各FMセンサの炉壁温度Tj,iをサンプリング
時間Δt毎に測定する。次に、ステツプS12におい
て各FMセンサ3の差分値を(1)式に基づき計算す
る。
ローチヤートである。同図において、ステツプ
S11で各FMセンサの炉壁温度Tj,iをサンプリング
時間Δt毎に測定する。次に、ステツプS12におい
て各FMセンサ3の差分値を(1)式に基づき計算す
る。
そして、ステツプS13において、(2)′、(3)′式に
基づく負の差分値の絶対値総和ST2jを求める。
さらに、ステツプS14において、この負の差分値
の絶対値総和ST2jと予め定められた閾値ε2との
比較を行い、(4)′式を満足すればステツプS15に
おいて荷下り速度が上つたことによる炉熱低下が
起こるであろうとみなし、所定期間評価点1を与
える。一方、(4)′式を満足しない場合は、異常な
しとみなしステツプS11に戻り、以下ステツプ
S11〜ステツプS14を繰り返すことで炉熱低下評
価を行なう。
基づく負の差分値の絶対値総和ST2jを求める。
さらに、ステツプS14において、この負の差分値
の絶対値総和ST2jと予め定められた閾値ε2との
比較を行い、(4)′式を満足すればステツプS15に
おいて荷下り速度が上つたことによる炉熱低下が
起こるであろうとみなし、所定期間評価点1を与
える。一方、(4)′式を満足しない場合は、異常な
しとみなしステツプS11に戻り、以下ステツプ
S11〜ステツプS14を繰り返すことで炉熱低下評
価を行なう。
第8図は第3の予測手段の処理の流れを示すフ
ローチヤートである。同図において、ステツプS
21で各FMセンサ3の炉壁温度Tj,iをサンプリ
ング時間Δt毎に測定する。次に、ステツプS22に
おいて各FMセンサ3の差分値を(1)式に基づき計
算する。
ローチヤートである。同図において、ステツプS
21で各FMセンサ3の炉壁温度Tj,iをサンプリ
ング時間Δt毎に測定する。次に、ステツプS22に
おいて各FMセンサ3の差分値を(1)式に基づき計
算する。
そして、ステツプS23において(2)″、(3)″式に基
づく正の差分値の時間幅nΔtにおける移動平均総
和ST3jを求める。さらに、ステツプS24におい
て、この正の差分値移動平均総和ST3jと予め定
められた閾値ε3との比較を行い、(4)″式を満足す
ればステツプS25において炉体熱放散による炉熱
低下が起こるであろうとみなし、所定期間評価点
1を与える。一方、(4)″式を満足しない場合は、
異常なしとみなしステツプS21に戻り、以下ステ
ツプS21〜ステツプS24を繰り返すことで炉熱低
下評価を行なう。
づく正の差分値の時間幅nΔtにおける移動平均総
和ST3jを求める。さらに、ステツプS24におい
て、この正の差分値移動平均総和ST3jと予め定
められた閾値ε3との比較を行い、(4)″式を満足す
ればステツプS25において炉体熱放散による炉熱
低下が起こるであろうとみなし、所定期間評価点
1を与える。一方、(4)″式を満足しない場合は、
異常なしとみなしステツプS21に戻り、以下ステ
ツプS21〜ステツプS24を繰り返すことで炉熱低
下評価を行なう。
E 第4、第5の予測手段
ガスクロマトグラフイーによる炉頂ガス成分
分析、送風条件、原料装入条件などにより、ソ
ルロスC量(Kg/t−p)をサンプリング時間
Δtごとに算出する。ここで、時刻jにおける
ソルロスC量をxjとし、時刻jよりもkサンプ
リング時間前(すなわちΔt×k時間前)のソ
ルロスC量をxj-kとすると、現在の時刻jにお
ける所定時間幅nΔtの移動平均xMは、 xM=1/n+1o 〓k=0 xj-k ……(5) で計算できる。
分析、送風条件、原料装入条件などにより、ソ
ルロスC量(Kg/t−p)をサンプリング時間
Δtごとに算出する。ここで、時刻jにおける
ソルロスC量をxjとし、時刻jよりもkサンプ
リング時間前(すなわちΔt×k時間前)のソ
ルロスC量をxj-kとすると、現在の時刻jにお
ける所定時間幅nΔtの移動平均xMは、 xM=1/n+1o 〓k=0 xj-k ……(5) で計算できる。
(5)式に基づくxMをサンプリング時間Δtごとに
計算し、下記(6)式により、xMが予め定めておい
た閾値εxi(i=1〜n)(εx1<εx2…<εxo)を越
え
た時の最大の閾値εxiにより評価点iを与え、評
価を行なう。
計算し、下記(6)式により、xMが予め定めておい
た閾値εxi(i=1〜n)(εx1<εx2…<εxo)を越
え
た時の最大の閾値εxiにより評価点iを与え、評
価を行なう。
xM>εxi(i=1〜n) ……(6)
以上が第4の予測手段である。
また、ガスクロマトグラフイーにより検出され
る炉頂ガス中の窒素量(%)(以下、「ガスクロ
N2量」と言う。)はソルロスC量と強い負の相関
があり、ソルロスC量の増加に代え、ガスクロ
N2量の減少により、高炉炉熱低下が予測できる。
る炉頂ガス中の窒素量(%)(以下、「ガスクロ
N2量」と言う。)はソルロスC量と強い負の相関
があり、ソルロスC量の増加に代え、ガスクロ
N2量の減少により、高炉炉熱低下が予測できる。
このことにより、現在の時刻jにおけるガスク
ロN2量をyjとし、時刻jよりもkサンプリング
時間前(すなわちΔt×k時間前)のガスクロN2
量をyj-kとすると、現在の時刻jにおける所定時
間幅nΔtの移動平均yMは、 yM=1/n+1o 〓k=0 yj-k ……(7) で計算できる。
ロN2量をyjとし、時刻jよりもkサンプリング
時間前(すなわちΔt×k時間前)のガスクロN2
量をyj-kとすると、現在の時刻jにおける所定時
間幅nΔtの移動平均yMは、 yM=1/n+1o 〓k=0 yj-k ……(7) で計算できる。
(7)式に基づくyMをサンプリング時間Δt毎に計
算し、下記(8)式により、yMが予め定めておいた
閾値εyj(j=1〜m)(εy1>εy2>…εyn)を下回
つた時の最小の閾値εyjにより評価点jを与え、
炉熱低下評価を行なう。
算し、下記(8)式により、yMが予め定めておいた
閾値εyj(j=1〜m)(εy1>εy2>…εyn)を下回
つた時の最小の閾値εyjにより評価点jを与え、
炉熱低下評価を行なう。
yM<εyj(j=1〜1m) ……(8)
以上が第5の予測手段である。
さらに、第4の予測手段であるソルロスC量の
移動平均を求めるに際し、ソルロスC量の瞬時値
が第9図aに示すようにノイズ等の原因で異常値
E1、E2を発生する場合がある。ここで、時刻j
のソルロスC量をxj、1サンプリング時間Δt前
のソルロスC量をxj-1とすると、ソルロスC量の
差分値の絶対値Δxjは Δxj=|xj−xj-1| ……(9) となる。このΔxjを閾値εzと同図bのように比較
することで異常値E1、E2を見つけだし、同図c
に示すように直前の測定値と置き換えることによ
り平滑化をはかる方法が考えられる。この方法を
適用することにより、より正確なソルロスC量の
移動平均が求まり、その結果、かなり精度の高い
予測が可能となる。
移動平均を求めるに際し、ソルロスC量の瞬時値
が第9図aに示すようにノイズ等の原因で異常値
E1、E2を発生する場合がある。ここで、時刻j
のソルロスC量をxj、1サンプリング時間Δt前
のソルロスC量をxj-1とすると、ソルロスC量の
差分値の絶対値Δxjは Δxj=|xj−xj-1| ……(9) となる。このΔxjを閾値εzと同図bのように比較
することで異常値E1、E2を見つけだし、同図c
に示すように直前の測定値と置き換えることによ
り平滑化をはかる方法が考えられる。この方法を
適用することにより、より正確なソルロスC量の
移動平均が求まり、その結果、かなり精度の高い
予測が可能となる。
このような異常値補正を含んだソルロスC量の
移動平均による炉熱低下予測方法はコンピユータ
を用いて実現することが可能である。第10図は
その処理の流れを示すフローチヤートである。同
図において、まず、ステツプS31において、n段
階にεx1<εx2…εxoの大きさで、閾値x1〜εxoを設定
する。そして、ステツプS32でソルロスC量の瞬
時値xjをサンプリング時間Δt毎に求める。そし
て、ステツプS33においてソルロスC量の差分値
の絶対値Δxjを求め、次にステツプS34において
差分値の絶対値Δxjが閾値εzと比較して大きい場
合、ステツプS35において、この瞬時値xjは異常
値となし、直前の測定値xj-1に置き換え、ステツ
プS36に移行する。一方、ステツプS34において
閾値εzより小さい場合は、瞬時値xjを変更するこ
となく、ステツプS36に移行する。ステツプS36
では時間幅nΔtの移動平均xMを求め、次のステツ
プS37において評価点iを0に初期設定する。
移動平均による炉熱低下予測方法はコンピユータ
を用いて実現することが可能である。第10図は
その処理の流れを示すフローチヤートである。同
図において、まず、ステツプS31において、n段
階にεx1<εx2…εxoの大きさで、閾値x1〜εxoを設定
する。そして、ステツプS32でソルロスC量の瞬
時値xjをサンプリング時間Δt毎に求める。そし
て、ステツプS33においてソルロスC量の差分値
の絶対値Δxjを求め、次にステツプS34において
差分値の絶対値Δxjが閾値εzと比較して大きい場
合、ステツプS35において、この瞬時値xjは異常
値となし、直前の測定値xj-1に置き換え、ステツ
プS36に移行する。一方、ステツプS34において
閾値εzより小さい場合は、瞬時値xjを変更するこ
となく、ステツプS36に移行する。ステツプS36
では時間幅nΔtの移動平均xMを求め、次のステツ
プS37において評価点iを0に初期設定する。
そして、ステツプS38において、ソルロスC量
移動平均値xMと閾値εx1(i=0より)との比較が
行なわれ、xM≧εx1ならば、ステツプS39において
iの値を0→1と1増し、ステツプS40において
i=nと判定されるか、ステツプS38においてxM
<εx(i+1)と判定されるまで閾値εx(i+1)の値を段階的
に増加させながらステツプS38〜S40を繰返して
評価点iを算出し、ステツプS41に移行する。ま
たxM<εx1ならば、ステツプS39、S40は1度も実
行されず、評価点iは0としてステツプS41に移
行する。最後にステツプS41において、ステツプ
S38〜S40により求められた評価点iを出力する。
移動平均値xMと閾値εx1(i=0より)との比較が
行なわれ、xM≧εx1ならば、ステツプS39において
iの値を0→1と1増し、ステツプS40において
i=nと判定されるか、ステツプS38においてxM
<εx(i+1)と判定されるまで閾値εx(i+1)の値を段階的
に増加させながらステツプS38〜S40を繰返して
評価点iを算出し、ステツプS41に移行する。ま
たxM<εx1ならば、ステツプS39、S40は1度も実
行されず、評価点iは0としてステツプS41に移
行する。最後にステツプS41において、ステツプ
S38〜S40により求められた評価点iを出力する。
なお、当然のことながら、上記した異常値処理
のコンピユータへの適用は、ガスクロN2量の移
動平均値yMによる炉熱低下予測の場合において
も同様に実現できる。
のコンピユータへの適用は、ガスクロN2量の移
動平均値yMによる炉熱低下予測の場合において
も同様に実現できる。
上述した第4、第5の予測手段はサンプリング
時間Δt毎の移動平均に基づいているため、予測
を早く得ることができ、しかも精度も十分確かな
ものといえる。
時間Δt毎の移動平均に基づいているため、予測
を早く得ることができ、しかも精度も十分確かな
ものといえる。
F 総合予測手段
D、Eで述べた第1〜第5の予測手段の評価
点を用いることで、以下に述べるように総合予
測を行なう。
点を用いることで、以下に述べるように総合予
測を行なう。
第11図は、その処理の流れを示すフローチ
ヤートであり、以下、同図を参照しつつ説明す
る。ステツプS51で第1〜第3の予測手段の評
価点f1〜f3を求める。評価点f1〜f3は1度0→
1になれば、後に述べるデータホールド期間中
は、その値を保持する。したがつて、ホールド
時間hr(2時間程度)が時刻t1で設定されたと
すれば、時刻t1〜時刻t1+1hr(すなわちデータ
ホールド期間)内は評価点f1〜f3各々は、一旦
0→1に変化すれば、再び1→0に変化するこ
とはない。このデータホールド期間は、FMセ
ンサ合計値F(=f1+f2+f3)が、F=0→F>
0に変化した時に変動時刻tCを初期化すると共
に設定され、これ以降hrにより規定される時間
内が前述したようにデータホールド期間とな
る。
ヤートであり、以下、同図を参照しつつ説明す
る。ステツプS51で第1〜第3の予測手段の評
価点f1〜f3を求める。評価点f1〜f3は1度0→
1になれば、後に述べるデータホールド期間中
は、その値を保持する。したがつて、ホールド
時間hr(2時間程度)が時刻t1で設定されたと
すれば、時刻t1〜時刻t1+1hr(すなわちデータ
ホールド期間)内は評価点f1〜f3各々は、一旦
0→1に変化すれば、再び1→0に変化するこ
とはない。このデータホールド期間は、FMセ
ンサ合計値F(=f1+f2+f3)が、F=0→F>
0に変化した時に変動時刻tCを初期化すると共
に設定され、これ以降hrにより規定される時間
内が前述したようにデータホールド期間とな
る。
次にステツプS52において、FMセンサ合計
値Fが0か否かを判別することにより、データ
ホールド時間hrが設定されているか否かを識別
し、F=0であれば、データホールド時間hrの
設定は無いので、ステツプS55に移る。一方、
F≠0であれば、データホールド時間hrが既に
設定されているので、ステツプS53で変動時刻
tcとホールド時間hrと比較することで、現在が
データホールド期間中か否かのチエツクを行な
い、tc≦hrならば、データホールド期間中であ
るので、FMセンサ合計値Fを初期化する必要
はないのでステツプS55へ移る。しかしなが
ら、ステツプS53においてtc>hrならば、デー
タホールド期間は終えたと判断し、ステツプ
S54においてFMセンサ合計値Fを“0”に初
期化する。
値Fが0か否かを判別することにより、データ
ホールド時間hrが設定されているか否かを識別
し、F=0であれば、データホールド時間hrの
設定は無いので、ステツプS55に移る。一方、
F≠0であれば、データホールド時間hrが既に
設定されているので、ステツプS53で変動時刻
tcとホールド時間hrと比較することで、現在が
データホールド期間中か否かのチエツクを行な
い、tc≦hrならば、データホールド期間中であ
るので、FMセンサ合計値Fを初期化する必要
はないのでステツプS55へ移る。しかしなが
ら、ステツプS53においてtc>hrならば、デー
タホールド期間は終えたと判断し、ステツプ
S54においてFMセンサ合計値Fを“0”に初
期化する。
このように、FMセンサ合計値Fはデータホ
ールド期間を考慮しながら求められる。これは
第1〜第3の予測手段が第4、第5の予測手段
に比べ先見性が高い(予測が早く得られる)た
め、将来の同一時点に対する予測結果を総合評
価するためには第1〜第3の予測手段の予測結
果を一定時間ホールドしておく必要があるから
である。
ールド期間を考慮しながら求められる。これは
第1〜第3の予測手段が第4、第5の予測手段
に比べ先見性が高い(予測が早く得られる)た
め、将来の同一時点に対する予測結果を総合評
価するためには第1〜第3の予測手段の予測結
果を一定時間ホールドしておく必要があるから
である。
そして、ステツプS55において、第4の予測
手段による評価点iを算出し、さらにステツプ
S56において、第5の予測手段による評価点j
を算出する。次にステツプS57において総合評
価Cを次式に従い求める。
手段による評価点iを算出し、さらにステツプ
S56において、第5の予測手段による評価点j
を算出する。次にステツプS57において総合評
価Cを次式に従い求める。
C=wAF+wBi+wCj ……(9)
ここで、wA、wB、wCは第1〜第3、第4、
第5の予測手段の各々に対する重みである。こ
の総合評価CがステツプS58において吟味さ
れ、C=0ならば、全く炉熱低下の傾向なしと
みなし、ステツプS51に戻り、ステツプS51〜
ステツプ57により再び総合評価Cを求める。一
方、C>0ならばステツプS59において、総合
評価Cの値に応じて重要性を変えたアラームを
出力する。以降ステツプS51に戻り、継続して
炉熱低下予測が続けられる。
第5の予測手段の各々に対する重みである。こ
の総合評価CがステツプS58において吟味さ
れ、C=0ならば、全く炉熱低下の傾向なしと
みなし、ステツプS51に戻り、ステツプS51〜
ステツプ57により再び総合評価Cを求める。一
方、C>0ならばステツプS59において、総合
評価Cの値に応じて重要性を変えたアラームを
出力する。以降ステツプS51に戻り、継続して
炉熱低下予測が続けられる。
第12図、第13図は総合評価Cによる総合
予測の稼動例を示すグラフであり、aは溶銑温
度代表値、bはFMセンサ正の差分値総和(第
1の予測手段)、cはFMセンサ負の差分値絶
対値総和(第2の予測手段)、dはFMセンサ
正の差分値移動平均総和(第3の予測手段)、
eはガスクロN2量移動平均値(第4の予測手
段)、fはソルロスC量移動平均値(第5の予
測手段)、gは総合評価Cの経時変化を示して
いる。aの溶銑温度代表値は、溶銑鍋への出銑
時(1出銑約2時間)の約30分毎の実測温度の
平均値である。総合評価Cは(9)式において、
wA=wB=wC=1、(6)、(8)式においてn=m=
3とし、総合評価Cの変域を0〜9としてい
る。
予測の稼動例を示すグラフであり、aは溶銑温
度代表値、bはFMセンサ正の差分値総和(第
1の予測手段)、cはFMセンサ負の差分値絶
対値総和(第2の予測手段)、dはFMセンサ
正の差分値移動平均総和(第3の予測手段)、
eはガスクロN2量移動平均値(第4の予測手
段)、fはソルロスC量移動平均値(第5の予
測手段)、gは総合評価Cの経時変化を示して
いる。aの溶銑温度代表値は、溶銑鍋への出銑
時(1出銑約2時間)の約30分毎の実測温度の
平均値である。総合評価Cは(9)式において、
wA=wB=wC=1、(6)、(8)式においてn=m=
3とし、総合評価Cの変域を0〜9としてい
る。
第12図において総合評価Cの最大値は9を
示し、重大アラームを出力する必要性があり、
実際に同図aに示すように管理温度Tcをか
なり下回つた溶銑温度代表値が計測されてい
る。一方、第13図において、総合評価Cの最
大値は3を示しており、この程度の値であれば
軽アラーム出力で充分であり、実際に同図a
に示す程度の炉熱低下しか起こつていない。
示し、重大アラームを出力する必要性があり、
実際に同図aに示すように管理温度Tcをか
なり下回つた溶銑温度代表値が計測されてい
る。一方、第13図において、総合評価Cの最
大値は3を示しており、この程度の値であれば
軽アラーム出力で充分であり、実際に同図a
に示す程度の炉熱低下しか起こつていない。
このように総合評価Cの値に応じて、アラー
ムの度合いを変えることで、昇熱アクシヨンの
程度を細かく変化させることができる。その結
果、必要十分な昇熱アクシヨンを選択すること
が実現できるようになり、炉熱低下を確実に防
止できるのは勿論、過度の昇熱アクシヨンによ
る不要な炉熱上昇を招くことがなく、安定かつ
経済的な高炉操業が可能になつた。
ムの度合いを変えることで、昇熱アクシヨンの
程度を細かく変化させることができる。その結
果、必要十分な昇熱アクシヨンを選択すること
が実現できるようになり、炉熱低下を確実に防
止できるのは勿論、過度の昇熱アクシヨンによ
る不要な炉熱上昇を招くことがなく、安定かつ
経済的な高炉操業が可能になつた。
G 補足
尚、この実施例における第1〜第3の予測手
段では内壁温度計にFMセンサを用いたが、通
常の測温センサ(例えばシース熱電対)でも寿
命の点で問題はあるものの代用可能である。ま
た、ステーブ温度計、レンガ埋め込み温度計を
用いてもその信頼性、測温応答性の低さから予
測精度は若干低下するものの、代用可能であ
る。
段では内壁温度計にFMセンサを用いたが、通
常の測温センサ(例えばシース熱電対)でも寿
命の点で問題はあるものの代用可能である。ま
た、ステーブ温度計、レンガ埋め込み温度計を
用いてもその信頼性、測温応答性の低さから予
測精度は若干低下するものの、代用可能であ
る。
また、この実施例における第1〜第3の予測
手段では、FMセンサ3を7レベル4方向に28
個設置したが、高炉の特性により適当に設置す
れば良いのは勿論である。
手段では、FMセンサ3を7レベル4方向に28
個設置したが、高炉の特性により適当に設置す
れば良いのは勿論である。
さらに、総合予測はFで述べたように第1〜
第5の予測手段全てを用いるのが望ましいが、
最低限第1〜第3の予測手段の少なくとも1
つ、第4、第5の予測手段の少なくとも1つを
用いることで、Fで述べた例とほぼ同様の効果
が期待できる。またデータホールド期間の設定
も第1〜第3の予測手段で各々独立に行なうこ
ともでき、閾値を第4、第5の予測手段と同様
に複数設ける等の変形例も考えられる。
第5の予測手段全てを用いるのが望ましいが、
最低限第1〜第3の予測手段の少なくとも1
つ、第4、第5の予測手段の少なくとも1つを
用いることで、Fで述べた例とほぼ同様の効果
が期待できる。またデータホールド期間の設定
も第1〜第3の予測手段で各々独立に行なうこ
ともでき、閾値を第4、第5の予測手段と同様
に複数設ける等の変形例も考えられる。
(発明の効果)
以上説明したように、この発明によれば、予測
が早く得られ、しかも第1〜第5の予測手段の総
合判断によるため溶銑温度の低下をより正確に予
測し、必要に応じた昇熱アクシヨンをとることが
できる。
が早く得られ、しかも第1〜第5の予測手段の総
合判断によるため溶銑温度の低下をより正確に予
測し、必要に応じた昇熱アクシヨンをとることが
できる。
第1図a,bは各々、この発明の一実施例に用
いられるFMセンサの高炉炉壁内の配置を示す側
面断面図、平面断面図、第2図、第3図は各々
FMセンサの概念図、設置説明図、第4図はFM
センサによる測定炉壁温度の経時変化を示すグラ
フ、第5図はFMセンサによる測定炉壁温度の差
分値の経時変化を示すグラフ、第6図は第1の予
測手段の処理の流れを示すフローチヤート、第7
図は第2の予測手段の処理の流れを示すフローチ
ヤート、第8図は第3の予測手段の処理の流れを
示すフローチヤート、第9図a,b,cは各々異
常値を含んだソルロスC量の瞬時値、ソルロスC
量の差分値の絶対値、異常値を取り除いたソルロ
スC量の瞬時値を示すグラフ、第10図は第4の
予測手段の処理の流れを示すフローチヤート、第
11図は総合予測手段の処理の流れを示すフロー
チヤート、第12図、第13図a,b,c,d,
e,f,gは各々、溶銑温度代表値、FMセンサ
正の差分値総和、負の差分値絶対値総和、正の差
分値移動平均総和、ガスクロN2量の移動平均値、
ソルロスC量の移動平均値、総合評価Cの経時変
化を示すグラフ、第14図は従来技術における炉
腹ゾンデの高炉内の配置を示す側面断面図、第1
5図は溶銑温度と炉腹部周辺部温度の相関を示す
グラフ、第16図はソルロスC量の1時間平均値
と溶銑温度の経時変化を時間的に対応させて示し
たグラフ、第17図は昇熱アクシヨンを起こした
時のソルロス量の1時間平均値と溶銑温度の経時
変化を時間的に対応させて示したグラフである。 1……高炉、3……FMセンサ。
いられるFMセンサの高炉炉壁内の配置を示す側
面断面図、平面断面図、第2図、第3図は各々
FMセンサの概念図、設置説明図、第4図はFM
センサによる測定炉壁温度の経時変化を示すグラ
フ、第5図はFMセンサによる測定炉壁温度の差
分値の経時変化を示すグラフ、第6図は第1の予
測手段の処理の流れを示すフローチヤート、第7
図は第2の予測手段の処理の流れを示すフローチ
ヤート、第8図は第3の予測手段の処理の流れを
示すフローチヤート、第9図a,b,cは各々異
常値を含んだソルロスC量の瞬時値、ソルロスC
量の差分値の絶対値、異常値を取り除いたソルロ
スC量の瞬時値を示すグラフ、第10図は第4の
予測手段の処理の流れを示すフローチヤート、第
11図は総合予測手段の処理の流れを示すフロー
チヤート、第12図、第13図a,b,c,d,
e,f,gは各々、溶銑温度代表値、FMセンサ
正の差分値総和、負の差分値絶対値総和、正の差
分値移動平均総和、ガスクロN2量の移動平均値、
ソルロスC量の移動平均値、総合評価Cの経時変
化を示すグラフ、第14図は従来技術における炉
腹ゾンデの高炉内の配置を示す側面断面図、第1
5図は溶銑温度と炉腹部周辺部温度の相関を示す
グラフ、第16図はソルロスC量の1時間平均値
と溶銑温度の経時変化を時間的に対応させて示し
たグラフ、第17図は昇熱アクシヨンを起こした
時のソルロス量の1時間平均値と溶銑温度の経時
変化を時間的に対応させて示したグラフである。 1……高炉、3……FMセンサ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 高炉の所定箇所に内壁温度計を設置し、 該内壁温度計にて、所定時間間隔ごとの内壁温
度差を測定し、 ある時刻における前記内壁温度差の正の値を示
す部分の合計値が閾値を越えた時に所定期間評価
点を与える第1の予測手段と、 ある時刻における前記内壁温度差の負の値を示
す部分の合計値が閾値を越えた時に所定期間評価
点を与える第2の予測手段と、 ある時刻における前記内壁温度差の正の値を示
す部分の所定時間幅の移動平均値の総和が閾値を
越えた時に所定期間評価点を与える第3の予測手
段とのうちの少なくとも1つ備え、 かつソリユーシヨンロスカーボン量を所定時間
間隔ごとに求め、この求めた値の所定時間幅にお
ける移動平均値が閾値を越えた時に評価点を与え
る第4の予測手段と、 炉頂ガス成分中の窒素量を所定時間間隔ごとに
求め、この求めた値の所定時間幅における移動平
均値が、閾値を下回つた時に評価点を与える第5
の予測手段とのうちの少なくとも1つをさらに備
え、 前記第1〜第3の予測手段のうちの少なくとも
1つの評価点と前記第4、第5の予測手段のうち
の少なくとも1つの評価点の総合評価に従い高炉
炉熱低下予測を行なう高炉炉熱低下予測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4215387A JPS63210211A (ja) | 1987-02-24 | 1987-02-24 | 高炉炉熱低下予測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4215387A JPS63210211A (ja) | 1987-02-24 | 1987-02-24 | 高炉炉熱低下予測方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63210211A JPS63210211A (ja) | 1988-08-31 |
| JPH039162B2 true JPH039162B2 (ja) | 1991-02-07 |
Family
ID=12627997
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4215387A Granted JPS63210211A (ja) | 1987-02-24 | 1987-02-24 | 高炉炉熱低下予測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63210211A (ja) |
-
1987
- 1987-02-24 JP JP4215387A patent/JPS63210211A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63210211A (ja) | 1988-08-31 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |